Aula 8

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Introdução à 
Nanotecnologia
ELE1060 – Introdução a Nanotecnologia – 2010/01 PUC-Rio
Ele 1060
Aula 8
2010 - 01
Microscopia de Ponta 
de Prova - 2
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de Prova - 2
Microscopia de Força 
Magnética
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MFM
História
• Inventado em 1987.
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–Variação do AFM
Informações Gerais
• Usado para o estudo de fenômenos e 
materiais magnéticos;
• Ponteira utilizada é magnética;
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• Ponteira utilizada é magnética;
• Importante para a indústria de mídias de 
armazenamento.
Informações Gerais
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Princípio de Funcionamento
• Medições em 2 passos
– 1º: Topografia – AFM tradicional
• Forças de Van der Waals predominam
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• Forças de Van der Waals predominam
– 2º: Magnética – Ponteira com magnetismo
• Distância maior entre a ponta e a amostra
– Forças magnéticas predominam.
Princípio de Funcionamento
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Princípio de Funcionamento
• Ponta magnética pode causar alterações na amostra.
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Princípio de Funcionamento
Resolução
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Princípio de Funcionamento
MFM de Alta Freqüência
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Princípio de Funcionamento
Dissipação Magnética
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Aplicações
Mapeamento de Sensores Magnetoresistivos
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Aplicações
Mídia Magnética
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Aplicações
Detecção de Defeitos
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Aplicações
Escrita Magnética
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Microscopia de Força 
Eletrostática
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EFM
Informações Gerais
• Usado para caracterizar propriedades
elétricas;
• Similar ao MFM;
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• Similar ao MFM;
• Aplicações:
– Análise de falhas em nano e microestruturas;
–Mídia de armazenamento ferroelétrico;
– Esudo de efeitos quânticos em nanoeletrônica.
Princípio de Funcionamento
• Medições em 2 passos
– 1º: Topografia – AFM tradicional
• Forças de Van der Waals predominam
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• Forças de Van der Waals predominam
– 2º: Magnética – Ponteira eletrostática
• Atração diminui oscilação;
• Repulsão aumenta oscilação.
Princípio de Funcionamento
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Aplicações
Análise de Defeitos
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Aplicações
Tunelamento de Único Elétron
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Aplicações
Escrita em Materiais Ferroelétricos
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Trabalho 2
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Trabalho 2
Trabalho 2
• Grupos de até 4 pessoas.
• Construção de esquemático de um microscópio.
– MET;
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– MET;
– MEV;
– AFM;
– STM;
– MFM
– EFM.