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Relatório MatPROP - ANÁLISE DE DIFRAÇÃO DE RAIOS X PRINCÍPIOS E APLICAÇÕES PARA INVESTIGAÇÃO DAS ESTRUTURAS DOS MATERIAIS DE ENGENHARIA

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0.9293 35.75 71.5
0.129 0.8908 36.6 73.2
0.126 0.0509 37.75 75.5
SiO2
0.336 0.6316 13.25 26.5
0.182 0.1324 25 50
0.167 0.7341 27.45 54.9
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Referências
[1] Callister, W. J., and Rethwisch, D. Ciência e Engenharia de Materiais: Uma Introdução.
2007.
[2] DA SILVA, A. L. Caracterização mineralógica por difração de raios x e determinação de terras
raras por icp-ms de rochas da região sul da bahia. Dissertação (Mestrado em Ciências e Técnicas
Nucleares).
[3] Freitas, M., Pianaro, S. A., Nadal, F. N., Tebcherani, S. M., and Berg, E. A. T. Pre-
paração e caracterização de materiais compósitos sic/caulim/al via “squeeze-casting”.
[4] UFRGS. Produção de raios x. acessado em junho de 2021,
urlhttps://www.if.ufrgs.br/tex/fis142/fismod/mod05/ms01.html, n/a.
[5] UNB. Difratômetro de raios x de pó (drx). acessado em junho de 2021,
urlhttp://caiq.unb.br/equipamentos/471-difratometro-de-raios-x-de-po, n/a.
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