Espectrometria de fluorescência de raios-X

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Espectrometria de fluorescência de raios-X
Ana Laura Abílio, Fábio Gomes, Lauriane Coelho e Priscila Ferreira .
Fluorescência de raios X
A fluorescência de raios X (XRF – X-Ray Fluorescence) é uma técnica analítica multielementar e não destrutiva usada para obter informações qualitativas e quantitativas da composição elementar das amostras nos estados líquido, sólido e em pó. 
Fluorescência de raios X por dispersão de comprimento de onda (WDXRF)
Fluorescência de raios X por energia dispersiva (EDXRF)
Princípio da Técnica
Quando uma amostra é irradiada por um feixe de raios x, os átomos da amostra emitem raios característicos.
 
Esses raios são conhecidos como raios X "fluorescentes" e possuem um comprimento de onda e uma energia específicos que são característicos de cada elemento.
Fluorescência de raios X por dispersão de comprimento de onda (WDXRF)
É conhecida por sua imbatível precisão, exatidão e confiabilidade. Esta tecnologia analítica robusta é indicada para todos os tipos de aplicações em indústrias como cimento, polímeros, refinarias, mineração e minerais industriais.
Fluorescência de raios X por energia dispersiva (EDXRF)
É a melhor escolha para aplicações dedicadas no controle de processo e de qualidade, com facilidade de uso e em tamanho compacto. Ela oferece flexibilidade analítica para tarefas de pesquisa e monitoramento.
Fluorescência de Raios-X de Reflexão Total
 Uma variante da fluorescência de raios X por dispersão de energia, denominada de Reflexão Total (TXRF), vem sendo bastante desenvolvida nos últimos anos
 O ângulo de incidência do feixe de raios X (tipicamente 0,05°) está abaixo do ângulo crítico para o substrato e limita a excitação à superfície mais externa da amostra (~ 80Å superior, dependendo do material).
Aplicações
Materiais elétricos/eletrônicos
Automóveis e maquinário
Mineração
Petróleo e petroquímicos
Indústria química
Ambiental
Etc