Workshop2018-Intro-tecnicas-ME

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Introdução às técnicas de 
microscopia 
Karla Balzuweit 
Dep. De Física – ICEx – UFMG 
Centro de Microscopia da UFMG 
1 
Porque Microscopia?? 
• Necessidade de estender os limites do 
detetor: “olho humano” 
 
2 
//inventors.about.com/library/inventors/
bleyeglass.htm#Eyeglasses 
//inventors.about.com/gi/dynamic/offsite.htm?site=
http://www.eye.utmem.edu/history/glass.html 
Scanning Electron Microscope Market Analysis, 
by End-Use (Electronics & Semiconductors, Automobiles, 
Pharmaceuticals, Steel & Other Metals) and Segment 
Forecasts To 2022 
• The global scanning electron microscope (SEM) market 
size was valued at USD 1,267.4 million in 2014. Rising 
demand for nanotechnology-based research and 
growing R&D innovation in application areas are 
anticipated to serve as key growth drivers. 
• These devices are routinely used to analyze various 
structures and contaminations along with component 
identification in different industries such as an 
automobile, pharmaceuticals, metals, electronics, 
semiconductors, and others. 
http://www.grandviewresearch.com/industry-analysis/ 
scanning-electron-microscope-market 
U.S. scanning electron microscope market, 
by end-use, 2012-2022, (USD Million) 
http://www.grandviewresearch.com/industry-analysis/ 
scanning-electron-microscope-market 
Conjuntos de lentes 
5 
5 
1590 - Hans e Zaccharias Janssen 
 1570-1619- Hans Lippershey 
1609 - Galileu Galilei 
Telescópio com aumento de 30X 
1704 - Isaac Newton 
Telescópio com aumento de 1000X 
inventors.about.com/library/
inventors/blmicroscope.htm 
micro.magnet.fsu.edu/primer/anatomy/introduction.html 
1632-1723 -Anton van 
Leeuwenhoek of Holland 
 Microscópio óptico 
http://www.microscopy-uk.org.uk/index.html 
1635-1703 Robert Hook 
Microscópio composto por 
duas lentes 
6 
http://www.nobel.se/physics/laureates/1986/ruska-lecture.pdf 
O primeiro microscópio eletrônico 1932: 
Ernst Ruska 
prêmio Nobel de Física de 1986 
asa de uma mosca 
1632-1723 Microscópio óptico 
Anton van Leeuwenhoek of Holland 
1635-1703 Microscópio composto por duas lentes 
Robert Hook 
1932 – Microscópio Eletrônico de Transmissão (MET ou TEM) 
Max Knoll e Ernst Ruska 
1935 – Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV ou SEM) 
Max Knoll 
1938 – Microscópio Eletrônico de Varredura (STEM) 
Von Ardenne 
1955 – Microscopia Óptica Confocal 
Marvin Minsky 
 1981 – Microscópio de Tunelamento (STM) 
Gerd Binning and Heinrich Rohrer 
1984 – Microscópio Óptico de Campo Próximo (NSOM) 
1985 – Microscópio de Força Atômica (AFM) 
Binning, Gerber, Quate 
Tipos de Microscópios 
MUITO MAIS QUE UMA GRANDE LUPA!! 
Morfologia Química 
Estrutura 
Hoje em dia: 
O que se pode “enxergar” num 
microscópio eletrônico hoje?? 
• Aumentos de mais de 16.000.000x 
• Resolução sub-angstron 
 
• Morfologia 
• Elementos químicos 
• Composição química 
• Valência 
• Cristalografia 
• Determinacão de estrutura cristalina 
• Condutividade 
• Características das bandas de energia 
 
• Experimentos in-situ (medidas mecânicas, elétricas, 
magnéticas, reações químicas) 
• etc... 
10 
Resolução nos microscópios 
Resolução em uma fenda/lente 
circular: Critério de Rayleigh 
Critério de resolução de Rayleigh: 
 Resolução = ~ 1,22l/d, 
onde d é o diâmetro da abertura 
Difração: 
Fresnel versus Fraunhofer 
12 http://physicsopenlab.org/2016/
03/20/microwaves-optics/ 
https://interactive.quantumnano.at/ 
advanced/quantum-experiments/ 
near-field-and-far-field/ 
13 
Critério de Rayleigh = 
 difração de Fraunhofer = 
aproximação de onda plana 
Princípio de funcionamento 
• Microscópios ópticos 
• Microscópios eletrônicos 
• Microscópios iônicos/eletrônicos 
• Microscópios de nêutrons 
• Microscópios de raio-x 
• Microscópios de varredura por sonda 
(SPM ou MVS), exceto os eletrônicos 
Biozentrum Basel - 
www.mih.unibas.ch/Booklet/Overview.html 
http://analytical.xtronix.in/ 
2012/02/scanning-tunneling-
microscopestm-atomic.html 
A AMOSTRA: 
Interação do feixe eletrônico com a amostra 
Homepage da JEOL: 
www.jeol.com 
Amostra “bulk” 
 
(3-D) 
O que se pode “enxergar” num 
microscópio eletrônico hoje?? 
• Aumentos de mais de 16.000.000x 
• Resolução sub-angstron 
 
• Morfologia 
• Elementos químicos 
• Composição química 
• Valência 
• Cristalografia 
• Determinacão de estrutura cristalina 
• Condutividade 
• Características das bandas de energia 
 
• Experimentos in-situ (medidas mecânicas, elétricas, 
magnéticas, reações químicas) 
• etc... 
17 Doação HP-USA para CM-UFMG 
Scanning Tunneling Microscope - 2016 
Scanning Tuneling Microscope 
18 
https://warwick.ac.uk/fac/sci/physics/current/postgraduate/r
egs/mpagswarwick/ex5/techniques/electronic/microscopy/ 
Predicted: 13.98 nm 
Measured: 13.92 nm 
Error: 0.4% 
28 de julho de 2017 
Predicted: 10.76 nm 
Measured: 10.65 nm 
Error: 1% 
Estrutura do silício na 
direção [111] 
Si 111 bulk surface Si 111 reconstructed surface 
Parametro de rede: 5.43 Å 
Si 111 structure 
Distância aos primeiros vizinhos : 3.83 Å 
4.66 nanometers 
Feb 21, 2018 
Graphite HOPG honeycomb 
structure 
21 
Microscópio de Varredura por Sonda: 
microscópio de força atômica - AFM 
Cypher Asylum 2014-2015 
- Modos de Operação: AFM - Contato, Não-Contato, Tap (intermitente) em ar ou em fluido; 
- Operação em fluido e amostras biológicas 
- Dual AC; Kelvin Probe Force Microscopy, Microscopia de Força Lateral; Microscopia de Força 
Magnética; Microscopia de Força Elétrica; AFM-Condutivo; PiezoResponse Force Microscopy, 
- Isolamento de vibrações e ruídos externos. 
22 
Microscópio de Varredura por Sonda: 
microscópio de força atômica - AFM 
MFP – 3DTM Asylum 2008 
- Modos de Operação: AFM - Contato, Não-Contato, Tap (intermitente) em ar 
ou em fluido; 
- Dual AC; Kelvin Probe Force Microscopy, Microscopia de Força Lateral; 
Microscopia de Força Magnética; Microscopia de Força Elétrica; AFM-
Condutivo; PiezoResponse Force Microscopy, 
- Nanolitografia, Nanoindentação. 25+ megapixel de resolução, scan (x e y) 
até 90 um. 
- Isolamento de vibrações e ruídos externos. 
Estudo por AFM do processamento de 
biomassa 
23 
Nano- to micrometer scale: the role of microwave-assisted acid and alkali pretreatments in the 
sugarcane biomass structure. A. Isaac et al, Biotechnol Biofuels 11 (2018) 73 
Moving atoms - AFM 
• Moving atoms – IBM: 
 
https://www.youtube.com/watch?v=oSCX78-
8-q0 
 
• Como o filme foi feito: 
 
https://www.youtube.com/watch?annotation_
id=annotation_743526523&feature=iv&src_vi
d=oSCX78-8-q0&v=xA4QWwaweWA 
24 
https://www.youtube.com/watch?v=oSCX78-8-q0
https://www.youtube.com/watch?v=oSCX78-8-q0
https://www.youtube.com/watch?v=oSCX78-8-q0
https://www.youtube.com/watch?v=oSCX78-8-q0
https://www.youtube.com/watch?v=oSCX78-8-q0
https://www.youtube.com/watch?annotation_id=annotation_743526523&feature=iv&src_vid=oSCX78-8-q0&v=xA4QWwaweWA
https://www.youtube.com/watch?annotation_id=annotation_743526523&feature=iv&src_vid=oSCX78-8-q0&v=xA4QWwaweWA
https://www.youtube.com/watch?annotation_id=annotation_743526523&feature=iv&src_vid=oSCX78-8-q0&v=xA4QWwaweWA
https://www.youtube.com/watch?annotation_id=annotation_743526523&feature=iv&src_vid=oSCX78-8-q0&v=xA4QWwaweWA
https://www.youtube.com/watch?annotation_id=annotation_743526523&feature=iv&src_vid=oSCX78-8-q0&v=xA4QWwaweWA
https://www.youtube.com/watch?annotation_id=annotation_743526523&feature=iv&src_vid=oSCX78-8-q0&v=xA4QWwaweWA
https://www.youtube.com/watch?annotation_id=annotation_743526523&feature=iv&src_vid=oSCX78-8-q0&v=xA4QWwaweWA
25 
Microscópio Óptico Confocal de Fluorescência 
Axio Imager Z2 com ApoTome 2 da Zeiss – 2015 
- Sistema totalmente motorizado e controlado por software 
- Camera CCD Axiocam 
- Luz transmitida 
- Polarizadores- Análise e aquisição automática de imagem; 
- Escaneamento e “stitching/tiling” de múltiplas imagens com platina motorizada; 
- Ajuste de foco motorizado na direção z; 
- Sistema ApoTome: aumenta resolução na direção z, com formação de imagem 3D. 
26 
Imagem de microscopia de 
fluorescência de células HUVEC – 
núcleos em azul, mitocôndrias em 
vermelho e actina em verde. 
A 
B 
Alexa Fluor 488 
DAPI 
Mito Tracker Red 
CMXRos 
 Molecular Probes FluoCells 
slide 
27 
Microscópio Eletrônico de Varredura (high/low-vacuum) 
JSM6360 JEOL - 2010 
- detector de elétrons secundários, elétrons retroespalhados 
- detector de EDS 
- voltagem 200 V to 30 kV; - corrente do feixe >100 nA 
- resolução ~7nm a 30 kV em alto vácuo 
- distância focal: 3 mm a 99 mm 
- aumento 25x (na distância de trabalho mais longa) a 300,000x em alto e baixo vácuo. 
Morfologia - imagens de elétrons secundários 
num microscópio eletrônico de varredura 
28 
Corte reto com 
padrão de fratura 
dúctil ao centro. 
Fio de cobre cortado por alicate 
Fio de cobre serrado 
Linhas retas 
com grânulos. 
Trabalho apresentado no curso: Tópicos em Física D: Noções de Microscopia 
Eletrônica - 1o. Semetre de 2003 - Filype Soares Machado 
29 
Morfologia 
elétrons espalhados 
inelasticamente 
Imagem de elétron secundário 
em um microscópio eletrônico de 
varrredura 
Electron Microscopy and Analysis; 
P.J.Goodhew, J. Humphreys, R. 
Beanland; Taylor and Francis (2001) 
Contraste químico 
elétrons espalhados 
elasticamente 
Imagem de elétron 
retroespalhado em um 
microscópio eletrônico de 
varredura 
30 
Microssonda Eletrônica 8900R 
JEOL – 1996 (antigo LMA) 
- 4 detectores de WDS 
- detector de EDS 
- voltagem 10 kV a 40 kV; - corrente do feixe >100 nA 
- resolução ~7nm a 30 kV 
- distância focal: 3 mm a 99 mm 
- aumento 7x (na distância de trabalho mais longa) a 100,000x 
31 
Morfologia 
Karla Balzuweit e Willian Tito Soares - Microssonda eletrônica JEOL -JXA8900R - LMA 
Imagem de elétron secundário em um 
microscópio eletrônico de varredura 
32 Espectro EDS de uma amostra de calaverita 
Karla Balzuweit e Willian Tito Soares - Microssonda eletrônica JEOL -JXA8900R - LMA 
Morfologia e elemento químico 
Imagem de elétron 
secundário (acima) 
e análise pontual no 
espectrômetro de energia 
dispersiva (EDS), ao lado, 
em um microscópio 
eletrônico de varredura. 
33 Espectro de WDS de um cálculo epididimal - Karla Balzuweit - 
German Mahecha - Willian T. Soares -- Microssonda eletrônica JEOL -JXA8900R - LMA 
Varredura 
de linha no 
espectrômetro 
de comprimento 
de onda (WDS), 
em um 
microscópio 
eletrônico de 
varredura 
Elementos Químicos 
34 
Imagem de raio-X utilizando WDS de um cálculo epididimal 
(imagem colorida artificialmente) Karla Balzuweit - German Mahecha - 
Willian T. Soares -- Microssonda eletrônica JEOL -JXA8900R - LMA 
Mapa Químico – Fótons de raio-X 
35 
Microscópio Eletrônico de Varredura FEG (high/low-vacuum) 
Quanta 200 FEI - 2006 
-detector de elétrons secundários, elétrons retroespalhados, STEM, 
- sistema integrado de EDS e EBSD 
-voltagem 200 V to 30 kV; - corrente do feixe >100 nA 
-resolução 1,6 nm a 30 kV em alto vácuo e modo STEM, 3.5 nm a 3 kV em baixo vácuo 
-distância focal: 3 mm a 99 mm 
-aumento 12x (na distância de trabalho mais longa) a 1,000,000x em alto e baixo vácuo. 
Morfologia 
36 
Tailed giant Tupanvirus possesses the most complete translational apparatus of the known virosphere. 
J. Abraão et al, Nature Comm. 9 (2018) 1 
37 
Contraste Químico 
Karla Balzuweit - NCEM - LBNL 
Partículas de silício 
(Z=14) (regiões 
sombreadas) sobre um 
filme de alumínio (Z=13) 
com o feixe de elétrons 
com uma energia de 3kV 
Imagem de elétron retroespalhado em um 
microscópio eletrônico de varredura 
38 
Nanotubos de carbono: detectores SE + STEM + EDS 
Teste de amostras – Zeiss -2005 – Elizabeth Ribeiro da Silva, José Aurélio Bergmann e Karla Balzuweit 
– amostra de nanotubos de carbono: Luiz Orlando Ladeira e Sérgio de Oliveira 
39 
Microscópio dual de feixe iônico e eletrônico de alta resolução FEG (high/low-vacuum) 
- Quanta 3D dual FIB FEI - 2008 
- feixe de íons de gálio, gases de carbono e platina, omniprobre 
- detectores de elétrons secundários, elétrons retroespalhados, STEM 
- Detector de EDS 
- voltagem 200 V to 30 kV, corrente do feixe >100 nA 
- resolução 0,8 nm a 30 kV em alto vácuo e modo STEM, 3.5 nm a 3 kV em baixo vácuo 
- distância focal: 3 mm a 99 mm 
- aumento 12x (na distância de trabalho mais longa) a 1,000,000x em alto e baixo vácuo. 
Microscópio dual de feixe eletrônico e iônico 
Manipulators 
Gas Injection 
SEM 
FIB 
Detectors 
Sample 
Gallium 
FIB 
SEM 
Electrons 
Micro e nanofabricação 
Laboratory of Integrated Nanophotonics & Biosensing Systems 
(LINBS) – Boston University – MA – USA 
Preparação de amostras para 
microscopia eletrônica de 
transmissão 
42 
Preparação de lamelas para microscopia eletrônica de transmissão 
Wesller Schmidt – CM-UFMG 
https://www.youtube.com/watch?v=omcxfWGJzsw 
FIB CUTING2.mpg
FIB CUTING2.mpg
FIB CUTING2.mpg
FIB CUTING2.mpg
FIB CUTING2.mpg
FIB CUTING2.mpg
FIB CUTING2.mpg
FIB CUTING2.mpg
FIB CUTING2.mpg
FIB CUTING2.mpg
FIB CUTING2.mpg
FIB CUTING2.mpg
FIB CUTING2.mpg
FIB CUTING2.mpg
FIB CUTING2.mpg
FIB CUTING2.mpg
FIB CUTING2.mpg
FIB CUTING2.mpg
FIB CUTING2.mpg
FIB CUTING2.mpg
FIB CUTING2.mpg
https://www.youtube.com/watch?v=omcxfWGJzsw
43 
Microscópio Eletrônico de Varredura - Mineral Liberation Analysis de alta resolução - 
FEG (high/low-vacuum) 
Quanta MLA – FEG FEI - 2012 
-detector de elétrons secundários, elétrons retroespalhados, STEM, 
- sistema integrado MLA com 2 detectores de EDS 
-voltagem 200 V to 30 kV; - corrente do feixe >100 nA 
-resolução 0,8 nm a 30 kV em alto vácuo e modo STEM, 3.5 nm a 3 kV em baixo vácuo 
-distância focal: 3 mm a 99 mm 
-aumento 12x (na distância de trabalho mais longa) a 1,000,000x em alto e baixo vácuo. 
Mineral Liberation Analysis 
44 
https://www.azom.com/article.aspx?ArticleID=10704 
https://www.google.com/url?sa=i&source=images&cd=&cad=rja&
uact=8&ved=2ahUKEwjfx6jJuPrcAhXLGZAKHXhKAJ8QjRx6BAg
BEAU&url=https%3A%2F%2Fwww.sciencedirect.com%2Fscienc
e%2Farticle%2Fpii%2FS0303243418301934&psig=AOvVaw0Bx
F7bNPGXbYMCvjc2A4kK&ust=1534813161543588 
45 
Microscópio Eletrônico de 
Transmissão 
Tecnai G2 Spirit Biotwin FEI - 2006 
- 120kV (contínuo em passos de 10V, 20V a 120kV) 
- porta-amostras single tilt 
- software de tomografia 
- câmara CCD 
- resolução de linha: 0,34nm 
- resolução de ponto: 0,49 nm 
- aumento: 22x a 300.000X 
- Cs: 6,3 (aberração esférica) 
 alto contraste 
46 
C
o
lá
ge
n
o
 I 
1
,7
5
 m
g
/m
L 
+ 
N
TC
P
M
 
6
,0
%
 
Localização de nanotubos de 
carbono de parede múltipla 
funcionalizados em osteoblastos 
cultivados em um scaffold 
tridimensional de colágeno 
Nanobiotecnologia 
Luiz Orlando Ladeira, Lidia Maria de Andrade , Erick de Souza Ávila, Loudiana Mosqueira Antônio, Anderson Caires de 
Jesus, Ney Pinheiro Sampaio, Estefânia Mara do Nascimento Martins, Alice Freitas Versiani, Marilene 
Nanoparticulas de ouro revestidas com 
cetuximab, sendo transportadas em 
direção ao núcleo da célula tumoral, 
dentro de vesículas 
47 
Microscópio Eletrônico de Transmissão - 
Tecnai 20 G2 SuperTwin FEI - 
2006 
-200kV (variável até 100kV) 
-porta amostras single-tilt e double-tilt 
-EDS com porta-amostras double-tilt Be 
-software tomografia 
-câmara CCD 
-câmara de negativos 
-resolução de linha: 0,24 nm 
-resolução de ponto: 0,14 nm 
-aumento: de 25X a 1.100.000X 
-Cs: 2,0 (aberração esférica) 
Microscopia eletrônica de transmissão 
convencional: CTEM 
Amostra de aço – Hong Liang e Karla Balzuweit -Tecnai G2-20 Centro de Microscopia da UFMG 
Morfologia com contraste de: 
- massa, 
- químico 
- difração 
Nanobastões de ouro – Anderson Caires, Luiz Orlando Ladeira 
Morfologia e 
Cristalografia 
Amostra de um filme bi-cristalino de alumínio sob um substrato de Si(100) À esquerda o padrão de 
difração do filme de alumínio. À direita, a imagem de contraste de difração, onde somente uma das 
orientações (indicada pela seta) contribui para a imagem aparecendo clara, e as outras orientações 
aparecem escuras. Karla Balzuweit - NCEM - LBNL - 2001 
Padrão de difração (esquerda) e imagem de 
elétrons transmitidos elasticamente - campo 
escuro- num microscópio eletrônico de 
transmissão 
Análise química: EDS e EELS 
50 
Amostra de aço: Karla Balzuweit, Paulo Cetlin, Hong Liang (TAMU-Texas) 
Raul Arenal – EELS – IV Curso Prático Teórico de 
Microscopia Eletrônica de Transmissão – CNPEM 2012 
Microscopia eletrônica de transmissão in-situ 
Cortesia: Thomas C. Isabell – JEOL 
CCoalescência em escala atômica 
Variando a temperatura 
Transmission Electron Microscopy and 
Spectroscopy of Nanoparticles – Zhong 
Lin Wang – Characterization of 
Nanophase Materials. Wiley – VCH 
Verlag GmbH – 2000 
Transmission Electron Microscopy and Spectroscopy of Nanoparticles – Zhong Lin Wang – 
Characterization of Nanophase Materials. Wiley – VCH Verlag GmbH – 2000 
TEM x HRTEM: 
Contraste de amplitude X contraste de fase 
Franjas de interferência: 
contraste de fase 
Bi2Te3 – Karla Balzuweit, Von Braun do Nascimento, Edmar Avelar Soares, Vagner Carvalho, 
Thais Milagres, Erico Freitas – Dissertação Thaís Milagres de Oliveira, 2015 
Análises Quantitativas 
54 
Martin Hytch – QEM2017 
Reconstrução de série focal 
Zigler, A.; et al. Imaging of the crystal structure of silicon nitride at 0.8 Angstron resolution. 
Acta Materialia 50 565 (2002). 
Simulação de série focal 
56 
Zigler, A.; et al. Imaging of the crystal 
structure of silicon nitride at 0.8 Angstron 
resolution. Acta Materialia 50 565 (2002). 
CTEM – HRTEM - STEM 
Eiji Abe and An Pang Tsai 
CTEM 
Amplitude contrast 
Williams and Carter 
Transmission Electron Microscopy -2009 57 
Microscopia eletrônica de transmissão com correção 
de aberração esférica: HAADF- STEM Bi2Te3 na 
direção [-110] 
Estrutura em camadas: van der Waals gap – Te – Bi – Te – Bi - Te 
Zone: 
-1 1 0
Dissertação Thaís Milagres 2015 
Imagem direta: Microscopia eletrônica de transmissão de 
varredura com correção de aberração esférica e 
monocromador (Cs HRTEM - HAADF STEM) 
Data Cubes – multispectral data 
• Imagens multiespectrais: cada pixel contem 
informações adicionais 
– Microscopia 3D 
– Microscopia 4D – 6D 
 
– Tempo 
– Espectros químicos (EDS, WDS, EELS) 
– Padrões de difração 
– Etc. 
 
• Tratamento e armazenagem de dados (TB) 
Calibração 
- crítica 
• Barra de escala 
• Intensidade ou cores 
 
 
• Escala de energia 
• Contagem 
61 
Lecture Gustaav van Tendeloo – EMAT 2013 
Alinhamento: crítico 
62 
Spectrum Imaging 
HyperMap / Hyperspectral Imaging 
63 
Precipitados em uma matriz de aço 
Iron (yellow) Nitrogen (blue), Sulphur (bright green), Aluminum (purple), Manganese (yellow) 
Steel sample– cortesy of Arcelor-Mittal – TEM measurements courtesy FEI – Tecnai Osiris 
64 
65 
Electron Backscatter Diffraction - Pattern Collection and Analysis 
Materials Science Central Facilities Mike Meier 
University of California, Davis September 13, 2004 
Electron backscattered diffraction (EBSD) 
Tomografia – alumina nanoporosa – Microscopia Eletrônica de Transmissão – 
JEM 2100F– cortesia Jeol 
N. D.S.Mohallem, C. Diniz, K. Balzuweit, E. Okunishi 
Tomografia de elétrons 
Determinação de estrutura por 
difração de elétron com precessão 
Cortesia Stavros Nicopoulos - Nanomegas 
Precession Diffraction 
Mauro Gemmi – University of Milano 
70 
“Single Particle”: criomicroscopia 
At 4Å resolution, strands in the b-hairpin begin to 
separate, the pitch of the a-helix becomes 
visible and bulky side chains can start to be 
seen. 
Segment extracted from the atomic model of HK97 capsid protein. An alpha-helix and a 
beta-hairpin joined together by a loop and filtered to different resolutions. 
At 2Å resolution, the hole in each aromatic ring 
is resolved (red arrow). 
Towards atomic resolution structural determination by single-particle cryo-electron microscopy 
Current Opinion in Structural Biology, Volume 18, Issue 2, April 2008, Pages 218-228 Z Hong Zhou 
http://www.sciencedirect.com/science?_ob=ArticleURL&_udi=B6VS6-4S7S1B3-1&_user=10&_coverDate=04/30/2008&_alid=924376652&_rdoc=5&_fmt=high&_orig=search&_cdi=6254&_sort=d&_docanchor=&view=c&_ct=20&_acct=C000050221&_version=1&_urlVersion=0&_userid=10&md5=e882dc14f4e9df07f080ca57c5837c2f
http://www.sciencedirect.com/science?_ob=ArticleURL&_udi=B6VS6-4S7S1B3-1&_user=10&_coverDate=04/30/2008&_alid=924376652&_rdoc=5&_fmt=high&_orig=search&_cdi=6254&_sort=d&_docanchor=&view=c&_ct=20&_acct=C000050221&_version=1&_urlVersion=0&_userid=10&md5=e882dc14f4e9df07f080ca57c5837c2f
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Microscopia 4D - femtoquímica 
Ahmed Zwail – prêmio Nobel de Química 1999 
Simultaneamente 
(femtosegundos) 
informação estrutural 
química e morfológica 
http://ust.caltech.edu/movie_gallery/ 
4D Electron Microscopy – Imaging 
Space and Time - Ahmed Zwail - 
Imperial College Press 
http://ust.caltech.edu/movie_gallery/
Microscopia 4D 
72 
Evolução 
temporal do 
movimento de 
átomos de 
grafite 
4D Electron Microscopy – Imaging Space and Time 
- Ahmed Zwail - Imperial College Press 
In-situ microscopy 
73 
Visualização de reações químicas dentro do ouvido de um 
embrião de um “zebra fish” – Eric Betzig 
2016_EMC_EricBetzig.mp4
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Preparação de amostras!!!! 
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Um supermicroscópio sem infra-estrutura!! 
Cortesia: Thomas C. Isabell – JEOL 
www.microscopia.ufmg.br 
77 
Financiamento 
• Equipamentos 
– FINEP 
– FAPEMIG 
– CP Eletrônica 
– UFMG 
 
• Construção 
– FUNDEP 
– UFMG 
– MCT 
– Banco do Brasil 
– Emendas parlamentares 
– Secretaria do Estado de Minas Gerais 
 
• Manutenção 
– UFMG 
– FAPEMIG 
– Petrobrás 
– CNPq 
– Projetos Usuários