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Exercício de Fixação - Microscopia Eletrônica_ Revisão da tentativa

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Prévia do material em texto

ENSAIO E CARACTERIZAÇÃO DE MATERIAIS - SG
Página Inicial / Meus Cu… / Ensaio E … / Microsco… / Exercício…
Iniciado em
sábado, 4 Mar 2023, 19:58
Estado
Finalizada
Concluída em
sábado, 4 Mar 2023, 20:02
Tempo
empregado
4 minutos 12 segundos
Avaliar
8,0 de um máximo de 10,0(80%)
QUESTÃO 
Correto
Atingiu 2,0 de 2,0
Mostrar uma página por vez
Terminar revisão
1 2 3 4 5
1
A fonte de elétrons de um MEV é chamada de:
Escolha uma opção:
a. Detectores.
b. Câmara da Amostra.
c. Coluna Óptico-Eletrônica.
d. Detector de elétrons retroespalhados.
e. Canhão eletrônico. 
Sua resposta está correta.
A resposta correta é: Canhão eletrônico.

https://cpetead.com.br/
https://cpetead.com.br/course/view.php?id=2053
https://cpetead.com.br/mod/quiz/view.php?id=48687
https://cpetead.com.br/mod/quiz/review.php?attempt=3726698&cmid=48687&showall=0
https://cpetead.com.br/mod/quiz/view.php?id=48687
https://cpetead.com.br/
QUESTÃO 
Correto
Atingiu 2,0 de 2,0
QUESTÃO 
Correto
Atingiu 2,0 de 2,0
2
Não é uma aplicação típica do MET.
Escolha uma opção:
a. Análise de defeitos e fases internas dos materiais.
b. Observação de discordâncias.
c. Análise de defeitos de empilhamento.
d. Observação de análise de precipitados.
e. Separação de componentes gasosos. 
Sua resposta está correta.
A resposta correta é: Separação de componentes gasosos.
3
Assinale a alternativa incorreta com relação ao preparo de amostras do Microscópio Eletrônico de Transmissão:
Escolha uma opção:
a. As amostras utilizadas em MET devem apresentar espessura de 500 a 5000 angstron.
b. Durante a preparação, a amostra deve sofrer deformação plástica. 
c. A superfície deve ser polida e limpa de ambos lados
d. A amostra não deve sofrer transformação martensítica.
e. A amostra não deve sofrer deformação plástica.
Sua resposta está correta.
A resposta correta é: Durante a preparação, a amostra deve sofrer deformação plástica.
QUESTÃO 
Incorreto
Atingiu 0,0 de 2,0
QUESTÃO 
Correto
Atingiu 2,0 de 2,0
4
Assinale a alternativa incorreta a respeito dos parâmetros que in�uenciam na resolução de imagens do MEV.
Escolha uma opção:
a. Quanto maior a distância de trabalho, melhor será a resolução do equipamento.
b. Corrente da sonda é um in�uenciador na geração de imagens de um MEV.
c. Tensão de aceleração dos elétrons é um in�uenciador na geração de imagens de um MEV.
d. Quanto menor a distância de trabalho, melhor será a resolução do equipamento. 
e. Distância de trabalho é um in�uenciador na geração de imagens de um MEV.
Sua resposta está incorreta.
A resposta correta é: Quanto maior a distância de trabalho, melhor será a resolução do equipamento.
5
Assinale a alternativa incorreta a respeito do conteúdo que aprendemos nesta aula:
Escolha uma opção:
a. O MET nos permite estudar defeitos e fases internas dos materiais.
b. O MET é muito utilizado no estudo de materiais biológicos.
c. A Microscopia Eletrônica utiliza radiação de ondas luminosas 
d. O MEV é uma técnica de microscopia ideal para estudar a topogra�a de superfície de objetos sólidos.
e. A Microscopia Eletrônica utiliza um feixe de elétrons como fonte de radiação.
Sua resposta está correta.
A resposta correta é: A Microscopia Eletrônica utiliza radiação de ondas luminosas
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