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Prévia do material em texto

ISSN 1413-9928 
(versão impressa) 
 
CADERNOS DE 
ENGENHARIA DE ESTRUTURAS 
Universidade de São Paulo 
Escola de Engenharia de São Carlos 
Departamento de Engenharia de Estruturas 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
______________________________________________________________________ 
 
Aplicação do método dos elementos de contorno à 
análise de placas com apoios internos 
 
 
Ney Amorim Silva 
Wilson Sérgio Venturini 
 
______________________________________________________________________ 
 
 
 
 
 
 
 
 
Número 3 
São Carlos, 1998 
 
UNIVERSIDADE DE SÃO PAULO 
 
Reitor: Professor Titular 
 JACQUES MARCOVITCH 
 
Vice-Reitor: Professor Titular 
 ADOLPHO JOSÉ MELFI 
 
 
 
ESCOLA DE ENGENHARIA DE SÃO CARLOS 
 
Diretor: Prof. Titular 
 JURANDYR POVINELLI 
 
Vice-Diretor: Prof. Titular 
 WOODROW NELSON LOPES ROMA 
 
 
 
DEPARTAMENTO DE ENGENHARIA DE ESTRUTURAS 
 
Chefe do Departamento: Prof. Titular 
 WILSON SÉRGIO VENTURINI 
 
 Suplente do Chefe do Departamento: Prof. Titular 
 JOÃO BENTO DE HANAI 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
Impressão e acabamento: Serviço Gráfico-EESC-USP 
APLICAÇÃO DO MÉTODO DOS ELEMENTOS DE CONTORNO À 
ANÁLISE DE PLACAS COM APOIOS INTERNOS 
 
 
Ney Amorim Silva1 & Wilson Sérgio Venturini2 
 
 
 
RESUMO 
 
Utiliza-se a formulação direta do Método dos Elementos de Contorno aplicada 
ao problema de flexão de placas apoiando-se na teoria de Reissner. Os elementos de 
contorno apresentam geometria linear com aproximação quadrática para as variáveis de 
contorno e as equações integrais dos deslocamentos são escritas para pontos de 
colocação dispostos fora do domínio, evitando-se assim problemas de singularidades. O 
sistema de equações algébricas originado da análise de placas via MEC é modificado 
para incorporar o enrijecimento produzido pela vinculação interna. É analisado o 
enrijecimento produzido por apoios internos pontuais ou distribuídos em áreas 
pequenas. São apresentados exemplos simples, que mostram a boa precisão da técnica 
utilizada. 
 
Palavras-chave: método dos elementos de contorno; placas 
 
 
ABSTRACT 
 
A direct formulation of the Boundary Element Method is applied to the analysis 
of plates in bending using Reissner’s theory. The boundary elements are geometrically 
linear with quadratic approximation for the boundary variables and the displacement 
integral equations are written for collocation points outside the domain thus avoiding 
any singularity problem. The resulting system of algebraic equations is modified to 
include the stiffening effects. Plates with internal point restraints and restrained over 
small areas are analyzed. The results obtained in simple problems indicate the accuracy 
of the procedure. 
 
Keywords: boundary element method; plates 
 
 
1 INTRODUÇÃO 
 
O Método dos Elementos de Contorno, aplicado à análise de placas, conduz a 
um sistema de equações algébricas lineares, representado matricialmente pela equação 
( 1 ), cujas incógnitas são os deslocamentos e forças de superfície no contorno [1]. Este 
 
1 Professor do Departamento de Engenharia de Estruturas da Escola de Engenharia da UFMG, Belo 
Horizonte, MG. E-mail: ney@dees.ufmg.br 
2 Professor do Departamento de Engenharia de Estruturas da Escola de Engenharia de São Carlos da 
USP, São Carlos, SP. E-mail: venturin@sc.usp.br 
 2
sistema não permite a análise de placas com vinculações internas, como, por exemplo, 
lajes cogumelo e lajes com vigamento interno, muito comuns nos projetos de edifícios. 
 
 H U G P B
~ ~ ~ ~ ~
= + ( 1) 
 
A equação ( 1 ) será modificada para prever a presença de pontos ou linhas 
internas, onde os deslocamentos ou esforços serão prescritos, permitindo-se portanto a 
análise das placas referidas acima. Esta modificação introduzirá novas incógnitas, sendo 
necessária a obtenção de novas equações para que o sistema possa ser resolvido. Estas 
novas equações são obtidas escrevendo-se equações integrais de deslocamentos, para 
cada ponto onde houver vinculação interna. 
Será apresentada uma formulação envolvendo vinculação proveniente de apoios 
internos pontuais ou distribuídos em pequenas áreas, [2]. 
 
 
2 APOIOS PONTUAIS 
 
O vetor “ B
~
” da equação matricial (1) armazena a influência de todo o 
carregamento externo aplicado à placa. Este carregamento pode estar atuando em áreas 
internas, pontos ou linhas, podendo também ser interpretado como reações incógnitas 
da interface placa-viga ou placa-pilar. No último caso, quando a área de contato é 
pequena em comparação com a área da placa, é possível admiti-la pontual, sendo as 
reações interpretadas como cargas concentradas, aplicadas à placa no ponto de contato 
“j”, com valor desconhecido “Rj”, conforme Fig.1. 
 
 
Fig. 1 - Placa sobre apoios pontuais. 
 
Considerando-se uma placa com “NAP”, apoios internos, a equação (1) pode ser 
reescrita como: 
 
H U G P B S R
~ ~ ~ ~ ~ ~ ~
= + + ( 2 ) 
 3
 
onde “ R
~
” é o vetor das reações com 3(NAP) elementos e “ S
~
” é uma matriz ) contendo 
a influência dos termos: 
 ( )S u xαβ αβ χ= * , 
( )S u x3 3α α χ= * , ( 3 ) 
 
( ) ( ) ( )S u x u xi i i3 3 21= − −* ,*, ,χ νν λ χα α 
 
 As soluções fundamentais “ uij
* ” e “ uiα α,
* ” são dadas por: 
( ) ( )( )[ ] ( )[ ]{ }u D B z A r rαβ αβ α βπ ν ν δ ν* , ,ln= − − − − − + −18 1 8 1 2 1 8 2 1 
 
( )u u
D
z rrα α απ3 3
1
8
2 1* * ,ln= − = − ( 4 ) 
 
 ( ) ( ) ( )[ ]u D z z z33 2 218 1 1 1 8* ln ln= − − − −π ν λ ν 
 
 
( ) ( ) ( )u rD A zk r zk A r r rαβ γ γ αβ α β γπ ν ν δ ν,* , , , ,[= − + + − − + + − +
1
4 1
4 4 1 2 2 8 11 1 
( )( )4 1A r r+ − +ν δ δα βγ β αβ, , ] 
 
u
r
rDαβ β
α
π,
* ,= −
2
 
 ( 5 ) 
( )[ ]u u D z r rα β α β αβ α βπ δ3 3 18 2 1 2,* ,* , ,ln= − = − + 
 
u u z
Dα α α α π3 3 2,
*
,
* ln= − = 
 
 ( ) ( ) ( )[ ]u rr D z z33 2 28 1 1 2 1 8,* , lnα απ ν ν= − − − − − 
 
 Para cada apoio interno, tem-se três reações: as duas primeiras correspondem 
respectivamente aos momentos “ R Mx1 ” e “ R Mx2 ”, a terceira representa a reação vertical 
“ R w ”. 
 
 4
 Para deslocamentos prescritos nos “NAP” apoios internos, tem-se na equação 
(1), 3(NAP) reações incógnitas, necessitando-se portanto de mais 3(NAP) novas 
equações, para que o sistema seja resolvido. Estas novas equações são obtidas, 
escrevendo-se equações integrais referentes aos deslocamentos internos (φx1, φx2 e w) 
para os “NAP” apoios internos. Segundo a equação matricial para deslocamento em 
pontos internos (6), estas novas equações podem ser agrupadas e escritas como em (7): 
 
U G P H U Bi i i i
~ ~ ~ ~ ~ ~
= − +Γ Γ ( 6 ) 
 
U G P H U B S Ri i i i i
~ ~ ~ ~ ~ ~ ~ ~
= − + + ( 7 ) 
 
onde “ Si
~
” é obtido de maneira análoga a “ S
~
”, tomando-se precauções com as 
indeterminações, quando “ξ” coincide com “x”. 
 
 A expressão (7) pode ser reescrita como: 
 
H I
U
Ui i~ ~
~
~










= G P B S Ri i i
~ ~ ~ ~ ~
+ + ( 8 ) 
 
 Agrupando-se (1) e (8), obtém-se: 
 
H
H I
U
Ui i
~ ~
~ ~
~
~
0











=
G
G P
B
B
S
S Ri i i
~
~
~
~
~
~
~
~





 +





 +





 ( 9 ) 
 
 Caso “ R
~
” seja prescrito, por exemplo, cargas externas concentradas, “Ui
~
” é 
incógnito, resultando : 
 
H
H I
U
Ui i
~ ~
~ ~
~
~
0











=
G S
G SP
R
B
Bi i i
~ ~
~ ~
~
~
~
~










+





 ( 10 ) 
 
 Caso, além de prescrito, “ R
~ ~
= 0 ”, (10) fornece as duas equações matriciais para 
deslocamentos em pontos do contorno (1), e em pontos do domínio (6). 
 
 Para valores de “Ui
~
” prescritos, (10) transforma-se em: 
 
H S
H S
U
Ri i
~ ~
~ ~
~
~
−
−










=
G
G I
P
U
B
Bi i i
~ ~
~ ~
~
~
~
~
0
−












+





 ( 11 ) 
 
 5
 Impondo-se as condições de contorno, o sistema (11) é resolvido, determinando-
se, além das incógnitas do contorno, os valores das reações internas “ R
~
”. Os 
deslocamentos e esforços nos pontos internos conterão também a influência destas 
reações. 
 
 Supondo-se que os apoios “j” sejam as ligações da placa com pilares e que os 
mesmos tenham rigidez axial infinita, e rigidez a flexão nas direções “x1” e “x2” nulas, 
os deslocamentos “wj” e as reações “ R Mx1 ” e “ R Mx2 ” serão nulas. Esta é a situação em 
geral utilizada na análise de lajes cogumelos, onde as incógnitas que interessam são as 
reações verticais. Para esta análise, basta apenas escrever as equações correspondentes 
aos deslocamentos transversais “wj” para os “NAP” apoios internos, ficando a equação 
(11) reescrita como: 
 
H S
H S
U
Ri j i j w
~ ~
,
~
,
~
~
~
−
−












=
3 3
G
G I
P
W
B
Bi j i j
~ ~
,
~ ~
~
~
~
,
~
0
3 3−








+





 ( 12 ) 
 
 Resolvido o sistema (12) os deslocamentos e esforços em pontos internos 
conterão além da influência das cargas de domínios, as reações “ Rw
~
” dos “NAP” 
apoios internos. 
 
 
3 APOIOS EM ÁREAS DISCRETAS 
 
 Considera-se neste item a associação placa-pilar, onde a interface é constituída 
por uma área. Como hipótese admite-se que a área de interface permaneça plana após a 
deformação do conjunto, o que implica numa distribuição linear de tensões na interface. 
 Seja a Fig. 2, onde mostra-se uma área genérica da interface placa-pilar, 
indicando-se o sistema de referência global “ x x x1 2 3 ” e o sistema local do pilar “ x y z ”. 
 A tensão na área de interface pode ser dada pela expressão seguinte: 
 
( )σ x R
S
R
I
x
R
I
yw
M
yy
M
xx
y x= − + ( 13 ) 
 
onde o sistema de coordenadas “ x y ” representa os eixos principais de inércia da área 
da interface. Este sistema relaciona-se com o sistema “ x x1 2 ” da seguinte forma: 
 
( ) ( )
( ) ( )
x x x x x
x x y y x
1 0
2 0
= +
= +
 ( 14 ) 
 
onde “x0” e “y0” são as coordenadas do centro da interface. 
 
 
 
 6
 
 
 
 
Fig. 2 -Associação placa-pilar : a) apoio genérico 
b) reações na interface 
c) sistemas de referência 
 7
 
 Segundo a Fig. 2.c, pode-se escrever: 
 
( ) ( )
( ) ( )
x x x r
x x x r
1 1
2 2
= +
= +

ξ θ
ξ θ
 
 sen 
cos
 ( 15 ) 
 
 Levando-se (15) e (14) em (13), obtém-se: 
 
( ) ( ) ( )σ σ ξ θ θx A B r= − +1 1cos sen ( 16 ) 
 
onde: 
 
A
M
I
R
Iyy
M
yy
y
1
1= = 
B
M
I
R
Ixx
M
xx
x
1
2= = − ( 17 ) 
( ) ( )[ ] ( )[ ]σ ξ ξ ξ= + − + −RS A x x B y xw 1 0 1 1 0 2 
 
 A equação (16) representa a distribuição de tensões na área “Sj” da interface 
placa-pilar, mas pode ser interpretada como uma carga distribuída linearmente, aplicada 
na mesma área. Desta forma, deve ser considerada a contribuição deste carregamento 
linear no cálculo dos deslocamentos [1]. 
 Seja a Fig. 3, onde se apresenta um conjunto placa-pilar nas posições inicial e 
deformada da placa. 
 
 
 
Fig. 3 - Conjunto placa-pilar. 
 
 8
 Os deslocamentos da interface “φ1, φ2 e w” são os mesmos para a placa e o pilar. 
Supondo-se que estes deslocamentos fossem prescritos, as incógnitas seriam “M1, M2 e 
Rw”, podendo o problema ser resolvido conforme a equação (11), onde os termos da 
matriz “ S
~
” seriam obtidos a partir de (17) para reações unitárias, separando-se os 
termos constantes e os dependentes de “r”. 
 Geralmente nem os deslocamentos nem as reações da interface placa-pilar são 
conhecidos. Neste caso, torna-se necessário relacionar tais deslocamentos com seus 
esforços correspondentes. Como a estrutura formada pelos pilares é um conjunto de 
barras independentes, para se obter a relação deslocamento-reação para cada interface 
placa-pilar, basta considerar apenas o pilar em questão, obtendo-se: 
 
M
M
R
k
k
k ww j j j
1
2
11
22
33
1
2
0
0






= −












~
~
φ
φ ( 18 ) 
 
com 
k k
EI
hp
yy
11 = 
 
k k
EI
hp
xx
22 = ( 19 ) 
 
k
ES
h33
= 
 
onde: 
 
E - módulo de elasticidade longitudinal do material do pilar; 
Ixx, Iyy - momentos de inércia em relação aos eixos “ x ” e “ y ”; 
S - área da seção transversal do pilar (área da interface); 
h - altura do pilar; 
Kp - um coeficiente que depende das condições de apoio na base do pilar: 
 kp = 3 - pilar articulado na base 
 kp = 4 - pilar engastado na base. 
 
 O sinal negativo que aparece em (18) deve-se ao fato de que, para 
deslocamentos positivos, as reações são negativas. A convenção dos valores positivos 
para as reações e deslocamentos está apresentada na Fig. 2.a. 
 
 Levando-se (18) em (17), obtém-se: 
 
 
 
 
 9
A
k E
h
p
1 1= − φ 
 
B
k E
h
p
1 2= − φ 
 
( ) ( ) ( )[ ][ ]σ ξ ξ ξ= − + − + −Eh w A x x B y x1 0 1 1 0 2 ( 20 ) 
 
 A equação (16), que representa a distribuição linear de tensões na área de 
interface, será escrita a partir de (20) em função dos deslocamentos “φ1, φ2 e w”, 
resultando : 
 
( ) ( )[ ]σ ξ θ φx k Eh x x rp= − + +1 0 1cos 
 
( )[ ]k Eh x y r Eh wp 2 0 2ξ θ φ− + −sen ( 21 ) 
 
 
 
 
Fig.4 - Área carregada “Sj”. 
 
 
 A influência da carga “σ(x)” atuando na área “Sj”, no cálculo dos 
deslocamentos, é dada por [1]: 
 
( ) ( ) ( ) ( ) ( )I x u x u x d xi i i qqs s= − −

∫ σ ξ
ν
ν λ ξα α3 21
*
,
*, ,Ω Ω ( 22 ) 
 
 10
 A integral no domínio interno “Ω qs ” será transformada em uma integral sobre o 
contorno “Γqs ”, situação ilustrada na Fig. 4 , resultando [1]: 
 
( )[ ]{ }I k Eh x x I Ip c rα α αξ φ= − + +1 0 11 ( )[ ]{ }k Eh x y I I Eh I wp c r c2 0 22ξ φα α α− + − ( 23 ) 
 
( )[ ]{ }I k Eh x x I Ip c r3 1 0 3 3 11= − + +ξ φ ( )[ ]{ }k Eh x y I I Eh I wp c r c2 0 3 3 2 32ξ φ− + − ( 24 ) 
 
onde: 
 
 ( ) ( )I D R z r d xc qs sqα απ
ν
ν λ β= −



 + −



∫
1
24
2
5
3
12
1
2
2ln cos,Γ Γ 
 
 ( ) ( )I D R z R r r d xr qs sqα α ββ π
ν
ν λ β= −



 + −



∫
1
32
2
3
2
8
1
3
2ln cos, ,Γ Γ 
( 25 ) 
 ( )
( ) ( ) ( )I
D
R z z z d x
c
qs
sq3 2
21
8 1
1
4
5
4
2 2
1
2
= −
− −

 + − −







∫π ν λ
ν ν βln ln cosΓ Γ 
 
 ( )
( ) ( ) ( )I
D
R z z z r d x
r
qs
sq3 2
2 21
8 1
1
5
6
5
4
3
2
1
3α π ν λ
ν ν βα= −
− −

 + − −







∫ ln ln cos,Γ Γ 
 
 
com: 
r,
cos
α
θ
θ=
sen 
( 26 ) 
cos cos cos,β θ α θ α= = −rn c c sen sen 
 
“θ” e “αc” estão ilustradas na Fig. 4. 
 
 
 Considerando-se uma placa com “NAP” apoios internos, conforme o apoio 
genérico “j” da Fig. 2, pode-se escrever: 
 
H U G P B QUs~ ~ ~ ~ ~ ~ ~
= + + ( 27 ) 
 
ondea matriz “Q” de dimensões “3(Número de Nós do Contorno da Placa) x 3(NAP)” 
contém os coeficientes expressos em (23) e (24) e o vetor “US
~
” contém os 
deslocamentos “φ1, φ2 e w” para todos os “NAP” apoios internos. 
 
 11
 Como os deslocamentos na interface são os mesmos para a placa e para o pilar, 
pode-se escrever: 
 
U Us i
~ ~
= ( 28 ) 
 
 Para que o sistema representado pela equação (27) possa ser resolvido, torna-se 
necessária a criação de “3(NAP)” novas equações, que serão as correspondentes aos 
“Ui
~
” deslocamentos internos. Assim, tem-se: 
 
U G P H U B Q Ui i i i i i
~ ~ ~ ~ ~ ~ ~ ~
= − + + ( 29 ) 
 
onde “ Qi
~
” representa a matriz “ Q
~
” para pontos internos. 
 
 Agrupando-se (27) e (29), obtém-se: 
 
H
H I
U
Ui i
~ ~
~ ~
~
~
0











=
G
G P
B
B
Q
Q Ui i i i
~
~
~
~
~
~
~
~





 +





 +





 ( 30 ) 
 
 
 Levando-se os deslocamentos incógnitos “Ui
~
” do segundo para o primeiro 
membro, obtém-se: 
 
H Q
H I Q
U
Ui i i
~ ~
~ ~ ~
~
~
−
−












=
G
G P
B
Bi i
~
~
~
~
~





 +





 ( 31 ) 
 
 
 Impondo-se as condições de contorno, o sistema (31) é resolvido encontrando-
se, além dos valores de contorno, os deslocamentos nos pontos internos correspondentes 
aos “NAP” apoios. Com os valores “Ui
~
” encontram-se as reações nos pilares, e com 
estas obtêm-se as distribuições lineares de tensão sobre todas as áreas de interface. 
 Os deslocamentos e esforços em pontos internos conterão a influência de todos 
os carregamentos de domínio, inclusive das “NAP” regiões carregadas com as cargas 
“σ(x)”, dadas em (16). 
 
 
4 EXEMPLOS NUMÉRICOS 
 
EXEMPLO 1: Placa quadrada com apoios internos. 
 
 Será analisada, neste exemplo, uma placa quadrada submetida a um 
carregamento uniformemente distribuído em toda a área, sustentada apenas em quatro 
 12
apoios internos. Os resultados serão comparados com os obtidos pelo programa 
“SUPERSAP - Versão 7.52”. 
 
 A placa foi discretizada em 4 e 24 elementos de contorno para análise pelo MEC 
e em 9 e 225 elementos finitos para análise via “SUPERSAP”. As discretizações em 
elementos de contorno e em elementos finitos estão mostradas na Fig. 5. 
 
 
 
 
Fig. 5 - a) Discretização em 4 e 24 elementos de contorno. 
 b) Discretização em 9 e 225 elementos finitos (1/4 da placa). 
 
 
 O vão “a” é de 300 cm; a placa tem 10 cm de espessura, e a carga 
uniformemente distribuída, é de -5 kN/m2. O módulo de elasticidade longitudinal do 
material E=25.000 MPa e o coeficiente de Poisson ν=0,1667. 
 
 Os resultados dos deslocamentos e momentos fletores nos pontos mostrados na 
Fig. 5 estão apresentados respectivamente nas tabelas 1 e 2. 
 
 
 
 
 
 
 
 13
Tabela 1 - Deslocamento transversal “w” (cm) 
 
 
 
Ponto 
 
MEC - 4 el. Cont. 
 
 
MEC - 24 el. cont. 
 
SUPERSAP 
 4 apoios 
pontuais 
4 apoios 
em área 
4 apoios 
pontuais 
4 apoios 
em área 
9 
elementos 
225 
elementos 
1 -0,1519 -0,1504 -0,1348 -0,1334 -0,1417 -0,1354 
2 -0,0613 -0,0602 -0,0655 -0,0645 -0,0672 -0,0646 
4 +0,0089 +0,0095 +0,0092 +0,0098 +0,0107 +0,0098 
5 +0,0202 +0,0207 +0,0209 +0,0214 +0,0232 +0,0215 
 
Tabela 2 - Momentos fletores (kNxcm) 
 
 
 
PONTO 
 MEC 
4 elementos 
MEC 
24 elementos 
SUPERSAP 
9 elementos 
SUPERSAP 
225 el. 
 M1 M2 M1 M2 M1 M2 M1 M2 
 
 
 
3 
 
 
4 apoios 
pontuais 
 
 
 
-511,42 
 
 
-511,42 
 
 
-517,64 
 
 
-517,64 
 
 
 
 
-204,40 
 
 
 
 
-204,40 
 
 
 
 
-347,67 
 
 
 
 
-347,67 
 
 
 
 
4 apoios 
em área 
 
 
-341,94 
 
-341,94 
 
-348,13 
 
-348,13 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
4 
 
4 apoios 
pontuais 
 
 
-177,85 
 
-234,49 
 
-184,15 
 
-243,19 
 
 
 
-215,08 
 
 
 
-237,00 
 
 
 
-187,00 
 
 
 
-242,59 
 
 
 
 
4 apoios 
em área 
 
 
-179,24 
 
-232,37 
 
-185,52 
 
-241,04 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
5 
 
 
4 apoios 
pontuais 
 
 
 
-211,23 
 
 
-211,23 
 
 
-218,48 
 
 
-218,48 
 
 
 
 
-248,83 
 
 
 
 
-248,83 
 
 
 
 
-218,50 
 
 
 
 
-218,50 
 
 
 
 
4 apoios 
em área 
 
 
-210,89 
 
-210,89 
 
-218,11 
 
-218,11 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 Considerando-se a solução em elementos de contorno, foram considerados 4 
apoios pontuais ou 4 apoios distribuídos numa área de 20 x 20 cm2. Analisando-se a 
tabela 1, nota-se que os valores dos deslocamentos são bons, mesmo para uma 
discretização pobre, tanto em elementos de contorno como em elementos finitos. No 
cálculo dos momentos fletores, foi considerada a média dos quatro elementos finitos 
concorrentes no nó analisado. Os resultados obtidos com os elementos de contorno 
mostraram-se bastante satisfatórios, mesmo para uma discretização pobre de um 
elemento de contorno por lado da placa. 
 A discrepância observada no momento fletor do ponto 3 para o caso dos apoios 
pontuais se explica pela descontinuidade deste esforço para esta situação, pois sabe-se 
que o momento fletor tende para infinito nos pontos correspondentes a estes apoios. O 
valor tabelado neste caso representa o momento fletor para um ponto situado a uma 
distância muito pequena do apoio, neste caso igual a 1 cm. 
 14
 
 
EXEMPLO 2: Placa com 6 apoios internos 
 
 Neste exemplo, analisa-se uma placa retangular de 12x8 m2 apoiada em 6 apoios 
internos, conforme Fig. 6. 
 
 
 
 
 
Fig. 6 - Placa do Exemplo 2. 
 
 
 A placa tem uma espessura de 15 cm e está submetida a um carregamento 
uniformemente distribuído de -8 kN/m2; o coeficiente de Poisson é igual a 0,2 e o 
módulo de elasticidade longitudinal é igual a 25.000 MPa. As discretizações em 
elementos de contorno e em elementos finitos estão mostradas na Fig. 7. 
 
 
 15
 
 
Fig. 7 - a) Discretização em elementos de contorno 
 b) Discretização em elementos finitos 
 
 
Os deslocamentos verticais e os momentos fletores nos nós indicados na Fig. 7 
estão relacionados nas tabelas 3 e 4 respectivamente. 
 
Tabela 3 - Deslocamentos verticais para o Exemplo 4. 
 
 
 
PONTO 
 
w (cm) 
 
 MEC SUPERSAP 
1 +1,039 +1,015 
2 +0,789 +0,789 
3 +0,340 +0,344 
4 +0,795 +0,797 
5 +0,180 +0,180 
7 -0,429 -0,424 
9 -1,056 -1,044 
10 -1,184 -1,176 
11 -1,451 -1,444 
12 -1,272 -1,266 
13 -1,581 -1,568 
14 -1,672 -1,662 
15 -1,876 -1,868 
16 -1,789 -1,782 
 
 
 16
 
Tabela 4 - Momentos fletores para o Exemplo 4. 
 
 
 
PONTO 
 
M (kN/cm2) 
 
 MEC SUPERSAP 
 M1 M2 M1 M2 
6 -1892 -1644 -1494 -1279 
7 +1575 +587 +1560 +591 
8 -4877 -3338 -4035 -2556 
10 +216 +2371 +224 +2358 
11 +1275 +2198 +1272 +2193 
12 -487 +2474 -489 -2452 
14 +465 +3287 +477 +3268 
15 +1141 +3032 +1141 +3024 
16 +219 +3396 +216 +3383 
 
 
Analisando-se os valores das tabelas 3 e 4, nota-se que os deslocamentos são 
praticamente coincidentes, as diferenças apresentadas nos momentos fletores se referem 
apenas aos apoios. 
 
 
5 CONCLUSÕES 
 
A técnica apresentada utilizando o MEC para a análise de placas com apoios 
internos mostrou resultados bastante satisfatórios, quando comparados com os de outras 
técnicas numéricas. 
 
A análise dos dois exemplos mostrou que, mesmo desprezando as reações “M1” 
e “M2”, tomando-se “ Ixx Iyy= = 0 ”, é conveniente usar a segunda formulação, por 
menor que seja a área da interface placa-pilar.A tensão “σ(x)”, neste caso, é constante e 
igual à tensão média (σ(x)=Rw/s). Para a rigidez axial infinita a incógnita é a tensão 
“σ(x)”. Quando se considera a rigidez axial real do pilar, a incógnita será o 
deslocamento “w”. A reação distribuída uniformemente na área de interface conduz a 
resultados melhores, pois se evitam desta forma as singularidades que apareceriam no 
ponto de aplicação da reação, caso a mesma fosse considerada concentrada. 
 
 
REFERÊNCIAS BIBLIOGRÁFICAS 
 
[ 1 ] SILVA, N.A. Aplicação do método dos elementos de contorno à placas 
com enrijecedores utilizando a teoria de Reissner. São Carlos, 1996. 
Tese (Doutorado) - Escola de Engenharia de São Carlos, Universidade de 
São Paulo. 
 
 
 17
[ 2 ] PAIVA, J.B. Formulação do método dos elementos de contorno para a 
flexão de placas e suas aplicações em engenharia de estruturas. São 
Carlos, 1987. Tese (Doutorado) - Escola de Engenharia de São Carlos, 
Universidade de São Paulo. 
 
[ 3 ] WEEËN, F.V. Application of boundary integral equation method to 
Reissner’s plate model. Int. J. Num. Meth. Eng., v.18, n.1, p. 1-10, 1982.

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