Questão 3 Ainda não respondida Vale 2,0 ponto(s). Marcar questão Texto da questão O MEV é um equipamento amplamente utilizado em diversas áreas do conhecimento, tais como geologia, engenharia dos materiais e mineração. Sobre o MEV, julgue as afirmativas a seguir: I - O funcionamento do MEV se dá por meio da captação pelos detectores e da análise dos raios-X característicos emitidos pela amostra, permitindo a obtenção de informações qualitativas e quantitativas da composição da amostra. II - A elevada profundidade de foco do equipamento, permitindo a obtenção de imagens tridimensionais, e a possibilidade de combinar a análise microestrutural com a microanálise química constituem vantagens do uso da técnica de microscopia eletrônica. Assinale a resposta correta. Questão 3Escolha uma opção: a. Apenas a afirmativa I está correta, pois a obtenção de imagens tridimensionais, mencionada na afirmativa II, não é possível por meio da técnica de MEV. b. Apenas a afirmativa II está correta, pois a análise quantitativa de minerais, mencionada na afirmativa I, não é possível por meio da técnica de MEV. c. As afirmativas I e II estão corretas e os raios-X emitidos pela amostra, mencionados na afirmativa I, são obtidos pela interação dos elétrons primários com a superfície da amostra. d. As afirmativas I e II estão corretas e os raios-X emitidos pela amostra, mencionados na afirmativa I, são obtidos pela interação dos elétrons secundários com a superfície da amostra. e. Apenas a afirmativa I está correta, pois a correlação com a microanálise química, mencionada na afirmativa II, não é possível por meio da técnica de MEV. Questão 4 Ainda não respondida Vale 2,0 ponto(s). Marcar questão Texto da questão Os diversos componentes do MEV atuam em conjunto para produzir as condições físicas necessárias à aplicação do método. Sobre esses componentes, analise os itens a seguir: I - É o conjunto de componentes cuja finalidade é a produção dos elétrons e a sua aceleração para o interior da coluna ótico-eletrônica. II - Atuam reduzindo o diâmetro do feixe produzido pelo canhão de elétrons, visando a produzir uma boa imagem em grandes aumentos. III - Região onde ficam localizados o canhão de elétrons, as lentes condensadoras, as bobinas que promovem a deflexão do feixe de elétrons primários no sentido horizontal e vertical sobre dada região da amostra e as bobinas que fazem as correções de astigmatismo. Assinale a alternativa que mostra a que se referem os itens. Questão 4Escolha uma opção: a. I - lentes condensadoras; II - detector; III - coluna ótico-eletrônica. b. I - lentes condensadoras; II - bobinas; III - coluna ótico-eletrônica. c. I - lentes condensadoras; II - bobinas; III - sistema de demagnificação. d. I - detector; II - bobinas; III - coluna ótico-eletrônica. e. I - canhão de elétrons; II - lentes condensadoras; III - coluna ótico-eletrônica.