Respostas
Vamos analisar cada afirmação: I - MT e MFA são modalidades bastante recentes de MEV, usadas na determinação de características de estruturas cristalinas. Essa afirmação não está de acordo com o texto fornecido, que não menciona essas modalidades. Portanto, a afirmação I está incorreta. II - Os procedimentos de da microscopia ou metalógrafa, podem ser realizados sem preparar a amostragem. Essa afirmação está incorreta, pois os procedimentos de microscopia eletrônica de varredura (MEV) geralmente requerem preparação adequada da amostra. Portanto, a afirmação II está incorreta. III - No MEV, o feixe de elétrons não atravessa o objeto analisado. Essa afirmação está correta. No MEV, o feixe de elétrons não atravessa o objeto analisado, sendo utilizado para gerar imagens de superfície. Portanto, a afirmação III está correta. IV - No MEV, o feixe de elétrons atravessa o objeto analisado. Essa afirmação está incorreta, pois no MEV, o feixe de elétrons não atravessa o objeto analisado. Portanto, a afirmação IV está incorreta. Portanto, as afirmações corretas são II e III, apenas. A opção correta é a alternativa c.
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