Apostila Curso OMICRON

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Testes
d
Adimarco Representações e Serviços Ltda 
Janeiro – 2003
Sistema de 
 e Ensaios 
e Proteção 
OMICRON 
 
SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO 
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON 
 
Parte I: Conceitos 
 
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Adimarco® Representaç ões e Serviç os Ltda. Sistemas de Testes e Ensaios de Proteç ão OMICRON - 1 
 
 
CAP I: A Adimarco Representações 
e Serviços 
 
RESUMO 
 
Este texto apresenta a Adimarco 
Representaç ão e Serviç os LTDA. Sua relaç ão com a 
Omicron eletronics e suas atividades. 
 
1.0 – A ADIMARCO 
 
A Adimarco Representaç ões e Serviç os LTDA. 
atua desde 1988 com o firme compromisso de levar 
até o cliente o que de melhor existe quanto à 
implementaç ão de soluç ões de alta tecnologia e 
custos adequados. 
Para tal, realiza uma rigorosa seleç ão de suas 
representadas de forma a garantir seu padrão de 
excelência, tanto no fornecimento de equipamentos 
quanto na prestaç ão de serviç os. 
A Adimarco opera em dois segmentos 
distintos: Aviaç ão e Setor Elé trico, sendo para o 
segundo figura como uma das grandes parceiras de 
empresas do setor elé trico nacional e empresas 
prestadoras de serviç os com a representaç ão 
distribuiç ão exclusiva da OMICRON Eletronics no 
Brasil. 
A OMICRON Eletronics é uma companhia 
internacional que desenvolve, fabrica e vende 
equipamentos de testes com a mais sofisticada 
tecnologia para a realizaç ão dos mais avanç ados 
testes de proteç ões elé tricas, medidores de energia e 
transdutores utilizados em sistemas elé tricos. 
Combinando inovaç ão, avanç adas tecnologias e um 
software com soluç ões criativas a OMICRON alcanç ou 
o status de lí der mundial nesse nicho de mercado. 
 
 
Figura 1 – Omicron – Inovaç ão, avanç adas tecnologias 
e soluç ões criativas 
 
 
Figura 2 – Prestaç ão de serviç o Adimarco – Qualidade 
e Alta Tecnologia 
 
Contando com uma equipe de profissionais 
altamente qualificados, com larga experiência no 
mercado, complementados com consultores de 
renome nacional e internacional, e aliado aos 
equipamentos de última geraç ão, a Adimarco cumpre 
sua missão básica de oferecer serviç os com um alto 
padrão de qualidade e confiabilidade. Este sistema de 
trabalho permite uma ampla capacitaç ão técnica de 
prestaç ão de serviç os e consultorias 
 
 
2.0 - OMICRON ELETRONICS 
 
OMICRON eletronics é uma companhia 
internacional que provê soluç ões inovadoras para 
testes primários e secundários. 
Combinando inovaç ão, tecnologia de ponta, 
e soluç ões criativas de software, A OMICRON tem 
conseguido o status de lí der mundial dentro deste 
nicho de mercado. Com vendas em mais de 100 
paí ses, escritórios na Europa, Estados Unidos e Ásia, e 
uma rede mundial de distribuidores e representantes, 
a OMICRON tem verdadeiramente construí do uma 
reputaç ão como fornecedor da mais alta qualidade. 
Os testes automatizados e a capacidade de 
documentaç ão das soluç ões de teste OMICRON são 
importantes benefí cios à luz das mudanç as das 
condiç ões de mercado, resultando em organizaç ões 
reestruturadas que requerem “fazer mais com 
menos”. 
 
SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO 
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON 
 
Parte I: Conceitos 
 
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Adimarco® Representaç ões e Serviç os Ltda. Sistemas de Testes e Ensaios de Proteç ão OMICRON - 2 
 
 
 
Figura 3 – Presenç a Omicron em mais de 100 paí ses 
 
Hoje, os produtos OMICRON giram em torno 
de conceitos de testes que provê soluç ões para muitos 
desafios criados por estas tendências competitivas de 
mercado. A integraç ão de um hardware leve e 
confiável com um software flexí vel e amigável se 
chama OMICRON Test Universe. 
Serviç os na área de Consultoria, 
comissionamento, teste de relés e treinamento, faz 
com que a OMICRON tenha uma gama completa de 
produtos. 
A especializaç ão dos testes em sistemas 
elé tricos de potência junto com uma lideranç a 
visionária permite à OMICRON continuar com 
desenvolvimentos inovadores de seu sistema de testes 
para satisfazer às novas necessidades que os clientes 
necessitam para o século XXI. 
 
3.0 - CURSOS ADIMARCO 
 
O curso de utilizaç ão da caixa de teste 
OMICRON é fundamental para habilitar os 
usuários a um conhecimento pleno e melhor 
aproveitamento do equipamento e de seu 
software. 
 
Figura 4 – Cursos Adimarco 
O material didático é preparado por 
equipe especializada, com larga experiência no 
setor elé trico, visando abordar os aspectos da 
instalaç ão e equipamentos do cliente, utilizando-
se os procedimentos de testes nos relés indicados 
pelo cliente como base do material apresentado 
no curso. Para tal, o cliente deve disponibilizar, 
não só a documentaç ão técnica, mas também os 
equipamentos necessários. 
Após o curso, os participantes do curso 
estarão aptos a utilizar com desenvoltura o 
equipamento. 
 Além dos cursos de utilizaç ão da caixa de 
teste OMICRON, a Adimarco oferece vários cursos, 
sempre visando oferecer ao cliente soluç ões a custos 
adequados. 
 Os cursos são estruturados segundo a 
necessidade do cliente ou já preparados como nossos 
cursos de catá logo, entre eles: 
 
! Sistema digital de teste de proteç ão de 
sistemas elé tricos 
! Proteç ão de sistemas elé tricos – testes e 
ensaios 
! Proteç ão de Máquinas elé tricas 
! Proteç ão de linhas de transmissão 
! Proteç ão de transformadores 
! Manutenç ão de equipamentos elé tricos 
 
 
4.0 - CONTATOS 
 
 
ADIMARCO Representaç ões e Serviç os Ltda. 
Av das Américas 500 - Bloco 21 - Sala 336 
Barra da Tijuca 
22640-100- Rio de Janeiro - RJ – BRASIL 
 
Eng Marcelo Paulino 
Departamento Técnico-Comercial 
 
Ph: 55 21 2494 7140 
Fax:55 21 2494 7141 
 
email: marcelo@adimarco.com.br 
 
 
 
 
SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS 
 DE PROTEÇÃO OMICRON 
 
Parte II: Sistema Automatizado de Teste 
 
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Cap 2: Característica de Hardware 
 
 
RESUMO 
 
Este capítulo descreve as características dos 
equipamentos OMICRON, mostrando os diferentes 
tipos de hardware associado a cada modelo. 
 
1.0 - GENERALIDADES 
 
A linha CMC da OMICRON consiste de 
equipamento de teste trifásico para qualquer tipo de 
proteção elétrica (21, 24, 25, 27, 32, 37, 46, 47, 50, 
51, 55, 59, 60, 62, 67, 68, 76, 78, 79, 81, 85, 86, 
87g e 87gt, 92), controlado por um 
microcomputador. 
Possui conversor Digital / Analógico de 16 
bits. O amplificador de tensão é autoprotegido contra 
curto-circuito e sobrecarga e o amplificador de 
corrente é protegido contra a abertura intencional da 
corrente ou sobrecarga. O equipamento é digital 
assim como sua própria calibração. Possui um 
autocheque da calibração para não necessitar de 
padrão externo de referência. 
O equipamento possui um peso de 
aproximadamente 9.8 Kg, e seus hardwares contem 
os seguintes elementos: 
 
! Uma seção de geração de sinal que provê 
doze canais independentes 
! Uma seção de amplificação com três 
amplificadores de tensão e três de corrente, 
! Uma seção de temporização numérica de 
alta precisão com dez entradas binárias para 
detecção de seqüência de contatos 
! Uma seção de medição analógica com duas 
entradas analógicas para a medição de 
sinais de transdutores 
! Quatro relés de saída 
! Circuitaria completa de controle de sistema 
 
A geração de sinais é executada digitalmente 
(Tecnologia DSP). A conversão D/A de 16-bit resulta 
em um sinal de alta qualidade inclusive para pequenas 
amplitudes. 
Em adição as seis saídas da seção de 
amplificação, seis canais independentes com baixo 
nível de sinal estão disponíveis na parte traseira da 
unidade. Eles podem ser usados para controlar 
amplificadores externos, para aplicações que 
necessitem maisque três fases de tensões ou 
correntes. Por exemplo, o teste em proteções 
diferenciais, ou aplicações que necessitem de 
correntes, tensões e potências de saída maiores que as 
disponíveis na CMC156. Os sinais de baixo nível 
podem também ser usados para o teste de 
equipamentos que tenham entradas de baixo nível, 
tais como adaptadores de fibra ótica. 
O equipamento CMC 256 é disponível em duas 
versões. CMC 256-6 com seis fases com saída de 
corrente de 6 x 12.5 A e com três fases CMC 256-3 
com saída de corrente de 3 x 25 A. 
 
 
 
Comparando à CMC 156, a CMC 256 oferece 
as seguintes características adicionais: 
 
- Saída de Tensão de 0 a 300 V: 
 
Para testes em relés de proteção que 
necessitem de altas tensões (acima de 600 V fase-
terra) na industria, medidores e transdutores de 
medição. 
 
- Quatro controles independentes da tensão de saída 
0 a 300 V: 
 
Por exemplo, para o teste conveniente de 
dispositivos de sincronismo ou geradores com tensão 
residual 
 
SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS 
 DE PROTEÇÃO OMICRON 
 
Parte II: Sistema Automatizado de Teste 
 
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- Saída de Correntes 6 x 12,5 A ou 3 x 25 A: 
 
Alta potência para o teste de relés 
eletromecânicos sem o amplificador adicional. Seis 
correntes de saída (CMC 256-6); permite o teste na 
proteção diferencial de transformadores de dois 
enrolamentos sem o adicional amplificador externo de 
corrente. 
 
- Fonte DC independente (0 a 264V, 50 W): 
 
Por exemplo, para Relé de potência 
 
- Entrada de medida analógica: (com o opcional 
EnerLyzer) 
 
Suprindo todas as dez entradas binárias com 
funções de medidas analógicas para tensões acima de 
600 V e correntes (utilizando clamps de corrente). 
Amplitude, freqüência, fase, medição de potência, 
gravação e analise dos sinais transitórios, trigger de 
eventos, etc. 
 
 
a) CMC256-6 b) CMC256-3 
 
 
c) CMC156 
 
2.0 - ESPECIFICAÇÕES TÉCNICAS 
 
2.1 - ESPECIFICAÇÕES TÉCNICAS CMC 156 
 
2.1.1 - Seção Gerador/amplificador 
 
Tensão Gerador/Amplificador 
Faixa de Ajuste 
3-fases AC (L-N) 3 x 0 ... 125 V 
1-fase AC (L-L) 1 x 0 ... 250 V 
DC (L-N) 1 x 0 ... ± 125 V 
 
Potência 
3-fases AC (L-N) 3 x 50 VA até 125 V 
1-fase AC (L-N) 1 x 100 VA até 125 V 
1-fase AC (L-L) 1 x 100 VA até 250 V 
AC (L-N) 1 x 90 W até ± 125 V 
Resolução 6 mV 
Precisão <0.025% típ.(<0.1%gar.) 
Distorção (THD+N) <0.015% típ. (<0.05% gar.) 
 
Geradores/Amplificadores de Corrente 
 
Faixa de Ajuste 
3-fase AC (L-N) 3 x 0 ... 12.5 A 
1-fase AC (3L-N) 1 x 0 ... 21 A 
DC (3L-N) 1 x 0 ... ± 30 A (Se controlado via software 
Windows) 
 
Potência 
3-fase AC (L-N) 3 x 40 VA 
1-fase AC (L-L) 1 x 80 VA 
dc (L-N) 1 x 60 W 
Resolução 500 µA 
Precisão <0.02 % típ. (<0.1 % gar.) 
Distorção (THD+N) <0.03% típ. (<0.07% gar.) 
 
Saída de sinais de baixo nível 
Faixa de Ajuste 6 x 0 ... 5 Vrms 
Saída de corrente max. 2 mA 
Resolução 250 µV 
Precisão <0.025 % típ. (<0.1% gar.) 
Distorção (THD+N) <0.015% típ. (<0.05% gar.) 
Isolação SELV 
 
2.1.2 - Dados comuns aos geradores 
 
Faixa de freqüência 
sinais senoidais 10 ... 1000 Hz 
sinais transitórios DC ... 3.1 kHz 
Resolução da freqüência 5 µHz 
Precisão da freqüência/der.± 0.5 ppm / ± 1 ppm 
faixa angulo de fase - 360° ... + 360° 
resolução de fase 0.001° 
Erro de Fase <0.02°típ(<0.1°gar.)até 50/60 Hz 
 
Conexões 
Saída Amplificador soquete banana de 4mm ou 
de amplificador combinado 
de 8 pinos 
Sinais de Baixo Nível Soquete combinado de 16 pinos 
 
Todos doze geradores são ajustáveis 
independentemente em amplitude, fase e freqüência. 
Não é necessário o chaveamento de ajustes. Todas as 
saídas de tensão e corrente estão protegidas contra 
sobrecarga e curto-circuito, e são protegidas contra 
sinais transitórios externos de alta tensão e 
 
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 DE PROTEÇÃO OMICRON 
 
Parte II: Sistema Automatizado de Teste 
 
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sobretemperatura. (Indicação via mensagem de erro 
no software). Os circuitos do Gerador/Amplificador 
estão galvânicamente separados. 
 
2.1.3 - Seção de Temporização/Medição 
 
Entradas Binárias 
Quantidade 10 entradas 
Critério de Trigger Troca de posição dos 
contatos sem potencial ou 
tensão DC até 250 V; O nível 
de trigger pode ser ajustado 
via software 
Tempo de resposta 120 µs 
isolação Galvânica Separados galvânicamente 
dos amplificadores. Dois 
grupos galvânicamente 
separados. 
Máximo tempo de medição Infinito (se 
controlado via 
software Windows) 
Conexões soquetes banana 4 mm ou 
via soquete combinado 
 
Entradas do Contador de 100 kHz 
Numero 2 
Histerese de tensão 2 V 
Max. tensão de entrada ± 30 V 
Isolação SELV 
Conexões via soquetes na parte traseira 
da unidade 
 
Entrada de medição de corrente DC 
Faixa de Medição 0 ... ± 20 mAdc 
Precisão erro <0.05% gar. 
Conexão soquetes banana 4mm ou via 
soquete combinado 
 
 
Entrada de medição de Tensão DC 
Faixa de Medida 0 ... ± 10 Vdc 
Precisão erro <0.05% gar. 
Conexão soquetes banana 4mm ou via 
soquete combinado 
 
Saídas Binárias 
Numero 4 
Tipo Contato seco – controlado 
via software 
Capac. interrupção AC Vmax: 250 Vac Imax: 8 A, 
Pmax: 2000 VA 
Capac. interrupção DC Vmax: 300 Vdc, Imax: 8 A, 
Pmax: 50 W 
Conexão soquetes banana 4 mm 
 
2.1.4 - Geral 
 
Fonte de alimentação 
V nominal de entrada 110 - 240 Vac, 1-fase 
V permissível de entrada 99 ... 264 Vac 
Freqüência Nominal 50/60 Hz 
Faixa Admissível 47 - 63 Hz 
Consumo < 600 VA 
Conexão soquete Standard Ac (IEC 60320) 
 
Condições Ambientais 
Temperatura de operação 0...+50°C (+32 ... +122°F) 
Temperatura de armazenagem -25 ... +70°C 
(-13 ... +158°F) 
Faixa de umidade umidade relativa 5 ... 95%, 
sem condensação 
Vibração IEC 68-2-6 (20 m/s2 até 10 ... 150 Hz) 
Choque IEC 68-2-27 (15g / 11ms meia seno) 
EMC CE conforme (89/336/EEC) 
Emissão EN 50081-2, EN 61000-3-2/3FCC Sub parte B 
da Parte 15 Classe A 
Imunidade EN 50082-2, IEC 61000-4-2/3/4/6 
Segurança EN 61010-1, EN 60950+A1 
 IEC 61010-1, UL 3111-1 
 CAN/CSA-C22.2 No 1010.1 
Certificações TÜV-GS; UL, CUL 
Peso 9.8 kg (21.6 lb.) 
Dimensões 343x145x268mm (13.5“x5.7“x10.6“) 
(Largura x Altura x Profundidade, sem alça) 
 
Autodiagnóstico do hardware durante a 
operação do equipamento. Supervisão automática das 
saídas de tensão e corrente. Conexão ao PC via porta 
paralela para impressora 
 
2.2 - CMC 156 EP (PRECISÃO ESTENDIDA) 
 
Quando atualizado com a opção EP (Precisão 
estendida), o equipamento de teste CMC 156 se 
converte em um instrumento ideal para testar 
medidores de energia de classe 0.26, de acordo com a 
norma IEC687 (certificado PTB) sem um medidor 
adicional de referência. Essa grande precisão também 
faz do CMC 156 EP ideal para os fabricantes de relés 
para a execução de testes de tipo. A principal 
diferença com o equipamento CMC 156 standard é 
uma adicional comutação automática do limite de 
corrente do amplificador assegurando um incremento 
na precisão em toda a faixa. 
 
2.3 - ESPECIFICAÇÕES TÉCNICAS CMC 256 
 
2.3.1 - Seção Gerador/amplificador 
 
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Tensão Gerador/Amplificador 
Faixa de Ajuste 
4-fase ac (L-N) 4x0...300 V (VL4(t) automaticamente 
 calculo: VL4=(VL1+VL2+VL3) * C 
 ou programação livre 
1-fase ac (L-L) 1 x 0 ... 600 V 
dc (L-N) 4 x 0 ... ± 300 V 
 
Potência 
3-fase ac (L-N) 3 x 85 VA até 85 ...300 V 
 VL4 ac (L-N) 1 x 85 VA até 85 ... 300 V 
 4-fase ac (L-N) 4 x 50 VA até 75 ... 300 V 
 1-fase ac (L-N) 1 x 150 VA até 75 ... 300 V 
 (Típico. 200VAaté100..300V) 
 1-fase ac (L-L) 1 x 150 VA até 150 ... 600 V 
 dc (L-N) 1 x 360 W até ± 300 V 
Precisão <0.025% Típ. (<0.1% gar.) 
 até 30 ... 300 V 
Distorção (THD+N)2 <0.015% Típ. (<0.05% gar.) 
Faixa da tensão de saída 150 V, 300 V 
Resolução 5 mV em 150 V faixa 
 10 mV em 300 V faixa 
 
Geradores/Amplificadores de Corrente – CMC256-6 
 
Amplificadores de Corrente grupo A e/ou B 
 
Faixa 12.5 A 
Faixa de Ajuste 
3-fase ac (L-N) 6 x 0 ... 12.5 A 
1-fase ac (3L-N) 2 x 0 ... 37.5 A 
dc (3L-N) 2 x 0 ... ± 17.5 A 
 
Potência 
3-fase ac (L-N) 6 x 70 VA até 7.5 A 
1-fase ac (3L-N) 2 x 210 VA até 22.5 A 
1-fase ac (L-L) 2 x 140 VA até 7.5 A 
dc (3L-N) 2 x 235 W até ± 17.5 A 
Resolução 500 µA 
 
Faixa 12.5 A 
Faixa de Ajuste 
3-fase ac (L-N) 6 x 0 ... 1.25 A 
 
Potência 
3-fase ac (L-N) 6 x 12.5 VA até 1.25 A 
Resolução 50 µA 
 
Grupo A e B em série Conexão externa (IL2A - IL2B) 
Potência 
1-fase ac (IL1A-IL1B) 280 VA até 7.5 A (40 Vrms) 
 
Geradores/Amplificadores de Corrente – CMC256-3 
ou CMC256-6 com Amplificadores de Corrente grupo 
A e B em paralelo. 
 
Faixa 25 A 
Faixa de Ajuste 
3-fase ac (L-N) 3 x 0 ... 25 A 
1-fase ac (3L-N) 1 x 0 ... 75 A 
dc (L-N) 1 x 0 ... ± 35 A 
 
Potência 
3-fase ac (L-N) 3 x 140 VA até 15 A 
1-fase ac (L-L) 1 x 280 VA até 15 A 
1-fase ac (L-N) 1 x 420 VA até 45 A 
dc (3L-N) 1 x 470 W até ± 35 A 
 
Faixa 2,5 A 
Faixa de Ajuste 
3-fase ac (L-N) 3 x 0 ... 2.5 A 
 
Potência 
3-fase ac (L-N) 3 x 25 VA 
Resolução 100 µA / 1 mA em 2.5 A / 25 A faixa 
 
Geradores/amplificadores de Corrente: 
Precisão <0.03% Típ. (<0.1% gar.) 
Distorção (THD+N)2 <0.025% Típ. (<0.07% gar.) 
Max. Concordância tensão A, B 10 Vrms , 15 Vpk 
 
Baixo nível de saída “LL out 1-6” 
Faixa de Ajuste 6 x 0 ... 10 Vpk (LL out 1-6) 
Max corrente saída 1 mA 
Precisão <0.025% Típ. (<0.07% gar.) 
 até 1 ... 10 Vpk 
Resolução 250 µV 
Distorção (THD+N)2 <0.015% Típ. (<0.05% gar.) 
Não convencional CT/VT sim.linear, Rogowski 
Indicação sobrecarga SIM 
Isolação SELV 
Usabilidade usada completamente 
independente das saídas dos 
amplificadores internos 
 
Dados dos Geradores 
 
Freqüência faixa 
Sinal senoidal 10 ... 1000 Hz 
Sinal Transitório dc ... 3.1 kHz 
Freq.Precisão/variação ± 0.5 ppm / ± 1 ppm 
Freq. resolução < 5 µHz 
Faixa de angulo de fase -360° ... +360° 
Resolução de fase 0.001° 
Erro de fase <0.02°Típ. (<0.1° gar.) até 50/60Hz 
Largura de Banda (-3dB) 3.1kHz 
 
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Conexão 
Saída do Amplificador Todos sinais soquete banana 
parte frontal painel; Saída VL1..VL3 e N e Saída IL1-IL3 e N 
do grupo A em soquete combinado 8 pinos 
Baixo sinal saída 
“LL out 1-6” Soquete combinado 16 pinos 
(Lado de Traz) 
 
Todas as tensões e correntes dos geradores são 
continuamente e independentemente ajustáveis em 
amplitude, fase e freqüência. Todas saídas de corrente 
e tensão são completamente garantidos contra curto-
circuito e sobrecarga e protegidos contra sinais 
transitórios de alta tensão e sobretemperatura 
(indicado no software via mensagem de erro). Os 
circuitos do gerador/amplificador e circuitos principais 
são galvânicamente separados. Os circuitos de 
entrada de corrente, tensão, auxiliar dc e 
binário/análogos são galvânicamente separados de 
todos outros. 
 
Fonte Auxiliar DC 
 
Faixa da tensão de saídas 0 ... 264 Vdc, 0.2 A 
 0 ... 132 Vdc, 0.4 A 
0 ... 66 Vdc, 0.8 A 
Potência max. 50 W 
Precisão Erro < 2% Típico. (< 5% gar.) 
Conexão Soquete banana 4 mm na parte 
frontal do painel 
Protegidos contra curto circuitos, e isolados 
galvânicamente de todos outros grupos, sinal de 
indicação de sobrecarga 
Seção de Temporização/Medição 
 
Entradas Binárias 
 
Quantidade 10 entradas 
Critério de trigger Troca de posição dos 
contatos sem potencial ou 
tensão DC 
Características 0 ... ± 600 Vdc threshold, ou 
contato seco 
Resolução de threshold ± 2 mV, ± 20 mV, ± 200 
mV, ± 2 V, ± 20 V faixa 
100 mV, 1 V, 10 V, 100 V, 
600 V(rms.) 
Taxa de amostragem 10 kHz 
Resolução 100 µs 
Max. tempo medida Infinita 
Função contador <3 kHz, largura do pulso 
>150 µs 
isolação galvânica 5 grupos (2+2+2+2+2) 
Max. tensão de entrada 600Vrms (850Vpk) 
Conexão Soquete banana 4 mm na 
parte frontal do painel 
(combinado com entradas 
analógicas ) 
 
Contador de entrada 100 kHz 
Numero 2 
Max. cont. freqüência 100 kHz 
Largura do Pulso >3 µs 
Threshold Tensão 6 V 
Histerese de tensão 2 V 
Max. Tensão entrada ± 30 V 
Isolação SELV 
Conexão Soquete 16 pinos combinado 
(lado de traz) 
 
Saídas Binárias 
Relés 
Quantidade 4 
Tipo Contato seco controlado via software 
Capacidade interr. Ac Vmax: 300 Vac, Imax: 8 A, 
Pmax: 2000 VA 
Capacidade interr. dc Vmax: 300 Vdc, Imax: 8 A, 
Pmax: 50 W 
Conexão Soquete banana 4 mm na 
parte frontal do painel 
Transistor 
Quantidade 4 
Típico Saída com transistor coletor aberto 
Taxa de atualização 10 kHz 
Imax 5 mA 
Conexão Soquete combinado 16 pinos 
(lado de traz) 
 
Medição entrada Tensão DC e Corrente DC 
 
Faixa med tensão entrada 0 ... ± 10 V 
Faixa med corrente entrada 0 ... ± 1 mA, 
0 ... ± 20 mA 
Precisão < 0.003% Típico. (<0.02% gar.) 
Conexão Soquete banana 4 mm na parte 
frontal do painel 
 
Entradas de medidas analógicas ac+dc 
(opcional, em conexões com EnerLyzer) 
 
Tipo ac+dc tensão de entrada analógica 
Quantidade 10 
Faixa entrada nominal 100 mV, 1 V, 10 V, 
100 V, 600 V (rms) 
Amplitude – Precisão < 0.06% Típ. (<0.15% gar.) 
Largura de banda dc ... 10 kHz 
 
SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS 
 DE PROTEÇÃO OMICRON 
 
Parte II: Sistema Automatizado de Teste 
 
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Freqüência amostragem 28.44kHz, 9.48 kHz, 3.16 
kHz 
Impedância de entrada 500 kΩ // 50 pF 
Buffer entrada transitória 3,5 s para todos os dez 
canais de entrada com freqüência de amostragem de 
28 kHz ou 316 s com uma canal e 3 kHz de 
freqüência de amostragem 
Clamps de Corrente Clamp de corrente com 
tensão de saída ou shunt externo e clamp de corrente 
standard 
Funções de medição Idc, Vdc, Iac, Vac,, fase, 
freqüência, potência, energia, harmônicos, 
capacidade de gravação de transitórios em todos os 
canais. 
Indicação sobrec. Entrada sim 
Proteção entrada sim 
Max. tensão entrada 600 Vrms (850 Vpk) 
Isolação galvânica 5 grupos (2+2+2+2+2) 
Conexão Soquete banana 4 mm na parte 
frontal do painel (combinado com entradas 
analógicas) 
 
Geral 
 
Fonte de potência 
Entrada tensão nominal 110 - 240 Vac, 1-fase 
Entrada perm. Tensão 99 ... 264 Vac 
Freqüência Nominal 50/60 Hz 
Faixa perm. freqüência 45 - 65 Hz 
consumo2 de Potência 1.2 kVA até 115 V 
 1.6 kVA até 230 V 
Taxa de corrente 10 A 
Conexão Soquete ac standard (IEC 60320) 
 
Condições Ambientais 
 
Temperatura de funcionamento 0 ... +50°C 
(+32 ... +122°F) 
Temperatura de armazenamento -25 ... +70°C 
(-13 ... +158°F) 
Faixa de umidade Rel. umidade 5 ... 95%, 
sem condensação 
Vibração IEC 68-2-6 (20 m/s2 até 10 ... 150 Hz) 
Choque IEC 68-2-27 (15g / 11ms meio seno) 
EMC CE conforme (89/336/EEC) 
Emissão EN 50081-2, EN61000-3-2/3 
 FCC Sub parte B da Part 15 Classe A 
Imunidade EN 50082-2, IEC 61000-4-2/3/4/6 
Segurança EN 61010-1, EN 60950+A1 
 IEC 61010-1, UL 3111-1 
 CAN/CSA-C22.2 No 1010.1 
Certificações TÜV-GS; UL, CUL 
Peso 15.7 kg (34.8 lb.) 
Dimensões 450 x 145 x 390 mm (17.7” x 5.7” x 
15.4”) 
Miscelânea 
Conexão com PC 
 Porta paralela IEEE1284-C conector) 
CMC 56/156SW-Compatibilidade 
 Windows - SW (Test Universe) 
Indicação sinal (LED) >42V para AUX-dc, e saída 
de tensão 
Soquete aterramento Soquete banana 4 mm na 
parte de traz do painel 
Autodiagnóstico do hardware após cada partida. 
Supervisão automática das saídas de tensão e corrente 
durante o teste 
 
2.4 - CMC 256-6 EP (PRECISÃO ESTENDIDA) 
 
O CMC 256-6 é também disponível com a opção de 
hardware EP (precisão estendida). A precisão 
extremamente alta dos amplificadores de tensão e 
corrente da CMC 256-6 EP é ideal para a calibração e 
teste dos novos medidores de energia (classe acima de 
0.25 de acordo com a norma IEC687, 0 ... 300V 
trifásico); para a o desenvolvimento de aplicações 
especiais, testes de tipo, testes de aceitação, 
calibração de dispositivos, ou demonstração de 
produtos, as características adicionais da CMC 256-6 
EP provêm uma solução completa. 
A opção EP pode ser encomendada juntamente com 
uma nova unidade CMC 256-6, ou com uma CMC 
256-6 já existente, podendo ser atualizada para incluir 
esta opção. 
 
As especificações diferem da CMC 256-6 nos 
seguintes valôres: 
 
Corrente geradores/amplificadores 
Precisão Erro <0.02 % Típico. (<0.05% gar.) 
 
Tensão geradores/amplificadores 
Precisão Erro <0.02 % Típico. (<0.05% gar.) 
 
Dados gerais dos geradores 
Erro de Fase <0.005° Típico. (<0.02° gar.) até 
 50/60 Hz 
Variação Temp. 0.0025% / °C 
 
Potência de saída 
Precisão5 Erro <0.05% Típico. (<0.1% gar.) 
relativo aos valores ajustados (Erro 
relativo) até 0.1 … 12.5 A 
(amplificador corrente grupo A ou B, 
50/60 Hz) e 50 … 300 V 
Variação Temp. <0.001%/°C Típ. (<0.005%/°C gar.) 
 
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON 
 
Parte II: Sistema Automatizado de Teste 
 
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Cap 3: Introdução ao Software 
OMICRON Test Universe 
 
 
RESUMO 
 
Este capí tulo apresenta o software de 
comando e análise do sistema Omicron de testes de 
proteç ão, o OMICRON TEST UNIVERSE. Apresenta 
suas ferramentas gerais de testes, bem como descreve 
a filosofia aplicada nos procedimentos de testes que 
serão . abordados ao longo do curso. 
 
1.0 - GENERALIDADES 
 
O OMICRON Test Universe esta projetado 
para realizar testes em dispositivos de proteç ão e 
medida, tanto pelas companhias elé tricas, assim como 
pelas companhias fabricantes de relés. Consiste em 
um hardware sofisticado e um software fácil de usar, 
baseado no ambiente Windows e que proporciona 
flexibilidade e completa adaptabilidade a diferentes 
aplicaç ões de teste. 
A flexibilidade é proporcionada com os 
distintos pacotes de software, onde a adaptabilidade 
é conseguida utilizando-se de diversas maneiras 
combinaç ões diferentes dos componentes dos pacotes 
do software. Cada pacote contém uma seleç ão de 
módulos de teste orientados por funç ão. Os módulos 
de teste podem operar de modo autônomo para teste 
simples ou podem estar concatenados com outros 
módulos em um documento de teste do Control 
Center (plano de teste) para testes completos 
multifuncionais.
 
Figura 1 – Start Page - OMICRON Test Universe 
 
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON 
 
Parte II: Sistema Automatizado de Teste 
 
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2.0 – A LEI DE OHM DA OMICRON 
 
 A lei de Ohm da Omicron é um anagrama 
das siglas conforme mostrado a seguir: 
 
 
Objeto sob teste 
Hardware 
Módulo de teste 
 
 
 Cada vez que se realiza um teste deve-se 
especificar (ou ter especificado previamente no 
documento de teste) os dados necessários para 
realizaç ão do teste dentro dos três passos descritos. 
 
 
Parâmetro do objeto de teste 
 
 
 
 
• Configuraç ões do objeto a 
ser testado, 
• Informaç ões do sistema 
original do objeto a ser 
testado, 
• Informaç ões gerais. 
 
 
 
 
Configuraç ão de Hardware 
 
 
 
 
 
• Definiç ão das saí das 
binárias/analógicas do CMC 
• Definiç ões das entradas 
(resposta do objeto de teste) 
• Definiç ão das conexões entre 
o objeto a ser testado e o 
CMC. 
 
 
 
 
 
 
 
Módulo de teste 
• Definiç ão da estrutura de 
teste 
• Escolha dos pontos a serem 
testados 
• Geraç ão automática de 
relatório do teste 
 
 
Teste Modular 
 
Organizado pela funç ão de proteç ão do 
objeto a ser testado. 
 
Teste Automático. 
 
Utilizaç ão de métodos matemáticos, 
eliminando a necessidade de programaç ão, ou a 
realizaç ão de macros. 
Utiliza o PC para registro de dados, cá lculos, 
relatórios, etc., potencializando a interface com o 
usuário. 
Omicron Control Center (fácil procedimento 
de teste para equipamentos multifunç ão) 
 
3.0 – CONFIGURANDO O HARDWARE 
 
 Clicando no í cone de configuraç ão de 
hardware abre-se uma caixa de dialogo para a 
definiç ão e habilitaç ão das saí das analógicas do CMC. 
 Pode-se, segundo o equipamento utilizado, 
definir quais canais de tensão e/ou corrente serão 
habilitados, conforme os diagramas escolhidos. 
 Apresentamos como exemplo a configuraç ão 
de hardware de um CMC256-6. 
 
3.1 – SAÍ DAS DE TENSÃO 
 
 O CMC 256-6 possui 4 canais de tensão com 
controle independente de 0 a 300 V, que podem ser 
configurados segundo as opç ões oferecidas na tela 
“Output Configuration Details”. 
 
 
Figura 2 – Canais de Tensão – CMC256-6 
 
 
 
Figura 3 – Opç ões de configuraç ão de Tensão 
 
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3.2 – SAÍ DAS DE CORRENTE 
 
 O CMC 256-6 possui 6 canais de corrente 
com controle independente, podendo ser cofiguradas 
de diferentes modos, de 6 x 12,5 A ou 3 x 25 A, 
segundo as opç ões oferecidas na tela “Output 
Configuration Details”. 
 
 
Figura 4 – Canais de Corrente – CMC256-6 
 
 
 
Figura 5 – Opç ões de configuraç ão de Corrente 
 
 Define-se as saí das analógicas atribuindo-se 
um nome a cada canal e a identificaç ão dos terminais 
de conexão. 
 
Figura 6 – Configuraç ão de Hardware 
4.0 – A UTILIZAÇÃO DO HELP 
 
 
A utilizaç ão do HELP consiste em uma 
poderosa ferramenta de ajuda. De uma forma geral, 
seu conteúdo pode ser acessado de qualquer parte do 
programa pelo botão de acesso rápido indicado na 
figura abaixo. Depois de pressionado, aparecerá um 
ponto de interrogaç ão (?) junto ao ponteiro do 
windows. Ao clicar com o ponteiro sobre qualquer 
ponto da tela aparecerá um quadro com texto 
relacionado à área marcada. O texto poderá conter 
hypertextos que direcionará a busca por mais 
informaç ões. Um exemplo de acesso é mostrado na 
figura 7. 
 
 
5.0 – QUICKCMC 
 
O QuickCMC é uma ferramenta tão fácil de usar 
como um painel de um controle manual, mas que 
proporciona muita mais flexibilidade. Todas as 
funç ões do hardware da OMICRON são acessí veis aos 
usuários na tela do PC. Este enfoque gráfico 
proporciona não somente números, como também o 
diagrama vetorial das tensões e corrente de forma 
gráfica. 
 O QuickCMC proporciona uma definiç ão 
simples dos ajustes e controles dos amplificadores que 
são usados para gerar sinais de teste. Isto é 
conseguido introduzindo valores numéricos ou 
posicionando, com o mouse, os fasores de I e V no 
diagrama vetorial. Por isso, todas as caracterí sticas dos 
amplificadores da OMICRON podem ser usadas, tais 
como: geraç ão de sinais desequilibrados, variaç ão de 
freqüência, indicaç ão de sobrecarga na tela, dentre 
outras. 
 A tela principal do módulo de software 
QuickCMC é mostrada na figura 7.SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO 
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Figura 7 – Localizaç ão do botão de acesso rápido ao HELP na tela do QuickCMC. 
 
 
5.1 - CARACTERÍ STICAS DO QUICKCMC 
 
! Controle e ajuste de 12 amplificadores, onde 
cada sinal é individualmente ajustado em 
amplitude, fase e freqüência. 
! Os valores de tensão e correntes podem ser 
introduzidos por meio do teclado ou do 
mouse. 
! O modo de teste pode ser escolhido pelo 
usuário: rampa manual (passo a passo) ou 
automática 
! Medidas simples das entradas binárias 
(primeira transiç ão de estado para cada 
entrada após ultima troca da saí da, mostra a 
inclinaç ão e tempo) 
! Os resultados do teste são armazenados em 
relatório para uso posterior. Tal relatório pode 
ser personalizado em estilo e conteúdo. 
! Freqüência: CC, 10-1000 Hz para todos os 
geradores. 
! Indicaç ão de sobrecarga na tela. 
! As respostas do rele de proteç ão ou as saí das 
do transdutor de mediç ão é supervisionada e 
uma mediç ão de tempo é realizada. As 
entradas analógicas são apresentadas em 
gráficos e as entradas binárias têm os seus 
contatos secos e molhados monitorados. 
 
6.0 - RAMPING 
 
Este módulo de software define e gera 
rampas de amplitude, fase ou freqüência para as 
saí das de corrente e tensão, determina valores limites, 
como o valor de partida mí nimo ou ní veis de histerese 
em mudanç as de estado. 
Também podem ser realizadas tarefas 
automáticas que permitem o teste de funç ões simples 
ou complexas. A flexibilidade deste módulo permite 
que duas rampas com variáveis diferentes sejam 
executadas simultaneamente de forma sincronizada 
assim como a execuç ão de uma seqüência de até 
cinco segmentos consecutivos de rampa, conforme 
mostrado na figura 8. 
Todos os valores especificados assim como as 
tolerâncias admissí veis da rampa principal podem ser 
determinadas. Conseqüentemente, a geraç ão 
automática da avaliaç ão do teste pode ser realizada 
imediatamente após a execuç ão, resultando em uma 
analise rápida e segura por parte do usuário. 
 
 
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Figura 8 – Entrada dos dados do teste - Ramping 
 
 
Figura 9– Controle visual dos valores de saí da - Ramping 
 
 
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6.1 - CARACTERÍ STICAS DO RAMPING 
 
! Testes automáticos usando a seqüência de 
rampa 
! Duas rampas simultâneas de duas variáveis 
independentes 
! Definiç ão de até cinco segmentos de 
rampas consecutivos 
! Controle visual dos valores de saí das 
! Apresentaç ão dos resultados dos testes 
com avaliaç ão automática 
! Repetiç ão dos testes de rampa ou 
seqüências de rampa 
! Cálculo da razão dos valores de duas 
rampas simultâneas (por exemplo, V/Hz ou 
V/I) 
 
7.0 - STATE SEQUENCER 
 
O State Sequencer é uma ferramenta muito 
flexí vel para a determinaç ão de tempos de operaç ão 
e de seqüências lógicas temporizadas. 
Um “estado” é definido pelas condiç ões 
das saí das (tensões e correntes, saí das binárias) e 
uma condiç ão de finalizaç ão do estado. Vários 
estados podem ser correlacionados entre si para 
definir uma seqüência de teste. A transiç ão de um 
estado ao próximo pode ocorrer depois de um 
tempo pré -fixado ou depois de uma condiç ão de 
disparo nas entradas binárias do CMC, ou após um 
pulso de sincronizaç ão via GPS ou depois de 
acionar uma tecla. Baseado nesta seqüência de 
estados, a medida de tempo pode ser definida. Isto 
pode ser usado para checar a correta operaç ão dos 
relés. 
Dentro de um estado, até 12 sinais podem 
ser ajustados independentemente em amplitude, 
fase e freqüência. O diagrama vetorial pode ser 
usado para verificaç ão visual dos ajustes das saí das. 
Uma visão global dos dados é apresentada em uma 
tabela. A “visão detalhada” proporciona toda a 
informaç ão sobre um estado especí fico. 
Acrescentando-se à definiç ão individual de 
cada estado uma seqüência de condiç ões de pré -
falha, falha e pós-falha podem ser definidas, para 
testar relés de distância introduzindo a impedância 
da falha. 
Dentro da seqüência de estados que 
definem o teste, mediç ões de tempo a executar 
podem ser especificadas para a correta operaç ão do 
relé . Por exemplo, espera-se que um relé opere logo 
após dois ciclos da ocorrência do estado de falta. 
Tempos de disparo individuais e seus desvios 
(positivo/negativo) podem ser especificados para 
cada condiç ão de mediç ão. Se a mediç ão de tempo 
está dentro do range, a avaliaç ão é aprovada, caso 
contrário, é desaprovada. 
 
 
Figura 10 – Definiç ão dos estados e condiç ões de saí da– State Sequencer 
 
 
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Cap 4: QuickCMC 
 
 
RESUMO 
 
Este texto mostra passo a passo a montagem 
dos procedimentos de teste utilizando o módulo de 
teste QuickCMC. A metodologia adotada consiste em 
se realizar um teste da funç ão (50/51), demonstrando 
as caracterí sticas do software. 
 
1.0 – DADOS DO RELÉ 
 
Para efeito didático propomos um ajuste de 
um relé de sobrecorrente (50/51) fictí cio. Lembramos 
que os procedimentos adotados podem ser usados 
para quaisquer testes. 
 
Ajustes do relé Valores Fase-Neutro 
Valor de Pickup 0,36 x Inom ou 1,8 A 
Curva Caracterí stica Very Inverse (VI) 
Dial de Tempo 1 
Pickup Instantâneo (I>>) 5,5 x Ipickup 
Tolerância para Pickup/Dropout ± 5% = ± 0,9 A 
 
2.0 – CONFIGURAÇÃO DE HARDWARE 
 
 São apresentados os procedimentos para 
efetuar a configuraç ão de hardware, ou seja, as 
ligaç ões entre o relé a ser testado e o equipamento de 
teste CMC. 
 
 
 
2.1 - Ajuste a tensão para “not used” e a corrente 
para 3 x 12,5 A, como mostrado na figura acima. 
Confirme a seleç ão clicando em OK. 
 
2.2 - Clique em “Analog Outputs” 
 
 
2.3 – Defina os nomes para cada sinal de corrente, 
por exemplo IA, IB, IC, IN e Jumpers. 
 
2.4 - O terminal de conexão no relé pode ser 
especificado na terceira coluna. 
 
2.5 – Selecione com “X” nas colunas para IA, IB, IC e 
IN para especificar quais saí das da CMC são 
conectadas com o terminal do relé . 
 
2.6 – Clique em “Binary / Analog Inputs” 
 
 
 
2.7 – Defina a entrada binária 1 como “Start” , 
entrada binária 2 como “Trip”, entrada binária 3 
como “Trip 3 phase” e entrada binária 4 como 
“entrada binária 4”. Em Display Name preencher 
como “Start”, “Trip L-L”, “Trip L-N” e “Inst”. 
 
2.8 – Selecione com X as respectivas entradas binárias 
(conforme ligaç ão) 
 
 
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2.9 – Defina as entradas binárias de 1 a 4 como 
“Potential free” através da seleç ão do check box. Se 
utilizarmos contatos comtensão, o nivel de trigger 
para cada entrada pode ser especificado 
separadamente. 
 
3.0 – TESTE DE VALORES DE PICKUP L-N 
 
3.1 – Entre com as correntes 1, 2 e 3 iguais a zero 
 
 
 
3.2 – No campo “Step” na opç ão “Triple” , selecione a 
opç ão CMC256-6I A 
 
3.3 – No campo “Quantity” escolha a opç ão I1 
 
3.4 – No campo “Size” preencha o valor 0,020 A 
(Step) 
 
3.5 – No campo “Time” entre com o valor de 1,00 s 
 
3.6 – Marque a opç ão Auto Step 
 
3.7 – Clique no botão “On/Off” para ligar a saida de 
corrente da CMC 256-6 
 
3.8 – A fase A de corrente irá aumentar 
gradativamente até que a entrada binária do sinal de 
trip “start”opere. 
 
3.9 – Isso irá acontecer para o valor de corrente da 
figura acima (1.8 A). Para anexar este dado ao 
relatório de teste, clique em “Add to report”: 
 
 
3.10 – No campo “Title” digite Teste PickUp Fase-
Neutro, insira os comentários no campo “Comment” , 
e em seguida classifique o resultado do 
teste como “Passed” ou “Failed”. 
 
4.0 – TESTE DE VALORES DE DROPOUT L-N 
 
4.1 – Clique na seta abaixo na tela do QuickCMC 
 
4.2 – A fase A de corrente irá diminuir gradativamente 
até que a entrada 
binária do sinal de Trip “Start” desopere. 
 
4.3 - Isto irá acontecer para o valor de corrente de 
1,720 A, para anexar este 
dado ao relatório de teste, clique en “Add to report”. 
 
5.0 – TESTE DA CURVA DE CORRENTExTEMPO(L-N) 
 
5.1 A figura a seguir mostra o teste para 2 x Ipickup. 
 
 
 
5.2 Desmarque as entradas binárias 1 e 2 deixando a 
caixa com o trigger somente para o trip fase neutro. 
 
5.3 Clique no botão “On/Off” para ligar as correntes 
de saí da da CMC 256 
 
5.4 Clique no botão “Hold Values” para congelar a 
saí da da CMC na configuraç ão presente. 
 
5.5 Entre agora com o valor de 3,6 A no campo da 
fase A 
 
5.6 Clique novamente no botão “Hold Values” para 
descongelar a saí da da CMC e aplicar a nova 
configuraç ão. 
 
5.7 Observe a resposta da entrada binária 3 para o 
tempo de trip. 
 
5.8 Para capturar os dados do teste para o relatório, 
clique no botão “Add to Report”. 
 
 
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5.9 Reseteie a corrente para 0 A, e repita o teste 
usando 3 X Ipickup (5,4 A) e 4 X Ipickup (7,2 A) 
 
6.0 – TESTE DE PICKUP INSTANTÂNEO 
 
6.1 Desmarque a entrada binária 3 e marque a 
entrada binária 4 
(Instantâneo) 
 
6.2 No campo “Step” na opç ão “Triple” , selecione a 
opç ão CMC256-6I A 
 
6.3 No campo “Quantity” escolha a opç ão I1 
 
6.4 No campo “Size” preencha o valor 0,05 A (Step) 
 
6.5 No campo “Time” entre com o valor de 1 s. 
 
6.6 Selecione a caixa “Auto-Step” 
 
6.7 Clique no botão “On/Off” para ligar a saí da de 
corrente da CMC 256. 
 
6.8 Clique na seta acima. O teste irá iniciar até o 
trigger parar o teste. 
 
6.9 Observe o resultado do teste : 
 
a) O Pickup instantaneo é 9,9 A 
 
b) O tempo de operaç ão instantâneo é de 
0,08 s. 
 
6.10 Para capturar o dado do teste, clique em “Add 
to Report” 
 
7.0 – CONCLUSÕES 
 
 O QuickCMC é uma ferramenta 
extremamente útil para as mais diversas aplicaç ões, 
pois tem-se o perfeito controle de todas as entradas e 
saí das da mala de teste. 
 Sua utilizaç ão será determinada pelo usuário 
segundo sua necessidade. 
 
 
 
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON 
 
 Parte II: Sistema Automatizado de Teste 
 
 
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Cap 5: State Sequencer 
 
 
RESUMO 
 
Este texto mostra passo a passo a montagem 
dos procedimentos de teste utilizando o módulo de 
teste State Sequencer. A metodologia adotada 
consiste em se realizar um teste da funç ão (50/51), 
demonstrando as caracterí sticas do software. 
 
1.0 – DADOS DO RELÉ 
 
É utilizado como exemplo o mesmo relé do 
capí tulo anterior. 
 
2.0 – TESTE DE PICKUP E DROPOUT 
 
2.1 Ajuste a corrente da fase A para 1,6 A. 
 
2.2 Escolha a opç ão “Trigger” em “Detail View” 
 
 
 
Figura 1 – Condiç ões de trigger 
 
2.3 Em “Binary Trigger Condition” selecione a logica 
“1” para a condiç ão de 
trigger “start” 
 
2.4 Clique em “New State Icon” ou selecione “Edit | 
Insert State” . Sera copiado o estado 1 com todos 
seus ajustes para o estado 2. 
 
2.5 Edite o tempo do estado 2 para “0,2 s” 
 
2.6 Incremente os valores de corrente de 0,1 A para 
IA mantendo IB e IC iguais a zero. 
 
2.7 Repita os itens 2.1.3 a 2.1.5 e incremente os 
valores de corrente da fase A até 1,9 A 
 
2.8 Clique em “New State” ou selecione “Edit | Insert 
State” para criar o estado 5 
 
l 
2.9 Decresç a o valor de corrente de 0,1 A para a fase 
A 
 
2.10 Mude a logica de trigger “Start” no “Trigger 
Tab” para lógica “0” . 
 
2.11 Repita os í tens 2.1.7 e 2.1.8 até a corrente IA for 
igual à 2,0 A. 
 
2.12 Clique em “New State” ou selecione “Edit | 
Insert State” para criar o estado 8 
 
2.13 Ajuste todas correntes em zero e o tempo para 1 
s. 
 
2.14 Desmarque a caixa “Binary trigger condition” , 
deixando somente “maximum state time” ativo. 
 
State Fase A Fase B Fase C Trigger 
1 1,6 A 0,0 A 0,0 A Start = 1 
2 1,7 A 0,0 A 0,0 A Start = 1 
3 1,8 A 0,0 A 0,0 A Start = 1 
4 1,9 A 0,0 A 0,0 A Start = 1 
5 1,8 A 0,0 A 0,0 A Start = 0 
6 1,7 A 0,0 A 0,0 A Start = 0 
7 1,6 A 0,0 A 0,0 A Start = 0 
8 0 A 0,0 A 0,0 A Nenhum 
Figura 1 – Condiç ões de trigger 
 
2.15 Selecione a opç ão “Measurement View” 
 
2.16 Na primeira linha do Measurement View: 
 
a) Entre com o nome para o teste “L-L PUV” 
 
 
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b) “Ignore Before” ajuste para “state 2” Isto 
significa que todos os estados antes deste 
serão ignorados. 
 
c) “Start” Ajuste para “State 2”. Isto indica 
o primeiro estado onde a corrente muda 
e o relé da trip. 
 
d) “Stop” Ajusta para “Start 0>1” . Isto 
indica que a entrada binária “Start” passa 
da lógica “0” para a lógica “1” . 
 
e) “Tnom” Ajuste para “0,400 s 
 
 Figura 1 – Condiç ões de trigger 
 
3.0 - LEVANTAMENTO DA CURVA CORRENTExTEMPO 
 
State Fase A Fase B Fase C Trigger 
Pre falta 2 x L-N 0,0 A 0,0 A 0,0 A Trip L-N =X 
2 x PUV L-N 3,6 A 0,0 A 0,0 A Trip L-N =1 
Pre falta 3x L-N 0 A 0,0 A 0,0 A Trip L-N =X 
3 x PUV L-N 5,4 A 0,0 A 0,0 A Trip L-N =1 
Pre falta 4 x L-N 0 A 0,0 A 0,0 A Trip L-N =X 
4 x PUV L-N 7,2 A 0,0 A 0,0 A Trip L-N =1 
Dead state 0 A 0,0 A 0,0 A Nenhum 
Figura 1 – Condiç ões de trigger 
 
 Figura 1 – Condiç ões de trigger 
 
4.0 - TESTE DE PICKUP INSTANTÂNEO 
 
State Fase A Fase B Fase C Trigger 
Inst L-N #1 9,7 A 0,0 A 0,0 A Inst = 1 
Inst L-N #1 9,8 A 0,0 A 0,0 A Inst = 1 
Inst L-N #1 9,9 A 0,0 A 0,0 A Inst = 1 
Inst L-N #1 10 A 0,0 A 0,0 A Inst = 1 
Figura 1 – Condiç ões de trigger 
 
 Figura 1 – Condiç ões de trigger 
 
7.0 – CONCLUSÕES 
 
O seqüenciador de estados OMICRON é a 
ferramenta ideal para a medida de tempo entre dois 
estados. Entretanto pode ser utilizada no manuseio de 
diversas condiç ões de teste onde a variaç ão das 
grandezas aplicadas ao relé seja necessária. 
Desde a simples determinaç ão de uma curva 
tempo-corrente, até sua utilizaç ão em ensaios mais 
elaborados, como o Ponta a Ponta, o State Sequencer 
mostra-se de fácil manuseio, promovendo a 
repetibilidade dos eventos e determinaç ão dos tempos 
de atuaç ão do sistema de proteç ão.SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO 
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Cap 6: Ramping 
 
 
RESUMO 
 
Este texto mostra passo a passo a montagem 
dos procedimentos de teste utilizando o módulo de 
teste Ramping. A metodologia adotada consiste em se 
realizar um teste da funç ão (50/51), demonstrando as 
caracterí sticas do software. 
 
1.0 – DADOS DO RELÉ 
 
É utilizado como exemplo o mesmo relé dos 
capí tulos anteriores. 
 
2.0 – TESTE DE PICKUP E DROPOUT INSTANTÂNEO 
 
2.1 No modulo Ramping Test View, mostrado na 
figura 1, defina quatro rampas consecutivas clicando 
no í cone correspondente “Four Ramp States”. 
 
2.2 Selecione IA no menu “drop-down” Signal 1 
 
2.3 Selecione Amplitude no menu “drop-down” 
Function 
 
2.4 Use a toolbar de navegaç ão para mudar de estado 
 
 
Figura 1 - 
 
 
 
Figura 2 - 
 
2.5 Entre com os dados para a avaliaç ão conforme 
mostrado abaixo. 
 
 
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Figura 3 – 
 
2.6 Escolha a opç ão “General” no Test View e entre 
com o numero de repetiç ões que voce deseja. Se 
optar por “0x” o teste será executado uma única 
vez. 
 2.7 Selecione “State 1 Signal 1” no campo “Ratio 
Calculation”. O Ratio Calculation automaticamente irá 
calcular o pickup e o dropout do relé . 
 
Figura 3 – 
 
2.8 Todos os valôres que são estáticos durante a saí da 
da rampa são definidos no “Analog Outputs” no 
Detail View. Os valôres da rampa são mostrados com 
fundo cinza; os valôres estáticos são mostrados em 
fundo branco ou amarelo. Voce pode editar os valôres 
estáticos manualmente. 
 
 
Figura 4 – Analog Out 
 
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2.9 Para o state 1 entre com IA =1,6 A, como 
mostrado acima. 
 
2.10 Para o state 2 entre com IA = 2 A 
 
2.11 Para o state 3 entre com IA = 0 A 
 
2.12 Para o state 4 entre com IA = 9 A 
 
2.13 É necessário informar os contatos que irão 
operar para o pickup e para o dropout do relé . No 
exemplo acima, o contato de partida é conectado na 
entrada binária 1 e chamado de “start. 
 
2.14 Selecione a opç ão “Trigger” no detail view 
 
2.15 Habilite as condiç ões de trigger selecionando 
“Binary trigger condition”. As condiç ões de trigger são 
definidas individualmente para cada estado da rampa. 
 
2.16 Durante o estado 1, o contato de partida (start) 
irá fechar (passando do estado 0 para o estado 1). 
Consequentemente, A condiç ão de trigger deve ser 
ajustada para “Start = 1” para o estado 1. 
 
 
 
 
Figura 4 – Trigger 
 
 
2.17 No campo “On Trigger” selecione a opç ão “Stop 
ramp state”. Desta forma, a rampa será parada após a 
condiç ão de trigger acontecer, acelerando portanto o 
teste. 
 
2.18 A opç ão “Step Back” habilita a sub-rampa para 
ser executada sendo possí vel uma maior precisão em 
ensaios de pickup. 
 
2.19 Ajuste a condiç ão de trigger “Start =0” para o 
estado 2 
 
2.20 Para o estado 3 não selecione nenhum trigger 
 
2.21 Ajuste a condiç ão de trigger “Inst = 0” e “Start 
= X” para o estado 4. Marque a caixa de verificaç ão 
“stop ramp State” para os estados 2 e 4, 
deixando-os sem delay time. 
 
7.0 – CONCLUSÕES 
 
 Essa ferramenta, além de possibilitar a 
medida de tempos de atuaç ão do sistema, é 
adequada para a obtenç ão dos valores de amplitude 
(pickup, dropout, etc.) do sistema de proteç ão 
testado. 
 
 
 
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Cap 7: Overcurrent 
 
 
RESUMO 
 
Este capí tulo aborda passo a passo a 
montagem dos procedimentos de teste da funç ão 
sobrecorrente. (50/51), utilizando o módulo de 
teste Overcurrent. São destacados todas os itens de 
parametrizaç ão do teste, mostrando as opç õs de 
configuraç ão. 
 
1.0 – DEVICE SETTINGS 
 
 São apresentados passo a passo os itens da 
tela “Device Settings”. Esta é uma tela de registro 
geral dos dados do ensaio, como as informaç ões do 
relé , de sua localizaç ão e classificaç ão, da funç ão a 
ser testada, dentre outros. Também são setados os 
valores de tensões e correntes do sistema. 
 É importante ressaltar que esta tela, de uso 
geral, sempre estará presente nos outros módulos 
de software. 
 
1.1 - DEVICE 
 
Entrada de dados do elemento protegido 
 
1.2 - SUBSTATION 
 
Nome e endereç o da subestaç ão onde o 
elemento esta localizado. 
 
1.3 - BAY 
 
Entre com o endereç o e o nome do bay 
onde o elemento esta localizado 
 
 
 
 
Figura 1 – Device Settings 
 
 
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1.4 - NOMINAL VALUES 
 
Entre com os valores nominais (tensão, 
corrente, freqüência, corrente primária e tensão 
primária e numero de fases) 
Para o teste de relés convencionais, a corrente 
nominal ( 1 ou 5 A ) tem de ser ajustada aqui. 
 
1.5 - RESIDUAL VOLTAGE / CURRENT FACTORS 
 
Esses parâmetros somente são relevantes se o 
relé tem transformadores de potencial / corrente 
separados para a tensão / corrente residual ( para o 
aumento da sensibilidade). 
A relaç ão desses transformadores separados 
em relaç ão à relaç ão dos transformadores das fases é 
expressa com um fator que será ajustado aqui. 
 
O ajuste padrão é : 
 
 
VLN / VN = 3732,1 , como a tensão de fase 
forma a tensão residual na conexão delta aberto, e 
 
IN / Inom = 1 
 
Esses fatores são suportados pelos módulos 
de Distancia e Distancia Avanç ado. 
 
1.6 - LIMITS 
 
Entre com os máximos valores de tensão e 
corrente, que o dispositivo de teste é capaz de 
fornecer (máximos valores possí veis são determinados 
pelo teste de hardware. 
 
1.7 - DEBOUNCE / DEGLITCH FILTERS 
 
Entre com os tempos de Debounce e Deglitch 
para o Teste Object nestes campos. Esses valores são 
usados onde os sinais do algoritmo de suavizaç ão são 
implementados. 
 
 
1.. Sinal antes do filtro 2.. Sinal após o filtro 
 
Figura 2 – Debounce ou Deglich time 
 
 
2.0 – PROTECTION DEVICE 
 
2.1 - CURRENTE TOLERANCE 
 
A tolerância da corrente é definida como 
tolerância absoluta e relativa. A tolerância de corrente 
relativa é definida em % da corrente de pickup 
nominal, e a tolerância de corrente absoluta é 
definida em I/In. Para cada ponto de teste, o modulo 
de teste selecionará o maior de dois intervalos para 
ser a tolerância valida. A tolerância de corrente tem 
influencia na avaliaç ão do teste no caso de pontos de 
testes que estão dentro das bordas da região de trip 
(+/- Itol). 
2.2 - AVALIAÇÃO DO TESTE DE SOBRECORRENTE 
 
Para avaliaç ão do teste, o software compara 
cada ponto do tempo de operaç ão atual com o 
tempo de operaç ão nominal. 
Se o tempo de operaç ão atual esta dentro do 
tempo especificado de tolerancia, o ponto é avaliado 
como Aprovado, caso contrário como Reprovado . 
Para pontos que estão dentro das regiões das bordas 
de trip (dentro de +/- Itol), a faixa de tempo de 
operaç ão permitida é menor ou maior que o tempo 
permitido para ambos intervalos, como mostrado 
abaixo. 
 
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A mesma influência da tolerância de corrente 
no intervalo de tempo resultante, aplicado ao ponto 
onde a caracterí stica tende ao infinito. 
 
Figura 3 – Tolerâncias de Zona 
Pontos fora da faixa “out of range”, ou 
pontos que estão fora da faixa de tempo, são 
considerados Aprovados, para permitir a avaliaç ão 
automática do teste. Se alguns pontos não podem ser 
testados por alguma razão, o software adiciona a 
mensagem correspondente no relatório. 
O software considera o conjunto de testes 
como aprovado se todos pontos foram avaliados com 
aprovados. 
 
 
 
 
 
 
Figura 5– Protection Device 
 
 
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Para efeito da avaliaç ão automática do teste e 
uma rápida avaliaç ão visual após a realizaç ão do teste, 
o software utiliza í cones, apresentados a seguir. 
 
 
 
2.3 – TIME TOLERANCE 
 
As tolerâncias de tempo são definidas como 
tolerâncias absolutas e relativas. A tolerância de 
tempo relativa é definida em % do tempo de trip 
nominal. O intervalo de tempo resultante é o tempo 
de trip nominal menos uma percentagem do tempo 
de trip nominal mais a percentagem definida. A 
tolerancia de tempo absoluta é definida em segundos. 
Para a avaliaç ão do teste, o software selecionará o 
maior de dois intervalos de tempo. Na borda da 
região de trip, o intervalo de tempo combinado é 
valido. 
Quando os pontos de teste são ajustados, As 
faixas de tempo permitidas são desenhadas como 
linhas verticais no diagrama I / t para cada ponto. 
 
Figura 4 – Avaliaç ão pelas tolerâncias 
2.4 - FAULT GROUP SELECTION 
 
Dependendo qual grupo de falta é 
selecionado, os parametros correspondentes do grupo 
de falta são mostrados e podem ser editados na caixa 
“Fault Group Parameters”. 
Existem quatro grupos de faltas disponí veis 
no software : 
 
Line – Neutral 
Define os parametros para falhas monofásicas (A-N, 
B-N, C-N) 
 
Line – Line 
Define os parametros para falhas bifásicas (A-B, B-C, 
C-A) e falhas trifásicas. 
 
Negative Sequence 
Define os parametros para faltas de sequencia 
negativa (I2). 
 
Zero Sequence 
Define os parametros para faltas de sequencia zero 
(I0). 
 
Para cada grupo de faltas, os parâmetros dos 
grupos precisam ser preenchidos separadamente. 
 
2.4.1 – Modelos de Falta 
 
Faltas Monofásicas 
 
Para faltas monofásicas (no exemplo falta A-
N), a corrente de teste Itest é apagada da fase faltosa 
(no exemplo IA). As outras duas correntes são 
ajustadas para a corrente de carga com 120 graus de 
defasagem. 
A tensão para a fase faltosa é igual à tensão 
de falta selecionada. As outras duas fases são 
ajustadas para valores nominais, com 120 graus de 
defasagem. 
 
Figura 5 – Falta Monofásica 
 
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Os valores mostrados serão considerados pelo 
dispositivo de teste. 
 
VA = Tensão de falta ∠ 0° 
VB = Tensão Nominal ∠ -120° 
VC = Tensão Nominal ∠ 120° 
IA = Iteste ∠ j 
IB = Corrente de carga ∠ -120° + j 
IC = Corrente de carga ∠ 120° + j 
 
Faltas Bifásicas 
 
Para falhas bifásicas ( no exemplo falta B-C), a 
corrente de teste Itest é apagada das duas correntes 
das fases afetadas ( no exemplo IB e IC ) com 180 
graus de defasagem. 
As tensões formam um sistema balanceado e 
são ajustadas para valores nominais. O arranjo dos 
vetores são mostrados no exemplo. 
 
 
 
Figura 6 – Falta Bifásica 
 
Os valores mostrados serão considerados pelo 
dispositivo de teste : 
 
VA = Tensão de falta ∠ 0° 
VB = Tensão Nominal ∠ -120° 
VC = Tensão Nominal ∠ 120° 
IA = 0 
IB = Itest ∠ -90° + j 
IC = Itest ∠ 90° + j 
 
Faltas Trifásicas 
 
Para faltas trifásicas, a corrente de teste Itest 
é apagada para todas fases, com 120 graus de 
defasagem entre elas. 
As tensões são iguais a tensão de falta 
selecionada. 
 
 
Figura 6 – Falta Trifásica 
 
Os valores mostrados serão considerados pelo 
dispositivo de teste. 
 
VA = Tensão de falta ∠ 0° 
VB = Tensão Nominal ∠ -120° 
VC = Tensão Nominal ∠ 120° 
IA = Iteste ∠ j 
IB = Corrente de carga ∠ -120° + j 
IC = Corrente de carga ∠ 120° + j 
 
Seqüência Negativa 
 
Para falta de sequencia negativa, a corrente 
de teste Itest é apagada das outras fases com 120 
graus de defasagem entre elas. IB e IC são trocadas, 
de forma que apareç a a corrente de sequencia 
negativa. 
Todas tensões são iguais a tensão de falta 
com 120 graus de defasagem entre elas. VB e VC são 
trocadas, de forma que apareç a a seqüência negativa. 
 
 
Figura 7 – Seqüência Negativa 
 
Os valores mostrados serão considerados pelo 
dispositivo de teste. 
 
VA = Tensão de falta ∠ 0° 
 
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VB = Tensão Nominal ∠ 120° 
VC = Tensão Nominal ∠ -120° 
IA = Itest ∠ j 
IB = Itest ∠ 120° + j 
IC = Itest ∠ -120° + j 
 
Seqüência Zero 
 
Para a falta de sequencia zero, a corrente de 
teste Itest é apagada para todas fases, com 0 graus de 
defasagem, As correntes estão em fase com as outras. 
Desta forma, a corrente de sequencia zero aparece 
igual ao Itest selecionado. 
As tensões são iguais as tensões de falta , 
com 0 graus de defasagem, as tensões estão em fase 
com as outras. Desta forma, a tensão de sequencia 
zero aparece, igual a tensão da falta selecionada. 
 
 
Figura 8 – Seqüência Zero 
 
Os valores mostrados serão considerados pelo 
dispositivo de teste : 
 
VA = Tensão de falta ∠ 0° 
VB = Tensão de falta ∠ 0° 
VC = Tensão de falta ∠ 0° 
IA = Itest/3 ∠ j 
IB = Itest/3 ∠ j 
IC = Itest/3 ∠ j 
 
2.5 – DIRECTIONAL BEHAVIOR (COMPORTAMENTO 
DIRECIONAL) 
 
Este ajuste influencia a tensão de saí da. Se 
este parâmetro é ajustado para : 
 
• Direcional: Tensões serão 
consideradas segundo o tipo de falta 
selecionada e o estado da corrente 
na sequencia de shot. 
 
• Não-Direcional: Nenhuma tensão 
de saida aparecerá 
 
A seqüência de shot consiste em pré-falta, 
falta e pós-falta. O detalhamento de cada estado de 
teste, ou a transiç ão de um estado par o próximo é 
mostrado abaixo. 
 
Figura 9 – Comportamento de Falta 
 
Durante o estado de pré -falta, todas tensões 
são ajustadas para o sistema balanceado, com 
magnitude igual á tensão nominal, e Ajuste de VA 
igual a 0 graus. A duraç ão do estado de pré -falta 
pode ser ajustado no “Pre-fault Time”; se for 
ajustado para zero, nenhum estado de pré -falta é 
considerado. 
Durante o estado de falta, as correntes e 
tensões são consideradas de acordo com o ajuste do 
tipo de falta ou a aplicaç ão do modelo de falta (item2.4.1) (L-N, L-L,L-L-L, I2, I0). O último estado da falta 
até a condiç ão de trigger ser encontrada ou o máximo 
tempo de falta ter transcorrido. 
O estado de pós-falta é projetado para 
permitir o reset do objeto testado. Durante o estado 
de pós-falta, existem duas possibilidades : cada uma 
das tensões nominais no sistema balanceado com 
corrente zero, ou ambas tensões e correntes serão 
ajustadas para 0. Isto pode ser ajustado com o 
parâmetro “PT connection” na tela de 
parametrizaç ão.A duraç ão do estado de pós-falta 
pode ser ajustada atuando do “Delay Time” 
 
2.6 – CT STARTPOINT CONNECTION 
 
A conexão dos TC’s somente é relevante para 
relés de sobrecorrente direcionais. Isto influencia a 
defasagem entre as correntes e tensões. 
Se este parâmetro é ajustado para : 
 
• Towards LINE, A corrente tem uma 
defasagem da tensão ajustado pelo 
parametro angulo (I) na caixa 
“direction” na pagina de 
parametrizaç ão da Falta. 
 
• Towards BUSBAR, A corrente tem 
uma defasagem da tensão de um 
angulo (I) + 180 graus. 
 
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Figura 10 - Exemplo de Conexão: CT startpoint 
conection Towards BUSBAR 
2.7 - I/T PARAMETERS OF THE SELECTED FAULT GROUP 
 
Nesta caixa, os parâmetros do grupo de falta 
selecionados podem ser ajustados. Para mostrar ou 
editar os paramentros de diferentes grupos de falta, o 
grupo de falta necessita ser selecionado na caixa de 
seleç ão do grupo de falta. 
Cada região de trip (I>, I>>, I>>>) pode 
ser ativada ou desativada pela marcaç ão ou não do 
“checkbox “ . Como padrão, as regiões I> e I>> são 
ativadas e a região I>>> é desativada. 
O tempo de trip para certas regiões de trip 
(I>, I>>, I>>>) pode ser ajustados. Para a região de 
trip I> o ajuste de tempo também é representado. 
O tempo de trip em segundos para a 
caracterí stica de tempo definido ou, 
O index da curva de tempo (dial de tempo) 
usados para o teste da caracterí stica de tempo 
inverso. 
 
 
 
Figura 11 – Seleç ão dos parâmetros do grupo de falta 
 
3.0 - CHARACTERISTIC DEFINITION 
 
Os elementos desta caixa dependem do ajuste 
do grupo de falta e do tipo da caracteristica. 
Como padrão é associada a caracteristica de 
tempo inversa. 
O nome do grupo de falta é mostrado na 
parte superior esquerda desta caixa. 
Se desejar mudar o grupo de falta, é 
necessário mudar para a página de parâmetros de 
sobrecorrente. 
 
3.1 – TERMOS DA EQUAÇÃO CARACTERÍ STICA 
 
Estes sãos os fatores das equaç ões para a 
definiç ão de cada uma das caracteristicas inversas 
(fatores A, B, P, Q, K1 e K2) ou da caracteristica I² T 
(fatores A, Q, P). Estes fatores são necessários para 
ajustar a caracteristica de acordo com a especificaç ão 
do fabricante. 
Para os fatores dos relés de uma planta, favor 
consultar o manual do relé ou pergunte ao fabricante 
do mesmo. 
 
 
Figura 12 – Termos da Equaç ão Caracterí stica 
 
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON 
 
 Parte II: Sistema Automatizado de Teste 
 
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3.2 - TIME INDEX 
 
O í ndice de tempo é mostrado. Para muda-
lo, vá para a pagina de parâmetros de sobrecorrente e 
mude o valor na coluna de tempo da região de trip 
I>. 
 
3.3 – DEFINIÇÃO DA EQUAÇÃO CARACTERÍ STICA 
 
 Pode-se escolher dentre das seguintes opç ões 
para definir a equaç ão caracterí stica: 
 
 
 
 
Figura 13 – Termos da Equaç ão Caracterí stica 
 
Copy - Pressione este botão para abrir um dialogo, 
onde a caracterí stica de diferentes grupos de falta 
pode ser copiada para o grupo de falta selecionado. 
 
New - Pressione este botão para abrir uma nova caixa 
de dialogo, onde a nova caracterí stica pode ser criada 
para o grupo de falta corrente selecionado. 
 
Predefined - Pressione este botão para abrir uma 
caixa de dialogo, onde uma caracterí stica predefinida 
pode ser escolhida para o grupo de falta corrente 
selecionado. O módulo de teste de sobrecorrente tem 
quatro caracterí sticas pré -definidas : 
 
! Definite Time 
! IEC Normal Inverse 
! IEC Very Inverse 
! IEC Extremely Inverse 
 
Essas caracterí sticas não podem ser modificadas. 
Também, a caracterí stica pode ser definida pelo 
usuário. 
 
As caracterí sticas predefinidas IEC seguem as equaç ão 
IEEE standart. 
 
A tabela a seguir mostra os parâmetros usados. 
 
Caracteristica A B P Q K1 K2 
IEC Normal Inverse 0.14 0.0 0.02 1 0 0 
IEC Very Inverse 13.5 0.0 1.0 1 0 0 
IEC Extremely Inverse 80.0 0.0 2.0 1 0 0 
Tabela 1 – Parâmetros das curvas 
Import - Pressione este botão para abrir uma caixa de 
dialogo, onde a caracterí stica pode ser importa de um 
arquivo DCC. 
 
4.0 - PARAMETRIZAÇÃO DO TESTE 
 
4. 1 - FAULT TYPE 
 
Clicando em uma destas opç ões selecione o 
tipo de falta. O ajusta para o tipo de falta é um ajuste 
de teste geral e, portanto vá lido para todos os pontos 
definidos na tabela abaixo. De acordo com o ajuste do 
tipo de falta, o modelo de falta apropriado é usado 
para o calculo dos valores de teste. Modelos de falta 
para falhas monofásicas, bifásicas, trifásicas, falhas 
com seqüência negativa e seqüência zero estão 
disponí veis. 
 
4.2 - ITEST 
 
A corrente de teste Itest para um ponto de 
teste simples pode ser especificada aqui pela entrada 
do valor desejado. Clicando o botão esquerdo do 
mouse no diagrama da caracterí stica de sobrecorrente 
o valor correspondente é transferido para este campo. 
O ponto de teste pode ser adicionado pressionando o 
botão Add. O valor pode ser especificado em MTS ou 
em Corrente absoluta (Veja View/Absolute currents). 
Para adicionar um ponto de teste clique o 
botão esquerdo do mouse no diagrama de 
sobrecorrente pressionando a tecla Ctrl. 
 
 
5.0 - FAULT 
 
5.1 - FAULT SETTINGS 
 
5.1.1 - Absolute max time e Relative max time 
 
A máxima duraç ão da falta pode ser ajustada 
com sendo um valor absoluto em “Absolute max 
time”, ou como um valor relativo em percentual do 
máximo tempo de trip em “Relative max. Time“. 
 
 
 
Figura 14 – Configuraç ões de Falta 
 
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O máximo tempo de trip é ajustado na caixa 
“Time Tolerance” na tela de parametrizaç ão de 
sobrecorrente, “Protection Device”. 
O ajuste percentual deverá ser adicionado ao 
máximo tempo de trip (P.ex. O valor de 10% resultará 
em um máximo tempo de falta de 110% tmax). 
O sistema sempre utiliza a menor dos dois 
valores de tempo. O sistema permite o teste através 
de uma larga faixa de corrente e tempo de operaç ão 
sem danificar o relé . 
 
 
5.1.2 - Load current 
 
Esta corrente será considerada para todas 
fases durante o estado de pré -falta na seqüência de 
shot. Durante o estado de falta esta corrente somente 
será considerada para as fases sem falta para faltas 
monofásicas. 
 
 
5.2 – ADDITIONAL SETTINGS 
 
5.2.1 - Pre-fault Time 
 
Durante o estado de pre-falta, todas tensões 
são ajustadas para o sistema balanceado, com 
magnitude igual a tensão nominal, e ajuste de VA em 
0 graus. A duraç ão do estado de pre-falta pode ser 
ajustada em “Pre-Fault Time”; se este ajuste for 0, o 
estado de pré-falta não é considerado. 
 
 
Figura 15 – Configuraç ões Adicionais 
 
5.2.2 - Delay Time 
 
O estado de pós-falta é projetado para 
permitir o resetdo objeto testado. Durante o estado 
de pós-falta, existem duas possibilidades : cada uma 
das tensões nominais no sistema balanceado com 
corrente zero, ou ambas tensões e correntes serão 
ajustadas para 0. 
Isto pode ser ajustado com o parâmetro “PT 
connection” na tela de parametrizaç ão.A duraç ão do 
estado de pós-falta pode ser ajustada atuando do 
“Delay Time” 
 
5.3 – DIRECTION 
 
5.3.1 - Fault Voltage , Angle (I) e Nominal 
Voltage 
 
Como a tensão de falta será usada para 
formar a tensão de fase de falta, depende do modelo 
de falta correspondente. O angulo (I) é o angulo entre 
as tensões e correntes no estado de falta. Com a 
tensão nominal é tambem usada para o calculo da 
falta, ela é mostrada aqui (test object parameter) 
 
 
 
 
Figura 16 – Direç ão 
 
 
6.0 - GENERAL 
 
 
6.1 - PICK UP TEST 
 
Na tela de parâmetros gerais, o teste de 
pickup pode ser ativado. Se o teste de pickup é 
habilitado, ele será executado antes do primeiro 
ponto da tabela de teste. O teste de pickup é 
projetado para determinar os limites de operaç ão do 
objeto sob teste. Em steps, a corrente é 
aumentada/diminuí da. Em cada step, o valor 
considerado corresponde ao tipo de falta selecionado. 
A tensão, se habilitada, será também considerada de 
acordo com o ajuste da tensão de falta. 
Se a pré -falta é selecionada, o programa irá 
aplicar os valores de pré -falta durante o tempo de 
pré -falta, para que o relé seja preparado para o teste. 
Para a avaliaç ão automática, o teste será 
sempre considerado como aprovado. 
Entretanto, se o teste de Pickup/Dropout é o 
único teste selecionado no modulo, então o teste 
somente será aprovado se os valores de pickup e 
dropout forem encontrados com êxito. 
Existem dois tipos de teste, com a 
determinaç ão de pickup e dropout com e sem o 
contato de partida, ou seja, para relés digitais ou 
eletromecânicos. 
 
 
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Valor de Drop-Out Valor de Pick-Up 
6.1.1 - Determinação do pickup/dropout em 
relés com contato de partida 
 
Informaç ões gerais sobre o teste de pickup 
 
Para este teste, é necessário que o contato 
geral de partida seja designado. 
Caso contrário, o modulo de teste ira reportar 
hardware insuficiente e o teste não será executado. 
O estado de pré -falta não é relevante para 
este teste e portanto não será considerado. 
 
Determinaç ão do valor de Drop-out 
 
Para determinar o valor de drop-out, o 
modulo partirá a corrente de falta para (1.15 x 
IPICKUPS.). 
Isto causará a operaç ão do contato de 
partida. Se o contato de partida não estiver operado 
após o tempo assinalado em “Resolution”, o teste 
será cancelado. 
A corrente de teste será reduzida em degraus 
com tamanho de (0.01 x IPICKUPS), até o contato de 
partida abrir ou até o valor de (0.8 x IPICKUPS ) ser 
alcanç ado. 
Se o contato não é aberto, os valores de 
pickup/dropout não podem ser determinados e o 
teste é cancelado. Se o contato abre, o valor da 
corrente é gravado como o valor de dropout do relé . 
 
Determinaç ão do valor de Pickup 
 
Usando o mesmo tamanho de step e tempo, 
até que o contato de partida opere ou o valor de 1.15 
Ipickup seja alcanç ado. 
Se o contato de partida não esta ativo, o teste 
será cancelado, e somente o valor de dropout será 
gravado. 
Entretanto, o valor para que o contato de 
partida opere é gravado como o valor de pickup do 
relé . 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
Figura 17 – Determinaç ão do valor de Pickup e Dropout com contato de partida 
 
 
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Caso o relé opere, o valor é gradualmente 
reduzido até 0.8 x IPICKUPS, caso não haja a desoperaç ão 
do contato o teste é cancelado. 
 
 
 
Figura 18 – Valores de Pickup e Dropout não 
encontrados. 
 
Uso do contato de partida 
 
O modulo de teste segue os seguintes 
crité rios : Se o contato de partida é parte da condiç ão 
de trigger, o modulo de teste irá considerar o contato 
ativo e fechado ou ativo aberto de acordo como foi 
definido na condiç ão de trigger (1 ou 0 
respectivamente). 
Se o contato é definido como “Don’t care” 
(X), o modulo irá considerar como contato fechado. 
 
 
6.1.2 - Determinação dos valores de 
Pickup/Dropout para relés sem contato de 
partida 
 
Informaç ões gerais sobre o teste de Pickup 
 
O algoritmo utilizado leva vantagem para a 
iné rcia de dispositivos eletromecânicos determinar os 
valores de pickup e dropout. 
Para detectar o trip, o modulo de teste usa a 
condiç ão de trigger “full”. Ela considera o trip no relé 
quando a entrada binária realizar a condiç ão de 
trigger, ou não trip quando não fizer isto. O 
procedimento é como mostrado. 
Determinaç ão do valor de pickup 
 
 
O módulo de teste ocasiona o trip no relé 
pelo método da falta à valores de IPICKUPS (valores de 
trip). Esta falta será processada com sendo um ponto 
de teste normal. 
Entretanto, ela terá um tempo de trip 
nominal, e o máximo tempo de falta derivado . Os 
valores de falta (após a pre-falta, se escolhida), são 
aplicados ao relé até ocorrer trip ou até o máximo 
tempo de falta esgotar. 
Para este caso particular, nenhum teste para 
o tempo fora da faixa é feito. Se o relé não dá trip 
dentro do máximo tempo de falta, o teste de pickup é 
cancelado. 
Depois que o trip é detectado, os geradores 
serão desligados para a “Resolution” ou até a 
condiç ão de trip não estar mais presente. 
Então, isto será reaplicado com valores de 
1,15 x IPICKUPS até que o relé atue com o trip 
novamente ou decorra 3 segundos, quando o 
temporizador expira. 
Assim, a seqüência é repetida para valores de 
1.14, 1.13, etc. até que para um deles não atue o trip 
do relé . O último valor para o qual ocorre a atuaç ão 
de trip do relé é gravado como o valor de pickup. 
Se a seqüência alcanç a 0.8 x IPICKUPS 
detectando trip para todos pontos, o valor de pickup 
não pode ser determinado e o teste é cancelado. 
 
 
Determinaç ão do valor de Drop-out 
 
 
Após a determinaç ão do valor de pickup, 
1.15 x IPICKUPS é aplicado até o trip do relé operar ou 
passado o tempo de 10 segundos o temporizador 
expira. 
Se o temporizador expirar, o valor de dropout 
não pode ser determinado e o teste é cancelado. 
Se o trip do relé opera, o módulo de teste 
reduz o valor da falta em steps de 0.01 x IPICKUP , com 
o step de tempo igual à “Resolution”, até que a 
condiç ão de trip desapareç a ou o alcance sweep 0.8 x 
IPICKUP . 
No último caso, o valor de dropout não pode 
ser determinado, e o teste é cancelado. 
Entretanto, o step em que a condiç ão de trip 
desapareceu será gravado como valor de dropout. 
 
 
 
 
 
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Figura 19 – Determinaç ão do valor de Pickup e Dropout sem contato de partida 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
Figura 20 – Atuaç ão do tempo máximo de falta 
 
Vaor de Pick-Up
Valor de Drop-
Tempo máximo de falta 
 
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