Roteiro DRX

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<p>Atividade DRX (peso de Relatório) ESTO006-17SB Materiais e suas Propriedades</p><p>Os objetivos desta atividade são:</p><p>✓ Compreender os princípios envolvidos na análise de difração de raios X para a identificação dos materiais</p><p>de engenharia com base em sua estrutura cristalina;</p><p>✓ Analisar um difratograma de raios X;</p><p>✓ Compreender o princípio de funcionamento de um difratômetro de raios X;</p><p>✓ Aplicar os conceitos da análise de difração de raios X.</p><p>Após exercício-exemplo da montagem e interpretação de um difratograma de raios X e consulta dos</p><p>materiais disponibilizados no Moodle (semana 3), execute as atividades abaixo:</p><p>1- Cada grupo irá receber um arquivo de planilha Excel contendo dados de um padrão de difração de raios</p><p>X de um metal com estrutura cúbica (intensidade em função do ângulo de difração, 2). Com estes</p><p>dados, cada grupo deve:</p><p>i) Plotar o difratograma em uma planilha Excel ou Origin (Intensidade versus 2);</p><p>ii) Determinar o ângulo 2 e a intensidade relativa de cada pico de difração (normalizar pelo pico mais</p><p>intenso);</p><p>iii) Calcular o valor de espaçamento interplanar, d(hkl), de cada pico de difração;</p><p>iv) Determinar o tipo de estrutura cúbica (simples, corpo centrado ou face centrada); Dica: calcular os</p><p>valores de sen2 e dividir pelo conjunto de sequência de soma S = h2 + k2 + l2 de cada tipo de estrutura</p><p>cúbica e verificar aquela em que a razão sen2/S é constante;</p><p>v) Determinar qual(is) plano(s) cristalino(s) [usando a notação de índices de Miller (hkl)]</p><p>corresponde(m) cada pico de difração;</p><p>vi) Indexar o difratograma (indicar no difratograma o plano correspondente a cada pico);</p><p>vii) Determinar o parâmetro de rede da estrutura;</p><p>viii) Determinar o tipo de metal (procure dados do R atômico, em literatura);</p><p>ix) Calcular os ângulos 2 dos picos de difração esperados usando uma radiação X incidente diferente</p><p>da que gerou os dados originais (a escolher); Dica: usar os valores de espaçamento interplanar, d(hkl),</p><p>determinados no item iii e a Lei de Bragg;</p><p>x) Analisar as diferenças entre os ângulos 2 dos picos de difração usando as duas radiações.</p><p>Sugestões: - Descrever a sequência de cálculos na metodologia;</p><p>- Apresentar os resultados na forma de tabela(s) como desenvolvido em aula;</p><p>- Importar o gráfico (difratograma) para o arquivo de texto;</p><p>- Não se esquecer de descrever (explicar) no texto todas as passagens para compreensão dos</p><p>resultados apresentados.</p><p>2- Responda às seguintes questões, relacionadas à obtenção de difratogramas para identificação</p><p>qualitativa e quantitativa de fases em materiais cristalinos:</p><p>a) Como são gerados os raios X?</p><p>b) Qual é o nível de tensão usualmente utilizado nas medidas?</p><p>c) Quais são os principais tipos de fontes utilizados em análise por difração de raios X?</p><p>Atividade DRX (peso de Relatório) ESTO006-17SB Materiais e suas Propriedades</p><p>d) Quais são os comprimentos de onda típicos das fontes citadas no item (c)?</p><p>e) Como é feita a preparação de amostras para as medidas de difração de raios X?</p><p>f) Quais são os principais componentes de um difratômetro de raios X?</p><p>g) Descreva o funcionamento de um difratômetro de raios X</p><p>3- Cada grupo deverá pesquisar sobre aplicações da difração de raios X relacionados a materiais</p><p>empregados na área de atuação que seus integrantes pretendem seguir na UFABC. Na resposta indique</p><p>cada área de atuação pretendida e relacione a aplicação da análise de DRX pesquisada pelo grupo.</p><p>OBS: não esqueçam de citar todas as referências consultadas!</p>