Baixe o app para aproveitar ainda mais
Prévia do material em texto
1 Medição e Incertezas Maria Luiza Possamai Moraes Universidade Federal de Santa Catarina Departamento das Engenharias Blumenau, Brasil Resumo—Este trabalho irá apresentar cálculos de incerteza expandida de uma grandeza encontrada na medição de defor- mação e do resultado de medição da temperatura utilizando um dispositivo Pt100. Também apresenta simulações em LTSpice e Python. Palavras-chaves—Metrologia, Medição, Incertezas, Deforma- ção, PT100. I. MEDIÇÃO DE DEFORMAÇÃO A primeira parte desse trabalho contém um circuito com quatro extensômetros (Figura 1) que é utilizado para medir deformação, onde todos os extensômetros apresentam as mes- mas características, ou seja, a variação de temperatura não afeta o valor de V0. Figura 1: Sistema de medição de deformação. Serão fabricados diversos circuitos seguindo o esquemático apresentado na Figura 1. Ainda, sobre esse circuito são apre- sentados os valores e as respectivas incertezas das grandezas do circuito: • Vin = (5,00 ± 0,025) V, com PDF uniforme. • Ri = R0i (1+Giei), com R0i = (120,00 ± 0,12)Ω e Gi = 2,10 ± 0,10 • Tração de e2 = e3 = 10−3 • Compressão de e1 = e4 = -10−3 • Todas as grandezas (R0i , Gi, Vin) são independentes e seguem uma PDF uniforme, ou seja, a incerteza padrão de cada grandeza é ug =Ug/ √ 3, com Ug representando a incerteza expandida da grandeza em questão. Para encontrar a incerteza expandida de V0, temos que lembrar que: V0 = V in( R2 R1 +R2 − R4 R3 +R4 ) (1) Ainda, deve ficar claro que a incerteza expandida de V0 é dada por: U(V 0) = tu(V 0) (2) onde t é o coeficiente de Student e u(V0) é a incerteza padrão de V0. Inicialmente é necessário que sejam calculados os valores dos resistores R1, R2, R3 e R4 que compõem o circuito da Figura 1. Para isso, temos: Ri = R0i(1 +Giei) (3) R2 = R3 = (120, 00± 0, 12)(1 + (2, 10± 0, 10)10−3) (4) R2 = R3 = (120, 252± 0, 000012) (5) Da mesma forma, encontrou-se R1 e R4: R1 = R4 = (120, 00±0, 12)(1+(2, 10±0, 10) ·−10−3) (6) R1 = R4 = (120, 9979± 0, 1199) (7) Assim, temos, substituindo os valores dos resistores na equação (1): V 0 = −0, 015459V (8) Sabendo que a incerteza padrão de R0i , Gi e Vin é dada por: ug = Ug√ 3 (9) Temos, portanto que: u(R0i) = 0, 12√ 3 = 0, 0693 (10) u(Gi) = 0, 10√ 3 = 0, 0577 (11) 2 u(V in) = 0, 025√ 3 = 0, 0144 (12) Como as incertezas medidas são independentes, temos que a incerteza padrão de V0 é dada por: u(V 0) = √ ( ∂V 0 ∂R0i u(R0i))2 + ( ∂V 0 ∂Gi u(Gi))2 + ( ∂V 0 ∂V in u(V in))2 (13) onde: ∂V 0 ∂R0i = 0 (14) ∂V 0 ∂Gi = 0 (15) ∂V 0 ∂V in = R2 R1 +R2 − R4 R3 +R4 = −0, 0030918 (16) Sendo assim: u(V 0) = 0, 0000445 (17) Agora, considerando um número infinito de amostras, temos que o coeficiente de Student é t = 2, assim, temos: U(V 0) = tu(V 0) = 2 · 0, 0000445 = 0, 0000890 (18) Portanto, temos por fim: V 0 = (−0, 015459± 0, 000089) (19) Desenvolveu-se uma simulação de Monte Carlo com 1000 realizações utilizando o software LTSpice (Figura 2) como meio de comprovação da incerteza expandida de V0. A simulação obtida pode ser vista na Figura 3. Figura 2: Circuito desenvolvido para Simulação. Figura 3: Simulação obtida. Nota-se que os valores obtidos para V0 a partir da simulação não estão dentro da faixa de incerteza expandida calculada para a tensão V0. Isso pode ter ocorrido por erros de cálculos e/ou erros no momento da simulação. Apesar disso, ainda, desenvolveu-se um histograma dos valores de V0 - V0nominal para visualizar da melhor forma o resultado via simulação da incerteza expandida de V0. Para isso, utilizou-se o software Spyder e a biblioteca Pandas. O resultado pode ser visto na Figura 4: Figura 4: Histograma de V0 - V0nominal Nota-se a partir do histograma que a maioria dos valores es- tão fora da área de incerteza expandida calculada teoricamente. Entende-se que não foram encontrados os resultados esperados e isso pode ser explicado conforme dito anteriormente por erros de cálculos ou problemas com a simulação. II. MEDIÇÃO COM PT100 Nessa parte do trabalho é considerado um circuito com PT100 de 4 fios, que é usado para obter a temperatura de um processo ao longo de 60 minutos. O circuito usado na medição é apresentado na Figura 5. Figura 5: Medição de temperatura com Pt100. O objetivo aqui é determinar o resultado da medição da temperatura do processo. Para isso, são feitas algumas consi- derações: • valor da fonte de corrente é I = (1 ± 0,05) mA, com PDF gaussiana; • Para a faixa de temperatura em questão, pode-se assumir que RT = R0(1 + αT)Ω, onde T representa a temperatura em ◦C; • R0 = (100 ± 0)Ω e α = (3,85 ± 0)·10−3 ºC−1 3 • Foram obtidas 60 medidas de V0 (uma medida por minuto), as quais são apresentadas em anexo no arquivo tensao_pt100.csv; • A resolução do voltímetro é 0,2% do VFE (valor de fundo de escala), sendo que a faixa de medição do voltímetro é ± 1 V; • A temperatura do processo varia ao longo das medições (mensurando variável); Utilizando o software Spyder em conjunto com a biblioteca Pandas, foi obtido, inicialmente os valores médios e a incerteza padrão (código em anexo), respectivamente: I = V 0med = 0, 1309V (20) σ = 0, 0022 (21) Para encontar o o resultado da medição (RM) da tempera- tura do processo, antes é preciso que seja obtido o resultado de base (RB) e a incerteza de medição (IM). Para o esquemático apresentado na Figura X, V0 é dado pela Lei de Ohm: V 0 = RT · I (22) Sabendo que RT foi especifcado nas considerações, tem-se: V 0 = R0(1 + αT ) · I (23) Reorganizando os termos: T = V 0−R0I R0Iα (24) Com a equação (5), basta agora que sejam substituídos os valores nominais, de acordo com o código anexado, obtendo dessa forma: T = 80, 2734 (25) A incerteza combinada para esse caso é dada por: u(V 0) = √ u(I)2 + u(Vvolt) 2 (26) onde u(I) é a repetibilidade do sistema e u(Vvolt) é a incerteza padrão do voltímetro, que por sua vez é dada por: u(Vvolt) = R/2√ 3 = 0, 00058 (27) Assim, a incerteza combinada de V0 é dada por: u(V 0) = 0, 00229 (28) Verifica-se que as incertezas medidas são independentes, então, pode-se calcular a incerteza de V0 da seguinte forma: u(T ) = √ ( ∂T ∂V0 u(V0))2 + ( ∂T ∂I u(I))2 (29) onde: ∂T ∂V0 = 1 R0Iα = 2597, 4026 (30) ∂T ∂I = −V0 R0I2α = −340013, 6585 (31) A incerteza padrão da corrente é dada por uma PDF gaussiana e, portanto, é dada por: u(I) = 0, 05 · 10−3 2 = 2, 5 · 10−5 (32) Dessa forma, tem-se que a incerteza padrão de T é: u(T ) = 10, 369429 (33) É necessário, nesse momento encontrar o grau de liberdade eficaz, para portanto, verificar a incerteza expandida. Como V0 e I possuem dimensões diferentes, é necessário que os valores são corrigidos para valores adimensionais da seguinte forma: uR(V0) = u(V0) V0 = 0, 017466 (34) uR(I) = u(I) I = 0, 025 (35) Assim, com os valores adimensionais definidos, a equação para obter o grau de liberdade eficaz é dada por: uR(T ) 4 uef = uR(V0) 4 uV0 + uR(I) 4 uI (36) A partir da equação (17), obtem-se um grau de liberdade infinito e portanto, pode-se considerar que a constante de Student será t = 2. Assim, a incerteza expandida é dada por: U(T ) = tu(T ) = 2 · 10, 37 = 20, 74 (37) Portanto, o resultado de medição da temperatura do processo é: T = (80± 21) (38) Percebe-se que a incerteza expandida da segunda parte desse trabalho é bem maior que o encontrado na primeira parte, já que as incertezas padrão também são. Isso deve ocorrer por conta da própria característica da equação da temperatura, que ao ser derivada parcialmente resulta em valores altos.
Compartilhar