Exercicios_Apostila_II

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Exercícios Apostila II:
1) Num desenho técnico um ajuste entre furo e eixo é definido como:
∅ 110 H9 zc8 e ∅ 110 ZC9 h8.
a) Se trata de um sistema eixo base ou furo base, ou um sistema misto?
b) Determine as medidas para o furo e o eixo na forma asaiNM (ex.:
015,0
029,010
+
−
)!
c) Determine o tipo de ajuste! Esquematize num desenho a medida nominal MN, a
tolerância T, jogo F e/ou interferência I com valor máximo e mínimo respectivamente!
d) Repita os passos a),b) e c) para os seguintes sistemas
 rasgo/chaveta: 30 H8 p7 e 30 P8 h7,
 furo/eixo: ∅ 40 H5 g4 e ∅ 40 G5 h4
 rasgo/chaveta: 70 A11 c12
2) O metrologista recebe uma peça junto com seu desenho
técnico, conforme mostrado ao lado, onde foi especificado
uma tolerância. Cite fatos relevantes sobre o controle
geométrico a ser feito nessa peça.
3) Um transdutor indutivo é usado para calibrar um conjunto de blocos padrão da classe 1.
Determine a força de apalpamento máxima admissível do transdutor em cima do bloco
padrão durante a calibraçao. Obs.: Use amax ≤ 1/10 Emax (bloco padrão).
4) Verifique se a seguintes aplicações obedecem o princípio de Abbé:
a) Medição de medida externa com paquímetro
b) Medição de profundidade com paquímetro
c) Medição de medida externa com micrômetro
Prove sua escolha matematicamente.
5) Efetuou-se uma calibração de um micrômetro (FO: 75...100mm, α = 13 µm/(m . K))
com blocos padrão (α = 11,5 µm/(m . K)). Para melhorar os resultados da calibração
deixou-se ambos os instrumentos no mesmo ambiente por mais de 12 horas e monitorou-se
a temperatura do micrômetro e a do padrão durante a calibração.
a) A temperatura dos blocos ficou estável com 22 oC. Determine o erro de medição do
micrômetro para 75 mm.
b) Devido ao contato durante a calibração a temperatura do micrômetro aumentou 0,5 K
em relação à temperatura (temperatura ambiente) do bloco de 100 mm. Determine o
erro de medição do micrômetro.
0,025 A-B
0,005 A
A
B
6) Explique o princípio de funcionamento do vernier (nônio).
Cite instrumentos que fazem uso do vernier.
7) Os medidores digitais de deslocamento oferecem uma alta resolução
a) Explique o princípio do funcionamento das escalas ópticas absolutas e mencione uma
desvantagem em relação às escalas ópticas incrementais!
b) Explique o princípio do funcionamento das escalas ópticas incrementais e mencione uma
desvantagem em relação às escalas ópticas absolutas!
8) O princípio de interferência luminosa é usado em sistemas de medição de alta resolução.
a) Explique esse princípio nas placas ópticas.
b) Explique sua aplicação na medição de paralelismo com placas ópticas.
9) Uma vantagem do projetor de perfil é a possibilidade de medir sobre ou com auxílio de
uma imagem ampliada. Esquematize e descreve a técnica da
a) medição na imagem
b) medição na peça
para este instrumento óptico, e mencione as principais fontes de incerteza para cada
técnica!