microscopia para caracterização de materiais, analise as afirmativas a seguir: I- Na microscopia ótica, um feixe de elétrons é posicionado sobre a ...

Analisando as afirmativas: I- Na microscopia ótica, um feixe de elétrons é posicionado sobre a amostra, gerando uma imagem formada pelo conjunto de lentes objetivas e oculares. - Esta afirmativa está incorreta, pois na microscopia ótica, utiliza-se luz para formar a imagem, não elétrons. II- A principal limitação da técnica de microscopia eletrônica de varredura (MEV) é a baixa profundidade de foco. - Esta afirmativa está correta. A baixa profundidade de foco é uma limitação da técnica de MEV. III- Amostras para caracterização em microscópio eletrônico de varredura (MEV), diferentemente das amostras para microscopia ótica, não necessitam de uma elevada planicidade. - Esta afirmativa está incorreta. As amostras para MEV necessitam de elevada planicidade. IV- O microscópio ótico é um equipamento de alto custo, em função da necessidade de troca periódica de lentes devido ao desgaste. - Esta afirmativa está incorreta. O microscópio ótico não é de alto custo devido à troca periódica de lentes. Portanto, a alternativa correta é: c) Somente a afirmativa I está correta.