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I II Dados Internacionais de Catalogação-na-Publicação (CIP) Divisão de Informação e Documentação Susana Zepka Influência do Tempo de Implantação Iônica por Imersão em Plasma de Nitrogênio (IIIP-N) nas Propriedades da Liga Ti-6Al-4V/ Susana Zepka. São José dos Campos, 2013. 155f. Tese de (doutorado) – Curso de Engenharia Aeronáutica e Mecânica - Área de Materiais e Processos de Fabricação – Instituto Tecnológico de Aeronáutica, 2013. Orientadores: Profª Drª Danieli Aparecida Pereira Reis e Prof. Dr. Carlos de Moura Neto. 1. Fluência (materiais). 2. Ligas. 3. Titânio. I. Instituto Tecnológico de Aeronáutica. II. Influência do Tempo de Implantação Iônica por Imersão em Plasma de Nitrogênio (IIIP-N) nas Propriedades da Liga Ti- 6Al-4V REFERÊNCIA BIBLIOGRÁFICA ZEPKA, Susana. Influência do Tempo de Implantação Iônica por Imersão em Plasma de Nitrogênio (IIIP-N) nas Propriedades da Liga Ti-6Al-4V. 2013. 155f. Tese de (Doutorado em Materiais e Processos de Fabricação) – Instituto Tecnológico de Aeronáutica, São José dos Campos. CESSÃO DE DIREITOS NOME DO AUTOR: Susana Zepka TÍTULO DO TRABALHO: Influência do Tempo de Implantação Iônica por Imersão em Plasma de Nitrogênio (IIIP-N) nas Propriedades da Liga Ti-6Al-4V TIPO DO TRABALHO/ANO: Tese / 2013 É concedida ao Instituto Tecnológico de Aeronáutica permissão para reproduzir cópias desta tese e para emprestar ou vender cópias somente para propósitos acadêmicos e científicos. O autor reserva outros direitos de publicação e nenhuma parte desta tese pode ser reproduzida sem a sua autorização (do autor). _________________________________ Susana Zepka H27A casa 104 – Campus do DCTA 12228-650 - São José dos Campos - SP III INFLUÊNCIA DO TEMPO DE IMPLANTAÇÃO IÔNICA POR IMERSÃO EM PLASMA DE NITROGÊNIO (IIIP-N) NAS PROPRIEDADES DA LIGA Ti-6Al-4V Susana Zepka Composição da Banca Examinadora: Prof. Lindolfo Araújo Moreira Filho Presidente – ITA Prof. Danieli Aparecida Pereira Reis Orientador – ITA/UNIFESP Prof. Carlos de Moura Neto Coorientador – ITA Dr. Francisco Piorino Neto IAE/DCTA Dr. João Paulo Barros Machado LAS/INPE Prof. Heide Heloise Bernardi ITA ITA IV A minha amada filha. Minha inspiração, minha motivação e minha realização. V AGRADECIMENTOS Agradeço à Deus, por tudo o que me concede e permite. Agradeço à Profª Drª Danieli Aparecida Pereira Reis, pela firmeza, seriedade, estímulo, carinho e fé com que me orientou. Pela amizade com que me presenteou. Pelo exemplo de vida que é para todos com quem convive. Pelos valores éticos e morais com que direciona sua conduta. Agradeço por ter acreditado em mim e ter me amparado em momentos que me senti derrotada e impotente. Agradeço ao Prof. Dr. Carlos de Moura Neto, pela acolhida e amizade com que me presenteou desde minha chegada ao ITA. Pela convivência leve e séria, permeada de muita inteligência, conhecimento, cultura e bom humor. Por ter me incentivado e apoiado neste trabalho e na vida pessoal. Agradeço à Profª Drª Maria Margareth da Silva, pela ajuda, suporte técnico e paciência, pelo seu tempo e compreensão. Um agradecimento muito especial à minha filha Vivian Zepka Thompson, por ser o maior presente que Deus poderia me dar, meu grande amor e meu maior orgulho. Agradeço pelo amor, carinho, incentivo e fé com que me mima todos os momentos da minha vida. Aos meus pais, quanta saudade! Agradeço a todos os amigos, melhores presentes de Deus, que me ajudaram tanto e com tanto amor. Roseli Félix, a qualquer hora, em qualquer lugar e para qualquer coisa. Tarcila Sugahara pelo carinho, preocupação e apoio incondicional. Lucila Yogi pela torcida e ajuda. Ao Felipe Caliari, sempre gentil e prestativo. Adriano Reis, Fabrícia e tantos outros, amigos e apoios. E todos aqueles que contribuíram direta e indiretamente para que este trabalho chegasse ao fim. VI Aos meus amigos e amigas de tantos anos, que sempre torceram por mim, se preocupando e cuidando de mim em todas as horas, boas e ruins. Ao Instituto Tecnológico de Aeronáutica (ITA), agradeço pela oportunidade de estudo e realização deste trabalho. Ao Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE) agradeço a permissão de uso de seus equipamentos e profissionais. Em especial, ao Dr. Mário Ueda e ao Dr. João Paulo Barros Machado que não só me ajudaram com ensaios, mas também, me ensinaram muito a respeito de campos de estudos e pesquisas inéditos para mim. VII RESUMO Materiais com comportamento adequado em temperaturas elevadas e ambientes agressivos tornaram-se uma necessidade científica, tecnológica e economicamente viável nos dias de hoje. A literatura relata estudos que têm sido realizados, independente de objetivos comerciais, para o aprimoramento na obtenção de novas ligas e, principalmente, para a reavaliação de ligas comerciais já existentes, por meio da aquisição de dados em condições de maior severidade. Neste trabalho de doutorado, dá-se continuidade às pesquisas já iniciadas nos estudos de fluência da liga Ti-6Al-4V, estudando-se a influência do tratamento superficial de Implantação Iônica por Imersão em Plasma (IIIP) com diferentes tempos de implantação para a modificação das propriedades superficiais da liga Ti-6Al-4V, com intuito de se obter melhorias nas propriedades tribológicas e na resistência à fluência do material. A liga selecionada (Ti-6Al-4V) foi submetida ao tratamento de IIIP para a implantação de íons de nitrogênio, objetivando-se a formação de uma camada superficial de TiN. As amostras foram caracterizadas pelas técnicas de espectrometria Auger, Raman, desgaste, difração de raios X, microscopia eletrônica de varredura, rugosidade superficial (AFM) e nanoindentação. A liga também foi submetida a ensaios de fluência nas temperaturas de 500, 600 e 700ºC na modalidade de carga constante. Estudos completos de ensaio de fluência da liga refratária Ti-6Al-4V tratada com implantação iônica por imersão em plasma são escassos na literatura. Pelos resultados obtidos comprova-se a formação de nitretos superficiais nas amostras. Os valores de rugosidade e dureza superficial aumentam quanto maior o tempo de implantação, devido à formação de TiN, diminuindo analogamente o seu coeficiente de desgaste. As amostras com IIIP de 3 e 8 horas apresentam uma menor resistência à fluência quando comparadas com as amostras sem tratamento. Esta menor resistência à fluência é comprovada pela maior taxa de fluência estacionária e à diminuição do tempo de fratura do material, podendo estar relacionada à formação de nitreto de titânio na superfície do material. Devido VIII ao aumento da dureza superficial, promovem um comportamento mais frágil à liga, diminuindo a sua resistência à fluência. Nas amostras com tempo de implantação de 2 horas, a fina camada de nitreto formada não alterou de forma o comportamento dúctil da liga, agindo como uma proteção à oxidação da liga quando submetida em temperaturas elevadas e melhorando seu desempenho em fluência. A correlação dos valores de expoente de tensão e energia de ativação para a região estacionária sugere que o mecanismo de fluência nesse trabalho está associado à escalagem e escorregamento de discordâncias. IX ABSTRACT Materialswith appropriate behavior at high temperatures and severe environments have become a necessity scientific, technological and economically nowadays. Studies have been conducted, independent business objectives to the improvement in getting new alloys and primarily to the revaluation of existing commercial alloys by means of data acquisition in conditions of more severity. In this work, it continued the creep studies of Ti-6Al-4V alloy in surface treatment by plasma immersion ion implantation (PIII) with different implantation times, to obtain improvements in the tribological properties and creep resistance of the material. The alloy (Ti-6Al-4V) was submitted to PIII treatment to the nitrogen ion implantation, aiming the formation of a surface layer of TiN. The samples were characterized by the Auger, Raman, wear, X ray diffraction, scanning electron microscopy, roughness superficial (AFM) and nanoindentation techniques. The alloy also was subjected to the creep tests at temperatures of 500, 600 and 700 o C in constant load. Complete studies of creep test of Ti-6Al-4V alloy treated with plasma immersion ion implantation are scarce in literature. The obtained results showed the nitrites superficial in the alloys. The roughness values and hardness superficial increased accordingly implantation time, because the TiN formation decreasing analogously the wear coefficient. The PIII 3h samples showed lower creep resistance than without treatment samples. This lower creep resistance was verified by higher stationary creep rate and the decreasing of fracture time, it can be related to TiN formation on surface of the material promoting a fragile behavior to the alloy, decreasing its creep resistance. In the samples of 2h implantation time, the thin layer of TiN formed didn’t change significantly the ductile behavior of the alloy, protecting to oxidation in high temperatures and in creep performance. The values correlation of stress exponent and activation energy to stationary stage indicated that the creep mechanism to this work is associated to dislocation. X LISTA DE FIGURAS Figura 1 - Estrutura cristalina e transformações de fase do titânio puro ............................... . 31 Figura 2 - Representação do processo de implantação iônica................................................. 37 Figura 3 - Curva típica de fluência apresentando os três estágios do processo; curva A, ensaio em carga constante; curva B, ensaio em tensão constante .......................................................44 Figura 4 - Influência da tensão σ e da temperatura T sobre o comportamento da fluência..... 45 Figura 5 - Representação gráfica de ln ( s ) versus ln (σ). ..................................................... 48 Figura 6 - Representação gráfica de de ln ( s ) versus 1/T...................................................... 49 Figura 7 - Representação esquemática da fluência por difusão em uma microestrutura de grãos ......................................................................................................................................... 52 Figura 8 - Fluxo de vacâncias através do volume do grão (Nabarro-Herring) ou ao longo do contorno de grão (Coble).......................................................................................................... 53 Figura 9 - Escorregamento de discordâncias em baixas temperaturas: a) superação da barreira de Peierls; b) interação entre as partículas de precipitado........................................................ 55 Figura 10 - Escorregamento e escalagem de discordâncias em altas temperaturas (S é a fonte de discordâncias)....................................................................................................................... 56 Figura 11 - Representação esquemática da movimentação das mudanças de discordâncias durante a fluência: a) emaranhado de discordâncias, b) recuperação, c) formação do subgrão e d) discordâncias mais livres...................................................................................................... 57 Figura 12 - Princípio de escorregamento do contorno de grão................................................ 59 Figura 13 - (a) Difração de raios X por planos da átomos (A-A’ e B-B’), (b) região ampliada....................................................................................................................................61 Figura 14 - Padrão de difração de pó de alumínio...................................................................62 Figura 15 - Representação esquemática de uma seção da depressão produzida pela nanoindentação..........................................................................................................................64 Figura 16 - Estágios da realização do processo Auger............................................................67 XI Figura 17 - Esquema do princípio de funcionamento de um microscópio de força atômica (AFM ou SPM).........................................................................................................................69 Figura 18 - (a) Representação esquemática de Rms (=Ra) e Rq; (b) representação esquemática de Ry; (c) representação esquemática de Rz.............................................................................71 Figura 19 - Esquema das diferenças entre Microscopio Óptico e Microscópio Eletrônico de Varredura..................................................................................................................................74 Figura 20 - Esquema do ensaio de desgaste pelo método de pino-sobre-disco......................75- Figura 21 - Esquema geral representando o espalhamento de luz. Os traços contínuos são níveis de energia próprios da substância em estudo e os tracejados são níveis transitórios, de tempo de vida muito curtos (da ordem de fentosegundos ou 10 -15 s); hν0 é a energia de radiação incidente e hνs refere-se à radiação espalhada............................................................77 Figura 22 - Exemplo do uso de Espectroscopia Raman na identificação das substâncias. Os espectros mostrados são todos de pigmentos brancos: (a) branco de chumbo (carboneto de chumbo); (b) branco de ossos (fosfato de cálcio) e (c) gipsita (sulfato de cálcio hidratado)...78 Figura 23 - Comparação dos espectros de absorção no infravermelho (linha superior) e Raman (linha inferior)...............................................................................................................79 Figura 24 - Micrografia da liga Ti-6AL-4V com estrutura equiaxial .....................................81 Figura 25 - Configuração do corpo de prova (dimensões em milímetros) ............................82 Figura 26 - Ilustração dos equipamentos que constituem o IIIP .............................................83 Figura 27 - Foto do pulsador de alta tensão RUP-4 ................................................................83 Figura 28 - Porta-amostras preparado com os corpos de prova ..............................................84 Figura 29 - Câmara durante processo de IIIP .........................................................................85 Figura 30 - Curva típica de resfriamento da liga Ti-6Al-4V após tratamento IIIP em altas temperaturas (800 o C) ...............................................................................................................87 Figura 31 - Foto do pirômetro óptico MIKRON, modelo MO-Q, indicando a temperatura de 803 o C no porta-amostras...........................................................................................................87 Figura 32 - Foto do sistema de microscopia de força atômica...............................................90Figura 33 - Detalhe do porta-amostra do microscópio de Força Atômica...............................90 Figura 34 - Representação esquemática do sistema de controle do cabeçote do penetrador do Nanoindentador XP...................................................................................................................91 XII Figura 35 - Foto do equipamento CSM-Instruments Pin-on-disk Tribometer, Sn 18-313, conectado a um computador que recebe os dados do ensaio....................................................93 Figura 36 - Equipamento de fluência da marca Meyer ...........................................................94 Figura 37 - a) Corpo de prova; b) Corpo de prova ajustado à zona central do forno .............95 Figura 38 - Microscópio eletrônico de varredura pertencente ao LAS/INPE ........................97 Figura 39 - Difração de raios X de amostra de Ti-6Al-4V sem tratamento de IIIP.................99 Figura 40 - Difração de raios X de amostra de Ti-6Al-4V com implantação de 2 horas........99 Figura 41 - Difração de raios X da pastilha de Ti-6Al-4V com implantação de 3 horas......100 Figura 42 - Difração de raios X da pastilha de Ti-6Al-4V com implantação de 4 horas......101 Figura 43 - Difração de raios X da pastilha de Ti-6Al-4V com implantação de 8 horas......101 Figura 44 - Análise por espectroscopia Raman da amostra sem tratamento para identificação de bandas de TiN.....................................................................................................................102 Figura 45 - Análise por espectroscopia Raman da amostra com tratamento de 2 horas de implantação, para identificação de bandas de TiN.................................................................103 Figura 46 - Análise por espectroscopia Raman da amostra com tratamento de 3 horas de implantação, para identificação de bandas de TiN.................................................................104 Figura 47 - Análise por espectroscopia Raman da amostra com tratamento de 4 horas de implantação, para identificação de bandas de TiN.................................................................105 Figura 48- Espectometria Auger da amostra de Ti-6Al-4V com implantação em 2 horas....106 Figura 49 - Espectometria Auger da amostra de Ti-6Al-4V com implantação em 3 horas...107 Figura 50 - Análise de AFM para amostra sem tratamento...................................................107 Figura 51 - Análise de AFM para amostra com tempo de implantação de 2 horas...............108 Figura 52 - Análise de AFM para amostra com tempo de implantação de 3 horas...............108 Figura 53 - Análise de AFM para amostra com tempo de implantação de 4 horas...............109 Figura 54 - Análise de AFM para amostra com tempo de implantação de 8 horas...............109 Figura 55 -Dureza x profundidade de contato da amostra com implantação de 2 horas.......112 Figura 56 -Dureza x profundidade de contato da amostra com implantação de 3 horas.......112 Figura 57 -Dureza x profundidade de contato da amostra com implantação de 4 horas.......113 Figura 58 -Dureza x profundidade de contato da amostra com implantação de 8 horas.......113 XIII Figura 59 - Imagem obtida via MO da trilha deixada na amostra de referência pelo pino de desgaste...................................................................................................................................115 Figura 60 - Imagem obtida via MO da trilha deixada na amostra com tempo de imersão de 2 horas, pelo pino de desgaste.................................................................................................116 Figura 61 - Imagem obtida via MO da trilha deixada na amostra com tempo de imersão de 3 horas, pelo pino de desgaste.................................................................................................116 Figura 62 - Imagem obtida via MO da trilha deixada na amostra com tempo de imersão de 4 horas, pelo pino de desgaste.................................................................................................117 Figura 63 - Imagem obtida via MO da trilha deixada na amostra com tempo de imersão de 8 horas, pelo pino de desgaste.................................................................................................117 Figura 64 - Variação do coeficiente de atrito pelo número de ciclos do ensaio de desgaste pin-on-disk da amostra sem tratamento..................................................................................118 Figura 65 - Variação do coeficiente de atrito pelo número de ciclos do ensaio de desgaste pin-on-disk da amostra com implantação de 2 horas..............................................................119 Figura 66 - Variação do coeficiente de atrito pelo número de ciclos do ensaio de desgaste pin-on-disk da amostra com implantação de 3 horas.............................................................119 Figura 67 - Variação do coeficiente de atrito pelo número de ciclos do ensaio de desgaste pin-on-disk da amostra com implantação de 4 horas.............................................................120 Figura 68 - Variação do coeficiente de atrito pelo número de ciclos do ensaio de desgaste pin-on-disk da amostra com implantação de 8 horas.............................................................120 Figura 69 - Curva deformação x tempo para a amostra sem tratamento e amostra com tempo de implantação de 2 horas nas condições de fluência de 600 o C e tensão de 250 MPa.........................................................................................................................................121 Figura 70 - Curvas deformação x tempo para a amostra sem tratamento e amostra com tempo de implantação de 2 horas, nas condições de fluência de 600ºC e tensão de 319 MPa.........................................................................................................................................122 Figura 71 - Curvas deformação x tempo para a amostra sem tratamento e amostra com tempo de implantação de 3 horas nas condições de fluência de 600ºC e tensão de 125 MPa.........................................................................................................................................123 Figura 72 - Curvas deformação x tempo para a amostra sem tratamento e amostra com tempo de implantação de 3 horas nas condições de fluência de 600ºC e tensão de 250 MPa.........................................................................................................................................124 Figura 73 - Curvas deformação x tempo para a amostra sem tratamento e amostra com tempo de implantação de 3 horas nas condições de fluência de 600ºC e tensão de 319 MPa.........................................................................................................................................125 XIV Figura 74 - Curvas deformação x tempo para a amostra sem tratamento e amostra com tempo de implantação de 3 horas nas condições de fluência de 600ºC e tensões de 125, 250 e 319 MPa.........................................................................................................................................126 Figura 75 - Curvas deformação x tempo para a amostra sem tratamento e amostra com tempo de implantação de 3 horas nas condições de fluência de 500ºC e tensão de 319 MPa.........................................................................................................................................127 Figura 76 - Curvas deformação x tempo para a amostra sem tratamento e amostra com tempo de implantação de 3 horas nas condições de fluência de 500ºC e tensão de 319 MPa.........................................................................................................................................128Figura 77 - Curvas deformação x tempo para a amostra sem tratamento e amostra com tempo de implantação de 8 horas nas condições de fluência de 600ºC e tensão de 250 MPa.........................................................................................................................................129 Figura 78 - Curvas deformação x tempo para a amostras sem tratamento e amostras com tempo de implantação de 2 horas, 3 horas e 8 horas em todas as condições estudadas.................................................................................................................................130 Figura 79 - Dependência da taxa secundária com a tensão a 600ºC para nas amostras sem tratamento de IIIP e com tratamento de IIIP com tempos de implantação de 3 horas, na temperatura de 600ºC..............................................................................................................132 Figura 80 - Determinação da energia de ativação das condições sem tratamento e com tratamento de IIIP de 3 horas a 319 MPa ...............................................................................134 Figura 81 – Micrografias obtidas via MEV da liga Ti-6Al-4V: a) sem tratamento; b) IIIP - 2 horas; c) IIIP - 3 horas; d) IIIP - 4 horas e e) IIIP - 8 horas ................................................136 XV LISTA DE TABELAS Tabela 1. Composição típica da liga Ti-6Al-4V.................................................................... .. 34 Tabela 2. Propriedades mecânicas da liga Ti-6Al-4V comparada com alguns metais conhecidos............................................................................................................................... . 34 Tabela 3. Condições dos ensaios de fluência...........................................................................96 Tabela 4. Valores de rugosidade média obtidos via AFM.....................................................110 Tabela 5. Valores de V e K para cada tempo de imersão......................................................114 Tabela 6. Comparação em percentual dos desgastes das amostras em cada tempo de imersão....................................................................................................................................114 Tabela 7. Parâmetros experimentais de fluência obtidos para amostras com tempo de implantação de 2, 3, 4 e 8 horas e sem tratamento..................................................................131 Tabela 8. Expoente de tensão n e constante B obtidos a 600ºC.............................................133 Tabela 9. Parâmetros Qc e C para as condições sem tratamento e com tratamento de IIIP de 3 horas a 319 MPa...................................................................................................................134 XVI LISTA DE ABREVIATURAS E SIGLAS AES - Auger Electron Spectroscopy AFM - Atomic Force Microscopy CCC - Cúbico de corpo centrado CFC - Cúbico de face centrada CDP - Corpo de prova EUA - Estados Unidos da América IIIP - Implantação Iônica por Imersão em Plasma IIIP-N - Implantação Iônica por Imersão em Plasma de Nitrogênio HC - Hexagonal compacto ITA - Instituto Tecnológico de Aeronáutica INPE - Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais LAP - Laboratório Associado de Plasma LAS - Laboratório Associado de Sensores e Materiais LME - Laboratório de Microscopia Eletrônica LVDT - Linear Variable Differential Transformer MO - Microscopia Óptica MEV - Microscopia Eletrônica de Varredura ppm - Parte por milhão XVII LISTA DE SÍMBOLOS α - alfa α, m - constantes que dependem do material no ensaio de nanoindentação β - beta ε - deformação s - taxa de fluência secundária ε0 - deformação instantânea εf - deformação na fratura - ângulo de incidência do feixe de raios X - comprimento de onda μg - micrograma μm - micrometro μs - microssegundo σ - tensão % - por cento a - parâmetro de rede b - vetor de Burgers d - largura da trilha de desgaste dg - tamanho médio de grão g - grama XVIII h - deslocamento total do penetrador hc - profundidade de contato he - deformações elásticas na penetração hf - profundidade da impressão residual hs - deslocamento da superfície no perímetro de contato h, k, l - índices de Miller k - constante de Boltzman kHz - quilohertz kV - quilovolt m - metro m - constante dependente da microestrutura, temperatura e tensão min - minuto mm - milímetro ms - milissegundo n - expoente de tensão nm - nanometro p - expoente de tamanho de grão r - raio do pino t - tempo tf - tempo de fratura tp - tempo de fluência primária XIX y(x) - desvio do perfil de rugosidade A - constante dependente da microestrutura, temperatura e tensão A - área de contato projetada Al - alumínio B - constante característica do material C - carbono ºC - grau Celsius Cl - cloro D - coeficiente de difusão Do - difusividade E - módulo de elasticidade longitudinal G - módulo de elasticidade transversal GPa - gigapascal Fe - ferro H - hidrogênio H - dureza Ia - soma das intensidades de todos os elementos detectados Ia ∞ - soma das intensidades de todos os elementos puros Im - porção do perfil apalpado Ix - intensidade do elemento detectado - intensidade do elemento puro XX K - kelvin K - coeficiente de desgaste L - carga aplicada em Newtons MPa - megapascal N - distância percorrida em metros N - nitrogênio O - oxigênio P - carga do penetrador Pmáx - carga máxima Qc - energia de ativação para a fluência Qp - energia de ativação para a região primária R - constante universal dos gases R - raio da trilha de desgaste Rm - distância entre o vale mais profundo e a reta média Rms - valor médio quadrático da rugosidade (rugosidade média) Rp - distância entre o pico mais elevado e a reta média Ra - valor médio aritmético da rugosidade Rz - valor médio da rugosidade unitária T - temperatura Ti - titânio Tf - temperatura de fusão XXI TH - temperatura homóloga TS - temperatura de operação V - vanádio Vp - volume perdido Xx - concentração do elemento Zi = Ry - rugosidade unitária XXII ÍNDICE 1 – INTRODUÇÃO ...................................................................................... .................25 1.1 Considerações gerais ................................................................................ .................25 1.2 Objetivos .................................................................................................. .................26 1.2.1 Geral .................................................................................................... .................26 1.2.2 Específicos ............................................................................................. .................26 2 – REVISÃO BIBLIOGRÁFICA ...................................................................... .................28 2.1 Titânio e suas ligas ............................................................................................................28 2.2 A liga Ti-6Al-4V ..................................................................................... .................32 2.3 Implantação Iônica por Imersão em Plasma (IIIP) ...........................................................35 2.4 Fluência.................................................................................................. .................38 2.4.1 O fenômeno da fluência ......................................................................... .................38 2.4.2 Considerações gerais dos metais sob condições de fluência ...................... .................41 2.4.3 O ensaio de fluência ............................................................................... .................43 2.4.4 Mecanismos de deformação por fluência ................................................. .................50 2.4.4.1 Fluência por difusão ............................................................................ .................52 2.4.4.2 Fluência por escorregamento e escalagem de discordâncias ......................................55 2.4.4.3 Fluência por escorregamento de contorno de grão ................................. .................58 2.5 Difração de raios X .................................................................................... .................60 2.6 Medição de dureza por nanoindentação ...................................................... .................63 XXIII 2.7 Determinação de concentração atômica por espectroscopia Auger ................. .................66 2.8 Determinação da rugosidade por microscopia de força atômica .................... .................68 2.9 Microscopia óptica .................................................................................... .................72 2.10 Microscopia eletrônica de varredura ........................................................ .................73 2.11 Determinação do coeficiente de atrito (ensaio de desgaste) ...........................................75 2.12 Espectroscopia Raman .......................................................................... .................76 3 – MATERIAIS E MÉTODOS ..................................................................... .................81 3.1 Liga Ti-6Al-4V ........................................................................................ .................81 3.2 Confecção dos corpos de prova ................................................................. .................82 3.3 Implantação Iônica por Imersão em Plasma (IIIP) ...........................................................82 3.3.1 Tratamento superficial por IIIP sem aquecimento induzido ..................... .................82 3.3.2 Preparação do sistema IIIP para execução do ensaio .....................................................84 3.3.3 Tratamento superficial por IIIP com aquecimento induzido ...................... .................86 3.4 Difração de raios X ................................................................................... .................88 3.5 Espectroscopia Raman ......................................................................................................88 3.6 Concentração atômica por espectrometria Auger .............................................................89 3.7 Rugosidade por microscopia de força atômica ................................................ .................90 3.8 Dureza pelo método de nanoindentação .......................................................... .................91 3.9 Desgaste e coeficiente de atrito ....................................................................... .................92 3.10 Microscopia óptica ................................................................................... .................93 3.11 Ensaios de fluência ................................................................................. .................93 XXIV 3.12 Fractometria por microscopia eletrônica de varredura ............................... .................96 4 – RESULTADOS E DISCUSSÕES .............................................................. .................98 4.1 Caracterização da superfície tratada por IIIP ....................................................................98 4.1.1Análise por difração de raios X ..................................................................... .................98 4.1.2 Espectroscopia Raman .................................................................................................102 4.1.2 Concentração atômica por espectrometria Auger ...................................... ...............105 4.1.3 Rugosidade por microscopia de força atômica ............................................ ...............107 4.1.4 Dureza pelo método de nanoindentação ....................................................... ...............110 4.1.5 Desgaste e coeficiente de atrito e uso de microscopia óptica ................... ...............114 4.2 Ensaios de fluência ................................................................................. ...............121 4.3 Análise por microscopia eletrônica de varredura ....................................... ...............135 5 – CONCLUSÕES ........................................................................................ ...............137 6 – REFERÊNCIAS BIBLIOGRÁFICAS ............................................................ ...............139 25 1 – INTRODUÇÃO 1.1 Considerações gerais O comportamento de metais e ligas durante deformação em altas temperaturas é complexo e muda com parâmetros de processamentos termomecânicos e com as condições de trabalho. A literatura relata que pesquisas extensivas têm sido feitas em metais cúbicos de faces centradas (CFC) e cúbicos de corpo centrado (CCC). Entretanto, a resposta da alta taxa de deformação e alta temperatura de metais hexagonais compactos, particularmente ligas, permanece investigada de forma incipiente [1-9]. A liga de titânio Ti-6Al-4V é a mais utilizada em Engenharia pois possui propriedades muito atrativas tanto quanto ao aspecto mecânico como o microestrutural. Essa liga tem sido muito utilizada nas indústrias aeronáutica e aeroespacial, particularmente para aplicações que requerem resistência em altas temperaturas [10-15]. No entanto, durante a deformação em temperaturas elevadas seu comportamento altera-se com os parâmetros de processamento termomecânicos e com as condições de trabalho. Com isso, faz-se necessário entender os mecanismos associados a este tipo de deformação [16-26]. A afinidade do titânio por oxigênio é um dos principais fatores que limitam a aplicação de suas ligas como materiais estruturais em altas temperaturas. A oxidação resulta na perda de material pelo crescimento na camada de óxido e endurecimento da liga pela dissolução de oxigênio [27-32]. Apesar dos notáveis avanços no desenvolvimento de ligas de titânio com alta resistência à tração, ductilidade e resistência à fluência em altas temperaturas, problemas com oxidação limitam o uso dessas ligas em temperaturas superiores a 600 o C. Revestimentos de proteção que servem como barreiras à ação de oxigênio seriam, em princípio, passíveis de serem usados em ligas de titânio por longo tempo em altas temperaturas. Todavia, problemas de aderência durante o ciclo térmico e a difusão dos 26 elementos do recobrimento no substrato são as atuais dificuldades encontradas na pesquisa desses materiais [33-40]. O estudo de fluência de ligas de titânio com tratamento superficial de implantação iônica por imersão em plasma é um projeto que representa um avanço no cenário tecnológico nacional e internacional, visto a necessidade de estudo da oxidação e resistência dos materiais estruturais em temperaturas elevadas e condições de maior severidade [41-43]. 1.2 Objetivos 1.2.1 Geral O presente trabalho tem como objetivo geral realizar a caracterizaçãomecânica da liga Ti-6Al-4V com tratamento superficial de Implantação Iônica por Imersão em Plasma (IIIP), com diferentes tempos de implantação. 1.2.2 Específicos - Realizar tratamentos de Implantação Iônica por Imersão em Plasma na liga Ti-6Al- 4V em diferentes tempos de implantação: 2, 3, 4 e 8 horas. - Analisar a resistência à fluência da liga Ti-6Al-4V submetida ao processo de Implantação Iônica por Imersão em Plasma (IIIP) sob condição de carga constante, na temperatura de 600ºC e tensão de 125 a 319 MPa. - Caracterizar microestruturalmente a liga, tratada superficialmente, pela técnica de microscopia eletrônica de varredura (MEV). - Analisar as trilhas de desgaste, pela técnica de microscopia óptica. - Analisar e determinar qual o tempo ótimo (dentre os estudados) de imersão em plasma para se obter a melhor condição em fluência para a liga Ti-6Al-4V. 27 - Analisar e caracterizar a liga imersa em plasma, em diferentes tempos, pelas técnicas de espectroscopia Auger, Raman, raios X, pin-on-disc, rugosidade e nanoindentação. - Estabelecer uma análise comparativa com os resultados de estudos anteriores, para a liga não tratada por IIIP, ensaiada sob fluência [44-63] 28 2 – REVISÃO BIBLIOGRÁFICA 2.1 Titânio e suas ligas Titânio e suas ligas são excelentes para aplicações como componentes estruturais, submetidos em temperaturas elevadas devido a sua alta resistência, baixa massa específica, boa resistência à corrosão e estabilidade metalúrgica. Uma parte substancial da pesquisa em fluência tem sido dedicada à liga Ti-6Al-4V devido a sua importância industrial e tecnológica. A sua alta resistência à fluência é de grande importância para uso em motores, tubulações de prospecção, materiais para uso em ambientes que trabalham em temperaturas elevadas ou mesmo como material biocompatível [64-66]. Entretanto, a afinidade com o oxigênio é um dos principais fatores que limitam sua aplicação como um material estrutural em temperaturas elevadas [27-32]. A elevada solubilidade sólida do oxigênio no titânio resulta na perda de material e na formação de uma camada frágil e de alta dureza durante a exposição ao ar nessas temperaturas. A reatividade do titânio e suas ligas com o nitrogênio é similar a sua ação com o oxigênio, onde é formada uma camada na superfície como um nitreto [67]. Avanços no desenvolvimento de ligas de titânio têm como objetivo aumentar as propriedades em fluência, embora a oxidação superficial limite o seu emprego em temperaturas superiores a 600°C [68]. A indústria aeroespacial absorve 75% da produção mundial de titânio, sendo a liga Ti-6Al-4V uma das ligas mais versáteis. Uma das características que mais tem contribuído para o crescimento do seu uso para fins estruturais refere-se ao seu alto ponto de fusão. Sua utilização concentra-se em componentes aeroespaciais, onde a resistência à fluência, à fadiga e à degradação são consideradas essenciais [69]. Deste modo, em aplicações e condições em que as ligas à base de alumínio e à base de magnésio não se adaptem as ligas de titânio normalmente são empregadas apresentando um desempenho superior [70]. 29 Em virtude dessas características e da equivalência em um conjunto de propriedades, somente as ligas de titânio, e potencialmente os materiais compostos, poderão, no futuro, ocupar o mercado atual dos aços inoxidáveis, dependendo das condições de evolução dos custos associados ao domínio tecnológico envolvido nos processos de obtenção dessas novas ligas [41, 70, 71]. A descoberta do titânio é creditada a William Gregor, reverendo e mineralogista inglês que, em 1791, relatou na publicação científica alemã Grell’s Annalen que teria encontrado uma areia preta, assemelhando-se à pólvora, perto de Manaccan, em Cornwall, sul da Inglaterra. Gregor escreveu que tinha descoberto a areia incomum em um córrego, cuja principal fonte é o vale do Gonhilly, fluindo por um moinho de milho chamado Tregonwell. O que ele na realidade tinha encontrado era ilmenita (FeTiO3), um importante minério de titânio. Gregor sugeriu que a nova substância deveria se chamar manacanita, nome de sua paróquia [72]. Mais tarde, em 1795, a existência do titânio foi confirmada pelo químico alemão Martin Heinrich Klaproth no minério rutilo (TiO2). Klaproth tomou emprestado o nome para essa substância metálica a partir da mitologia grega, denominando-a titânio, em referência aos titãs, filhos de Urano (Céu) e Gaia (Terra), em alusão à elevada força de coesão desse metal com o oxigênio, como tivera feito anteriormente quando da sua descoberta do elemento urânio [73]. Em função das dificuldades tecnológicas da época, a extração do titânio era muito difícil. Por isso o metal puro (99,99%) só foi preparado em 1910 por Matthew Albert Hunter, que desenvolveu um processo de obtenção do metal aquecendo-se TiCl4 (tetracloreto de titânio) com sódio entre 700ºC e 880ºC num recipiente de aço. O metal era tido como curiosidade até que Wilhelm Justin Kroll, em 1938, conseguiu extrair o titânio de forma 30 comercialmente viável através da redução do TiCl4 pelo magnésio. Este método ainda é o mais utilizado e é conhecido como Processo Kroll [74]. Na história da metalurgia, nenhum outro metal foi recebido com tanto entusiasmo e esperanças quanto o titânio e o desenvolvimento de sua metalurgia pode ser considerado recente. Embora tenha sido descoberto em 1789, o titânio só começou a ser utilizado no início do século XX. Sua primeira aplicação foi em 1906, como ferro-liga na indústria siderúrgica; depois, em 1918, como óxido na forma de pigmentos; e em 1930 foi utilizado como óxido para cobrir eletrodos para solda elétrica [75]. O titânio possui baixa massa específica (4,51 g/cm 3 ), que pode ter suas propriedades mecânicas melhoradas pela adição de elementos de liga e pelo processamento termomecânico. É não magnético, seu coeficiente de expansão térmica é de 8,64x10 -6 /ºC, ponto de fusão 1.668ºC, limite de escoamento de 485 MPa, limite de resistência de 550 MPa, módulo de elasticidade de 100 GPa e alongamento igual a 15%. O titânio puro não é tóxico e sua utilização é biologicamente compatível com ossos e tecidos humanos [64]. O titânio é um dos metais mais resistentes à corrosão e pode ser utilizado em diversos meios e temperaturas, sem apresentar significativas dissoluções. O principal motivo para a resistência do titânio à corrosão está na formação de uma fina camada de óxido de titânio (TiO2) em sua superfície, invisível e com um elevado poder de proteção. Essa camada é estável e formada igualmente por toda a superfície, independente da composição ou diferenças microestruturais [76]. Em temperatura ambiente, o titânio puro apresenta estrutura hexagonal compacta (HC), chamada de fase α. Em 882,5°C o titânio sofre uma transformação alotrópica e passa a apresentar estrutura cúbica de corpo centrado (CCC), conhecida como fase β (Figura 1). 31 Figura 1 - Estrutura cristalina e transformações de fase do titânio puro. Adaptado de [77]. O principal objetivo da adição de elementos de liga ao titânio está associado à estabilização preferencial das fases α e β. Por meio de tratamentos térmicos ou termomecânicos, podem-se obter grandes variações microestruturais, alterando-se significativamente as propriedades das ligas resultantes. A adição de alguns elementos ao titânio puro altera a temperatura e a estabilidade das suas formas alotrópicas. A temperatura de transformação de α para β é conhecida com temperatura β transus. Ela é definida como a temperatura de equilíbrio acima da qual todo material é 100% β e é de fundamental importância nos processos dedeformação e de tratamento térmico. Alguns elementos estabilizam a fase α (alfagênicos), aumentando a temperatura de transformação alotrópica, enquanto outros estabilizam a fase β (betagênicos), diminuindo a temperatura dessa transformação. Se não for observada nenhuma mudança na temperatura de transformação alotrópica, o elemento de liga é definido como neutro [74]. Com base na composição química, percentagem em peso dos elementos de liga e na microestrutura resultante à temperatura ambiente, as ligas de titânio classificam-se em: ligas α, ligas quase α, ligas β, ligas quase β e ligas α+β [78]. Uma das mais utilizadas das ligas α+β é a Ti-6Al-4V, por possuir uma das melhores combinações de propriedades mecânicas [79]. 32 2.2 A liga Ti-6Al-4V As ligas α+β são as mais versáteis dentre as ligas de titânio, por combinarem propriedades distintas das fases α e β. A estabilidade dessas fases em temperatura ambiente, para uma mesma composição química, permite obter uma variável muito grande de microestruturas, pela utilização de tratamentos térmicos. As ligas α+β possuem boa resistência mecânica em qualquer faixa de temperaturas acima da ambiente, boas condições de conformabilidade e usinabilidade, razoável soldabilidade, ótima relação resistência mecânica/peso, além de boa resistência à corrosão. A liga Ti-6Al-4V é a mais empregada dentre as ligas de titânio (60% da produção total de titânio pertence a essa classe) [79]. A maioria das ligas de titânio, principalmente as utilizadas em altas temperaturas, foi desenvolvida de uma maneira evolucionária a partir da liga Ti-6Al-4V. Na temperatura ambiente, as ligas do tipo α+β podem conter entre 10% e 50% ʋ de fase β. Quando esse volume ultrapassa 20%, a sua soldabilidade torna-se comprometida [80]. As propriedades das ligas α+β podem ser controladas por tratamentos térmicos. A microestrutura é definida pelo controle da precipitação da fase β no resfriamento, que pode ficar retida, transformar-se em estruturas martensíticas αm (α’ e α’’) ou, então, transformar-se alotropicamente na fase α. Sob resfriamento rápido, a fase β pode ser transformada completamente em martensita ou ficar retida na forma metaestável [81, 82]. As ligas α+β são utilizadas nos mais diversos setores da engenharia, desde estruturas aeronáuticas até implantes. A liga Ti-6Al-4V é utilizada em aplicações onde são necessárias características de elevada resistência mecânica e estabilidade em altas temperaturas, aliadas a boas características de conformabilidade e usinabilidade. As ligas Ti-8Al-Mo-V e Ti-6Al-6V- 2Sn são outras ligas α+β muito utilizadas [82]. A adição dos elementos liga, nesse caso, confere ao material resultante melhoria nos valores das propriedades mecânicas, que têm sido um dos principais dispositivos para 33 diversos setores de aplicação. A adição de alumínio e vanádio no titânio produz mudanças de equilíbrio termodinâmico das fases α e β, proporcionando, por meio de tratamentos térmicos ou termomecânicos, a produção de grandes variações microestruturais e causando grandes modificações nas suas propriedades [83-85]. Uma das características pelas quais essa liga tem ampla aceitação na indústria é a de ser a única liga α+β comercial, possui estrutura HC (fase α) e CCC (fase β) presentes à temperatura ambiente. Isso se deve aos elementos de liga: alumínio, que estabiliza a fase α, e vanádio, que estabiliza a fase β. A liga Ti-6Al-4V sofre a transformação α+β/β aproximadamente, na temperatura de 995°C. Acima de 1.000°C, essa liga apresenta uma única fase (a fase β). A fase α é estável apenas em baixas temperaturas. Na temperatura ambiente, essa liga apresenta entre 9% e 12,5% de fase β [86]. A liga é metalurgicamente estável sob tensão em temperaturas elevadas (≈510ºC) e tem boa resistência à fluência em até pelo menos 455ºC. O ponto de fusão do titânio comercialmente puro é 1.675ºC. Como o alumínio e o vanádio baixam o ponto de fusão do titânio, a faixa de fusão da liga Ti-6Al-4V é de 1.630-1.650°C. Recomenda-se o seu uso em temperaturas extremas entre -210 a 400ºC, visto que apresenta a desvantagem de reagir com outros elementos do meio circundante acima de 425ºC [87]. Apresenta uma massa específica de 4,43 g/cm 3 , 56% do valor correspondente ao do aço e aproximadamente o dobro ao do valor do alumínio [39]. As propriedades da liga Ti-6Al-4V são influenciadas significativamente por sua composição química. Além dos elementos de liga (alumínio e vanádio), outros elementos estão presentes em menores proporções. A Tabela 1 [87] apresenta a composição química típica da liga Ti-6Al-4V, podendo haver algumas variações, conforme um eventual teor de impurezas presentes. O restante da composição da liga é formado por titânio e impurezas. 34 Tabela 1: Composição química típica da liga Ti-6Al-4V [87]. Componente Ti-6Al-4V Mínimo (%) Máximo (%) Alumínio 5,50 6,75 Vanádio 3,50 4,50 Ferro - 0,30 Oxigênio - 0,20 Carbono - 0,08 Nitrogênio - 0,05 A Tabela 2 [88] mostra dados comparativos de propriedades mecânicas entre a liga Ti-6Al-4V, o titânio comercialmente puro e alguns metais mais conhecidos, todos no estado recozido, confirmando as afirmações sobre a superioridade mecânica de peças fabricadas com essa liga Ti-6Al-4V. Tabela 2: Propriedades mecânicas da liga Ti-6Al-4V comparada com alguns metais conhecidos [88]. Material Resistência à tração (MPa) Limite de elasticidade (MPa) Ductilidade % alongamento em 50 mm (2’’) Ti-6Al-4V 993 924 14 Ti puro (comercial) 517 448 25 Alumínio 90 35 40 Aço 1020 380 180 25 Cobre 200 69 45 35 2.3 Implantação Iônica por Imersão em Plasma (IIIP) O termo plasma é usado para descrever uma grande variedade de substâncias macroscopicamente neutras contendo muitos elétrons livres e átomos ou moléculas ionizadas que interagem entre si e que exibem um comportamento coletivo devido às forças coulombianas de longo alcance. Do ponto de vista físico, o plasma pode ser definido como um gás ionizado exibindo um comportamento coletivo. Entretanto, nem todos os meios contendo partículas carregadas podem ser classificados como plasma. Um dos comportamentos que o definem se dá quando um corpo carregado eletricamente é inserido no plasma, produzindo uma perturbação eletrostática. As cargas elétricas do plasma reagem imediatamente de forma coletiva e distribuem-se no espaço para aniquilar o campo elétrico resultante formado nas proximidades do objeto perturbador, o que permite que o volume do plasma mantenha constante sua condição de quase neutralidade [89]. Plasmas são comumente chamados de o quarto estado da matéria. A uma temperatura suficientemente alta, acima de 200 o C, as moléculas do gás decompõem-se para formar um gás de átomos que se movem de maneira livre e aleatória, exceto por algumas raras colisões entre átomos. Quando a temperatura é aumentada ainda mais, podendo ultrapassar 900 o C, os átomos decompõem-se em partículas livres carregadas (elétrons e íons positivos) e a substância passa para o chamado estado de plasma [90]. Uma das aplicações do plasma é seu emprego para modificar as propriedades estruturais de sólidos, com o intuito de adaptá-los às condições exigidas para determinada utilização. Um tratamento por plasma precisa de uma câmara reator acoplada a um sistema de vácuo, e um eletrodo alimentado eletricamente para produzir condições de descargas. Dependendo do tipo de excitação do plasma e do tratamento superficial desejado a configuração do sistema, se modifica [68]. 36 A Implantação Iônica por Imersão em Plasma - IIIP é umatécnica de processamento de materiais [91-94] criada e desenvolvida na Universidade de Wisconsin (EUA) na década de 80 [95,96] e por um grupo da Organização Nacional Australiana de Ciência e Tecnologia (ANSTO) em Sidney [97, 98]. Seu desenvolvimento deu-se originalmente como uma alternativa ao processo de implantação iônica por feixe. Este processo de tratamento superficial, na literatura, pode também ser encontrado como Plasma Source Ion Implantation (PSII) [97-99], Plasma Immersion Ion Implantation (PIII ou PI3), Plasma Based Ion Implantation (PBII), Plasma Ion Implantation (PII ou PI2), Plasma Immersion Implantation (PII) e Plasma Implantation (PI ou π-technique) [97]. A implantação de íons consiste no bombardeamento de um material sólido com átomos ionizados de média e alta energia. Essa técnica oferece a possibilidade de se implantar ou ligar elementos nas regiões próximas da superfície do material sem necessidade de reações químicas. Com esse processo, átomos podem ser injetados na superfície dos materiais, modificando suas propriedades mecânicas na região próxima à superfície independentemente de variáveis termodinâmicas, tais como solubilidade e difusividade [100]. Essas vantagens, associadas à possibilidade do processamento em baixas temperaturas, têm levado à exploração dessa técnica em aplicações onde a limitação das alterações dimensionais e as possibilidades de delaminação de revestimentos são uma preocupação [101]. A técnica IIIP tem também como vantagem a capacidade de implantar heteroátomos em alvos com geometrias tridimensionais complexas, dispensando sistemas de varredura ou manipuladores de alvo, pois o campo elétrico entre a bainha de plasma e o alvo é sempre perpendicular à superfície implantada [94]. Durante a aplicação de alta voltagem no alvo, a bainha de plasma (região que contém apenas íons) cresce. Por isso, a voltagem deve ser pulsada, com o comprimento do pulso pequeno o suficiente para assegurar a estabilidade do plasma [94]. 37 Durante o processo IIIP, o substrato é imerso em um plasma, ao qual são aplicados pulsos de alta voltagem negativa de 5 μs a 100 μs de duração. A voltagem aplicada acelera os elétrons para a parede da câmara, enquanto que os íons positivos da fonte de plasma são direcionados ao porta-amostras e sendo implantados nos corpos de prova [102]. Do ponto de vista físico, a tensão próxima aplicada na peça é limitada pela possibilidade de formação de arcos, principalmente em peças com pontas e sujeiras ou de grandes dimensões e, portanto próximas das paredes da câmara do vácuo [103]. A Figura 2 apresenta o que ocorre na superfície do material durante o tratamento de implantação iônica. Nela pode-se ver o caminho percorrido pelo íon implantado. Durante esse percurso, íons com alta energia movem-se causando um efeito cascata no deslocamento de outros átomos da rede cristalina do material tratado. Quando as energias dos íons são completamente dissipadas devido aos choques com outras espécies da superfície, eles param, e, nesse ponto tem-se o final da camada tratada. Os impactos desses íons com os demais elementos da região provocam alterações na rede cristalina, via movimento de discordâncias, formação de novos compostos e formação de solução sólida do elemento implantado. Essas alterações fazem com que o efeito do tratamento de implantação iônica vá além da camada tratada [104]. Figura 2 - Representação do processo de implantação iônica [105]. 38 Com esse processo produzem-se mudanças químicas e microestruturais, melhorando as superfícies dos materiais implantados, alterando suas propriedades elétricas (semicondutores), reduzindo o atrito e endurecendo essas superfícies, aumentado sua resistência ao desgaste e à corrosão. No caso de implantes de espécies gasosas, as propriedades superficiais são obtidas através da formação de nitretos, óxidos e carbonetos [93]. A Implantação Iônica por Imersão em Plasma é um processo que pode ser usado em larga escala para a obtenção de componentes industriais que exigem alta qualidade de superfícies, com baixo custo, mesmo sendo essas de geometrias complexas [106]. 2.4 Fluência 2.4.1 O fenômeno da fluência O fenômeno da fluência está diretamente ligado à resposta à deformação dos materiais sólidos. Esta resposta, resultante de um esforço mecânico, varia com a magnitude e o estado de tensão, temperatura e taxa de deformação. Com isso surgem deformações, tais como [107]: - deformação elástica: é aquela em que cessando o esforço, cessa a deformação. Seu comportamento é linear e só depende da tensão aplicada e das propriedades do material. A tensão não ultrapassa a tensão de escoamento do material [107], - deformação viscosa: é aquela que ocorre em temperatura abaixo da temperatura de fusão. Esse tipo de deformação é caracterizado por ser consequência não só da tensão aplicada. A taxa de deformação é proporcional à tensão. A tensão não ultrapassa a tensão de escoamento do material [107], - deformação anelástica é a ocorrência das deformações elásticas e viscosa simultaneamente. Quando isso ocorre após a tensão alcançar seu valor máximo a deformação 39 também alcança seu valor máximo, porém essa deformação não é totalmente recuperada, mesmo após a remoção da tensão [107], - deformação plástica: é definida como aquela que permanece depois de retirada a tensão. A tensão aplicada é abaixo da tensão máxima do material [107]. Esses tipos de deformações podem ocorrer simultaneamente, o que é comum em metais submetidos a temperaturas elevadas e tensões acima da tensão de escoamento. Porém, pode ocorrer um fenômeno em que, apesar do material ser submetido a uma tensão abaixo da tensão de escoamento, ocorre deformação plástica. Esse é o fenômeno da fluência [107]. Pode-se então definir fluência como sendo um comportamento, dependente do tempo, de deformação plástica ocorrida quando o material é submetido a uma carga ou tensão constante, abaixo da tensão de escoamento do material, a uma determinada temperatura, abaixo da temperatura de fusão do material [108]. Em geral, fluência refere-se à deformação dependente do tempo e pode incluir deformações elástica, viscosa e plástica. Do ponto de vista macroscópico, as deformações elásticas e de fluxo viscoso são desconsiderados quando se trata desse fenômeno. Em nível microscópico, os vários modos de deformação plástica incluem a formação de planos de escorregamento, kinks, jogs, bandas, torções e estrutura celular. Em nível submicroscópico, a deformação plástica envolve a geração, movimento, multiplicação e interação de discordâncias [108]. A fluência, apesar de se manifestar também em temperatura ambiente, são as temperaturas elevadas que desencadeiam esse comportamento com mais rapidez, embora seja importante reconhecer que a temperatura é relativa para cada material (metálico ou cerâmico). A fluência é motivo de preocupação quando a temperatura de serviço for maior ou igual a 40 aproximadamente 0,5 Tf. Na literatura de fluência, é comum referir-se à temperatura homóloga, porque homólogo (ao invés de temperatura absoluta) é o fator relevante [109]. A temperatura homóloga é expressa pela Equação (1): TH = TS / Tf (1) onde: TH é a temperatura homóloga, em K; TS é a temperatura de operação, em K; Tf é a temperatura de fusão do metal ou liga, em K. As variáveis: tensão, deformação, temperatura e tempo, podem ser relacionadas em três tipos de ensaio: ensaio de fluência, ensaio de ruptura por fluência e ensaio de relaxação. No ensaio de fluência, a carga (ou tensão) e a temperatura são mantidas constantese mede-se a deformação linear com o decorrer do tempo. No ensaio de ruptura por fluência, o mesmo tipo de ensaio é levado até a ruptura do material, medindo-se o tempo de ruptura, podendo-se ainda medir a deformação ao longo do tempo em certos casos, podendo-se determinar a vida útil do material sob o ponto de vista da fluência. O ensaio de relaxação é o inverso do primeiro, ou seja, mantém-se a temperatura e a deformação constantes e mede-se a queda da tensão inicialmente aplicada para a obtenção da deformação, com o decorrer do tempo [110]. O ensaio de fluência mede a variação de uma dimensão linear que ocorre no material quando exposto a temperaturas elevadas, enquanto o ensaio de ruptura por fluência mede o efeito da temperatura na capacidade do material suportar carregamento por um longo tempo [111]. 41 2.4.2 Considerações gerais dos metais sob condições de fluência Muitas estruturas, em particular as associadas com conversão de energia, como turbinas, reatores, vapor e fábricas de produtos químicos, funcionam em temperaturas muito altas [112]. À temperatura ambiente, a maioria dos materiais metálicos e cerâmicos deforma-se em função da tensão e das propriedades do material, considerando-se independete do tempo. Pode-se relacionar tal afirmação, para sólidos elástico/plásticos, como a Equação (2) [112]. ε = f (σ, E) (2) Quando a temperatura aumenta, cargas constantes provocam deformações viscoelásticas e plásticas, ou fluência, nos materiais. Este tipo de deformação não depende unicamente do carregamento e das propriedades do material, mas também do tempo e da temperatura [112]. Assim a deformação para fluência dos materiais sólidos pode ser expressa pela Equação (3). ε = f (σ, E, t, T) (3) Caso um componente mecânico esteja submetido a uma carga uniaxial trativa constante, a diminuição da área da seção transversal gera um aumento na tensão interna, até o ponto de tensão máxima, onde há uma localização da deformação (estricção). Dando continuidade à deformação, o material alcança o ponto em que não pode mais resistir estaticamente à carga aplicada, ocorrendo a ruptura. O regime de temperatura em que a fluência se torna um fenômeno de importância é 0,5 Tf<T < Tf, em que Tf é a temperatura de fusão em K, sendo esta a faixa de temperatura em que a difusão se torna um fator 42 significativo. Abaixo de 0,5 Tf, o coeficiente de difusão é tão baixo que qualquer mecanismo de deformação dependente da difusão é tão lento que pode ser desprezado [113]. O ensaio de fluência consiste em submeter um corpo de prova a uma carga (ou tensão) constante e medir o comprimento deformado axialmente em função do tempo, a uma temperatura constante. Há diferenças significativas, sob o ponto de vista fundamental, entre o ensaio de fluência sob tensão constante e sob carga constante [113]. Em projetos que levam em conta a fluência, buscam-se o material e o formato que suportará as cargas de projeto a determinada temperatura, por um período de tempo dito vida útil. Quatro classes de projeto são importantes para a fluência [112]: Aplicações limitadas por deslocamento, nas quais é necessário manter dimensões precisas ou pequenos afastamentos (como em discos e pás de turbinas); Aplicações limitadas por ruptura, nas quais a tolerância dimensional é relativamente sem importância, mas deve-se evitar fratura (como em tubulações sob pressão); Aplicações limitadas por relaxação (ou alívio) de tensões, nas quais uma tensão inicial é aliviada ao longo do tempo (como na proteção de cabos ou parafusos); Aplicações limitadas por flambagem, nas quais colunas ou painéis delgados suportam cargas de compressão (como no revestimento da parte superior da asa de uma aeronave ou em um tubo pressurizado externamente) [112]. Os métodos mais comuns de avaliação de comportamento de um sólido cristalino em altas temperaturas envolvem, geralmente, procedimentos gráficos e analíticos, por meio de análises estatísticas ou pela elaboração de equações empíricas simples que relacionam a deformação ou a taxa de fluência sob tensão e temperatura constantes [114]. 43 2.4.3 O ensaio de fluência Os ensaios de fluência devem cumprir procedimentos que estão descritos na norma ASTM E139-11 [115]. Para se determinar a curva de fluência de um metal, aplica-se ao corpo de prova, que já se encontra a uma temperatura constante, uma carga inicial, que é mantida constante durante todo o ensaio. Com o decorrer do ensaio, vai-se determinando o alongamento (deformação longitudinal) do corpo de prova ao longo do tempo. A maioria dos ensaios é realizado com carga constante e fornecem informações que podem ser empregadas na prática, pois essa situação é a que mais ocorre. Por outro lado,ensaios com tensão constante são empregados para proporcionar uma melhor compreensão dos mecanismos de fluência [88, 116]. Essas diferenças significativas entre o ensaio de fluência sob tensão constante e sob carga constante foram observadas pioneiramente por Andrade [117], que construiu uma máquina que realizava ensaios sob tensão constante. Nesse tipo de máquina, a carga deve diminuir à medida que o comprimento do corpo de prova aumenta, ou a área de seção transversal diminui, de tal modo que a tensão permaneça constante [108, 110]. Como mostra a Figura 3, a curva resultante do ensaio de fluência consiste de três regiões com características distintas, onde a inclinação da curva (dε/dt ou s ) é denominada de taxa de fluência. Na aplicação da carga ocorre uma deformação instantânea (ε0), que é a deformação elásticada material, simulando um ensaio quase estático. Esta carga é limitada pela tensão de escoamento do material, determinada em um ensaio de tração à quente, na temperatura de ensaio de fluência. As demais regiões da curva estão associadas à deformação plástica ou permanente [108, 110, 111]. Após a deformação inicial do material, tem-se a primeira parte da curva denominada fluência primária ou transiente, caracterizada por uma região de inclinação decrescente, onde a taxa de fluência diminui com o tempo devido ao aumento na resistência à fluência ou encruamento, ou seja, a deformação torna-se mais difícil à medida que o material é 44 deformado. Desse ponto em diante, o material entra na fluência secundária ou estacionária, onde a taxa de deformação é muito pequena e a inclinação da curva é aproximadamente constante devido a dois fenômenos competitivos: encruamento e recuperação. Em geral, esse estágio apresenta uma duração mais longa em relação aos demais. Como o equilíbrio entre o encruamento e a recuperação que ocorre no segundo estágio não pode permanecer indefinidamente, especialmente se o corpo de prova começar a sofrer deformações localizadas e transversais (estricção), é alcançado um ponto onde o aumento da velocidade de fluência, causado pelo aumento da tensão, supera o encruamento. Em seguida, na fluência terciária, ocorre uma aceleração na taxa de fluência até que ocorra a fratura do material. Essa falha do material é conhecida frequentemente por ruptura e resulta de falhas microestruturais, por exemplo, a separação do contorno de grão, e a formação de trincas, cavidades e vazios internos [88, 108, 110, 111]. Nos ensaios realizados sob tensão constante não se observa a região de taxa de fluência acelerada (terciária) e a curva obtida é similar à curva B da Figura 3 [50]. Figura 3 - Curva típica de fluência apresentando os três estágios do processo: curva A - ensaio em carga constante; curva B - ensaio em tensão constante Adaptado de [50] A B 45 Tanto a temperaturacomo o nível da tensão aplicada influenciam as características de fluência (Figura 4). Em uma temperatura inferior a 0,4 Tf, e, após a deformação inicial que é virtualmente independente do tempo (ensaios quase estáticos). Seja pelo aumento da tensão ou da temperatura, são observados os seguintes pontos: (1) a deformação instantânea no momento da aplicação da tensão aumenta, (2) a taxa de fluência em regime estacionário é aumentada e (3) o tempo de vida até a ruptura é diminuido [88]. Figura 4 - Influência da tensão σ e da temperatura T sobre o comportamento da fluência. Adaptado de [88]. De uma forma geral, a resistência à fluência de um metal é maior quanto maior for sua temperatura de fusão, pois a taxa de autodifusão é menor em metais com elevadas Tf. Uma vez que o escorregamento com desvio é um mecanismo importante para que as discordâncias possam superar obstáculos, os metais com baixa energia de falha de empilhamento possuem maior resistência à fluência, porque se torna difícil a recombinação das parciais necessárias ao escorregamento com desvio. No entanto, a adição de elementos de liga de alta valência, formadores de solução sólida, constitui a maneira mais efetiva de aumentar a resistência 46 desses materiais porque produzem uma grande diminuição da energia de falha de empilhamento [116]. O encruamento que ocorre na fluência primária é resultado do movimento e interação de discordâncias. O escorregamento dessas discordâncias é impedido por barreiras como precipitados, contornos de grão, florestas de discordâncias, entre outros defeitos. A restrição à movimentação das discordâncias aumenta as tensões internas no material e com isso diminui a taxa de deformação por fluência. A recuperação térmica ocorre devido à ativação térmica das discordâncias. Entretando, essa recuperação é pequena, pois o mecanismo de interseção das discordâncias com as barreiras é o fator controlador desse estágio [52]. O estágio primário pode ser associado ao parâmetro tp, definido como o tempo correspondente ao início da região secundária. Este parâmetro, fundamental na caracterização da fluência primária, pode ser descrito como função da tensão aplicada σ e da temperatura absoluta T pela Equação (4) [53]. onde: A e m são constantes dependentes da microestrutura, temperatura e tensão inicialmente aplicada; R é a constante universal dos gases; T é a temperatura absoluta (K); Qp é a energia de ativação para a região primária. A taxa de deformação constante que ocorre na fluência secundária deve-se a um estado de equilíbrio dinâmico de produção e aniquilação de discordâncias, ou seja, a taxa de encruamento é equilibrada pela taxa de recuperação. Esse estágio, em termos de fluência, é controlado por difusão de lacunas, escalagem de discordâncias em cunha, dispersão de (4) 47 elementos ligantes no caso de ligas e soluções sólidas. Outro processo que contribui para a resistência à fluência nesse estágio é o processo de escorregamento de contornos de grão. O escorregamento é um processo que ocorre na direção dos contornos de grão e que pode criar lacunas que facilitam a escalagem das discordâncias [51, 111, 118]. Sob esse aspecto, observa-se ao longo dos anos um forte estímulo ao desenvolvimento de equações empíricas simples que possam descrever de forma genérica os efeitos da temperatura e tensão aplicadas sobre a taxa de deformação relativa ao estágio secundário, coniderada como o parâmetro de maior importância no ensaio de fluência [54]. Chegou-se à relação conhecida como Lei de Potência ou Lei de Norton, Equação (5): onde: B é uma constante característica do material; n é o expoente de tensão; s é a taxa de fluência estacionária [119]. O expoente de tensão n e o coeficiente B dependem da composição e de microestrutura do material e da temperatura e tensão aplicada [55]. Esses parâmetros podem ser determinados por meio de curvas de fluência à carga ou tensão e temperaturas constantes, onde o expoente de tensão representa o gradiente da relação ln s versus ln σ e pode ser medido por várias curvas à mesma temperatura, porém em tensões diferentes [55]. A Figura 5 ilustra relação da taxa de fluência estacionária com atensão, onde a inclinação da reta fornece o valor do expoente n. RT Q B c s exp (5) 48 Figura 5- Representação gráfica de ln ( s ) versus ln (σ). Adaptado de [55]. Como a deformação por fluência é um processo termicamente ativado, a lei de Norton pode ser modificada para uma dependência com a temperatura, representada por uma Equação do tipo Arrhenius [20, 55]: s = B0 n exp (-Qc/RT) (6) onde: B0 é um fator dependente de temperatura, composição, microestrutura e nível de tensão aplicada; Qc é a energia de ativação para fluência; n é o expoente de tensão dependente de temperatura, composição, microestrutura e nível de tensão aplicada. B0 e Qc podem ser obtidos graficamente por meio de um conjunto de curvas de fluência à tensão constante ou carga constante pela relação ln s versus (1/T). Plotando-se (ln s ) versus (1/T), verifica-se que existe uma relação linear (Figura 6). O gradiente da reta é igual a -Qc/R. 49 Figura 6 - Representação gráfica de (ln s ) versus (1/T). Adaptado de [55]. Pelos valores de n e Qc pode-se indicar qual é o mecanismo dominante de fluência. Por exemplo, valores de expoente de tensão n > 3 indicam um mecanismo de fluência por discordâncias, ao passo que n≈1 indica um processo difusional [88]. O terceiro estágio pode ser visto como produto de acoplamento entre a taxa de fluência e a taxa de dano resultante de mecanismos que promovam o aumento da tensão atuante em testes realizados sob carga constante, como decorrência do decréscimo da área efetiva do material, pela ação conjunta ou independente de fatores como a agressividade do meio, o fenômeno da estricção e, em particular, pelo desenvolvimento de microcavidades intergranulares ou ao longo de contorno de grão [21]. No entanto, atividades relacionadas a instabilidades metalúrgicas na composição de dano por fluência concentram-se em processos tipicamente relacionados ao crescimento de grão, recristalização dinâmica, dissolução ou coalescimento gradual de precipitados ou partículas finas, e alterações em subestruturas induzidas previamente por deformação plástica [21]. 50 Os possíveis mecanismos responsáveis por fraturas intergranulares em condições de temperatura elevada envolvem esquematicamente os processos de nucleação de cavidades ao longo de contornos granulares ou partículas de segunda fase [22]. Uma análise mais detalhada revela que, sob condições de tensões localizadas, a resistência coesiva dos contornos, quando superada, permite a formação de um conjunto misto de cavidades cuja evolução relativa às dimensões tem origem nos mecanismos provenientes dos processos de difusão ou por deformação plástica intensamente localizada, favorecidos pelo estado triaxial de tensões [120]. Com relação à fratura transgranular, pode-se associar a eventos condicionados ao interior dos grãos, proporcionando a formação e a coalescência de microcavidades, denominadas dimples, em regiões de intensa deformação localizada em pontos considerados favoráveis como inclusões, partículas de segunda fase e empilhamentos de discordâncias [121]. 2.4.4 Mecanismos de deformação por fluência Os mecanismos dominantes de deformação por fluência dependem dos diferentes regimes de tensão e temperatura,assim como da presença de discordâncias, lacunas e contornos de grãos, e podem ser avaliados de acordo com os valores de expoente de tensão n e da energia de ativação Qc. De uma forma geral, os mecanismos que possuem maior aceitação para a explicação do processo de deformação por fluência envolvem os seguintes aspectos: Transporte de átomos por difusão; Escalagem e escorregamento de discordâncias; 51 Escorregamento de contorno de grão. A relação para fluência estacionária também pode ser descrita em função do tamanho médio do grão dg, conforme apresentado na Equação (7) [54]. onde: D: coeficiente de difusão; A: constante adimensional; G: módulo de elasticidade transversal; b: vetor de Burgers; k: constante de Boltzman; T: temperatura absoluta; dg: tamanho médio de grão. Os expoentes p e n são associados ao tamanho médio de grão e à tensão, respectivamente. O coeficiente de difusão D pode ser calculado pela Equação (8) [54]: onde: D0: difusividade; Qc: energia de ativação para fluência; R: constante universal dos gases. RT Q DD cexp0 (7) (8) 52 2.4.4.1 Fluência por difusão Esse mecanismo é resultante do movimento de defeitos pontuais orientados pelo campo de tensões sem envolver diretamente o movimento de discordâncias. Trata-se de um processo termicamente ativado, que pode resultar em um fluxo de lacunas de uma região comprimida para uma região tracionada (Figura 7). A fluência por difusão está relacionada a um fluxo de lacunas que acontece a fim de realocar a posição das vacâncias e átomos na rede cristalina e restaurar o equilíbrio. Dependendo das condições de tensão e de temperatura, o fluxo de defeitos pode ocorrer principalmente através da rede ou dos contornos de grão, tornando-se importante em temperaturas muito altas e em baixos níveis de tensão mecânica [23, 122]. Se há deformação dos materiais policristalinos através do fluxo de vacâncias, e a tensão direcionada ocorrer em altas temperaturas, T > 0,7 Tf, o processo é conhecido como fluência de Nabarro-Hering. Se ocorrer em baixas temperaturas, entre 0,4 e 0,7 Tf é chamado de fluência de Coble. Figura 7 - Representação esquemática da fluência por difusão em uma microestrutura de grãos [116]. 53 O mecanismo de Nabarro-Herring envolve a difusão de lacunas entre regiões sobre os contornos condicionados em diferentes tensões e o fluxo ocorre através do volume da rede cristalina pelo interior dos grãos alongando-se na direção da tensão aplicada. No mecanismo de Coble, a difusão de lacunas ocorre pelos contornos de grão ao invés de ser pela rede cristalina, resultando no escorregamento dos contornos de grão. Esses dois mecanismos são apresentados na Figura 8. Para os dois modelos a dependência entre a taxa de fluência com a tensão é a mesma. Portanto, a única variável experimental que distingue os dois modelos é o tamanho do grão. O mecanismo de Coble predomina em materiais com grãos mais finos e o de Nabarro-Hering em granulação grosseira [24, 56]. Figura 8 - Fluxo de vacâncias através do volume do grão (Nabarro-Herring) ou ao longo do contorno de grão (Coble). Adaptada de [23]. O mecanismo proposto por Coble pode atuar simultaneamente com o de Nabarro- Herring, e a taxa de fluência resultante corresponde à soma das contribuições. 54 O mecanismo de fluência por Harper-Dorn refere-se a experimentos de Harper e Dorn, conduzidos em monocristais e amostras policristalinas de alumínio puro em temperaturas próximas à temperatura de fusão. Consiste na migração de lacunas da extremidade de discordâncias com vetor de Burgers paralelo ao eixo de tensão para as discordâncias com vetor de Burgers perpendicular ao eixo de tensão. Isso leva a uma taxa de deformação proporcional à tensão aplicada e é independente do tamanho de grão e proporcional à densidade de discordâncias [25]. Esse processo ocorre no interior do grão pelo acumulo ou diminuição da matéria no contorno de grão, diferenciando-se de outros processos de fluência por apresentar uma densidade de discordâncias independente da tensão aplicada. Predomina em condições de tensões relativamente baixas e temperaturas elevadas (T > 0,5Tf), tornando-se mais efetivo em materiais com granulação grosseira [57]. Os resultados dos experimentos realizados por Harper e Dorn evidenciam que a taxa de fluência, sob baixa tensão, permanecia na região de n =1, mas com pelo menos duas importantes características que pareciam inconsistentes com o método convencional de fluência por difusão determinado por Nabarro-Herring. Primeiro, a medida experimental das taxas de fluência foi significativamente mais rápida, mil vezes maior do que aquelas previstas teoricamente por Nabarro-Herring. Segundo, amostras policristalinas, com tamanho de grão dg ≈ 3 mm, e monocristalinas apresentaram taxas de fluência idênticas, implicando em p ≈ 0. Essas observações experimentais mais o fato do alumínio sofrer recuperação por fluência levaram a conclusão que o modelo de Nabarro-Herring não se aplicava ao caso do alumínio e que, a fluência ocorria por mecanismos de escalagem de discordâncias [23, 57]. A fluência de Harper-Dorn é identificada apenas com o expoente de tensão n = 1, pois os valores de energia de ativação e expoente p são idênticos ao caso da fluência por escalagem de discordâncias [56]. 55 2.4.4.2 Fluência por escorregamento e escalagem de discordâncias Em condições de baixa temperatura (T < 0,5 Tf), o controle da deformação por fluência ocorre através do processo de escorregamento de discordâncias em seus planos preferenciais. O mecanismo predominante inclui superação da barreira de Peierls, através da qual as vibrações térmicas eventualmente favorecem o movimento de um segmento de discordância por um vetor de Burgers, nucleando e propagando, com certa facilidade, uma dobra dupla (par de kinks) sob ação da tensão aplicada e, consequentemente, provocando o cisalhamento do cristal, ao passo que barreiras como precipitados são superadas termicamente por anéis de discordâncias [116] (Figura 9). Figura 9- Escorregamento de discordâncias em baixas temperaturas: a) superação da barreira de Peierls; b) interação entre as partículas de precipitado. Adaptada de [23]. A energia térmica ajuda a tensão na formação de uma dobra, que depois se estende sob a ação da tensão. Uma discordância move-se de uma maneira gradativa, em degraus. A força que retém uma discordância na sua posição de menor energia no reticulado é chamada de força de Peierls, e o mecanismo mencionado é um dos propostos para explicar a superação dessa força [23], (Figura 9). A situação em temperaturas elevadas está representada na Figura 10. Nesse caso, a difusão é suficientemente rápida, onde as vacâncias alcançam as extremidades das discordâncias promovendo o fenômeno da escalagem. As discordâncias são emitidas de uma série de fontes, colocadas sobre diferentes planos de escorregamento. 56 Embora as discordâncias em hélice de sinais opostos possam aniquilar-se, o movimento das discordâncias em cunha de duas fontes adjacentes é rapidamente bloqueado devido à existência da interação mútua. Desta maneira, as discordâncias empilham-se sobre o plano de escorregamento no qual as principais se decompõem em grupos de discordâncias com dipolos ou multipolos. A taxa de emissão de discordâncias pelas fontes é controlada pela taxa de remoção do empilhamento conforme elas escalam e aniquilam-se umas com as outras[23, 70]. Figura 10 - Escorregamento e escalagem de discordâncias em altas temperaturas (S é a fonte de discordâncias) [23, 70]. Já é bem conhecido o fato de que as discordâncias são criadas num metal durante o processo de deformação plástica [116]. Como é preciso trabalho para formar um anel de discordâncias em qualquer tipo de fonte, é possível que a energia térmica possa ajudar uma tensão aplicada a vencer essa barreira energética. A importância desse efeito ainda não está comprovada, mas parece que a maioria das discordâncias se nucleia heterogeneamente em partículas de impurezas. Neste caso, o efeito da energia térmica seria difícil de ser avaliado [111]. Todos os cristais reais contêm uma rede de discordâncias que crescem em complexidade à medida que aumenta a deformação plástica. Essa rede foi denominada como floresta de discordâncias. Devido à floresta, qualquer discordância deslizante não caminha 57 muito, pois ela intercepta outras discordâncias que passam por seu plano de escorregamento, em vários ângulos. O processo de interseção de discordâncias é importante, pois o ato de forçar uma discordância a passar pelo campo de tensão de outra discordância envolve um elemento de trabalho e, devido à interseção, as discordâncias podem apresentar cotovelos, cujos movimentos através do reticulado são termicamente ativados [111, 116]. O processo de deformação, quando realizado em condições de temperaturas mais elevadas, envolve o mecanismo de escalagem de discordâncias. Assim, caso uma discordância ancorada bloqueie a atividade de outras nos seus respectivos planos de escorregamento, resulta na formação de empilhamentos, de tal forma que a ascensão da primeira discordância bloqueada permite a continuidade da deformação. Como a fluência ocorre em temperaturas elevadas, a geração e a movimentação das discordâncias resultam na deformação de endurecimento, enquanto que processos de recuperação, como a escalagem (Figura 11) e escorregamento com desvio, permitem que discordâncias também possam ser aniquiladas ou rearranjadas em configurações de baixa energia [58]. Figura 11- Representação esquemática da movimentação das mudanças de discordâncias durante a fluência: a) emaranhado de discordâncias, b) recuperação, c) formação do subgrão e d) discordâncias mais livres. Adaptada de [58]. a b c d 58 A capacidade de superação dos obstáculos envolve também o mecanismo de Orowan, através do qual a formação progressiva de anéis formados em torno de partículas duras ou precipitados bloqueia a movimentação de discordâncias na rede cristalina. Pelo processo de escalagem, as discordâncias em cunha podem movimentar-se sobre uma partícula aniquilando-se. Por outro lado, as discordâncias em hélice, por escorregamento, podem conduzir ao colapso do anel, resultando na possível continuidade do fenômeno da fluência através de outras discordâncias móveis. Os mecanismos de interação destacados anteriormente correspondem aos processos de endurecimento e recuperação dinâmica [58]. 2.4.4.3 Fluência por escorregamento de contorno de grão O escorregamento do contorno de grão é um processo de cisalhamento que ocorre coma movimentação de um grão sobre outro, favorecido pelo aumento da temperatura e/ou a diminuição da taxa de deformação [25]. Na deformação plástica em metais policristalinos, a maior distorção ocorre em regiões adjacentes aos contornos devido aos mecanismos comuns de recuperação, de maneira que o escorregamento de contornos é considerado como resultado da ação combinada do movimento de discordâncias e mecanismos de fluência por difusão [59, 60]. O papel mais importante desempenhado pelo escorregamento dos contornos de grão está relacionado com o início da fratura intergranular. Para que ocorra deformação nos contornos de grão, sem que haja formação de trincas, deve existir um mecanismo de deformação que permita a continuidade da deformação ao longo do contorno de grão. Uma maneira de acomodar a deformação nos contornos de grão em temperaturas elevadas é pela formação de dobras no final de um contorno de grão [59, 60]. 59 Evidências experimentais sugerem que a taxa de escorregamento é controlada pela taxa em que as discordâncias podem se mover num grão adjacente no processo de acomodação. Assim, em materiais com tamanhos de grãos maiores, a acomodação acontece pela movimentação de discordâncias em grãos adjacentes, que afeta os subcontornos gerados no processo de fluência. A taxa de escorregamento passa então a ser controlada pela taxa de escalagem das discordâncias conduzidas nesse contorno de subgrão. Em materiais com tamanhos de grãos pequenos, considerando uma ausência da formação de subgrãos, a taxa de escorregamento é controlada pela taxa de escalagem de discordância no contorno principal do grão oposto [26]. Na Figura 12, apresentam-se estas duas situações. Figura 12 - Princípio de escorregamento do contorno de grão: a) tamanho de grão, d, maior que o tamanho de equilíbrio do subgrão, λ. A acomodação dá-se por escorregamento intragranular no contorno de subgrão dentro dos grãos; b) tamanho de grão, d, menor que o tamanho de equilíbrio do subgrão, λ. A acomodação dá-se por escorregamento intragranular no contorno de grão oposto. Fonte: Adaptado de [54]. Não há evidências experimentais de que a fluência em materiais metálicos seja controlada por um único processo em cada região. Ao contrário, todos os mecanismos previstos podem apresentar contribuições ao longo dos três estágios, mas não necessariamente 60 na mesma proporção. Assim, o conceito de um mecanismo dominante pode ser caracterizado por diferentes valores de n ou Qc. Com isso, a transição do expoente de tensão de n > 3 para n 1 é geralmente considerada como um indicativo de mudança de um mecanismo de fluência por discordâncias para um processo difusional. Estas considerações indicam que o mecanismo de fluência dominante depende dos diferentes regimes de tensão e de temperatura sendo, portanto, destacada a importância dos mapas de mecanismos de deformação, que sintetizam as faixas de tensão e de temperatura nos quais cada mecanismo predomina, principalmente nos casos de metais puros e ligas monofásicas. Esses mapas indicam os regimes (ou áreas) tensão-temperatura ao longo dos quais vários mecanismos operam. Os contornos com taxas de deformação constantes também são incluídos com frequência. Dessa forma, para uma dada situação de fluência, dado o mapa apropriado para o mecanismo da deformação e quaisquer dois dos três parâmetros – temperatura, nível de tensão ou taxa de deformação em fluência – o terceiro parâmetro pode ser determinado [37]. 2.5 Difração de Raios X Os raios X são uma forma de radiação eletromagnética que possuem elevadas energias e curtos comprimentos de onda, cuja magnitude é da ordem dos espaçamentos atômicos nos sólidos. Quando um feixe de raios X incide sobre um material sólido, uma fração deste feixe se dispersa em todas as direções pelos elétrons associados a cada átomo ou íon que se encontra na trajetória do feixe. Na Figura 13 situam-se os dois planos paralelos de átomos A- A’ e B-B’, que possuem os mesmos índices de Miller h, k e l, e estão separados por um espaçamento interplanar dhkl. Um feixe de raios X paralelo, monocromático e coerente (em fase), com comprimento de onda λ, estando incidindo sobre esses dois planos com um ângulo θ e dois raios do feixe, chamados de 1 e 2, são dispersados pelos átomos P e Q. Caso a diferente entre os comprimentos das trajetórias 1-P-1’ e 2-Q-2’ (similar ao trecho + da 61 Figura 13 b)seja igual a um número inteiro n, de comprimento de onda; uma interferência construtiva dos raios dispersos 1’ e 2’ também ocorre em um ângulo θ em relação aos planos. Portanto, pode-se afirmar que a condição para difração é dada pela Equação (9) ou pela Equação (10). nλ = + (9) ou nλ = dhklsenθ + dhklsenθ = 2 dhklsenθ (10) A Equação 10 é conhecida como lei de Bragg, onde n é a ordem de reflexão, que pode ser um número inteiro (1, 2, 3, ...) e seja consistente com o fato de que (sen θ) não pode exceder a unidade. (a) (b) Figura 13 - (a) Difração de raios X por planos de átomos (A-A’ e B-B’), (b) região ampliada. Adaptada de [19]. 62 A magnitude da distância entre os dois planos adjacentes e paralelos de átomos (dhkl) é função dos índices de Miller (h, k e l), assim como dos parâmetros de rede. Para estruturas cristalinas que possuem uma simetria cúbica, essa distância é calculada pela Equação (11), onde a é o parâmetro de rede, ou seja, o comprimento da aresta da célula unitária. Um dos principais usos da difração de raios X está na determinação da estrutura cristalina. O tamanho e a geometria da célula unitária podem ser determinados a partir de posições angulares dos picos de difração, enquanto o arranjo dos átomos dentro da célula unitária está associado às intensidades relativas dos picos. Um exemplo de resultado de material submetido a difração de raios X pode ser visto na Figura 14, onde cada pico representa a difração do feixe de RX por um conjunto de planos paralelos (h, k e l) das partículas do material ensaiado. Figura 14 - Padrão de difração de pó de alumínio. Adaptado de [88]. (11) 63 2.6 Medição da dureza por nanoindentação. A nanoindentação é uma técnica que utiliza um ensaio de penetração em escala nanométrica para medir propriedades mecânicas de filmes finos, de materiais com superfícies modificadas e de revestimentos. As duas propriedades mecânicas mais frequentemente medidas, utilizando a técnica de nanoindentação, são o módulo de elasticidade longitudinal (E) e a dureza (H). No método utilizado, essas grandezas são obtidas a partir de um ciclo completo de aplicação e alívio de cargas (carregamento e descarregamento) [123]. O penetrador mais utilizado nos ensaios de nanoindentação é o de ponta de diamante, tipo Berkovich, que possui a geometria de uma pirâmide regular de base triangular, onde cada lado faz um ângulo de 65,3 o com a normal à base, de tal forma que tem a mesma relação profundidade-área apresentada pelo tipo Vickers [99]. A Figura 15 mostra a representação esquemática de uma seção da depressão durante uma indentação. Em qualquer instante durante o carregamento, o deslocamento total do penetrador (h) é dado por: h = hc + hs (12) onde hc é a profundidade de contato e hs é o deslocamento da superfície no perímetro de contato. A carga máxima e o deslocamento são representados por Pmáx e hmáx, respectivamente. Durante o descarregamento as deformações elásticas he são recuperadas e, quando o penetrador está totalmente fora da amostra, a profundidade da impressão residual é hf. Assim pode-se determinar que: hmáx = hc +hs = hf + he (13) 64 Figura 15 - Representação esquemática de uma seção da depressão produzida pela nanoindentação [123]. Para punções de geometria simples, as relações entre carga e deslocamento durante uma operação de descarregamento são dados por [99]: (14) onde e m são constantes que dependem do material. Nesse tipo de ensaio, a dureza (H) é definida como a pressão média que o material suporte sob a ação da carga máxima em uma determinada área, dada por: H = Pmáx / A (15) 65 onde A é a área de contato projetada para a carga máxima e obtida a partir da determinação da profundidade hc. Supondo-se que o penetrador não se deforma significativamente, a área (A) é descrita como: A = f (hc) (16) onde: f (hc) é uma função matemática obtida durante a calibragem da ponta. Para um penetrador Berkovich, é dada por: A = 24,5 (hc) 2 (17) A profundidade de contato é definida como: hc = hmáx - hs (18) O deslocamento do perímetro de contato é dado por: hs = ε (Pmáx / S) (19) onde ε assume valores conforme a geometria da ponta do penetrador como: - igual a 1,0 para geometria plana - 0,75 para um parabolóide de revolução - 0,72 para cônicas. 66 Outro ponto a ser destacado é qualidade do preparo da superfície das amostras, que é de fundamental importância. Irregularidades ou alta rugosidade são fatores que podem mascarar os resultados e dificultar a análise dos dados, pois as cargas aplicadas são muito pequenas, com o valor mínimo de 10 µN. Por este motivo é necessário que se atinja uma boa uniformidade na superfície, para que o indentador não corra o risco de se posicionar em relevos ou vales durante a obtenção da medida [123]. 2.7 Determinação da concentração atômica por espectroscopia Auger A técnica de espectroscopia de elétrons Auger (AES – Auger Electron Spectroscopy) deve o seu nome a Pierre Victor Auger, um físico francês que descobriu esse efeito em 1923. No entanto, foi apenas no final dos anos 60 que a técnica se desenvolveu no sentido de ser utilizada como técnica de análise de superfícies, sendo um ferramental valioso na Engenharia de Superfícies [124]. O processo Auger ocorre seguindo quatro passos que podem ser observados na Figura 16: Ionização do átomo com uma radiação de energia elevada (feixe de elétrons, prótons ou raios X) que permitem a remoção de um elétron do interior do átomo; Rearranjo eletrônico de modo a que a lacuna inicialmente formada seja preenchida com um segundo elétron de um dos níveis mais externos. Para compensar o balanço energético dos processos referidos pode libertar-se um terceiro elétron, o elétron Auger, ou ocorrer a emissão de fótons. Análise dos elétrons Auger emitidos: a energia cinética dos elétrons emitidos permite a identificação dos elementos presentes à superfície. 67 Figura 16 - Estágios da realização do processo Auger. Adaptado de [124]. Na prática, a espectroscopia Auger permite quantificar o teor de diferentes elementos presentes na amostra em análise, por meio de calibrações elementares individuais feitas com o uso de padrões conhecidos para determinar os fatores de sensibilidade da técnica, isto é, intensidade do espectro em função da concentração de um elemento específico. Utilizando-se uma corrente conhecida de feixes de elétrons, o sinal Auger é medido em relação à curva- padrão de intensidade de emissão, tendo-se previamente determinado o fator sensibilidade relacionado a cada elemento, obtendo então a composição química do material ensaiado. Os picos de emissão Auger são identificados em termos de intensidade do pico da energia característica associada a cada elemento. O fator de sensibilidade aplicado permite calcular a concentração, Xx do elemento pela Equação (20) [125]: (20) a=A,B 68 onde Ix e são as intensidades de um determinado elemento constituinte do material desconhecido e a intensidade da espécie pura daquele material, respectivamente. Ia e Ia ∞ são a soma das intensidades de todos os elementosdetectados e a intensidade daqueles elementos em estado puro respectivamente. Fatores de sensibilidade de elementos podem ser obtidos de dados publicados, o que reduz a necessidade de se obter dados da espécie pura [125]. Apenas os elétrons originados nas camadas atômicas mais superficiais chegam a ser emitidos. Pode-se perceber que os cuidados necessários com a amostra, antes e durante a análise, são requisitos básicos para que não se cometa o erro de estudar camadas de impurezas depositadas sobre a amostra [126]. 2.8 Determinação de rugosidade por microscopia de força atômica A microscopia de força atômica é conhecida como AFM (Atomic Force Microscopy) ou SPM (Scanning Probe Microscopy). A técnica AFM permite o exame das superfícies dos materiais nos níveis atômico e molecular. Esse tipo de microscópio difere dos microscópios ópticos e eletrônicos pelo fato de nem a luz, nem elétrons são usados para formar a imagem. Nesse caso, o microscópio gera um mapa topográfico em escala atômica, que fornece as propriedades da superfície e características do material analisado. O tipo de análise por sonda de varredura difere de outras técnicas de microscopia em itens como [76]: é possível a realização de exames em escalas nanométricas, com resoluções superiores a qualquer outra técnica de microscopia. são geradas imagens ampliadas tridimensionais que fornecem informações topográficas das características desejadas. Os microscópios com sonda de varredura, conforme o esquema apresentado na Figura 17, que utilizam uma minúscula sonda de varredura, que possui uma ponta extremamente fina 69 colocada muito próxima da superfície da amostra, com distância da ordem de nanômetro. Essa sonda é submetida a uma varredura de exploração através do plano da superfície. Durante a varredura, a sonda experimenta deflexões perpendiculares a esse plano, em resposta a interação eletrônica ou de outra natureza que possam existir entre a sonda e a superfície dos corpos-de-prova. Os movimentos da sonda nas direções paralelas ao plano da superfície e para fora deste são controlados por meio de componentes cerâmicos piezoelétricos, que possuem resoluções da ordem de nanômetros. Os movimentos da sonda são monitorados eletronicamente e transferidos para um computador onde são armazenados e onde são geradas imagens tridimensionais da superfície [127]. Figura 17 - Esquema do princípio de funcionamento de um microscópio de força atômica (AFM ou SPM) [128]. Por meio dessa técnica consegue-se analisar a rugosidade do material e retirar dados que sejam úteis para a análise por AFM [76], por exemplo: rugosidade média Rms [128] é o valor médio quadrático de todos os desvios do perfil de rugosidade R da reta média dentro do comprimento de medição Im, (Figura 18 (a)). A rugosidade média Rms é dada pela Equação (21) 70 onde: y(x) = desvio do perfil de rugosidade. rugosidade média Ra é o valor médio aritmético de todos os desvios do perfil de rugosidade da linha média dentro do comprimento de medição Im, mostrada na Figura 18 (a). A rugosidade média Ra é dada pela Equação (22) [128]: Ry distância vertical entre o pico mais elevado e o vale mais profundo (Figura 18 (b)) e é dada pela Equação (23) [128]: Ry = Rp + Rm (23) Rugosidade média Rz, mostrada na Figura 18 (c), é o valor medio da rugosidade unitária Zi, obtida em cinco comprimentos de medição unitários “Ie” dentro do perfil de rugosidade. Rz é calculado pela Equação (24) [128]: Rz = 1/i (Rz1 + Rz2 + Rz3 + ... + Rzi) (24) (21) (22) 71 (a) (b) (c) Figura 18 - (a) Representação esquemática de Rms (=Ra) e Rq,, (b) representação esquemática de Ry, (c) representação esquemática de Rz [106]. São elementos utilizados nas definições de rugosidade [106]: Im = porção do perfil apalpado que é avaliado pelo processador; Rp = distância entre o pico mais elevado e a reta média; Rm = distância entre o vale mais profundo e a reta média; Zi = distância vertical entre o ponto mais alto e o mais baixo do perfil (= Ry); 72 Rv = é o valor da rugosidade média dos vales que estão abaixo da área de contato do perfil, excluídos eventuais vales excessivamente profundos. 2.9 Microscopia óptica (MO) O microscópio óptico é um instrumento mecânico/óptico, usado para visualização de estruturas impossíveis de se ver a olho nu. É composto de lentes multicoloridas e ultravioletas e uma estrutura mecânica para regulagem do mesmo. As partes que compõem a estrutura de um microscópio óptico são: Oculares: sistema de lentes que permitem ampliarem a imagem real fornecida pela objetiva, formando uma imagem virtual que se situa aproximadamente 25 cm dos olhos do observador, Revólver: peça giratória, onde se encontram objetivas de diferentes ampliações. Ou uma peça fixa onde se trocam as objetivas, Objetivas: são as lentes que permitem a ampliação da estrutura desejada, Parafuso macrométrico: é um sistema mecânico que permite a ajustagem da ocular, Parafuso micrométrico: é um sistema mecânico que permite a ajustagem do sistema das objetivas, Platina: é um suporte ajustável ao qual a estrutura a ser observada é colocada, Espelho: é um espelho comum, utilizado para a reflexão da luz, sendo esta emitida, principalmente, por lâmpadas, Condensador: conjunto de duas ou mais lentes convergentes que orientam e espalham regularmente a luz emitida pela fonte luminosa sobre o campo de visão do microscópio, 73 A intensidade da luz ainda pode ser regulada, para uma melhor resolução da imagem. Para isso basta subir o condensador e abrir o diafragma, ou para diminuir a intensidade luminosa, basta descer o condensador e baixar o diafragma [129]. 2.10 Microscopia eletrônica de varredura (MEV) O microscópio eletrônico de varredura (MEV) é um equipamento capaz de produzir imagens de alta resolução e alta ampliação (até 300.000 vezes) da superfície de uma amostra. As imagens fornecidas pelo MEV possuem caráter virtual, pois o que é visualizado no monitor do aparelho é a transcodificação da energia emitida pelos elétrons, ao contrário da radiação de luz a qual se está habitualmente acostumado. Devido à maneira com que as imagens são criadas, as imagens de MEV apresentam uma aparência tridimensional característica e são úteis para avaliar a estrutura superficial de uma dada amostra [54]. No processo de varredura de um MEV, os elétrons são emitidos termionicamente a partir de um catodo (filamento) de tungstênio ou hexacarboneto de lantânio (LaB6) e acelerados através de um anodo, sendo também possível obter elétrons por efeito de emissão de campo. O tungstênio é tipicamente usado por ser o metal com mais alto ponto de fusão e mais baixa pressão de vapor, permitindo que seja aquecido para a emissão de elétrons. O feixe de elétrons normalmente tem uma energia que vai desde algumas centenas de eV até 100 keV, é focalizado por uma ou duas lentes condensadoras, em um feixe com um ponto focal muito fino, com tamanho variado de 0,4 a 0,5 nm. Esse feixe passa através de pares de bobinas de varredura e pares de placas de deflexão na coluna do microscópio [54]. Quando o feixe primário interage com a amostra, os elétrons perdem energia por dispersão e absorção em um volume em forma de gota, conhecido como volume de interação, o qual se estende de menos de 100 nm até em torno de 5 m para dentro da superfície da 74 amostra. O tamanho do volume de interação dependeda energia dos elétrons, do número atômico dos átomos da amostra e da densidade da amostra. A interação entre o feixe de elétrons e a amostra resulta na emissão de elétrons secundários, elétrons retroespelhados, elétrons Auger, raios X bremstralung, raios X característicos, radiação eletromagnética na região do infravermelho, do visível e do ultravioleta e fônons, além de causar aquecimento da amostra. A Figura 19 apresenta, esquematicamente, a diferença entre os processos de microscopia e microscopia eletrônica de varredura. Figura 19 - Esquema das diferenças entre Microscopio Óptico e Microscópio Eletrônico de Varredura [129]. 75 2.11 Determinação do coeficiente de atrito (ensaio de desgaste) Segundo a norma ASTM G99-95A [130], esse método descreve o procedimento laboratorial para determinar o desgaste de materiais durante deslizamento em equipamento do tipo pino-sobre-disco, determinar o coeficiente de atrito. O equipamento sempre trabalha aos pares: pino e disco plano. O pino pode variar de formato. O material a ser analisado pode compor o pino e o disco, e a máquina de ensaio pode fazer girar ou o pino, ou o disco. Nos dois casos a trilha de desgaste é um círculo na superfície do disco [130]. O pino é pressionado contra o disco com ma carga específica, normalmente por um braço ou alavanca ligado a pesos, como mostra o esquema da Figura 20. Figura 20 - Esquema do ensaio de desgaste pelo método de pino-sobre-disco [131]. Os resultados obtidos pelo ensaio de desgaste são apresentados na forma de volume perdido/mm 3 , para o pino e para o disco separadamente [130]. Entre os ensaios, o pino é examinado para identificar desgastes significativos. O ideal é só o disco sofra desgaste (amostra do material) da liga Ti-6Al-4V. 76 O desgaste é determinado pela medida da espessura da trilha de desgaste. No caso onde não há desgaste significativo do pino, o volume de desgaste deve ser calculado pela Equação (25) [130, 131]: onde: Vp = volume perdido do disco; R = raio da trilha de desgaste; d = largura da trilha de desgaste; r = raio do pino. O coeficiente de desgaste K pode ser calculado pela Equação (26): onde: V = volume perdido, N = distância percorrida em metros, L = carga aplicada em N. 2.12 Espectroscopia Raman A espectroscopia Raman é uma técnica que usa uma fonte monocromática de luz a que, ao atingir um objeto, é espalhada por ele, gerando luz da mesma energia ou de energia diferente da incidente. No primeiro caso, o espelhamento é chamado de elástico e no segundo, espelhamento inelástico. No caso da geração de energia diferente da incidente é 77 possível obter muitas informações importantes sobre a composição química do objeto a partir dessa diferença de energia. Na prática, é usado um feixe de radiação laser (monocromática) de baixa potência para iluminar pequenas áreas do objeto de interesse. Ao incidir sobre a área definida, é espalhado em todas as direções, sendo que uma pequena parcela dessa radiação é espalhada inelasticamente, isto é, com frequência (ou comprimento de onda) diferente da incidente (E = h.ν ou E = h.c.λ-1). Esse fenômeno foi observado experimentalmente em 1928 por Chandrasekhara Venkata Raman, na Índia [132-138]. Figura 21 Esquema geral representando o espalhamento de luz. Os traços contínuos são níveis de energia próprios da substância em estudo e os tracejados são níveis transitórios, de tempo de vida muito curtos (da ordem de fentosegundos ou 10 -15 s); hν0 é a energia de radiação incidente e hνs, refere-se à radiação espalhada [135]. O interessante é que a diferença de energia entre a radiação incidente e a espalhada (Figura 24) correspondente à energia com que átomos presentes na área estudada estão 78 vibrando. Essa frequência de vibração permite descobrir como os átomos estão ligados, ter informação sobre a geometria molecular, sobre como as espécies químicas presentes interagem entre si e com o ambiente, entre outras coisas. É por esse motivo que essa ferramenta é tão poderosa, permitindo inclusive a diferenciação de polimorfos, isto é, substâncias que tem diferentes estruturas e, portanto, diferentes propriedades, apesar de terem a mesma fórmula química [132-138]. Como não há somente um tipo de vibração, uma vez que geralmente as espécies químicas presentes são complexas, a radiação espalhada inelasticamente é constituída por um número muito grande de diferentes freqüências, ou componentes espectrais, que precisam ser separadas e ter sua intensidade medida. O gráfico que representa a intensidade da radiação espalhada em função de sua energia (dada em uma unidade chamada de numero de onda e expressa em cm -1 ) é chamado de espectro Raman [132-138]. Figura 22 Exemplo do uso de Espectroscopia Raman na identificação da substâncias. Os espectros mostrados são todos de pigmentos brancos: (a) branco de chumbo (carboneto de chumbo); (b) branco de ossos (fosfato de cálcio) e (c) gipsita (sulfato de cálcio hidratado) [110]. 79 Cada espécie química fornece um espectro que é como uma impressão digital, como mostram os exemplos na Figura 25, permitindo sua identificação inequívoca ou, por exemplo, a detecção de alterações químicas decorrentes de sua interação com outras substâncias ou com a luz [132-138]. O espectro Raman contém informações similares às de um espectro de absorção no infravermelho (FTIR), como mostrado na Figura 26, apesar da natureza dos fenômenos físicos ser diferente: espalhamento no caso da espectroscopia Raman e absorção no caso do FTIR [132-138]. Figura 23 Comparação dos espectros de absorção no infravermelho (linha superior) e Raman (linha inferior) [135]. A análise por Espectroscopia Raman é feita sem necessidade de preparações ou manipulações de qualquer natureza, como pulverização, por exemplo. Quando a amostra é muito grande, ela pode ser examinada através de um sistema especial de lentes ou através de fibras ópticas. Atualmente, são comercializados tanto microscópios Raman específicos quanto equipamentos convencionais que podem ter o microscópio como acessório. Em ambos os 80 casos a utilização de fibra óptica é um recurso essencial, quanto o objeto analisado é muito grande para caber no compartimento de amostras ou quando seu transporte até o laboratório não é possível [132-138]. 81 3 – MATERIAIS E MÉTODOS 3.1 Liga Ti-6Al-4V Para a realização deste trabalho, foi utilizada a liga Ti-6Al-4V adquirida da empresa Multialloy Metais e Ligas Especiais Ltda na forma de barras cilíndricas de 12,7 mm de diâmetro e 1,0 m de comprimento e na condição forjada e recozida a 190°C durante 6 horas e resfriada ao ar, apresentando estrutura equiaxial, conforme apresentado na Figura 24. Foi realizada análise química via espectroscopia de emissão óptica com plasma indutivamente acoplado em um equipamento ARL modelo 3410 do Departamento de Engenharia de Materiais da Escola de Engenharia de Lorena, atendendo à composição para a liga Ti-6Al-4V: Ti = 89,16 %; Al = 6,61%; e V = 4,23%, segundo norma ASTM B265-89 [133]. Figura 24 - Micrografia da liga Ti-6Al-4V com estrutura equiaxial (material como recebido). 82 3.2 Confecção dos corpos de prova Os corpos de prova para fluênciaforam confeccionados pela empresa Enifer Usinagem e Indústria Ltda., de acordo com as especificações, sistemas de garras e extensômetros disponíveis. A Figura 25 apresenta a forma e dimensões dos corpos de prova utilizados nos testes de fluência segundo a norma ASTM E-139-83 [115]. Figura 25 - Configuração do corpo de prova (dimensões em milímetros) [115]. Foram confeccionadas amostras de Ti-6Al-4V para os demais experimentos em pastilhas de 10 mm de diâmetro e 3 mm de espessura. 3.3 Implantação Iônica por Imersão em Plasma 3.3.1 Tratamento superficial por IIIP sem aquecimento induzido Os tratamentos, para os tempos de imersão de 2 e 3 horas, foram realizados em um reator para implantação iônica por imersão em plasma do Laboratório Associado de Plasma (LAP), do Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE). Foi realizado um tipo de tratamento por IIIP-N em baixas temperaturas (em torno de 300°C), ou seja, com aquecimento proporcionado apenas pelo bombardeio dos íons no alvo. 83 O conjunto de equipamentos e dispositivos que compõem o dispositivo IIIP pode ser visto na Figura 26. O dispositivo IIIP é alimentado por um pulsador de alta tensão, modelo RUP-4 (Figura 27), com tensão máxima de saída de 30 kV e pulso com duração entre 1µs e 1 ms, com frequência máxima de 1 kHz. O sistema trabalha com um conjunto de bombas de vácuo, uma mecânica e difusora para região de mais alto vácuo, atingindo pressão de base na faixa de 3x10 -3 Pa. Figura 26 - Ilustração dos equipamentos que constituem o IIIP (Cortesia INPE/LAP). Figura 27 - Foto do pulsador de alta tensão RUP-4 (Cortesia INPE/LAP). 84 3.3.2 Preparação do sistema IIIP para execução do ensaio Os corpos de prova e pastilhas limpos foram acoplados nos porta amostras, conforme apresentado na Figura 28, que é em seguida introduzido e fixado ao reator. Figura 28 - Porta-amostras preparado com os corpos de prova. O primeiro passo da operação de tratamento consistiu na produção de vácuo, que atinge uma pressão base próxima de 7,5 x 10 -3 Pa. O passo seguinte foi a produção do plasma, através de aplicação de tensão próxima de 0,4 kV entre o anodo e a câmara, que permaneceu atuante durante todo o tratamento. Após a estabilização do plasma foram aplicados pulsos de alta voltagem negativa ao porta-amostras, com duração de dezenas de microssegundos e frequência de 400 Hz. O tempo de exposição das amostras nessa condição de tratamento foi variado, com o intuito de traçar o perfil do comportamento do material em relação ao tempo de processamento. A temperatura foi medida por pirômetro óptico MIKRON, modelo M90-Q, posicionado em frente à janela do dispositivo IIIP. Só então foi injetado o gás nitrogênio, para obter o plasma, ajustando a pressão de trabalho para o valor necessário, sendo aplicados Porta-amostra CDP 85 pulsos de alta tensão com tempo controlado. A Figura 29 ilustra a câmara durante o processo IIIP, onde se pode ver o plasma e o porta-amostras no interior da câmara. Figura 29- Câmara durante processo de IIIP. Após o término do tratamento, os corpos de prova foram resfriados dentro da própria câmara de vácuo e posteriormente recolhidos. As condições dos ensaios foram: 2 horas → Tforno = 250 o C Ptrab = 5,3 mbar Frequência = 400 Hz Tensão = 8,5 kV em média (variação entre 7 a 10 kV) Comprimento de pulso = 40 µs Corrente de implantação = 0,3 A 3 horas → Tforno = 250 o C Ptrab = 6,2 mbar Tensão = 9 kV em média (variação entre 7 a 11 kV) Comprimento de pulso = 200 Hz em 10 µs Corrente de implantação = 0,3 A 86 Para os dois tempos de imersão submetidos, utilizaram-se íons de nitrogênio para serem implantados, objetivando-se a formação superficial de TiN. 3.3.3 Tratamento superficial por IIIP com aquecimento induzido O tratamento superficial por implantação iônica por imersão em plasma com aquecimento adicional foi feito para amostras com tempo de imersão de 4 e 8 horas, utilizando-se íons de nitrogênio para implantação As amostras polidas e limpas foram fixadas no porta-amostras com sistema de aquecimento interno e introduzidas no reator da mesma forma que no processo anterior. O processo é similar, sendo ligado o Variac (0 – 200 V) logo após atingida a pressão de base de aproximadamente 4 x 10 -3 Pa (4 x 10 -5 mbar). Foram aplicados então os pulsos de alta tensão e o tempo foi controlado de acordo com o tratamento desejado. Após o encerramento do tratamento, o Variac foi desligado e as amostras foram resfriadas na própria câmara sob vácuo, seguindo uma curva de resfriamento do tipo apresentado na Figura 30, obtida a partir da média das medições feitas em três ensaios. 87 Figura 30 Curva típica de resfriamento da liga Ti-6Al-4V após tratamento IIIP para altas temperaturas (800 o C) A temperatura foi medida com o pirômetro MIKRON, modelo M90-Q (Figura 31). Figura 31 - Foto do pirômetro óptico MIKRON, modelo M()-Q, indicando a temperatura de 803 o C no porta-amostras. 88 As condições dos ensaios foram: 4 horas → Tforno = 700 o C Fluxo de gás = N2 (30 sccm) + H2 (20 sccm) Ptrab = 7,5 mTorr Tensão = 15 kV Comprimento de pulso = 200 Hz em 10 µs 8 horas → Tforno = 600 o C Fluxo de gás = N2 (30 sccm) + H2 (20 sccm) Ptrab = 7,5 mTorr Tensão = 15 kV Comprimento de pulso = 200 Hz em 10 µs 3.4 Difração de Raios X Para a identificação das fases cristalinas presentes nas amostras foi utilizado um difratômetro de raios X, numa configuração θ/θ, em equipamento da marca Panalytical e modelo X’Pert Powder. Os parâmetros de análise foram passo de 0,002o, 2θ variando entre 10 o e 90 o , e tempo por passo de 10 segundos. 3.5 Espectroscopia Raman Neste trabalho, foram obtidos espectros de espalhamento Raman usando um equipamento Micro-Raman da marca Renishaw e modelo Sistema 2000, pertencente ao LAS- INPE. 89 O objetivo foi identificar as bandas características das fases presentes nas amostras tratadas superficialmente com Implantação Iônica com Imersão em Plasma para diferentes tempos de implantação 3.6 Concentração atômica por Espectroscopia Auger A determinação da concentração atômica em função da profundidade, para as amostras com imersão de 2 horas e 3 horas, foi estudada pela técnica de espectroscopia de elétrons Auger utilizando-se o espectrômetro FISIONS Instrument Surface Science, modelo MICROLAB 310-F do Institute of Ion Beam Physics and Material Research, na Alemanha, pelo Prof. Dr. Helfried Reuther, onde foi feito sputtering das superfícies das amostras com argônio. As vantagens dessa técnica são sua excelente resolução, podendo chegar a algumas camadas atômicas em profundidade e, em alguns casos, de dezenas de nanômetros na superfície. Também permite que todos os elementos da tabela periódica, com número maior que do hélio, possam ser detectados. A espectroscopia Auger consiste na análise da energia cinética de elétrons emitidos pela amostra, originários das camadas internas dos níveis de energia dos átomos. Esses elétrons são emitidos por consequência da desexcitação atômica após o bombardeamento da amostra com elétrons, prótons ou raios X. Os elétrons ejetados são denominados elétrons Auger em homenagem ao seu descobridor, professor Pierre Auger (1927). 90 3.7 Rugosidade por microscopia de força atômica Para observação das microestruturas presentes na superfície das amostras, foram obtidas imagens por microscopia de força atômicada marca VEECO e modelo multimode V, no modo de contato intermitente. As Figuras 32 e 33 apresentam vistas dos equipamentos do sistema de microscopia de força atômica. Figura 32 - Foto do sistema de Microscopia de Força Atômica. Figura 33 - Detalhe do porta-amostra do Microscópio de Força Atômica. 91 3.8 Dureza pelo método de nanoindentação Para o ensaio de dureza foi utilizado o equipamento Nanoindenter XP fabricado pela Nano Instruments Inc. (EUA), pertencente ao Departamento de Física da Universidade Federal do Paraná (UFPR). Os ensaios foram realizados pelo Prof. Dr. Carlos Maurício Lepienski. As principais características do equipamento, cujo esquema está representado na Figura 34, são: Aplicação de cargas de 10 μN até 400 mN (40,7 g), com resolução para pequenas cargas de ordem de 50 nN (5,1 μg); Taxa de carregamento mínima ≤ 1 μN/s e máxima ≥ 7x1010 μN/s; Força de contato: 1,0 μN; Resolução de deslocamento: 0,04 nm; Profundidade máxima de penetração da ponta: 40 μm Figura 34 - Representação esquemática do sistema de controle do cabeçote do penetrador do Nanoindentador XP. 92 Os carregamentos foram feitos de maneira sequencial, com os valores das cargas em ordem crescente. As cargas foram duplicadas em valor a cada carregamento, que leva 15 segundos para ser completado, permanecendo durante 10 segundos com a carga máxima, seguido de descarregamento também em 15 segundos. Esse ciclo foi aplicado sucessivamente, até que se atingisse o valor da carga máxima. 3.9 Desgaste e Coeficiente de atrito O equipamento utilizado para o ensaio de desgaste pin-on-disk foi o CSM- Instrumentas Pin-on-disk Tribometer, SN 18-313, conectado a um computador que recebe os dados do ensaio (Figura 35). Este equipamento pertence do Laboratório Associado de Plasma (LAP) do Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE). As condições em que foram realizados os ensaios são: Limpeza das amostras e do pino: acetona; Ambiente: ar, temperatura entre 18oC e 22oC, umidade relativa do ar entre 50% e 70%; Pino: esférico de 3 mm de diâmetro, material:alumina; Carga normal: 1,0 N; Raio da pista de desgaste: 3,0 mm; Distância percorrida: 47,13 m (5.000 voltas); Duração de cada ensaio: média de 15’ 43”; Taxa de aquisição de dados: 5,0 Hz; Velocidade: 5,0 cm/s ( 150 rpm). 93 Figura 35 - Foto do equipamento CSM-Instruments Pin-on-disk Tribometer, Sn 18-313, conectado a um computador que recebe os dados do ensaio (INPE). 3.10 Microscopia óptica Os ensaios de desgaste foram analisados e medidos através do microscópio óptico marca Carl-Zeiss com câmara e programa para aquisição de imagens do Laboratório de Ensaios Mecânicos do ITA. 3.11 Ensaios de fluência Para realização dos ensaios de fluência, foram utilizados os equipamentos pertencentes ao Instituto Tecnológico de Aeronáutica - ITA/DCTA, da marca MAYES. Nos fornos foram adaptados sistemas elétricos e controladores, desenvolvidos pela BSW Tecnologia, Indústria e Comércio Ltda., segundo as exigências da norma ASTM E139-11 [68]. A Figura 36 mostra um dos equipamentos utilizados para a execução dos ensaios. 94 Figura 36 - Equipamento de fluência da marca Mayes (ITA). Foi utilizado o software Antares desenvolvido em conjunto com a BSW Tecnologia, Indústria e Comércio Ltda., visando a coleta de dados relativos ao alongamento dos corpos de prova e as medidas de temperatura em períodos de tempo pré-determinados. Forno Manta refratária 95 Figura 37 - a) Corpo de prova; b) Corpo de prova ajustado à zona central do forno. Para a obtenção das medidas de alongamento, foi utilizado um transdutor do tipo LVDT Schlumberger D 6,50. Para o controle de temperatura foi utilizado um termopar tipo Cromel-Alumel AWG24. O forno foi instalado em uma posição adequada, de forma que o corpo de prova se mantivesse localizado na parte central de aquecimento (Figura 37). Acoplado ao controlador e a um indicador digital de temperatura instalado próximo à máquina de ensaio, foi utilizado um termopar numa posição próxima ao corpo de prova. O sinal do termopar era coletado por uma unidade de processamento pelo software Antares, com os dados de temperatura e alongamento armazenados simultaneamente durante o ensaio de fluência. O sinal de saída do LVDT era enviado a uma unidade de processamento, desenvolvida pela BSW Tecnologia, Indústria e Comércio Ltda., que convertia os sinais em medidas de alongamento por períodos de tempo pré-definidos pelo operador e alimentava o software. Para a) b) 96 a alimentação do software, foi utilizada a curva de calibração obtida por um calibrador de extensômetros de alta resolução, para um transdutor do tipo LVDT Schlumberger D 6,50, à temperatura de aproximadamente 35°C. No braço do forno foi aplicada uma pré-carga correspondente a 10% da carga total pretendida no ensaio, para ajuste do sistema. Após 1 hora, foi aplicada a carga total, dando início ao ensaio. A Tabela 3 apresenta as condições de ensaio em fluência das amostras da liga Ti-6Al-4V com imersão em plasma. Tabela 3: Condições dos ensaios de fluência. Tempo de imersão (h) Temperatura(ºC) Tensão (MPa) 2 600 250 319 3 500 319 600 125 250 319 700 319 8 600 250 3.12 Análise por microscopia eletrônica de varredura Para as análises fractográficas dos corpos de prova dos ensaios de fluência fraturados, foi utilizado um microscópio eletrônico de varredura da marca JEOL modelo JSM-5310, pertencente ao LAS/INPE, mostrado na Figura 38. Formatado: Espaço Depois de: 0,6 linha Formatado: Espaço Depois de: 0,6 linha Formatado: Espaço Depois de: 0,6 linha Formatado: Espaço Depois de: 0,6 linha 97 Figura 38 Microscópio eletrônico de varredura pertencente ao LAS/INPE 98 4 – RESULTADOS E DISCUSSÕES 4.1 Caracterização da superfície tratada por IIIP 4.1.1 Análise por difração de raios X Foram feitas análises de difração de raios X nas amostras sem tratamento de IIIP, e nas amostras tratadas com tempo de imersão de 2, 3, 4 e 8 horas. Nas Figuras 39, 40, 41, 42 e 43 são apresentados os espectros das respectivas amostras. Na amostra sem tratamento observa-se que a liga de titânio é do tipo α + β com um percentual de fase α bem maior que de fase β, já que o alumínio é um estabilizador da fase α e o vanádio um estabilizador da fase β [80-82]. Na amostra com tempo de imersão de 2 horas nota-se a formação de diferentes tipos de nitretos, sendo o ζ Ti4N3-x instável. Observa-se a formação de TiN que é um nitreto mais estável para o titânio. Observa-se também o aumento de picos de Ti fase α, esses devidos ao aumento de N que é um estabilizador de fase α [80-82]. 99 Figura 39 - Difração de raios X de amostra de Ti-6Al-4V sem tratamento de IIIP. 35 40 45 50 55 60 65 70 75 80 0 500 1000 1500 2000 2500 3000 y y x + xx + x x # + xx In te ns id ad e (u .a .) 2(؛) Ti Ti Ti Ti 4 N 3-x x - y - # - + - y x 3IP-2h Figura 40 - Difração de raios X de amostra de Ti-6Al-4V com implantação de 2 horas. Na amostra com tempo de imersão de 3 horas observa-se a diminuição dos picos de Ti β, o aumento de N estabiliza a fase α do Ti e, portanto, aumenta seus picos. Há também um 100 aumento da formação de nitretos instáveis, provavelmente porque ainda existe muitomais Ti do que N na superfície. 35 40 45 50 55 60 65 70 75 80 85 0 500 1000 1500 2000 2500 3000 3IP-3h y y ++ x + x x x x Ti Ti Ti Ti 4 N 3-x x - y - # - + - x x x # + In te ns id ad e (u .a .) 2(؛) Figura 41 - Difração de raios X da pastilha de Ti-6Al-4V com implantação de 3 horas. Na amostra com tempo de 4 horas de imersão, há a formação de diversos tipos de nitretos, mostrando a saturação da superfície por N e mantendo estáveis os níveis de Tiα e Tiβ. Pode-se notar a diminuição dos nitretos tipo ζ Ti4N3-x. Na amostra com tempo de 8 horas de imersão, pode-se notar a tendência a estabilização dos nitretos na superfície nos tipos TiN, sugerindo que a relação na superfície entre Ti e N está se aproximando de 1:1, devido ao aumento do tempo de implantação de íons de N. Observa-se também um suposto aumento de Tiβ. 101 Figura 42 Difração de raios X da pastilha de Ti-6Al-4V com implantação de 4 horas. Figura 43 Difração de raios X da pastilha de Ti-6Al-4V com implantação de 8 horas. 102 4.1.2 Espectroscopia Raman Observando-se os resultados obtidos pela análise por espectroscopia Raman na amostra sem tratamento, nota-se a ausência de bandas referentes a nitretos de titânio (TiN), tal qual foi confirmado através da análise por difração de raios X (Figura 44). Figura 44 Análise por espectroscopia Raman da amostra sem tratamento para identificação de bandas de TiN. Na Figura 45, referente à amostra com 2 horas de implantação, pode-se ver a formação de bandas bem características de TiN, que condiz com a análise por difração de raios X, onde se observa a presença de picos referentes à formação de nitretos. 250 500 750 1000 -10 0 10 20 Sem Tratamento In te ns id ad e (U . A .) Deslocamento Raman (cm -1 ) 103 Figura 45 Análise por espectroscopia Raman da amostra com tratamento de 2 horas de implantação, para identificação de bandas de TiN. A confirmação da formação de TiN na superfície da amostra com 3 horas de implantação, é mostrada na Figura 46, onde aparecem as mesmas bandas características de formação de nitretos. 200 400 600 800 1000 200 250 300 350 400 450 * - TiN Deslocamento Raman (cm -1 ) In te ns id ad e (U . A .) * * * 104 Figura 46 Análise por espectroscopia Raman da amostra com tratamento de 3 horas de implantação, para identificação de bandas de TiN. Na Figura 47 pode-se observar as mesmas bandas de TiN, já mais definidas, o que se pode comprovar comparando-se com a análise de difração de raios X, onde se nota, na amostra com 4 horas de implantação, a formação de vários nitretos. 200 400 600 800 1000 250 300 350 400 450 500 * * In te ns id ad e( U .A .) Deslocamento Raman (cm -1 ) * - TiN * 105 Figura 47 Análise por espectroscopia Raman da amostra com tratamento de 4 horas de implantação, para identificação de bandas de TiN. 4.1.3 Concentração atômica por espectroscopia Auger As Figuras 48 e 49 apresentam as amostras em termos de concentração dos elementos, conforme a profundidade, em relação à superfície da amostra pelo método de espectroscopia Auger. A caracterização por espectroscopia Auger tem como objetivo estimar a espessura da camada superficial modificada pelo tratamento de IIIP e seus principais constituintes. Para este tratamento obteve-se uma camada tratada de aproximedamente 18 nm para a amostra com tempo de imersão de 2 horas e de 36 nm, para a amostra de 3 horas, atingindo uma concentração máxima de 20% em átomos de nitrogênio a 6 nm para o tempo de 2 horas de imersão e uma concentração máxima de 32% em átomos de nitrogênio a 18 nm para 3 horas de imersão. 200 400 600 800 1000 0 50 100 150 200 250 300 * - TiN * * * Deslocamento Raman (cm -1 ) In te ns id ad e (U .A .) 106 Observa-se a presença dos elementos que compõem a liga (Ti, Al, V). O oxigênio é encontrado na atmosfera e, devido à grande afinidade do titânio com o oxigênio, forma uma camada passiva de óxido na sua superfície, que serve como camada protetora à corrosão. A espessura dessa camada de óxido pode sofrer algumas variações de acordo com as condições do ambiente e do tratamento. Na amostra tratada por 3 horas, o oxigênio é detectado até 10 nm, com uma concentração atômica máxima de aproximadamente 25% próxima à superfície. Observa-se que as concentrações atômicas dos elementos alumínio e vanádio são menores próximos à superfície devido à presença de oxigênio e nitrogênio. A presença do carbono na superfície se dá devido, possivelmente, à contaminação de óleo da bomba de vácuo do sistema de IIIP. 0 20 40 60 80 100 0 10 20 30 40 50 60 70 80 C on ce nt ra ça o (% a t) Profundidade (nm) C N O Ti Al V Figura 48 Espectrometria Auger da pastilha de Ti-6Al-4V para implantação em 2 horas. 107 0 20 40 60 80 100 120 0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 C on ce nt ra ça o (% a t) Profundidade (nm) C N O Ti Al V Figura 49 Espectrometria Auger da pastilha de Ti-6Al-4V para implantação em 3 horas. 4.1.4 Rugosidade por microscopia de força atômica As amostras analisadas por AFM podem ser vistas na Figuras 50 a 54 na sequência, sem implantação (referência), com tempo de implantação de 2, 3, 4 e 8 horas, respectivamente. Figura 50 – Análise de AFM para amostra sem tratamento. 108 Figura 51 - Análise de AFM para amostra com tempo de implantação de 2 horas. Figura 52 - Análise de AFM para amostra com tempo de implantação de 3 horas. 109 Figura 53 - Análise de AFM para amostra com tempo de implantação de 4 horas. Figura 54 - Análise de AFM para amostra com tempo de implantação de 8 horas. A Tabela 4 apresenta os valores de rugosidade média obtidos para as amostras de Ti-6Al-4V via AFM. Observa-se que quanto maior o tempo de implantação, maior a 110 rugosidade média superficial da amostra, devido à formação de TiN superficial crescente em relação ao tempo de implantação a que foram submetidas as amostras. Tabela 4 – Valores de rugosidade média obtidos via AFM. Tratamento IIIP (h) Rugosidade Média - Ra (nm) Sem Tratamento 0,09 2 1,94 3 2,46 4 4,07 8 15,00 4.1.5 Dureza pelo método de nanoindentação Os ensaios de dureza pelo método de nanoindentação apresentam o perfil de dureza da camada implantada. Pode-se observar, na comparação dos gráficos apresentados nas Figuras 55, 56, 57 e 58, a modificação dos valores de dureza superficial conforme o tempo de implantação. Esses valores aumentam consideravelmente com relação à dureza da liga Ti- 6Al-4V da liga sem tratamento [131,134-138]. Isto se dá devido à presença de outros elementos que passam a compor a superfície da amostra após os tratamentos de implantação, por exemplo: N, O, C. Nota-se, também, nas amostras com implantação de 2 e 3 horas, que a camada com dureza acima da camada de substrato é maior que a camada implantada, identificada pela espectrometria Auger. Isso ocorre devido a um efeito de longo alcance causado pela modificação de estrutura e propriedades físicase mecânicas, causado pelo tratamento iônico em materiais metálicos. Esses efeitos consistem na formação de defeitos na estrutura próxima 111 à superfície tratada, cuja espessura é maior do que aquela tratada por implantação iônica [131,134-138]. A Figura 55 apresenta o perfil de dureza da camada implantada de 2 horas. Na superfície foram encontrados os maiores valores de dureza (5,28 a 4,79 GPa), que podem ser atribuídos devido à formação de uma camada de nitreto de titânio. As medidas correspondentes a camadas mais internas na amostra apresentam menores valores de dureza, por corresponder a valores de dureza referentes ao substrato (Ti-6Al-4V). Na superfície, o maior valor de dureza encontrado é de 5,3 GPa (profundidade de 21,88 nm). Silva [131] determina, para a liga Ti-6Al-4V sem o tratamento de IIIP, um intervalo de valores de dureza compreendido entre 4,7 a 3,8 GPa. Com base nesses resultados, estima-se que a camada resultante do processo de IIIP empregado neste trabalho apresenta valores de dureza de 5,3 a 4,8 GPa. As grandes barras de erro apresentadas, principalmente no início das medições (mais próximas à superfície), são características de amostras com superfícies irregulares (elevada rugosidade). Essas barras são menores à medida que se aumenta a carga e atingem-se profundidades maiores, pois o efeito da rugosidade não mais interfere tanto nas regiões muito próximas da superfície. Os resultados obtidos, por espectroscopia Auger e de dureza pelo método da nanoindentação, indicam a existência de um novo componente na superfície do material, o nitrogênio, que combinado com o titânio na forma de TiN ou Ti2N [131], eleva a dureza. 112 Figura 55 Dureza versus profundidade de contato da amostra com implantação de 2 horas. Figura 56 Dureza versus profundidade de contato da amostra com implantação de 3 horas. 113 Figura 57 Dureza versus profundidade de contato da amostra com implantação de 4 horas. Figura 58 Dureza versus profundidade de contato da amostra com implantação de 8 horas. 114 4.1.6 Desgaste, coeficiente de atrito e uso de microscopia óptica O desgaste é determinado através da largura da trilha de desgaste, que deve ser convertida para volume de desgaste em mm 3 , também chamada de volume perdido (V) e o coeficiente de desgaste K. Os valores de V e K para cada tempo de imersão são mostrados na Tabela 5. Pode-se observar que a amostra com maior tempo de imersão apresenta menor coeficiente de desgaste. Os valores das larguras das trilhas foram medidos a partir das imagens geradas em um microscópio óptico, apresentados nas Figuras 59 a 63. Tabela 5. Valores de V e K para cada tempo de imersão. Tempo de Imersão (min) Largura da Trilha D (mm) Volume Perdido V (mm 3 ) Coeficiente de Desgaste K . 10 -3 (mm 3 /N.m) 0 0,7373 0,4279 9,0791 120 0,6636 0,31011 6,5797 180 0,6434 0,2776 5,8901 240 0,0472 0,1088 x 10 -3 2,3085 x 10 -3 480 0,04139 0,0066 x 10 -3 0,4671 x 10 -3 Tabela 6 Comparação em percentual dos desgastes das amostras em cada tempo de imersão. Tempo de imersão (minutos) Número da amostra (NA) Coeficiente de desgaste K . 10 -3 (mm 3 /N.m) Percentual de desgaste menor em relação a (NA – 1) % Percentual de desgaste menor que amostra de referência 0 1 9,0791 — — 120 2 6,5897 27,53 — 180 3 5,8901 10,48 35,12 240 4 2,3085 x 10 -3 99,96 99,97 480 5 0,4671 x10 -3 79,77 99,99 115 Os resultados apresentados nas Tabelas 5 e 6 estão coerentes, pois quanto menor o coeficiente de desgaste, mais duro é o material e, portanto, menos material é perdido [98, 139- 142]. Comparando os resultados com a literatura, observa-se que são similares aos encontrados [143-150]. Observa-se que o desgaste da amostra com 4 horas de imersão é 99,97% menor que o desgaste da amostra de referência e, da amostra com 8 horas de imersão, 99,99%. É uma diferença muito pequena com relação ao tempo de imersão entre as duas amostras, que é de 4 horas. Figura 59 Imagem obtida via MO da trilha deixada na amostra de referência pelo pino de desgaste. 116 Figura 60 Imagem obtida via MO da trilha deixada na amostra com tempo de imersão de 2 horas, pelo pino de desgaste. Figura 61 Imagem obtida via MO da trilha deixada na amostra com tempo de imersão de 3 horas, pelo pino de desgaste. 117 Figura 62 Imagem obtida via MO da trilha deixada na amostra com tempo de imersão de 4 horas, pelo pino de desgaste. Figura 63 Imagem obtida via MO da trilha deixada na amostra com tempo de imersão de 8 horas, pelo pino de desgaste. 118 Os resultados dos testes de desgaste podem ser vistos nas Figuras 64 a 68, obtidas em tribômetro, onde o desgaste aumenta conforme o pino vai se aprofundando na superfície da amostra. Na amostra sem tratamento Figura 64, nota-se que o desgaste é quase que contínuo durante todo o ensaio. Na superfície tratada com 2 horas de imersão (Figura 65) e 3 horas de imersão (Figura 66), tem-se no início do ensaio desgaste menor do que após 1.000 ciclos, quando o coeficiente de atrito tende ao da amostra não tratada. Já nas Figuras 67 e 68, com o tempo de imersão maior observa-se que a camada afetada pelo tratamento é maior e o desgaste menor, tendo que ultrapassar diversas camadas atômicas. O coeficiente de atrito da amostra é função do número de ciclos; a partir de determinado número de ciclos, a sua média deveria se igualar à da amostra sem tratamento. Não são atingidos os números de ciclos , nas amostras de 4 e 8 horas de imersão, suficientes para desgastar toda a espessura da camada implantada. Figura 64 Variação do coeficiente de atrito pelo número de ciclos do ensaio de desgaste pin-on-disk da amostra de referência. 119 Figura 65 Variação do coeficiente de atrito pelo número de ciclos do ensaio de desgaste pin-on-disk da amostra com implantação de 2 horas. Figura 66 Variação do coeficiente de atrito pelo número de ciclos do ensaio de desgaste pin- on-disk da amostra com implantação de 3 horas. 120 Figura 67 Variação do coeficiente de atrito pelo número de ciclos do ensaio de desgaste pin- on-disk da amostra com implantação de 4 horas. Figura 68 Variação do coeficiente de atrito pelo número de ciclos do ensaio de desgaste pin- on-disk da amostra com implantação de 8 horas. 121 4.2 Ensaios de fluência As Figuras 69 e 70 apresentam as curvas de fluência a 600ºC com tensões de 250 MPa e 319 MPa, obtidas para as amostras sem tratamento e amostras com tempo de implantação de 2 horas. 0,0 0,5 1,0 1,5 2,0 0,00 0,05 0,10 0,15 0,20 0,25 IIIP 2h 600°C - 250 MPa ST 600°C - 250 MPa de fo rm aç ão [m m /m m ] tempo [h] Figura 69 - Curvas deformação x tempo para a amostra sem tratamento e amostra com tempo de implantação de 2 horas, nas condições de fluência de 600ºC e tensão de 250 MPa. 122 0,0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6 0,7 0,00 0,05 0,10 0,15 0,20 0,25 IIIP 2h 600°C - 319 MPa ST 600ºC - 319 MPa de fo rm aç ão [m m /m m ] tempo [h] Figura 70 - Curvas deformação x tempo para a amostra sem tratamento e amostra com tempo de implantação de 2 horas, nas condições de fluência de 600ºC e tensão de 319 MPa. Nas duas condições, vêem-se os três estágios de fluência bem definidos. Observa-se também, umperíodo inicial (estágio primário) de duração relativamente curto com a diminuição da taxa de fluência primária. Este comportamento está associado ao endurecimento que o material experimenta devido ao acúmulo de discordâncias. A inclinação do estágio secundário fornece uma menor taxa de fluência estacionária (velocidade de fluência, obtida pela inclinação da curva de fluência) para a condição, indicando que as situações de encruamento e recuperação permanecem competindo e fazendo com que este estágio perdure. Esta menor taxa de fluência secundária implica também em um maior tempo para a fratura. 123 Para as duas condições as amostras com implantação iônica apresentam uma maior resistência à fluência, evidenciadas pelo aumento do tempo de vida e da diminuição da velocidade de fluência. As Figuras 71 a 73 apresentam as curvas de fluência a 600ºC com tensões de 125, 250 e 319 MPa, obtidas para as amostras sem tratamento e amostras com tempo de implantação de 3 horas. 0 3 6 9 12 15 0,00 0,05 0,10 0,15 0,20 0,25 0,30 0,35 IIIP 3h 600ºC - 125 MPa ST 600º - 125 MPa de fo rm aç ão [m m /m m ] tempo [h] Figura 71 - Curvas deformação x tempo para a amostra sem tratamento e amostra com tempo de implantação de 3horas nas condições de fluência de 600ºC e tensão de 125 MPa. 124 0,0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6 0,7 0,00 0,05 0,10 0,15 0,20 ST 600°C - 250 MPa IIIP 3h 600°C - 250 MPa de fo rm aç ão [m m /m m ] tempo [h] Figura 72 - Curvas deformação x tempo para a amostra sem tratamento e amostra com tempo de implantação de 3horas nas condições de fluência de 600ºC e tensão de 250 MPa. 125 0,0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,00 0,05 0,10 0,15 0,20 0,25 0,30 ST 600ºC - 319 MPa IIIP 3h 600°C - 319 MPa de fo rm aç ão [m m /m m ] tempo [h] Figura 73 - Curvas deformação x tempo para a amostra sem tratamento e amostra com tempo de implantação de 3horas nas condições de fluência de 600ºC e tensão de 319 MPa. Pela observação das curvas de fluência obtidas para as amostras sem tratamento e para as amostras com tempo de implantação de 3 horas, pode-se notar que as amostras com IIIP apresentam uma menor resistência à fluência quando comparadas com as amostras sem tratamento. Esta menor resistência à fluência é comprovada pela maior taxa de fluência estacionária e diminuição do tempo de fratura do material, podendo estar relacionada à formação de nitreto de titânio na superfície do material que, devido ao aumento da dureza superficial, promovem um comportamento mais frágil à liga, diminuindo a sua resistência à fluência. Nas amostras com tempo de implantação de 2 horas, a fina camada de nitreto formada não altera o comportamento dúctil da liga, agindo como uma proteção a sua 126 oxidação, quando submetida em temperaturas elevadas e melhorando seu desempenho em fluência. A Figura 74 apresenta as curvas de fluência obtidas a 600ºC com tensões de 125, 250 e 319 MPa, para as amostras com tempo de implantação de 3 horas. Observa-se que o aumento da tensão gera uma diminuição da resistência à fluência. 0 1 2 3 4 5 0,00 0,05 0,10 0,15 0,20 0,25 0,30 IIIP 3h 600ºC 125 MPa 250 MPa 319 MPa de fo rm aç ão [m m /m m ] tempo [h] Figura 74 - Curvas deformação x tempo para a amostra sem tratamento e amostra com tempo de implantação de 3 horas nas condições de fluência de 600ºC e tensões de 125, 250 e 319 MPa. A Figura 75 apresenta as curvas de fluência a 500ºC com tensão de 319 MPa, obtidas para as amostras sem tratamento e amostras com tempo de implantação de 3 horas. Pode-se notar que, para esta condição, ocorre um aumento da resistência à fluência para a amostra, 127 podendo estar associada à diminuição da temperatura. Assim como a relação ilustrada na Figura 74, o aumento da temperatura diminui a resistência do material à fluência, como se pode observar na Figura 76. 0 3 6 9 12 15 18 0,00 0,05 0,10 0,15 0,20 0,25 0,30 ST 500ºC - 319 MPa IIIP 3h 500ºC - 319MPa de fo rm aç ão [m m /m m ] tempo [h] Figura 75 - Curvas deformação x tempo para a amostra sem tratamento e amostra com tempo de implantação de 3 horas nas condições de fluência de 500ºC e tensão de 319 MPa. 128 0,000 0,015 0,030 0,045 0,060 0,0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6 ST 700ºC - 319 MPa IIIP 3h 700ºC - 319 MPa de fo rm aç ão [m m /m m ] tempo [h] Figura 76 - Curvas deformação x tempo para a amostra sem tratamento e amostra com tempo de implantação de 3 horas nas condições de fluência de 500ºC e tensão de 319 MPa. A Figura 77 apresenta as curvas de fluência a 600ºC com tensão de 250 MPa, obtidas para as amostras sem tratamento e amostras com tempo de implantação de 8 horas. 129 0,0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6 0,7 0,00 0,05 0,10 0,15 0,20 0,25 0,30 0,35 IIIP 8h 600ºC - 250 MPa ST 600ºC - 250 MPa de fo rm aç ão [m m /m m ] tempo [h] Figura 77 - Curvas deformação x tempo para a amostra sem tratamento e amostra com tempo de implantação de 8 horas nas condições de fluência de 600ºC e tensão de 250 MPa. Com o aumento da espessura da camada de nitreto para o tempo de implantação de 8 horas, observa-se uma concordância com os resultados obtidos para as amostras com tempo de implantação de 3 horas, com a fragilização da liga nas condições de fluência a que foi submetida. A Figura 78 apresenta as curvas deformação x tempo para as amostras sem tratamento e amostras com tempo de implantação de 2, 3 e 8 horas, em todas as condições estudadas. 130 0,0 0,5 1,0 1,5 2,0 0,00 0,05 0,10 0,15 0,20 0,25 0,30 0,35 IIIP 2h 600°C - 250 MPa IIIP 2h 600°C - 319 MPa ST 600ºC - 319 MPa ST 600°C - 250 MPa IIIP 3h 600°C - 250 MPa IIIP 3h 600°C - 319 MPa IIIP 8h 600ºC - 250 MPa de fo rm aç ão [m m /m m ] tempo [h] Figura 78 - Curvas deformação x tempo para as amostras sem tratamento e amostras com tempo de implantação de 2, 3 e 8 horas, em todas as condições estudadas. Os principais parâmetros de fluência obtidos a partir das curvas são apresentados na Tabela 7, onde tp corresponde ao fim do estágio primário; s , à taxa de fluência estacionária; tf, ao tempo de fratura e εf, à deformação correspondente à fratura. 131 Tabela 7. Parâmetros experimentais de fluência obtidos para amostras com tempo de implantação de 2, 3, e 8 horas e sem tratamento. Tratamento T (ºC) σ (MPa) tp (h) ε·s (1/h) tf (h) εf (mm/mm) Sem tratamento 500 319 1,333 0,0111 11,533 0,2028 600 125 0,833 0,0098 14,000 0,2625 250 0,030 0,1906 0,620 0,1938 319 0,010 0,5698 0,390 0,1742 700 319 0,006 8,881 0,061 0,5135 IIIP 2h 600 250 0,270 0,0615 1,830 0,1807 319 0,110 0,1925 0,600 0,1964 IIIP 3h 500 319 1,000 0,0086 18,87 1,2907 600 125 0,670 0,0575 - - 250 0,100 0,4026 0,267 0,1225 319 0,017 1,3206 0,130 0,2544 700 319 0,009 29,254 0,030 0,5818 IIIP 8h 600 250 0,033 0,3413 0,480 0,3017 Nestas condições de ensaio (Tabela 7), pode-se observar pelos parâmetros apresentados que a liga submetida ao tratamento de IIIP por 2 horas apresenta maior resistência à fluência em ambas as condições de tensão analisadas, apresentando um estágio primário mais prolongado e também umamenor taxa de deformação do estágio secundário, proporcionando um maior tempo de vida útil. A Figura 79 mostra a dependência da taxa de fluência secundária com a tensão para obtenção do expoente de tensão n nas amostras sem tratamento de IIIP e com tratamento de IIIP com tempos de implantação de 3 horas, na temperatura de 600ºC e condições de tensão de 125, 250 e 319 MPa. 132 4,6 4,8 5,0 5,2 5,4 5,6 5,8 6,0 -5,5 -5,0 -4,5 -4,0 -3,5 -3,0 -2,5 -2,0 -1,5 -1,0 -0,5 0,0 0,5 n= 4,33 B= 8,21 x 10 -12 n= 3,23 B= 9,26 x 10 -9 IIIP 3h - 600 ºC ST - 600 ºC ln (t ax a de fl uê nc ia s ec un dá ria ) [ 1/ h] ln (tensão) [MPa] Figura 79 - Dependência da taxa secundária com a tensão a 600ºC para nas amostras sem tratamento de IIIP e com tratamento de IIIP com tempos de implantação de 3 horas, na temperatura de 600ºC. A análise da curva permite concluir que a taxa secundária aumenta com a tensão aplicada para as condições estudadas. O expoente de tensão n fornece um entendimento de resistência à fluência: quanto maior o valor de n maior a resistência do material frente à fluência e vice-versa. Os valores de n encontrados neste trabalho sugerem que as amostras sem tratamento de IIIP, a 600ºC, tornam-se mais resistentes à fluência, quando comparados à liga com tratamento de IIIP por 3 horas. 133 Com base nas curvas da Figura 79, obtém-se uma estimativa dos parâmetros B e do expoente de tensão n para as condições em estudo na temperatura de 600ºC, e que estão apresentados na Tabela 8. Tabela 8: Expoente de tensão n e constante B obtidos a 600ºC. Condição Parâmetros Sem tratamento n 4,33 B 8,21 x 10 -12 IIIP 3 horas n 3,23 B 9,26 x 10 -9 Estes valores resultam nas Equações 27 e 28 para as condições sem tratamento e com tratamento de IIIP, respectivamente: s = 8,21 x 10 -12 σ4,33; (27) s = 9,26 x 10 -9 σ3,23; (28) A Figura 80 mostra a dependência da taxa de fluência estacionária com o inverso da temperatura (em K) obtendo-se uma estimativa da energia de ativação para fluência Qc nas condições sem tratamento e com tratamento de IIIP 3 horas, respectivamente. 134 0,00100 0,00105 0,00110 0,00115 0,00120 0,00125 0,00130 -8 -6 -4 -2 0 2 4 Q C = 209,49 kJ/mol C = 1,69 x 10 12 Q C = 329,83 kJ/mol C = 2,61 x 10 19 IIIP 3h - 319 MPa ST - 319 MPa ln (t ax a de fl uê nc ia s ec un dá ria ) [1 /h ] 1/T [1/K] Figura 80 - Determinação da energia de ativação das condições sem tratamento e com tratamento de IIIP 3 horas a 319 MPa. A Tabela 9 contempla os valores de energia de ativação Qc e o parâmetro C para as condições sem tratamento e com tratamento de IIIP 3 horas a 319 MPa. Tabela 9: Parâmetros Qc e C para as condições sem tratamento e com tratamento de IIIP 3 horas a 319 MPa. Condição Parâmetros Sem tratamento Qc [kJ/mol] 209,49 C 1,69x10 12 IIIP 3 horas Qc [kJ/mol] 329,83 C 2,61x10 19 135 Os valores para energia de ativação aparente de autodifusão para o Ti-α normalmente reportados na literatura encontram-se na faixa de 242 a 293 kJ/mol. Entretanto, a concentração e a natureza das impurezas, em particular as impurezas de mais rápida difusão, como ferro, níquel e cobalto, têm muitos efeitos na autodifusão do titânio. Para o Ti-α de alta pureza, são de 303 e 329 kJ/mol, respectivamente para auto-difusão do titânio e difusão do soluto alumínio [81]. Evans e Harison [85] estudaram a fluência estacionária de ligas de titânio α/β na faixa de temperatura de 397-552ºC sob tensão constante e encontram valores de energia de ativação de 259–405 kJ/mol. De acordo com os valores encontrados para as condições estudadas nesta tese, os valores obtidos são condizentes com a literatura para ligas de titânio. Os parâmetros n e Qc obtidos para as duas condições estudadas indica que o mecanismo de fluência predominante está associado à escalagem de discordâncias. 4.3 Análise por Microscopia Eletrônica de Varredura Foram realizadas as análises microestruturais por MEV das amostras implantadas por IIIP (Figura 81). As micrografias mostram que, para diferentes tempos de imersão, ocorre a modificação da superfície da liga, devido a implantação de íons de nitrogênio e formação do composto de TiN. Como a espessura da camada formada é nanométrica, na técnica de MEV não é possível quantificá-la com exatidão, porém pode-se ter uma boa avaliação qualitativa. 136 Figura 81 – Micrografias obtidas via MEV da liga Ti-6Al-4V: a) sem tratamento; b) IIIP-2 horas; c) IIIP-3 horas; d) IIIP-4 horas e e) IIIP-8 horas. b e a b c d 137 5 – CONCLUSÕES O estudo de caracterização mecânica da liga Ti-6Al-4V por tratamento superficial de implantação iônica por imersão em plasma (IIIP) com diferentes tempos de implantação, conduz às seguintes conclusões: 1) Pelas análises de difração de raios X nas amostras sem tratamento de IIIP, e nas amostras tratadas com tempo de imersão de 2, 3, 4 e 8 horas, comprova-se a formação de nitretos superficiais nas amostras, utilizando-se a espectroscopia Raman. 2) Os valores de rugosidade média obtidos para as amostras de Ti-6Al-4V, obtidos por AFM, indicam que quanto maior o tempo de implantação, maior a rugosidade média superficial da amostra, devido à formação de TiN superficial crescente em relação ao tempo de implantação a que foram submetidas as amostras. 3) A amostra com maior tempo de imersão, IIIP 8 horas, apresenta o menor coeficiente de desgaste. Pelo emprego da técnica de espectroscopia de elétrons Auger (AES) determinou-se a presença de nitrogênio com uma camada tratada de aproximadamente 18 nm para a amostra com tempo de imersão de 2 horas e de 36 nm para a amostra de 3 horas, atingindo uma concentração máxima de 20% em átomos de nitrogênio a 6 nm para o tempo de 2 horas de imersão e uma concentração máxima de 32% em átomos de nitrogênio a 18 nm para 3 horas de imersão. 4) O IIIP proporciona um aumento na dureza superficial da liga (quanto maior o tempo de implantação, maior a dureza superficial da amostra), medida por meio da técnica da nanoindentação. 5) As amostras com IIIP 3 horas e 8 horas apresentam menor resistência à fluência quando comparadas com as amostras sem tratamento. Esta menor resistência à fluência é comprovada pela maior taxa de fluência estacionária e diminuição do tempo 138 de fratura do material, podendo estar relacionada à formação de nitretos de titânio na superfície do material que, devido ao considerável aumento da dureza superficial, promovem um comportamento mais frágil à liga, diminuindo a sua resistência à fluência. 6) Nas amostras com tempo de implantação de 2 horas, a fina camada de nitreto formada não altera de forma significativa o comportamento dúctil da liga, agindo como uma proteção à oxidação da liga quando submetida em temperaturas elevadas e melhorando seu desempenho em fluência. 7) A correlação dos valores de expoente de tensão e energia de ativação para a região estacionária apresentados neste trabalho sugere que o mecanismo de fluência para este trabalho esteja associado à escalagem e escorregamento de discordâncias. 8) As análises microestruturais por MEV das amostras implantadas por IIIP, evidenciam que, para diferentes tempos deimplantações, ocorre a modificação da superfície da liga, devido a implantação de íons de nitrogênio e formação do composto de TiN. Como a espessura da camada formada é nanométrica, na técnica de MEV não é possível quantificá-la com exatidão porém pode-se ter uma avaliação qualitativa. 139 6 – REFERÊNCIAS BIBLIOGRÁFICAS [1] YOGI, L.M; PIORINO NETO; F.; REIS, D.A.P.; MOURA NETO, C.; Avaliação do tratamento térmico na fluência da liga Ti-6Al-4V por caracterização microestrutural. 14º Encontro de Iniciação Científica e Pós-Graduação do ITA, 2008, São José dos Campos, SP. [2] SUGAHARA, T.; YOGI, L.M.; OLIVEIRA, G.L.F.; REIS; D.A.P.; SILVA, M.M.; MOURA NETO, C.; BARBOZA, M.J.R.; Avaliação do tratamento térmico na fluência da liga Ti-6Al-4V. Congresso da ABM, 64º, 2009, Belo Horizonte-MG. [3] YOGI, L.M.; SUGAHARA, T.; MOURA NETO, C.; REIS, D.A.P.; PIORINO NETO, F.; BARBOZA, M.J.R.; Efeito do tratamento térmico na fluência da liga Ti-6Al-4V. Revista Brasileira de Aplicações de Vácuo, v. 27, n. 4, 189-194, 2008. 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