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1a Questão (Ref.: 201301569689) Fórum de Dúvidas (0) Saiba (0) Além da forma vibracional que se propaga através da rede cristalina interligada, o calor pode também se manifestar através da vibração de elétrons. Isto ocorre, contudo, somente em relação aos elétrons livres e não relação aos eletros da banda de valência, uma vez que estes últimos encontramse fortemente ligados aos átomos. Esta vibração dos elétrons (também é uma forma calor) contribui de maneira menos significativa para o aumento da capacidade térmica, mas pode alterar a corrente elétrica produzida por uma diferença de potencial, tornando a condução mais difícil. Com relação a produção de calor, selecione a opção correta: A presença de impurezas em um material colabora para a diminuição da resistência a passagem de corrente elétrica e, portanto, colabora negativamente a produção de calor. A presença de defeitos na rede atômica que compõe o material colabora para a produção de calor. Devese adotar para compor o resistor de um chuveiro um material que não tenha sofrido qualquer tipo de deformação mecânica. A utilização de alumínio puro e sem impurezas na fabricação de um resistor aumenta a dissipação de calor, se comparado com um resistor de alumínio altamente encruado (deformado) A vibração da rede cristalina que compõe um material é essencial para a resistência a passagem de elétrons e a conseqüente produção de calor, principalmente a baixas temperaturas. Gabarito Comentado 2a Questão (Ref.: 201301569633) Fórum de Dúvidas (0) Saiba (0) Materiais cristalinos possuem seus átomos ¿dispostos¿ de forma periódica em uma rede tridimensional que se repete através de seu volume. Esta estrutura, aliada aos defeitos microestruturais que porventura se originam no processo de fabricação, não permitem o deslocamento retilíneo dos elétrons livres quando submetidos a um campo elétrico. Para descrever a velocidade desenvolvida por estas partículas (elétrons livres), criouse o conceito de velocidade de deslocamento (drift velocity, em Inglês), dada por vd=E.e, onde E é a intensidade do campo elétrico e e é a mobilidade elétrica do elétron. Uma conseqüência da interação entre os defeitos da rede cristalina e os elétrons é: Diminuição da resistência elétrica do material Geração de calor. Aumento da aceleração eletrônica. Aumento da resistividade elétrica do material. Deformação mecânica do material. Gabarito Comentado 3a Questão (Ref.: 201302135713) Fórum de Dúvidas (0) Saiba (0) A "Bell Telephone Laboratories" passou a década de 1940 tentando criar dispositivos eletrônicos comutadores que fossem mais eficientes e baratos que as válvulas utilizadas. Finalmente, em 1947, dois de seus pesquisadores, Walter H. Brittain e John Bardeen tiveram sucesso na criação de um dispositivo amplificador a partir de uma placa de silício imersa em solução salina; iniciavase a era dos semicondutores. A modelagem física referente a estes materiais se desenvolveu bastante nos anos seguintes, originando conceitos como condutividade intrínseca, cuja expressão podemos descrever como p | e | b n | e | e. Com relação aos termos presentes na expressão anterior, podemos identificálos como nos itens a seguir, comEXCEÇÂO de. p número de buracos por metro cúbico. n número de átomos por metro cúbico. e mobilidade dos elétrons. | e | módulo da carga dos elétrons. b mobilidade do buraco. 4a Questão (Ref.: 201301569202) Fórum de Dúvidas (0) Saiba (0) Semicondutores modernos são constituídos de substratos de Silício nos quais são inseridos elementos com valências diferentes do próprio Silício, criandose as variações conhecidas como semicondutores do tipop e semicondutores do tipon. A expressão σ = N ІeІ µe + P ІeІ µh fornece a condutividade em função da carga do elétron (1,6 x 10 19 C), onde N e P são as densidades de cargas negativas e positivas por volume (Número de cargas/m3) e de µe e µh , que são as mobilidades elétricas dos elétrons e dos buracos (m2/V m), respectivamente. Considerando se um semicondutor extrínseco de Silício, no qual a concentração de portadores de cargas positivas é muito maior que a concentração de portadores de cargas negativas, podemos simplificar a expressão anterior para: σ = N ІeІ µh. A expressão σ = N ІeІ µe + P ІeІ µh é imutável e nunca deve ser aproximada para uma forma mais simplificada sob pena de alterarse gravemente a precisão da condutividade. σ = N ІeІ (µe + µh). σ = 2 P ІeІ µh σ = P ІeІ µh. Gabarito Comentado 5a Questão (Ref.: 201301569199) Fórum de Dúvidas (0) Saiba (0) Em semicondutores, devemos considerar que sempre que ¿criamos¿ uma carga negativa, automaticamente "criamos" uma carga positiva (lei da conservação das cargas), que está associada ao conceito físico de vazio (volume deixado pela saída do elétron), "buraco" ou, em inglês, hole. A condutividade elétrica nos semicondutores intrínsecos é dependente da movimentação dos portadores de carga negativos (elétrons) e positivos (buracos) da seguinte forma: σ = N ІeІ µe + P ІeІ µh, onde σ é a condutividade elétrica do material (ohm.m)1; onde N e P são as densidades de cargas negativas e positivas por volume (Número de cargas/m3), respectivamente І e І é o módulo da carga do elétron (1,6 x 10 19 C), µe e µh são as mobilidades elétricas dos elétrons e dos buracos (m2/V m), respectivamente. Considerando o exposto, podese afirmar que: Nos condutores intrínsecos, raramente temse N=P e, portanto, devese manter a expressão σ = N ІeІ µe + P ІeІ µh. Nos condutores extrínsecos do tipon, onde N é muito maior que P, podese aproximar a expressão por σ = P ІeІ µh. Nos condutores intrínsecos, temse N=P e, portanto, podese escrever que σ = N ІeІ (µe + µh). A expressão σ = N ІeІ µe + P ІeІ µh é imutável e nunca deve ser aproximada para uma forma mais simplificada sob pena de alterarse gravemente a precisão da condutividade. Nos condutores extrínsecos do tipop, onde P é muito maior que N, podese aproximar a expressão por σ = N ІeІ µh. 6a Questão (Ref.: 201301569635) Fórum de Dúvidas (0) Saiba (0) Semicondutores de Silício do tipop são obtidos a partir da inserção de átomos de Alumínio, Al, na rede cristalina do Silício; a este processo chamamos de dopagem. Como o Alumínio possui valência igual a 3, Al+3, dizse que esta inserção promove o surgimento de buracos. Baseado nestas informações, escolha a opção que apresenta um elemento que poderia substituir o Alumínio no processo de dopagem. O2 B+3 As+5 Ba+2 Na+
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