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Lista de Exercícios 1) Uma amostra contendo cálcio, estrôncio e bário, foi recebida para a análise desses metais. Seguindo o procedimento descrito na literatura, 1,600 g dessa amostra foi dissolvida e os respectivos íons metálicos precipitadas quantitativamente como oxalato. O precipitado depois de convenientemente tratado, isolado e seco forneceu um resíduo igual a 1,794 g. Curvas TG/DTG desse resíduo foram obtidas utilizando-se atmosfera dinâmica de ar e massa igual a 7,042 mg. As curvas TG/DTG encontram-se a seguir. Calcule a porcentagem de: a) Cálcio; b) Estrôncio; c) Bário na amostra. 2) Curvas TG/DTG de uma mistura de sulfatos de níquel e de alumínio são amostradas a abaixo. Calcule a porcentagem de Níquel e Alumínio na amostra. Sabendo que o suporte é de amostra de Pt, atmosfera de ar, vazão de 100 mL min-1, razão de aquecimento de 10ºC min-1. Dados: 3) De acordo com a IUPAC como pode ser definido os tamanhos dos poros? 4) Indique nas isotermas abaixo para quais materiais elas são características. 5) Explique a teoria da adsorção e descreva sobre o BET. 6) Para que serve a técnica de caracterização EDS e WDS? Qual a diferença entre elas? 7) Explique a técnica espectrometria de absorção atômica e espectroscopia de raios X por fotoelétrons. 8) Curvas TG/DTG e DSC do produto de reação do 4-Clorobenzalpiruvato de sódio (Cl-C6H4-CH=CHCOCOONa) com cloreto de lantânio (LaCl3), depois de convenientemente tratado são mostrados abaixo. Explique os resultados obtidos. 9) Quais os principais efeitos do vácuo na analise por microscopia eletrônica de varredura. 10) Descreva sobre elétrons secundários (SE) e elétrons retroespalhados (BSE). 11) Explique a figura abaixo. 12) Por que em tecnologia mineral, as imagens mais importantes são as de elétrons retroespalhados (backscattered electrons - BSD)? 13) a) Como podemos garantir a resolução desejada durante a análise de uma amostra por AFM? b) Calcule o poder de resolução da imagem abaixo: 14) Explique os modos de operação do AFM: a) AFM de contato; b) AFM de contato intermitente (ou TappingMode); c) AFM de não-contato. 15) Explique a relação entre os raios da rugosidade (Rs) e os raios da ponta do cantiliver (R). 16) Um conceito importante para o entendimento do funcionamento do microscópio de força atômica é a curva de força que serve para quantificar a interação entre a ponta e a amostra. A figura abaixo mostra uma curva de força onde é apresentado o comportamento do cantilever durante o processo de aproximação e afastamento em relação à amostra. Explique este comportamento. 17) Como é formada a imagem no MET? 18) a) Quais os principais requisitos para as amostras a serem analisadas no MET? b) Quais as principais etapas de preparação das amostras para o MET? c) Quais os tipos de suporte de amostras para o MET? 19) Considerando o diagrama de fases SiO2 – Al2O3 como você explicaria o aumento da resistência à álcalis e o aumento da sensibilidade à álcalis em materiais refratários a base de alumina e sílica. 20) Considerando o diagrama abaixo como você explicaria a corrosão existente em tijolos refratários de sílica, quando usados em alto-fornos. 21) Considerando o diagrama abaixo como você explicaria a atuação do feldspato como fundente em revestimentos cerâmicos. 22) Considerando o diagrama explique o que ocorre com os argilominerais (caulinita e montmorillonita) durante o aquecimento. 23) De acordo com a curva de DSC abaixo ocorrem eventos e transições, indique e cite quais são eles. 24) Um difratograma de Raios X de um elemento de estrutura cúbica tem picos de difração em 2 igual 400, 580, 730, 86,50, 100,40, 114,70 e 1330. Considerando que o comprimento de onda dos raios X é igual 0,154 nm e primeira ordem de difração, determine:„ a) A estrutura cristalina; b) O parâmetro de rede; c) O raio atômico do elemento. Dados: a = 2R√2 ; a = 4R/√3 ; a = 2R ; n = 2dsen 25) Faça uma comparação entre MO, MEV e MET. 26) Indique qual imagem a baixo foi obtida no MO, MEV e MET.
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