Com relação à técnica de microscopia para caracterização de materiais, assinale a alternativa CORRETA: A A principal limitação da técnica de micr...
Com relação à técnica de microscopia para caracterização de materiais, assinale a alternativa CORRETA:
A A principal limitação da técnica de microscopia eletrônica de varredura (MEV) é a baixa profundidade de foco.
B Na microscopia ótica, um feixe de elétrons é posicionado sobre a amostra, gerando uma imagem formada pelo conjunto de lentes objetivas e oculares.
C Amostras para caracterização em microscópio eletrônico de varredura (MEV), diferentemente das amostras para microscopia ótica, não necessitam de uma elevada planicidade.
D O microscópio ótico é um equipamento de alto custo, em função da necessidade de troca periódica de lentes devido ao desgaste.
A A principal limitação da técnica de microscopia eletrônica de varredura (MEV) é a baixa profundidade de foco.
B Na microscopia ótica, um feixe de elétrons é posicionado sobre a amostra, gerando uma imagem formada pelo conjunto de lentes objetivas e oculares.
C Amostras para caracterização em microscópio eletrônico de varredura (MEV), diferentemente das amostras para microscopia ótica, não necessitam de uma elevada planicidade.
D O microscópio ótico é um equipamento de alto custo, em função da necessidade de troca periódica de lentes devido ao desgaste.
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💡 1 Resposta
Ed 
A alternativa correta é a letra A: "A principal limitação da técnica de microscopia eletrônica de varredura (MEV) é a baixa profundidade de foco." A baixa profundidade de foco é uma limitação da técnica de MEV, pois a imagem é formada pela detecção de elétrons secundários emitidos pela amostra, que são sensíveis à topografia da superfície, mas não à profundidade. Isso significa que a imagem obtida pode não ser nítida em todas as áreas da amostra.
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