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Clique para editar o estilo do subtítulo mestre Clique para editar o estilo do título mestre www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI 6 Resultados de Medições Diretas Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Motivação Como usar as informações disponíveis sobre o processo de medição e escrever corretamente o resultado da medição? RM = (RB ± IM) unidade - Capítulo 6 - Clique para editar o estilo do subtítulo mestre Clique para editar o estilo do título mestre www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI 6.1 Medições Diretas e Indiretas - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Medições diretas O sistema de medição já indica naturalmente o valor do mensurando. Exemplos: Medição do diâmetro de um eixo com um paquímetro. Medição da tensão elétrica de uma pilha com um voltímetro. - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Medições indiretas A grandeza é determinada a partir de operações entre duas ou mais grandezas medidas separadamente. Exemplos: A área de um terreno retangular multiplicando largura pelo comprimento. Medição da velocidade média de um automóvel dividindo a distância percorrida pelo tempo correspondente. - Capítulo 6 - Clique para editar o estilo do subtítulo mestre Clique para editar o estilo do título mestre www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI 6.2 Caracterização do Processo de Medição - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Processo de medição resultado da medição FONTE DE INCERTEZAS FONTE DE INCERTEZAS FONTE DE INCERTEZAS FONTE DE INCERTEZAS FONTE DE INCERTEZAS INCERTEZAS COMBINADAS - Capítulo 6 - Clique para editar o estilo do subtítulo mestre Clique para editar o estilo do título mestre www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI 6.3 A Variabilidade do Mensurando - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) O Mensurando é considerado Invariável: se seu valor permanece constante durante o período em que a medição é efetuada. Exemplo: a massa de uma jóia. Variável: quando o seu valor não é único ou bem definido. Seu valor pode variar em função da posição, do tempo ou de outros fatores. Exemplo: a temperatura ambiente. - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Em termos práticos Mensurando Invariável: As variações do mensurando são inferiores a à resolução do SM. Mensurando Variável: As variações do mensurando são iguais ou superiores à resolução do SM. - Capítulo 6 - Clique para editar o estilo do subtítulo mestre Clique para editar o estilo do título mestre www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI 6.4 O resultado da medição de um mensurando invariável quando a incerteza e correção combinadas são conhecidas - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Incertezas combinadas A repetitividade combinada corresponde à contribuição resultante de todas as fontes de erros aleatórios que agem simultaneamente no processo de medição. A correção combinada compensa os erros sistemáticos de todas as fontes de erros sistemáticos que agem simultaneamente no processo de medição. - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Três casos Número de medições repetidas: Compensa erros sistemáticos: - Capítulo 6 - Clique para editar o estilo do subtítulo mestre Clique para editar o estilo do título mestre www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI Caso 1 Mensurando invariável n = 1 Corrigindo erros sistemáticos - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Caso 1 mensurando sistema de medição - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Caso 1 RM = I + C ± Re UMA ÚNICA MEDIÇÂO - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) 1014 g Re = 3,72 g Caso 1 - Exemplo C = -15,0 g RM = I + C ± Re RM = 1014 + (-15,0) ± 3,72 RM = 999,0 ± 3,72 RM = (999,0 ± 3,7) g - Capítulo 6 - Clique para editar o estilo do subtítulo mestre Clique para editar o estilo do título mestre www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI Caso 2 Mensurando invariável n > 1 Corrigindo erros sistemáticos - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Caso 2 mensurando sistema de medição - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) MÉDIA DE n MEDIÇÕES Caso 2 - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Re = 3,72 g Caso 2 - Exemplo C = -15,0 g RM = 1015 -15,0 ± 3,72 /12 RM = 1000,0 ± 1,07 RM = (1000,0 ± 1,1) g 1014 g 1014 g 1015 g 1015 g 1017 g 1017 g - Capítulo 6 - Clique para editar o estilo do subtítulo mestre Clique para editar o estilo do título mestre www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI Caso 3 Mensurando invariável n ≥ 1 Não corrigindo erros sistemáticos - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Caso 3 - Erro máximo conhecido - mensurando invariável mensurando sistema de medição - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) RM = I ± Emáx Caso 3 - Erro máximo conhecido - mensurando invariável - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) 1014 g Caso 3 - Exemplo Emáx = 18 g RM = I ± Emáx RM = 1014 ± 18 RM = (1014 ± 18) g - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Representação gráfica dos três resultados RM = (999,0 ± 3,7) g RM = (1000,0 ± 1,1) g RM = (1014 ± 18) g - Capítulo 6 - Clique para editar o estilo do subtítulo mestre Clique para editar o estilo do título mestre www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI 6.5 A Grafia Correta do Resultado da Medição - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Algarismos Significativos (AS) Exemplos: 12 1,2 0,012 0,000012 0,01200 Número de AS: conta-se da esquerda para a direita a partir do primeiro algarismo não nulo tem dois AS tem dois AS tem dois AS tem dois AS tem quatro AS - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Regras de Grafia Regra 1: A incerteza da medição é escrita com até dois algarismos significativos. Regra 2: O resultado base é escrito com o mesmo número de casas decimais com que é escrita a incerteza da medição. - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) A grafia do resultado da medição Exemplo 1: RM = (319,213 ± 11,4) mm RM = (319,213 ± 11) mm RM = (319 ± 11) mm - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) A grafia do resultado da medição Exemplo 2: RM = (18,4217423 ± 0,04280437) mm RM = (18,4217423 ± 0,043) mm RM = (18,422 ± 0,043) mm - Capítulo 6 - Clique para editar o estilo do subtítulo mestre Clique para editar o estilo do título mestre www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI 6.6 O resultado da medição de um mensurando variável quando a incerteza e correção combinadas são conhecidas - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Qual a altura do muro? h = média entre h7 a h14? Qual seria uma resposta honesta? - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Respostas honestas: Varia. A faixa de variação de um mensurando variável deve fazer parte do resultado da medição. - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Medição de mensurando variável Deve sempre ser medido muitas vezes, em locais e/ou momentos distintos, para que aumentem as chances de que toda a sua faixade variação seja varrida. - Capítulo 6 - Clique para editar o estilo do subtítulo mestre Clique para editar o estilo do título mestre www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI Caso 4 Mensurando variável n > 1 Corrigindo erros sistemáticos - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Caso 4 mensurando sistema de medição ± t . u - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Caso 4 u = incerteza padrão determinada a partir das várias indicações - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Caso 4 - Exemplo Temperatura no refrigerador C = - 0,80°C As temperaturas foram medidas durante duas horas, uma vez por minuto, por cada sensor. Dos 480 pontos medidos, foi calculada a média e incerteza padrão: u = 1,90°C Da curva de calibração dos sensores determina-se a correção a ser aplicada: - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Caso 4 - Exemplo Temperatura no refrigerador RM = 5,82 + (-0,80) ± 2,00 . 1,90 RM = 5,02 ± 3,80 RM = (5,0 ± 3,8)°C - Capítulo 6 - Clique para editar o estilo do subtítulo mestre Clique para editar o estilo do título mestre www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI Caso 5 Mensurando variável n > 1 Não corrigindo erros sistemáticos - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Caso 5 mensurando sistema de medição ± t . u - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Caso 5 - Erro máximo conhecido e mensurando variável - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Caso 5 - Exemplo Velocidade do vento Emáx = 0,20 m/s A velocidade do vento foi medida durante 10 minutos uma vez a cada 10 segundos. Dos 60 pontos medidos, foi calculada a média e a incerteza padrão: u = 1,9 m/s - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) RM = 15,8 ± (0,2 + 2,0*1,9) RM = (15,8 ± 4,0) m/s Caso 5 - Exemplo Velocidade do vento - Capítulo 6 - Clique para editar o estilo do subtítulo mestre Clique para editar o estilo do título mestre www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI 6.7 O resultado da medição na presença de várias fontes de incertezas - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Determinação da incerteza de medição em oito passos P1 – Analise o processo de medição P2 – Identifique as fontes de incertezas P3 – Estime a correção de cada fonte de incerteza P4 – Calcule a correção combinada P5 – Estime a incerteza padrão de cada fonte de incertezas P6 – Calcule a incerteza padrão combinada e o número de graus de liberdade efetivos P7 – Calcule a incerteza expandida P8 – Exprima o resultado da medição - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Compreenda todos os fenômenos envolvidos no processo de medição. Busque informações complementares na bibliografia técnica, catálogos, manuais, etc. Se necessário, faça experimentos auxiliares. P1 – Analise o processo de medição - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) incertezas no resultado da medição P2 – Identifique as fontes de incerteza Atribua um símbolo para cada fonte de incertezas considerada - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Analise o fenômeno associado Reúna informações pré-existentes Se necessários realize experimentos Pode ser conveniente estimar a correção para um bloco de fontes de incertezas cuja separação seria difícil ou inconveniente. Estime o valor da correção a ser aplicada para as condições de medição e expresse-o na unidade do mensurando. P3 – Estime a correção de cada fonte de incertezas - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) A correção combinada é calculada pela soma algébrica das correções individualmente estimadas para cada fonte de incertezas: P4 – Calcule a correção combinada - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Determinação através de procedimentos estatísticos (tipo A): A incerteza padrão pode ser estimada a partir de um conjunto de “n” medições repetidas por: P5 – Estime a incerteza padrão de cada fonte de incertezas - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Determinação através de procedimentos estatísticos (tipo A): Quando o mensurando é invariável e é determinado pela média de “m” medições repetidas, a incerteza padrão da média é estimada por: P5 – Estime a incerteza padrão de cada fonte de incertezas - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Determinação através de procedimentos estatísticos (tipo A): Quando o mensurando é variável e é determinado a partir da média de “m” medições repetidas, sua incerteza padrão é estimada por: P5 – Estime a incerteza padrão de cada fonte de incertezas - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Determinação através de procedimentos não estatísticos (tipo B): Dedução através da análise do fenômeno Informações históricas e pre-existentes Experiência de especialistas Informações extraídas de catálogos técnicos e relatórios de calibrações P5 – Estime a incerteza padrão de cada fonte de incertezas - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Determinação através de procedimentos não estatísticos (tipo B): Normalmente assume-se que a distribuição de probabilidades é perfeitamente conhecida. O número de graus de liberdade associado a uma distribuição de probabilidades perfeitamente conhecida é sempre infinito P5 – Estime a incerteza padrão de cada fonte de incertezas - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P5 – Estime a incerteza padrão – distribuição retangular - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Incerteza devido à resolução - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P5 – Estime a incerteza padrão – distribuição triangular - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P5 – Estime a incerteza padrão – distribuição gaussiana - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P5 – Estime a incerteza padrão – distribuição em “U” - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) O quadrado da incerteza padrão combinada é normalmente calculado pela soma dos quadrados das incertezas padrão de cada fonte de incertezas: P6 – Incerteza padrão combinada e o número de graus de liberdade efetivos - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) O número de graus de liberdade efetivo é calculado pela equação de Welch-Satterthwaite: P6 – Incerteza padrão combinada e o número de graus de liberdade efetivos - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Multiplique a incerteza combinada pelo coeficiente de Student correspondente ao número de graus de liberdade efetivo: P7 – Calcule a incertezaexpandida - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Calcule o compatibilize os valores. Use sempre o SI P8 – Exprima o resultado da medição Não esqueça: Conhecimento + Honestidade + Bom Senso - Capítulo 6 - Clique para editar o estilo do subtítulo mestre Clique para editar o estilo do título mestre www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI 6.8 Problemas Resolvidos - Capítulo 6 - Clique para editar o estilo do subtítulo mestre Clique para editar o estilo do título mestre www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI 6.8.a Incerteza de calibração de uma balança digital - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Resolução da balança: 0,02 g Temperatura ambiente: (20,0 ± 1,0) °C - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P1 – Análise do processo de medição Mensurando: massa padrão. Bem definida e com certificado de calibração. Procedimento: ligar, limpar, aguardar 30 min, regular zero, medir 5 vezes e média. Ambiente: de laboratório. Temperatura de (20,0 ± 1,0) °C e tensão elétrica estável. Operador: exerce pouca influência. Indicação digital e sem força de medição. O sistema de medição: é o próprio objeto da calibração. - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P2 – Fontes de incertezas Repetitividade natural da balança. (Re) Limitações da massa padrão. (MP) Resolução limitada da balança. (R) - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P3 + P4 – Estimativa da correção: A repetitividade natural da balança e a resolução limitada trazem apenas componentes aleatórias. A massa padrão possui uma correção CMP = - 0,005 g, que foi transcrita para a tabela. A correção da massa padrão coincide com a correção combinada: Cc = CMP - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P5 – Incertezas padrão Repetitividade: Estimada experimentalmente através das 5 medições repetidas. A média das 5 medições será adotada - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P5 – Incertezas padrão Massa padrão: Incerteza expandida disponível no certificado de calibração. A incerteza padrão é calculada dividindo a incerteza expandida pelo coeficiente de Student, cujo menor valor possível é 2, o que corresponde a infinitos graus de liberdade: - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P5 – Incertezas padrão Resolução limitada: O valor da resolução é 0,02 g. Sua incerteza tem distribuição retangular com a = R/2 = 0,01 g. Logo: - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P6 – Incerteza combinada - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P6 – Graus de liberdade efetivos - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P7 – Incerteza expandida - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P8 – Expressão do resultado Para este ponto de calibração, a correção a ser aplicada na balança em condições de laboratório é de -0,15 g, conhecida com uma incerteza expandida de 0,04 g. - Capítulo 6 - Clique para editar o estilo do subtítulo mestre Clique para editar o estilo do título mestre www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI 6.8.b Incerteza da medição de uma jóia por uma balança digital - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Temperatura ambiente: (25 ± 1)°C - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P1 – Análise do processo de medição Mensurando: massa de uma jóia. Invariável e bem definida. Procedimento: ligar, limpar, aguardar 30 min, regular zero, medir 12 vezes e média. Ambiente: Temperatura de (25,0 ± 1,0) °C, diferente da de calibração. Operador: exerce pouca influência. Indicação digital e sem força de medição. O sistema de medição: correções conhecidas porém de 5 meses atrás. - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P2 – Fontes de incertezas Repetitividade natural da balança (Re) Resolução limitada da balança (R) Correção da balança levantada na calibração (CCal) Deriva temporal (DTemp) Deriva térmica (DTer) - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P3 – Estimativa da correção: A repetitividade natural da balança e a resolução limitada trazem apenas componentes aleatórias. A correção da balança possui componente sistemática de CCCal = -0,15 g Não é possível prever a componente sistemática da deriva temporal. A deriva térmica possui componente sistemática: - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) CDTer = -0,040 g (C) (g) - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P4 – Correção combinada Calculada pela soma algébrica das correções estimadas para cada fonte de incertezas: Cc = 0,00 + 0,00 + (-0,15) + 0,00 + (-0,04) Cc = CRe + CR + CCCal +CDTemp + CDTer Cc = -0,19 g - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P5 – Incertezas padrão Repetitividade: Estimada experimentalmente através das 12 medições repetidas. A média das 12 medições será adotada - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P5 – Incertezas padrão Resolução limitada: O valor da resolução é 0,02 g. Sua incerteza tem distribuição retangular com a = R/2 = 0,01 g. Logo: - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P5 – Incertezas padrão Correção da balança Incerteza expandida disponível no certificado de calibração. A incerteza padrão é calculada dividindo a incerteza expandida pelo coeficiente de Student, cujo menor valor possível é 2, o que corresponde a infinitos graus de liberdade: - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P5 – Incertezas padrão Deriva temporal A balança degrada cerca de ± 0,010 g/mês Após 5 meses, a degradação é de ± 0,050 g Assume-se distribuição retangular: - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P6 – Incertezas padrão combinada Combinando tudo: - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Participação percentual de cada fonte de incertezas - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P6 – Graus de liberdade efetivos - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P7 – Incerteza expandida - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P8 – Expressão do resultado Nestas condições é possível afirmar que o valor da massa da pedra preciosa está dentro do intervalo (19,76 ± 0,05)g. - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P8 – Expressão do resultado Assim, sem que nenhum erro sistemático seja compensado, é possível afirmar que o valor da massa da pedra preciosa está dentro do intervalo (19,95 ± 0,24) g. Se os erros sistemáticos não fossem corrigidos, o valor absoluto da correção combinada |Cc| = 0,19 g deveria ser algebricamente somado à incerteza de medição: - Capítulo 6 - Clique para editar o estilo do subtítulo mestre Clique para editar o estilo do título mestre www.labmetro.ufsc.br/livroFMCI 6.8.c Incerteza da medição de um mensurando variável por uma balança digital - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Temperatura ambiente: (25 ± 1)°C 20,20 g - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P1 – Análise do processo de medição Mensurando: massa de um conjunto de parafusos. Variável. Procedimento: ligar, limpar, aguardar 30 min, regular zero, medir uma vez cada parafuso, calcular média e desvio padrão. Ambiente: Temperatura de (25,0 ± 1,0) °C, diferente da de calibração. Operador: exerce pouca influência. Indicação digital e sem força de medição. O sistema de medição: correções conhecidas porém de 5 meses atrás. - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P2 – Fontes de incertezas Repetitividade natural da balança (Re) combinada com a variabilidade do processo. Resolução limitada da balança (R) Correção da balança levantada na calibração (CCal) Deriva temporal (DTemp) Deriva térmica (DTer) - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P3 – Estimativa da correção: A repetitividade natural da balança e a resolução limitada trazem apenas componentes aleatórias. A correção da balança possui componente sistemática de CCCal = -0,15 g Não é possível prever a componente sistemática da deriva temporal. A deriva térmica possui componente sistemática: - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P4 – Correção combinada Calculada pela soma algébrica das correções estimadas para cada fonte de incertezas: Cc = 0,00 + 0,00 + (-0,15) + 0,00 + (-0,04) Cc = CRe + CR + CCCal +CDTemp + CDTer Cc = -0,19 g - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P5 – Incertezas padrão Repetitividade: Estimada experimentalmente através da medição dos 50 parafusos. Será adotada a repetitividade das indicações e não da média: As contribuições das demais fontes de incerteza permanecem as mesmas do exemplo anterior. - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P6 – Incertezas padrão combinada Combinando tudo: - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) Participação percentual de cada fonte de incertezas - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P6 – Graus de liberdade efetivos - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P7 – Incerteza expandida - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) - Capítulo 6 - Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial * (slide */124) P8 – Expressão do resultado Nestas condições é possível afirmar as massas dos parafusos produzidos está dentro da faixa (20,0 ± 0,5) g. - Capítulo 6 -
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