A maioria dos metais e das ligas é fundida e forjada em formas semiacabadas ou acabadas. Durante a solidificação de um metal em uma fundição, são f...

A maioria dos metais e das ligas é fundida e forjada em formas semiacabadas ou acabadas. Durante a solidificação de um metal em uma fundição, são formados núcleos que crescem em grãos, criando metal fundido solidificado com uma estrutura de grão policristalino. Para a maioria das aplicações industriais, um tamanho de grão muito pequeno é desejável, para a diminuição das imperfeições associadas ao grão. As imperfeições cristalinas estão presentes em todos os materiais cristalinos reais, mesmo no nível de tamanho atômico ou iônico. Os cientistas e engenheiros de materiais usam instrumentos de alta tecnologia para aprender sobre a estrutura interna (incluindo a estrutura de defeitos), o comportamento e a falha dos materiais. Instrumentos como metalógrafos, microscópios eletrônicos de varredura (MEV), microscópios eletrônicos de transmissão (MET) e microscópios de varredura por sonda (MVS) permitem a análise de materiais desde a escala macro até o nano. Sem tais instrumentos, seria impossível compreender completamente o comportamento dos materiais. A figura a seguir ilustra, esquematicamente, o funcionamento geral de um microscópio de força atômica (MFA), um dos tipos de equipamentos que pertenc


a. A figura apresenta o esquema de um microscópio de força atômica (MFA), que permite a visualização de superfícies de materiais com alta resolução, utilizando uma ponta extremamente fina para detectar as forças entre a ponta e a superfície da amostra.
b. O MFA é um tipo de microscópio eletrônico de varredura que utiliza elétrons para gerar imagens de alta resolução da superfície de amostras.
c. O MFA é um tipo de microscópio eletrônico de transmissão que permite a visualização de amostras em escala nanométrica.
d. O MFA é um tipo de microscópio óptico que utiliza lentes para ampliar a imagem da amostra.
e. O MFA é um tipo de microscópio que utiliza ondas sonoras para gerar imagens de alta resolução da superfície de amostras.