Faça uma comparação de prós e contras entre TEM, SAXS, XRD e DLS

Essas técnicas são utilizadas para caracterização de materiais. Aqui estão algumas comparações de prós e contras entre elas: TEM (Microscopia Eletrônica de Transmissão): Prós: - Alta resolução espacial (até 0,1 nm); - Permite a visualização de estruturas internas de materiais; - Possibilita a análise de amostras em diferentes condições (temperatura, pressão, etc.). Contras: - Requer amostras finas e transparentes; - Preparação de amostras pode ser difícil e demorada; - Não é possível analisar amostras em solução. SAXS (Espalhamento de Raios-X a Baixo Ângulo): Prós: - Permite a análise de materiais em solução; - Pode ser utilizado para estudar a estrutura de materiais em diferentes condições (temperatura, pressão, etc.); - Não requer amostras finas e transparentes. Contras: - Baixa resolução espacial (aproximadamente 1 nm); - Não é possível visualizar estruturas internas de materiais; - Requer equipamentos especializados. XRD (Difração de Raios-X): Prós: - Alta resolução espacial (até 0,1 nm); - Permite a análise de materiais cristalinos; - Pode ser utilizado para estudar a estrutura de materiais em diferentes condições (temperatura, pressão, etc.). Contras: - Requer amostras cristalinas; - Preparação de amostras pode ser difícil e demorada; - Não é possível analisar amostras em solução. DLS (Espalhamento Dinâmico de Luz): Prós: - Permite a análise de materiais em solução; - Pode ser utilizado para estudar o tamanho de partículas em solução; - Não requer equipamentos especializados. Contras: - Baixa resolução espacial (aproximadamente 1 nm); - Não é possível visualizar estruturas internas de materiais; - Não é possível analisar materiais cristalinos.