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Clique para editar o estilo do subtítulo mestre Clique para editar o estilo do título mestre www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI 8 Propagação de Incertezas Através de Módulos Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 8 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */24) Motivação Algumas vezes é necessário compor sistemas de medição reunido módulos já existentes. O comportamento metrológico de cada módulo é conhecido separadamente. Qual o comportamento metrológico do sistema resultante da combinação dos vários módulos? - Capítulo 8 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */24) Transdutores UTS Dispositivos mostradores - Capítulo 8 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */24) Composição de sistemas de medição ... ESM SSM sistema de medição - Capítulo 8 - Clique para editar o estilo do subtítulo mestre Clique para editar o estilo do título mestre www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI 8.2 Modelo Matemático - Capítulo 8 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */24) Modelo matemático para um módulo S(M1) E(M1) Idealmente: S(M1) = K(M1) . E(M1) Em função dos erros: S(M1) = K(M1) . E(M1) – C(M1) ± u(M1) - Capítulo 8 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */24) Modelo para dois módulos E(M1) S(M1) = K(M1) . E(M1) - C(M1) ± u(M1) S(M2) S(M2) = K(M2) . E(M2) – C(M2) ± u(M2) S(M1) E(M2) E(M2) = S(M1) S(M2) = K(M2) . [K(M1) . E(M1) – C(M1) ± u(M1)] – C(M2) ± u(M2) S(M2) = K(M1) . K(M2) . E(M1) - [C(M1). K(M2) + C(M2)] ± [u(M1). K(M2) + u(M2)] - Capítulo 8 - Clique para editar o estilo do subtítulo mestre Clique para editar o estilo do título mestre www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI 8.3 Sensibilidade Equivalente - Capítulo 8 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */24) Modelo matemático para n módulos S(SM) = K(M1) . K(M2) . ... . K(Mn) . E(SM) K(SM) = K(M1) . K(M2) . ... . K(Mn) sensibilidade - Capítulo 8 - Clique para editar o estilo do subtítulo mestre Clique para editar o estilo do título mestre www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI 8.4 Correção Relativa Equivalente - Capítulo 8 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */24) Modelo matemático para n módulos Cr(SM) = Cr(M1) + Cr(M2) + ... + Cr(Mn) sendo: correção Cr = correção relativa, calculada por: CE(SM) = correção na entrada do SM CS(SM) = correção na saída do SM - Capítulo 8 - Clique para editar o estilo do subtítulo mestre Clique para editar o estilo do título mestre www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI 8.5 Incerteza Padrão Relativa Equivalente - Capítulo 8 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */24) Modelo matemático para n módulos ur(SM)2 = ur(M1)2 + ur(M2 )2 + ... + ur(Mn )2 sendo: incerteza ur = incerteza relativa, calculada por: uE(SM) = incerteza na entrada do SM uS(SM) = incerteza na saída do SM - Capítulo 8 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */24) Modelo matemático para n módulos graus de liberdade efetivos sendo: número de graus de liberdade efetivo do sistema de medição a incerteza padrão relativa combinada do sistema de medição a incerteza padrão relativa do i-ésimo módulo n de graus de liberdade da incerteza padrão relativa do i-ésimo módulo - Capítulo 8 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */24) Modelo matemático para n módulos Ur(SM)2 = Ur(M1)2 + Ur(M2 )2 + ... + Ur(Mn )2 Se o número de graus de liberdade com que cada incerteza padrão é determinada é o mesmo, a equação também pode ser escrita em termos da incerteza expandida como: - Capítulo 8 - Clique para editar o estilo do subtítulo mestre Clique para editar o estilo do título mestre www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI 8.6 Correção e Incerteza em Termos Absolutos - Capítulo 8 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */24) Correção e Incerteza Na entrada do SM: Na saída do SM: - Capítulo 8 - Clique para editar o estilo do subtítulo mestre Clique para editar o estilo do título mestre www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI 8.7 Problema Resolvido - Capítulo 8 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */24) Problema: A indicação do voltímetro abaixo é 2,500 V. Determine o resultado da medição do deslocamento, efetuado com o sistema de medição especificado abaixo, composto de: ESM= ? 2,500 V - Capítulo 8 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */24) ESM= ? 2,500 V transd. indutivo de deslocamentos faixa de medição: 0 a 20 mm sensibilidade: 5 mV/mm correção: - 1 mV u = 2 mV unidade de tratamento de sinais faixa de medição: ± 200 mV (entrada) amplificação: 100 X correção: 0,000 V u = 0,2 % (VFE) disp. mostrador: voltímetro digital faixa de medição: ± 20 V correção: 0,02% do valor indicado u = 5 mV - Capítulo 8 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */24) ESM= ? 2,500 V KT = 5 mV/mm CT = - 1 mV uT = 2 mV KUTS = 0,1 V/mV CUTS = 0,000 V uUTS = 0,2 % . 20 V KDM = 1 V/V CDM = 0,02 % . 2,5V uDM = 5 mV CrT = - 1/25 = -0,04 urT = 2 /25 = 0,08 CrUTS = 0,000 urUTS = 0,04/2,5 = 0,016 CrDM = 0,0005/2,5 = 0,0002 urDM = 0,005/2,5 = 0,002 - Capítulo 8 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */24) KSM = KT . KUTS . KDM = 5 mV/mm . 0,1 V/mV . 1 V/V KSM = 0,5 V/mm CrSM = CrT + CrUTS + CrDM = -0,0400 + 0,0000 +0,0002 CrSM = -0,0398 sensibilidade correção na entrada: CESM = CrSM . ESM = -0,0398 . 5,000 mm = -0,199 mm CESM = -0,199 mm - Capítulo 8 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */24) (urSM)2 = (urT)2 + (urUTS)2 + (urDM)2 incerteza na entrada: uESM = urSM . ESM = 0,0815. 5,000 mm (urSM)2 = (0,08)2 + (0,016)2 + (0,002)2 (urSM)2 = 0,0001 . [64 + 2,56 + 0,04] urSM = 0,0815 uESM = 0,4075 mm - Capítulo 8 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */24) graus de liberdade efetivos UESM = t . uESM = 2,16 * 0,4075 = 0,88 mm - Capítulo 8 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */24) Resultado da medição RM = I + CESM ± UESM RM = 5,000 + (-0,199) ± 0,88 RM = (4,80 ± 0,88) mm - Capítulo 8 -
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