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Universidade Federal de Pernambuco Centro de Tecnologia e Geociências Departamento de Engenharia Mecânica Disciplina: Ciência e Engenharia dos Materiais Difração de Raios-X (DRX) Professor: Rogério Pontes Recife, 05 dezembro de 2013 Introdução Uma das principais técnicas de caracterização microestrutural de materiais cristalinos usada em Ciência e Engenharia dos Materiais e outras áreas como Geociências e Metalurgia. O fenômeno da difração é utilizado para determinar as características da estrutura cristalina: natureza, parâmetros de rede, tamanho e orientação dos cristais. Métodos: difração de raios-X, difração de elétrons (junto com ME) e difração de nêutrons. Histórico dos Raios-X Descoberto em 11/1895 por Wilhelm Conrad Röntgen. Trabalhos com tubos de raios catódicos (válvula de Hittorf-Crookes). Envolve a válvula com cartolina preta no laboratório as escuras. Observa uma luminosidade numa placa (folha de papel tratada com platino cianeto de bário – revelação fotográfica). Nenhuma luz ou raios catódicos poderiam ter escapado (cartolina preta). Colocou diversos objetos entre a válvula e a placa e todos eram transparentes. Estava descoberto um novo tipo de raio, e por não conhecer a origem, a natureza e as propriedades do mesmo, batizou de RAIOS-X. Histórico dos Raios-X Conclusões de Röntgen: Propagam-se em linha reta e são invisíveis; Afetam as emulsões fotográficas; Produzem fluorescência e fosforescência em certas substâncias; Não são afetados por campos elétricos ou magnéticos; São muito mais penetrantes do que as radiações luminosas; Possuem velocidade de propagação característica; Podem ser utilizados no estudo das partes internas do corpo humano e de objetos (radiologia). Histórico dos Raios-X As Aplicações radiológicas foram utilizadas imediatamente após sua descoberta (como no caso da teoria das discordâncias) apesar da falta de conhecimento sobre a natureza da radiação. Raios-X Definição: São radiações eletromagnéticas (onda e partícula), como a luz, porém com comprimentos de onda menores. Raios-X Produção de Raios-X A emissão de raios-X ocorre durante o bombardeamento de um alvo metálico (molibdênio) por elétrons acelerados (filamento de tungstênio). Os elétrons são emitidos pela passagem de uma corrente e acelerados por alta voltagem no vácuo (ddp - 35kV). Princípio Físico da Emissão de Raios-X Elétrons da camada K do molibdênio são expulsos do átomo pela ação do bombardeamento de elétrons de alta energia (voltagem), conduzindo a excitação dos átomos. Elétrons das demais camadas caem para baixar os níveis de energia e passam a ocupar as posições dos elétrons da camada K. Durante o decaimento ocorre a emissão de energia com comprimento de onda característica. Princípio Físico da Emissão de Raios-X A radiação emitida representa a superposição de dois espectros: Espectro contínuo: gerado pela desaceleração dos elétrons e com vários comprimentos de onda. Espectro Característico: gerado pelo decaimento e com comprimento de onda específico. A radiação característica Kα é relativa a transição do elétron da camada L para K. A radiação característica Kβ é relativa a transição do elétron da camada M para K. A intensidade de Kβ < Kα. Princípio Físico da Emissão de Raios-X A radiação Kα apresenta dois picos Kα1 e Kα2 chamados de dubletes. A intensidade de Kα1 < Kα2. Princípio Físico da Emissão de Raios-X Cr ⇒ Kα = 2,291000 Å Fe ⇒ Kα = 1,937355 Å Mo ⇒ Kα = 0,710737 Å Co ⇒ Kα = 1,790260 Å A emissão depende da intensidade da ddp aplicada. A radiação específica só ocorre a partir de uma determinada ddp. Cada elemento químico produz radiações com comprimento de onda específicos. Difração de Raios-X Difração de Raios-X Aplicações: Identificação de fases cristalinas. Quantificar fases. Determinar parâmetros de célula unitária. Dispositivos com controle de temperatura – monitorar mudanças de fase devido ao aquecimento. Textura, orientações preferenciais de cristais em sólidos cristalinos (pós prensados e materiais extrudados – propriedade x estrutura – fabricação e controle de qualidade) Difração de Raios-X Difração de Raios-X Difração de Raios-X Difração de Raios-X Difração de Raios-X Difração de Raios-X Em 1912, Max Von Laue (prêmio Nobel de 1914) propôs a seguinte hipótese: “Se os sólidos tiverem um arranjo periódico de átomos (cristais) e se os raios-X são ondas eletromagnéticas com comprimento de onda comparável ao espaçamento Interatômico, então se um feixe de raios-X incidir sobre um cristal, para determinadas condições, ocorrerá interferência construtiva (difração).” Ele trabalhava no instituto de Física da Universidade de Munique com pesquisadores como Röntgen, Max Planck, Sommereld, Paul Knipping, Walter Friedrich, Peter Paul Ewald (aluno de PhD) entre outros. Inicialmente ninguém se entusiasmou pela ideia. Ajudado por Knipping e Friedrich, incidiu um feixe de raios-X num cristal de sulfato de cobre e registrou a imagem numa chapa fotográfica (Nobel de 1914). Os Braggs (William Henry – pai – Universidade de Leeds e William Lawrence – filho – Universidade de Cambridge) se interessaram pelo trabalho de Laue e determinaram as estruturas de diversos cristais (premio Nobel de Física de 1915). Difração de Raios-X A difração permite estudar os detalhes da estrutura cristalina: distâncias interatômicas, ângulos das ligações atômicas e outros. Difração de Raios-X Resultados do trabalho de Laue: Estabelece a natureza dos raios-x; Descobre o fenômeno da difração de raios-x pelos cristais; Cria um novo método de estudar a subestrutura da matéria condensada. Raios X Feixe difratado Feixe atravessa o cristal Difração de Raios-X Difração de Raios-X Difração de Raios-X Lei de Bragg: Quando um feixe de raios-x atinge um átomo, os elétrons deste serão excitados com a mesma frequência. Os elétrons se tornam cargas elétricas em vibração e emitem raios-X com frequência idêntica (λi = λr). Os raios refletidos saem com diversas direções (espalhamento do feixe). Difração de Raios-X Lei de Bragg: Haverá “interferência construtiva” (difração) no reticulado cristalino, se λ (comprimento de onda) tiver a mesma ordem de grandeza do parâmetro de rede, se o ângulo de incidência for igual ao ângulo de reflexão e se a distância extra percorrida pelo feixe for um múltiplo inteiro de λ. Difração de Raios-X Lei de Bragg: n.λ = SQ + QT = dhkl.sen θ + dhkl.sen θ n.λ = 2.dhkl.sen θ Onde, d é o espaçamento interplanar θ é o ângulo de Bragg Difração de Raios-X Lei de Bragg: A distância entre dois planos paralelos e adjacentes é função do parâmetro de rede e dos índices de Miller. Para células cúbicas 222 lkh adhkl ++ = Difração de Raios-X Lei de Bragg: A lei de Bragg é necessária mas não suficiente. Ela é específica para átomos situados nos vértices do reticulado. Átomos na face ou dentro do reticulado podem ou não difratar o feixe de raios-x (CCC ⇒ h + k + l = par). A intensidade do feixe difratado é função: densidade planar, natureza dos átomos, número de planos, ângulo de incidência, temperatura, deformação e outros. Difração de Raios-X Até a próximaaula! Slide 1 Slide 2 Slide 3 Slide 4 Slide 5 Slide 6 Slide 7 Slide 8 Slide 9 Slide 10 Slide 11 Slide 12 Slide 13 Slide 14 Slide 15 Slide 16 Slide 17 Slide 18 Slide 19 Slide 20 Slide 21 Slide 22 Slide 23 Slide 24 Slide 25 Slide 26 Slide 27 Slide 28 Slide 29 Slide 30 Slide 31
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