Logo Passei Direto
Buscar

Avaliação II - Ciência e Propriedade dos Materiais

Ferramentas de estudo

Questões resolvidas

Com relação à técnica de microscopia para caracterização de materiais, assinale a alternativa CORRETA:
A Na microscopia ótica, um feixe de elétrons é posicionado sobre a amostra, gerando uma imagem formada pelo conjunto de lentes objetivas e oculares.
B O microscópio ótico é um equipamento de alto custo, em função da necessidade de troca periódica de lentes devido ao desgaste.
C Amostras para caracterização em microscópio eletrônico de varredura (MEV), diferentemente das amostras para microscopia ótica, não necessitam de uma elevada planicidade.
D A principal limitação da técnica de microscopia eletrônica de varredura (MEV) é a baixa profundidade de foco.
a) A
b) B
c) C
d) D

Material
páginas com resultados encontrados.
páginas com resultados encontrados.

Escolha uma das opções e acesse esse e outros materiais sem bloqueio. 🤩

Cadastre-se ou realize login

Ao continuar, você aceita os Termos de Uso e Política de Privacidade

Escolha uma das opções e acesse esse e outros materiais sem bloqueio. 🤩

Cadastre-se ou realize login

Ao continuar, você aceita os Termos de Uso e Política de Privacidade

Escolha uma das opções e acesse esse e outros materiais sem bloqueio. 🤩

Cadastre-se ou realize login

Ao continuar, você aceita os Termos de Uso e Política de Privacidade

Escolha uma das opções e acesse esse e outros materiais sem bloqueio. 🤩

Cadastre-se ou realize login

Ao continuar, você aceita os Termos de Uso e Política de Privacidade

Questões resolvidas

Com relação à técnica de microscopia para caracterização de materiais, assinale a alternativa CORRETA:
A Na microscopia ótica, um feixe de elétrons é posicionado sobre a amostra, gerando uma imagem formada pelo conjunto de lentes objetivas e oculares.
B O microscópio ótico é um equipamento de alto custo, em função da necessidade de troca periódica de lentes devido ao desgaste.
C Amostras para caracterização em microscópio eletrônico de varredura (MEV), diferentemente das amostras para microscopia ótica, não necessitam de uma elevada planicidade.
D A principal limitação da técnica de microscopia eletrônica de varredura (MEV) é a baixa profundidade de foco.
a) A
b) B
c) C
d) D

Prévia do material em texto

Prova Impressa
GABARITO | Avaliação II - Individual (Cod.:956709)
Peso da Avaliação 2,00
Prova 83625473
Qtd. de Questões 10
Acertos/Erros 10/0
Nota 10,00
Um das principais técnicas de caracterização dos materiais é a microscopia. Dentro dessa técnica, 
existem diferentes métodos e equipamentos disponíveis. Cada técnica apresenta vantagens e 
desvantagens, e deve ser selecionada de acordo com objetivo da caracterização. 
 
Com relação à técnica de microscopia para caracterização de materiais, assinale a alternativa 
CORRETA:
A Na microscopia ótica, um feixe de elétrons é posicionado sobre a amostra, gerando uma imagem
formada pelo conjunto de lentes objetivas e oculares.
B O microscópio ótico é um equipamento de alto custo, em função da necessidade de troca
periódica de lentes devido ao desgaste.
C Amostras para caracterização em microscópio eletrônico de varredura (MEV), diferentemente das
amostras para microscopia ótica, não necessitam de uma elevada planicidade.
D A principal limitação da técnica de microscopia eletrônica de varredura (MEV) é a baixa
profundidade de foco.
O microscópio eletrônico de varredura (MEV) é um equipamento utilizado para a caracterização 
de materiais cerâmicos, polímero e metais. É composto por um conjunto de lentes eletromagnéticas 
que colimam um feixe primário de elétrons, que é direcionado para a amostra. A imagem é formada a 
partir da análise do produto da interação dos elétrons primários com a amostra. Para a obtenção da 
composição química, com a utilização de uma sonda EDS, são analisados:
A Os Raios-X característicos.
B Os raios infravermelhos característicos.
C Os elétrons gerados pela colisão inelástica.
D Os elétrons gerados pela colisão elástica.
Ao aquecermos um material, ocorre um aumento na amplitude do movimento vibracional dos 
átomos. De fato, o aumento das dimensões do material quando o aquecemos se deve ao perfil 
assimético da curva de energia de ligação. Sobre a expansão térmica dos materiais, classifique V para 
as sentenças verdadeiras e F para as falsas:
( ) Materiais com menor energia de ligação tendem a apresentar maior expansão térmica quando 
comparados a material com elevada energia de ligação, para um mesmo intervalo de temperatura.
 VOLTAR
A+ Alterar modo de visualização
1
2
3
( ) Os polímeros apresentam baixa expansão térmica quando comparados aos metais, em função das 
fortes ligações secundárias do tipo ponte de hidrogênio.
( ) Materiais cerâmicos apresentam elevada expansão térmica, em função da ruptura frágil de suas 
ligações com o incremento da temperatura.
( ) A expansão térmica cresce exponencialmente em função do número de elétrons livres presentes 
no material.
Agora, assinale a alternativa que apresenta a sequência CORRETA:
A F - F - F - V.
B V - V - V - F.
C V - F - F - F.
D F - V - V - F.
Materiais podem ser constituídos por apenas um elemento químico, pela combinação de diferentes 
elementos químicos, ou ainda pela combinação de materiais de diferentes classes.
Com base no exposto, assinale a alternativa CORRETA que apresenta, respectivamente, exemplos dos 
tipos de materiais citados:
A Cobre, Polietileno e PVC.
B Bronze, Alumínio e Fibra de vidro.
C Ferro, Aço e Widia (metal duro).
D Diamante, Alumina e Latão.
Os materiais cristalinos, diferentemente dos materiais amorfos, apresentam uma organização 
característica de seus átomos. Além disso, essa ordenação dos átomos é de longo alcance. Já nos 
materiais amorfos não temos organização atômica de longo alcance.
Com base no exposto, assinale a alternativa CORRETA que apresenta um exemplo de material 
amorfo:
A Vidro comum.
B Alumina.
C Alumínio.
D Aço.
Para a caracterização de materiais, é possível utilizar diversas técnicas de microscopia. A 
escolha de um ou outro método depende de diversos fatores, tais como as características da amostras, 
4
5
6
ampliação e objetivos da caracterização. Sobre as técnicas de microscopia, analise as afirmativas a 
seguir:
I- Na microscopia ótica, a imagem formada na lente objetiva é resultado da interação de fótons com a 
amostra.
II- Na microscopia eletrônica de varredura, a imagem é formada a partir da interação da luz com o 
comprimento de onda na faixa do visível com a amostra analisada.
III- A resolução máxima de um microscópio eletrônico de varredura depende somente da qualidade 
das lentes de vidro utilizadas.
IV- Um microscópio ótico é composto por um conjunto de lentes objetivas e oculares.
Assinale a alternativa CORRETA:
A As afirmativas I e IV estão corretas.
B As afirmativas II e IV estão corretas.
C As afirmativas I e III estão corretas.
D As afirmativas I e II estão corretas.
O comportamento mecânico de um material reflete a relação entre sua resposta a uma força que esteja 
sendo aplicada. 
Assinale a alternativa CORRETA quanto às características mecânicas dos materiais:
A A tenacidade está relacionada à capacidade de deformação plástica.
B A resiliência compreende o campo plástico.
C O módulo de elasticidade é analisado no campo plástico.
D A tensão de escoamento ocorre no início do escoamento elástico.
Os ensaios mecânicos são fundamentais para a caracterização de qualquer material, pois através 
destes é possível entender o comportamento do material em que se trabalha. Além disso, é por meio 
deles que o resultado do recozimento pode ser avaliado, como o ensaio de dureza, ou pela avaliação 
da microestrutura.
 
Sobre as principais propriedades dos materiais que são determinadas por meio de ensaios mecânicos, 
assinale a alternativa CORRETA:
A Dureza, resistência, plasticidade, elasticidade e tenacidade.
B Tenacidade, dureza, condutividade térmica, difusibilidade térmica e elasticidade.
C Dilatação térmica, capacidade térmica, resistência e tenacidade.
7
8
D Composição química, condutividade elétrica, calor específico e plasticidade.
Em termos de propriedades elétricas, existem aplicações em que é necessário que o material 
conduza bem a energia. Já em outras aplicações, deseja-se uma condutividade específica 
(semicondutores). Em outros casos, é desejável que o material tenha baixa condutividade elétrica 
(isolantes). Com relação às propriedades elétricas dos materiais, assinale a alternativa CORRETA:
A Um material condutor deve apresentar elevada rigidez dielétrica, tendo em vista que na aplicação,
deverá suportar o fluxo de elétrons sem entrar em colapso.
B Materiais supercondutores são um tipo especial de materiais, os quais apresentam uma
diminuição da resistividade elétrica com o aumento da temperatura.
C
Os materiais isolantes são classificados do acordo com a sua rigidez dielétrica [unidade de V/m],
ou seja, apresentam um valor alto de rigidez dielétrica. Na prática, se mede a tensão elétrica
máxima suportada para uma determinada espessura do material, sem que haja condução de
eletricidade.
D
Um material semicondutor é obtido a partir da mistura de um material condutor com um material
isolante. A condutividade final sempre obedece uma proporção linear de acordo com a fração em
massa de cada fase cristalina.
Os ensaios não destrutivos são utilizados, por exemplo, quando não existe a possibilidade de 
realizar um ensaio destrutivo. Sobre esse tipo de ensaio, analise as sentenças a seguir:
I- Os ensaios não destrutivos normalmente oferecem como resultado um dado indireto sobre 
determinada propriedade. Dessa forma, é necessário certo nível de experiência na interpretação dos 
resultados.
II- O ensaio de líquidos penetrantes é utilizado na medição da permeabilidade do material. Nesse 
ensaio, o tempo de absorção de um líquido especial pelo material é avaliado.
III- O ensaio de ultrassom pode ser utilizado na medição de espessura de parede, podendo ser 
utilizado, por exemplo, na medição de espessura em locais na peça onde o acesso a instrumentos de 
medição convencionais é restrito.
IV- Através do ensaio de Raios-X é possível identificar poros e inclusões no material analisado. O 
resultado da imagem obtida no ensaio depende da espessurado material e da quantidade de radiação 
absorvida pelo material analisado.
Agora, assinale a alternativa CORRETA:
A As sentenças I, II e IV estão corretas.
B Somente a sentença I está correta.
C As sentenças I, III e IV estão corretas.
D Somente a sentença IV está correta.
9
10
Imprimir

Mais conteúdos dessa disciplina