LAB - Medição de componentes eletrônicos

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Instruções: 
1. Montar os experimentos expostos e apresentá-los funcionando conforme descrição. 
PRÁTICA: MEDIÇÃO DE COMPONENTES ELETRÔNICOS 
1. INTRODUÇÃO 
Nos experimentos descritos neste laboratório serão aplicados os conceitos 
estudados em aula on line no ava sobre os componentes dos sistemas eletrônicos 
(capítulo 5). 
 
2. EXPERIMENTOS 
 
2.1. Experimento 01 – DIODO. 
 
Coletar 4 diodos retificadores, 4 diodos zeners e 4 LED. Preencher a tabela 
com os dados do datasheet e das suas medições com o multímetro. 
 
Diodos Descrição 
DATASHEET SITUAÇÃO 
SIMBOLOGIA 
VR(max) IF VZ BOM CURTO ABERTO 
D1 
 
D2 
D3 
D4 
D5 
D6 
D7 
D8 
D9 
D10 
D11 
D12 
 
 
 
SENAI – Serviço Nacional de Aprendizagem Industrial 
Departamento Regional de Sergipe 
Centro de Educação e Tecnologia – Albano Franco 
Curso: Técnico em Eletroeletrônica 
 
Unidade Curricular: 
Instalação de Sistemas 
Eletrônicos 
Instrutor: Marco Aurélio 
 
Alunos: 
 
 
Nota: 
 
 
2.2. Experimento 02 – TRANSISTOR. 
 
Coletar 10 transistores, 5 NPN e 5 PNP. Preencher a tabela com os dados do 
datasheet e das suas medições com o multímetro. 
 
Diodos Descrição 
DATASHEET TIPO SITUAÇÃO 
SIMBOLOGIA 
HFE IB VCE IC NPN PNP BOM CURTO ABERTO 
T1 
 
T2 
T3 
T4 
T5 
T6 
T7 
T8 
T9 
T10 
 
2.3. Experimento 03 – SCR e TRIAC 
Coletar 4 SCR e 4 TRIAC. Preencher a tabela com os dados do datasheet e 
das suas medições com o multímetro. 
 
Diodos Descrição 
DATASHEET SITUAÇÃO 
SIMBOLOGIA 
IG IH IL IT VDRM BOM CURTO ABERTO 
SCR1 
 
SCR2 
SCR3 
SCR4 
TRIAC1 
TRIAC2 
TRIAC3 
TRIAC4 
 
2.4. Experimento 04 – TRANSFORMADOR 
Coletar 4 transformadores. Preencher a tabela com os dados do datasheet e 
das suas medições com o multímetro. 
 
Diodos Descrição 
PRIMÁRIO SECUNDÁRIO SITUAÇÃO 
SIMBOLOGIA 
1 2 3 4 5 6 BOM CURTO ABERTO 
D1 
 
D2 
D3 
D4