Questões resolvidas
Não é uma aplicação típica do MET.
A. Análise de defeitos de empilhamento.
B. Observação de análise de precipitados.
C. Observação de discordâncias.
D. Análise de defeitos e fases internas dos materiais.
E. Separação de componentes gasosos.
A fonte de elétrons de um MEV é chamada de:
A. Canhão eletrônico.
B. Câmara da Amostra.
C. Coluna Óptico-Eletrônica.
D. Detectores.
E. Detector de elétrons retroespalhados.
Assinale a alternativa incorreta a respeito dos parâmetros que influenciam na resolução de imagens do MEV.
A. Tensão de aceleração dos elétrons é um influenciador na geração de imagens de um MEV.
B. Corrente da sonda é um influenciador na geração de imagens de um MEV.
C. Distância de trabalho é um influenciador na geração de imagens de um MEV.
D. Quanto menor a distância de trabalho, melhor será a resolução do equipamento.
E. Quanto maior a distância de trabalho, melhor será a resolução do equipamento.
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Microscopia Eletrônica 1. Assinale a alternativa incorreta com relação ao preparo de amostras do Microscópio Eletrônico de Transmissão: Resposta incorreta. A. As amostras utilizadas em MET devem apresentar espessura de 500 a 5000 angstron. Resposta incorreta. B. A superfície deve ser polida e limpa de ambos lados. Você não acertou! C. A amostra não deve sofrer deformação plástica. Resposta incorreta. D. A amostra não deve sofrer transformação martensítica. Resposta correta. E. Durante a preparação, a amostra deve sofrer deformação plástica. Durante a preparação, a amostra não deve ser alterada. 2. Não é uma aplicação típica do MET. Resposta incorreta. A. Análise de defeitos de empilhamento. Resposta incorreta. B. Observação de análise de precipitados. Resposta incorreta. C. Observação de discordâncias. Resposta incorreta. D. Análise de defeitos e fases internas dos materiais. Você acertou! E. Separação de componentes gasosos. Esta é a técnica de cromatografia gasosa. 3. A fonte de elétrons de um MEV é chamada de: Resposta correta. A. Canhão eletrônico. Que é composto basicamente por filamento de tungstênio (W) ou de hexaboreto de lantânio (LaB6) + cátodo (cilindro de Wehnelt) + ânodo. Resposta incorreta. B. Câmara da Amostra. Resposta incorreta. C. Coluna Óptico-Eletrônica. Resposta incorreta. D. Detectores. Você não acertou! E. Detector de elétrons retroespalhados. 4. Assinale a alternativa incorreta a respeito dos parâmetros que influenciam na resolução de imagens do MEV. Você não acertou! A. Tensão de aceleração dos elétrons é um influenciador na geração de imagens de um MEV. Resposta incorreta. B. Corrente da sonda é um influenciador na geração de imagens de um MEV. Resposta incorreta. C. Distância de trabalho é um influenciador na geração de imagens de um MEV. Resposta incorreta. D. Quanto menor a distância de trabalho, melhor será a resolução do equipamento. Resposta correta. E. Quanto maior a distância de trabalho, melhor será a resolução do equipamento. A distância de trabalho é um fator importante na resolução de imagens do MEV, portanto menor a distância de trabalho, melhor será a resolução do equipamento 5. Assinale a alternativa incorreta a respeito do conteúdo que aprendemos nesta aula: Resposta correta. A. A Microscopia Eletrônica utiliza radiação de ondas luminosas. Esta é a Microscopia Óptica. Resposta incorreta. B. A Microscopia Eletrônica utiliza um feixe de elétrons como fonte de radiação. Resposta incorreta. C. O MET é muito utilizado no estudo de materiais biológicos. Resposta incorreta. D. O MEV é uma técnica de microscopia ideal para estudar a topografia de superfície de objetos sólidos. Você não acertou! E. O MET nos permite estudar defeitos e fases internas dos materiais.
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