Vamos analisar as alternativas apresentadas com base no VIM (Vocabulário Internacional de Metrologia): 1. O padrão de medição secundário é estabelecido com auxílio de um procedimento de medição primário ou criado como um artefato, escolhido por convenção. - Esta definição está correta, pois o padrão secundário é, de fato, derivado de um padrão primário. 2. O padrão de medição primário é estabelecido por intermédio de uma calibração com referência a um padrão de medição primário de uma grandeza da mesma natureza. - Esta definição é confusa, pois um padrão primário não é calibrado em relação a outro padrão primário; ele é a referência. 3. O padrão de medição de referência é estabelecido para a calibração de outros padrões de grandezas da mesma natureza, numa dada organização ou num dado local. - Esta definição é correta, pois o padrão de referência é utilizado para calibrações. 4. O padrão de medição de trabalho é utilizado pelo BIPM para calibrar ou controlar instrumentos de referência ou sistemas de medição. - Esta definição não é precisa, pois o padrão de trabalho é utilizado em laboratórios, mas não especificamente pelo BIPM. 5. O padrão de medição itinerante é o padrão de medição primário que se destina a ser transportado entre diferentes locais. - Esta definição não é correta, pois padrões primários não são tipicamente itinerantes. Com base na análise, as definições corretas são a primeira e a terceira. No entanto, se você precisa escolher apenas uma, a mais precisa e que se alinha diretamente com o conceito do VIM é a primeira: O padrão de medição secundário é estabelecido com auxílio de um procedimento de medição primário ou criado como um artefato, escolhido por convenção.