O ensaio de difração de raios-X (DRX) é utilizado na caracterização de diversos tipos de materiais. Os dados são apresentados em um gráfico de int...

O ensaio de difração de raios-X (DRX) é utilizado na caracterização de diversos tipos de
materiais. Os dados são apresentados em um gráfico de intensidade dos Raios-X detectados em
função do ângulo do detector, formando picos característicos de cada material. Sobre esse ensaio, é
correto afirmar:

A análise de um material A, semicristalino, quando comparada a uma segunda análise do mesmo
material A, porém, cristalino, apresentará picos característicos com maior intensidade.
O espaçamento entre os picos corresponde a uma medida direta do espaçamento entre os átomos
na estrutura cristalina.
O ensaio pode ser utilizado na caracterização de um material amorfo, desde que este apresente
uma estrutura ordenada de longo alcance.
Através do referido ensaio, é possível caracterizar diversos tipos de materiais cristalinos e
semicristalinos.
A Somente a afirmativa I está correta.
B As afirmativas I e IV estão corretas.
C As afirmativas II e III estão corretas.
D As afirmativas I e II estão corretas.