Al determinar los índices de Miller de los planos cristalográficos que interactúan con los rayos X, es posible realizar análisis de difracción y de...

Al determinar los índices de Miller de los planos cristalográficos que interactúan con los rayos X, es posible realizar análisis de difracción y determinar la estructura atómica de un cristal. Esto es fundamental en la investigación de materiales, química y ciencias de los materiales. La difracción de rayos X permite obtener información sobre la disposición de los átomos en un cristal, lo que es crucial para comprender sus propiedades físicas y químicas. Además, este análisis también puede proporcionar información sobre la simetría cristalina y la orientación de los planos en el cristal.