Teste e Conf

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Extest: 
A instrução EXTEST executa um teste de interconexão de PCB, coloca um dispositivo compatível com IEEE 1149.1 em um modo de teste de limite externo e seleciona o registro de Boundary Scan a ser conectado entre TDI (Test Data In) e TDO (Test Data Out). Durante a instrução EXTEST, as células de Boundary Scan associadas às saídas são pré-carregadas com padrões de teste para testar dispositivos de recebimento de dados. As células de limite de entrada são configuradas para capturar os dados de entrada para análise posterior.
Bypass:
Usando a instrução BYPASS, a cadeia de varredura de limite de um dispositivo pode ser ignorada, permitindo que os dados passem pelo registrador de bypass. Isso permite um teste eficiente de um dispositivo selecionado sem incorrer na sobrecarga de percorrer outros dispositivos. A instrução BYPASS permite que um dispositivo compatível com IEEE 1149.1 permaneça em um modo funcional e seleciona o registro de bypass a ser conectado entre os pinos TDI e TDO. Os dados seriais podem ser transferidos através de um dispositivo do pino TDI para o pino TDO sem afetar a operação do dispositivo.
Sample/Preload:
Permite que um dispositivo compatível com IEEE 1149.1 permaneça em seu modo funcional e seleciona o registrador de Boundary Scan a ser conectado entre os pinos TDI e TDO. Durante a instrução SAMPLE/PRELOAD, o registrador de Boundary Scan pode ser acessado por meio de uma operação de varredura de dados, para obter uma amostra da entrada/saída de dados funcionais do dispositivo. Os dados de teste também podem ser pré-carregados no registrador de Boundary Scan antes de carregar uma instrução EXTEST.
Intest:
Highz:
Clampare Trainer 1149: