Sobre a técnica de difração de raios X, analise as afirmativas a seguir: a) A técnica de difração de raios X é utilizada para determinar a estrutur...

Sobre a técnica de difração de raios X, analise as afirmativas a seguir:
a) A técnica de difração de raios X é utilizada para determinar a estrutura cristalina de materiais.
b) O espaçamento entre os picos corresponde a uma medida direta do espaçamento entre os átomos na estrutura cristalina.
c) A análise de um material A, semicristalino, quando comparada a uma segunda análise do mesmo material A, porém, cristalino, apresentará picos característicos com maior intensidade.
d) Através do referido ensaio, é possível caracterizar diversos tipos de materiais cristalinos e semicristalinos.

a) Apenas a afirmativa a está correta.
b) Apenas a afirmativa b está correta.
c) As afirmativas a, b e c estão corretas.
d) Todas as afirmativas estão corretas.

Ciência e Propriedade dos Materiais (epr24)

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Desafios para Aprender

19/01/2024

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Ciência e Propriedade dos Materiais (epr24) • Centro Universitário Leonardo da VinciCentro Universitário Leonardo da Vinci

Osmar F

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Ed

19.01.2024

A alternativa correta é a letra d) Todas as afirmativas estão corretas. A técnica de difração de raios X é amplamente utilizada para determinar a estrutura cristalina de materiais, e o espaçamento entre os picos corresponde a uma medida direta do espaçamento entre os átomos na estrutura cristalina. Além disso, a análise de um material semicristalino apresentará picos característicos com menor intensidade em comparação com um material cristalino, e através do referido ensaio é possível caracterizar diversos tipos de materiais cristalinos e semicristalinos.

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