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Montagem de um Aparato Experimental para Medidas de Capacitância em Capacitores de Carbono Amorfo Phillip Palazzo (phpalazzo@yahoo.com.br) Orientação: Rangel Arthur (rangel@ceset.unicamp.br) Tersio Guilherme S. Cruz (tersio@ufcar.br) Universidade Estadual De Campinas Faculdade de Tecnologia- Div. Telecomunicações Instituto de Física- Lab. De Pesq. Fotovoltaicas Agência Financiadora: Pibic/CNPq Palavras-Chave: Filmes – Carbono - Capacitância Introdução Conclusões Os capacitores de carbono amorfo são o objetivo principal dos estudos demonstrados neste trabalho. Tais capacitores são montados com filmes finos de carbono amorfo depositados sobre substratos metálicos e recobertos com outra camada metálica, conforme na figura1. Inicialmente é depositado um filme de alumínio sobre um substrato de vidro corning, usando evaporação térmica. Em seguida, o filme a-C: H é depositado sobre o alumínio pela técnica de descarga luminescente. Finalmente, por evaporação térmica, são depositadas “ilhas” de filmes de Al sobre a superfície do filme de a-C: H, formando o “capacitor”.O filme de carbono amorfo possui algumas vantagens como: facilidade de deposição, materiais relativamente abundantes e com baixo custo, material de alta dureza. É demonstrado em [1] que os filmes a-C:H possuem propriedades de dureza e comportamento constante com variação de temperatura. . Metodologia As medidas foram feitas no Laboratório de Pesquisas Fotovoltaicas (DFA/IFGW). Os equipamentos utilizados na análise por EIE foram: -Potenciostato/galvanostato EG & G - PAR Model 273A (um aparelho que aplica o potencial) - Analisador de Freqüência Schlumberger 1255 HF (responsável pela aplicação do sinal alternado). Ambos os equipamentos estavam interfaceados a um microcomputador.. Foi usada a técnica Espectroscopia de Impedância Eletroquímica (EIE) para medir a capacitância. Resultados e Discussão O resultado da medida é uma tabela com três colunas: parte real da impedância, parte imaginária de impedância e freqüência. Com isso, é comum fazer um gráfico (chamado gráfico de Nyqvist) cujo eixo vertical é a impedância imaginária e cujo eixo horizontal é a impedância real. A partir dos dados experimentais, usamos um programa [2] para ajustar tais dados usando um circuito conhecido. Os componentes deste circuito são escolhidos de acordo com os parâmetros da amostra. A figura 2 mostra o circuito equivalente. Para testar o equipamento, medimos a impedância de alguns capacitores simples (cerâmicos e eletrolíticos) e de uma célula solar. Os resultados para a célula solar são mostrados na figura 3. O potencial aplicado variou de -0,8V a 0,8 V, com variação de 0,16V. A freqüência variou de 10mHz a 10kHz. T3 é para V = -0,8V. T13 é para V = +0,8V. O circuito equivalente utilizado foi o da figura anterior. A capacitância medida foi de 4,2 F e não variou com o potencial. Cabe lembrar que este não é um resultado comum para células fotovoltaicas e mais estudos deverão ser realizados explicar tal comportamento. Referências [1]- S. C. Trippe, R. D. Mansano, Estudo e caracterização de filmes de carbono do tipo diamante (diamond Like Carbon-DLC)depositados pela técnica de sputtering reativo, Dissertação de Doutorado, POLI/USP, São Paulo, SP, 2003. [2]- EQUIVCRT – Referência: BOUKAMP, B. A., Equivalent Circuit – EQUIVCRT Programs-Users Manual, v. 3, pág 97, University of Twente – Holand, 1989 [3]- H. Bayhan, A, S, Kavasoglu, Admitance and Impedance Spectroscopy on Cu(In, Ga) Se2 Solar Cells, Department of Physics, Mugla university, 48000 Mugla-Turkey, julho 2002. Os resultados são os seguintes:R1 = 5,0 ; R2 = 40k; C = 9,6F. Os mesmos se encontram dentro do esperado, R2 >>>> R1 e o valor da capacitância muito próxima do valor real, ou seja, o aparato mostra valores confiáveis. Em [3] é realizado trabalho semelhante. Os valores de capacitância podem ser calculados usando os valores de constante dielétrica do Filme ( er = 2) , e considerando o diâmetro do filme, a distância entre as placas, d=1mm. Al a-C:H Vidro corning 7059 Al Figura 1: Capacitor do projeto R2 CR1 Figura 2 : Esquema do circuito utilizado para ajustar as curvas experimentais A figura 2 mostra os seguintes parâmetros: R1 = resistor de resistência pequena (devido aos contatos) R2 = resistor de resistência grande (devido ao dielétrico) C = capacitância O princípio da técnica de Espctroscopia de Impedância Eletroquímica (EIE) consiste em aplicar na amostra, um potencial alternado de pequena magnitude e de freqüência (na prática, para uma faixa de freqüência). Seja este potencial alternado E(t) dado por: e a corrente i(t) dada por: sendo a diferença de fase entre a voltagem e a corrente. Então, pode-se definir a impedância do sistema como: Num experimento de impedância, muitas vezes a resposta é modelada com o uso de circuitos eletrônicos equivalentes. Tais circuitos são utilizados para ajustar as curvas experimentais. Figura 3: Gráfico da impedância real versus impedância imag. para uma célula fotovoltaica. Figura 4: Gráfico do módulo da impedância em função da freqüência (e do ângulo de fase). A impedância se manteve constante para a faixa de 10mHz a 500Hz. Figura 5: Capacitância (parte real e parte imaginária): capacitor de 10 F. Os pontos em vermelho representam o ajuste usando o circuito equivalente R1(R2C). )()( tsenEtE o )()( tseniti o )( )( )( i E Z ,em Volts (V). ,em Amperes (A). ,em Ohms ().(III) (II) (I)
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