Grátis: É correto afirmar que as seguintes funções são necessárias aos programas de medições geométricas: Ponto de origem, referências e plotagem de referê... – Questões Respondidas

Metrologia

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É correto afirmar que as seguintes funções são necessárias aos programas de medições geométricas:
Ponto de origem, referências e plotagem de referência.
Designação de plano de referência, ponto de origem e eixo de alinhamento.
Tracejamento de eixos, referências e ponto de referência.
Eixos de faceamento, designação de planos e flanges.
Esquema de alinhamento, ponto de face e ponto de origem.

Aprendendo com Desafios

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AV-METROLOGIA CIENTÍFICA E INDUSTRIAL

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Respostas

Ed

ano passado

Sim, é correto afirmar que as funções mencionadas são necessárias em programas de medições geométricas. Cada uma delas desempenha um papel fundamental na definição de um sistema de coordenadas e na realização de medições precisas. - Ponto de origem: Fundamental para estabelecer a base das medições. - Referências: Usadas para garantir a consistência e a precisão nas medições. - Plotagem de referência: Ajuda na visualização e análise dos dados coletados. As outras funções, como designação de planos de referência e eixos de faceamento, também são essenciais para garantir que as medições sejam realizadas de forma correta e confiável. Portanto, todas essas funções são importantes para a eficácia dos programas de medições geométricas.

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É correto afirmar que as cartas de controle são:
cartas que objetivam ressaltar anomalias em um processo baseado em limites previamente estabelecidos.
trata-se de um gráfico de difusão em que são ressaltadas três linhas de tolerância.
utilizadas para melhoramento de qualquer processo de calibração.
se corretamente aplicados, podem facilmente detectar tendências ou desvios da qualidade, considerando os limites definidos.
uma das sete ferramentas da metrologia.

O conceito de calibração é:
operação que estabelece, sob condições especificadas, numa primeira etapa, uma relação entre os valores e as incertezas de medição fornecidos por padrões e as indicações correspondentes com as incertezas associadas; numa segunda etapa, utiliza esta informação para estabelecer uma relação visando a obtenção dum resultado de medição a partir duma indicação.
operação que estabelece, sob condições especificadas, numa primeira etapa, uma relação entre os padrões e as incertezas de medição fornecidos por padrão e as indicações correspondentes com as incertezas associadas; numa segunda etapa, utiliza esta informação para estabelecer uma relação visando a obtenção dum resultado de medição a partir duma indicação.
operação que estabelece, sob condições especificadas, numa primeira etapa, uma relação entre os valores e as incertezas de medição fornecidos por mensurando e as indicações correspondentes com as incertezas associadas; numa segunda etapa, utiliza esta informação para estabelecer uma relação visando a obtenção dum resultado de medição a partir duma indicação.
operação que estabelece, sob quaisquer condições, numa primeira etapa, uma relação entre os valores e as incertezas de medição fornecidos por padrões e as indicações correspondentes com as incertezas associadas; numa segunda etapa, utiliza esta informação para estabelecer uma relação visando a obtenção dum resultado de medição a partir duma indicação.
operação que estabelece, sob condições especificadas, numa primeira etapa, uma relação entre os valores e as incertezas de medição fornecidos por padrão e as indicações correspondentes com as incertezas associadas; numa segunda etapa, utiliza esta informação para estabelecer uma relação visando a obtenção dum resultado de medição a partir duma correção.

É correto afirmar a respeito do erro sistemático:
O erro sistemático é a parcela do erro que atua de modo sempre variável.
A influência do erro sistemático sempre ocorre em um mesmo sentido, contribuindo sistematicamente com um acréscimo ou uma diminuição em relação ao valor de referência.
O erro sistemático é a parcela do erro que atua de modo imprevisível.
O erro sistemático é um componente que sistematicamente aparece em cada medição realizada até que sejam corrigidas as suas incertezas.
O erro sistemático não é corrigido, pois se refere sempre ao mesmo valor.

É incorreto afirmar a respeito de paquímetros e micrômetros:
Como a escala secundária é numerada de forma progressiva de 0 a 10, a indicação do traço de coincidência é correspondente ao valor da estimativa da casa decimal adicional;
A incorporação da escala secundária nestes instrumentos proporcionou um aumento na precisão desse instrumento de medição em uma ordem de grandeza;
A leitura da escala secundária é simples. Após a colocação da medida materializada em uma das posições de medição do paquímetro, o valor medido na escala principal é aquela indicação transpassada pelo zero da escala secundária, e o valor da próxima casa decimal deve ser o algarismo correspondente à coincidência dos traços da escala secundária com a principal;
Possuem uma escala secundária, cujo desenvolvimento é atribuído - pelos portugueses - ao matemático Pedro Nunes (daí a origem do nome crônio) ou é atribuído - pelos franceses - ao matemático e inventor de instrumentos Pierre Vernier (daí a origem do nome Vernier).
O funcionamento da escala secundária acontece devido ao fato de o valor de uma divisão dessa escala ter tamanho de 90% do valor de uma divisão da escala principal - essa condição, em uma escala decimal, promove o encontro apenas em uma única coincidência dos traços;

Ao utilizar o projetor de perfil, se a peça for cilíndrica com furo central ou uma rosca deve-se:
Colocar a peça sobre a mesa de vidro diretamente.
Fixá-la em um suporte entre pontas.
Posicionar diretamente na tela de projeção rotativa.
Utilizar a projeção de superfície.
Utilizar a objetiva de 100 vezes.

Marque a opção que contém apenas unidades de grandezas derivadas: kgf, m³, A, m², Pa, Hz ºC, m², Pa, dB, Hz, kgf m/s, m³, J, N, Pa, A kgf, km/h, m³, m/s², V, J m/s, kg, m², Hz, dB, Pa

Em relação ao controle metrológico é possível afirmar:
Cabe ao Inmetro organizar e executar as atividades de metrologia legal no Brasil.
No Brasil, estão sujeitos à regulamentação e ao controle metrológico os instrumentos de medição e medidas materializadas utilizados nas atividades laboratoriais e científicas.
Antes de serem colocados no mercado, os novos instrumentos de medição devem ter seu modelo aprovado pelo Inmetro, que, com base em uma norma ABNT, examina, ensaia e verifica se está adequado ao uso.
A metrologia legal no Brasil é posterior à Lei n. 5.966, de 12 de dezembro de 1973, que criou Sinmetro, do qual o Inmetro é o órgão executivo central.
Ao colocar o instrumento em uso, o seu detentor é o responsável pela manutenção de sua exatidão e correta utilização, fazendo o controle por meio de verificações iniciais.