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Clique para editar o estilo do título mestre Clique para editar o estilo do subtítulo mestre * * * CAPÍTULO 4b EXAME FÍSICO DE METAIS E LIGAS * * * METALOGRAFIA Microscópio óptico(amostras até 1000X) iluminador(para iluminar a superfície); objetiva(para resolver a abertura); e ocular(para aumentar a imagem formada pela objetiva). Finalidades: arranjo e tamanho de grãos; distribuição de fases; resultados de deformação plástica; existência de impurezas e trincas; e porosidade * * * METALOGRAFIA A preparação das amostras é realizada por corte metalográfico, embutimento em resina termorrígida(baquelite, resina fenólica) ou em resina termoplástica, lixamento, polimento e, quando necessário, tratamento térmico ou ataque químico. * * * * * * METALOGRAFIA Influência da temperatura Microscópio com câmara quente; Emprego de vácuo/atmosfera inerte. Microscópio com contraste de fases (precipitação, deformação, maclas) Microscopia com luz polarizada (deformação, maclas, subgrãos) * * * DIFRAÇÃO DE RX / NÊUTRONS A difração de RX é um fenômeno observado quando fótons de raios X são espalhados coerentemente, ou seja, em fase e com a mesma energia, segundo a lei de Bragg. Os raios X são espalhados em todas as direções, mas existe uma direção em que o feixe incidente e o feixe difratado estão defasados de um número inteiro de comprimento de onda. A lei de Bragg descreve a condição geométrica para que haja difração do raio X incidente: nλ = 2.d.senΘ * * * DIFRAÇÃO DE RX / NÊUTRONS Observação de: parâmetros de rede; tipos de estrutura; arranjos de átomos no cristal; imperfeições; orientação, subgrãos e tamanho de grão; tamanho e densidade de precipitados; estado de distorção da rede. * * * DIFRAÇÃO DE RX / NÊUTRONS Deformação: aumento da variação do espaçamento interplanar Δa para um intervalo Δ Técnicas: método do pó; observação direta de RX; rede recíproca e esfera de difração de Ewald; topografia de RX. * * * DIFRAÇÃO – LEI DE BRAGG * * * DIFRAÇÃO – LEI DE BRAGG A difração ocorre quando a onda encontra uma série de obstáculos regularmente separados que : são capazes de dispersar a onda; possuem espaçamentos comparáveis em magnitude ao comprimento de onda. A difração é uma conseqüência de relações de fases específicas estabelecidas entre duas ou mais ondas,que foram dispersas pelos obstáculos. * * * DIFRAÇÃO – LEI DE BRAGG Feixe coerente( em fase) monocromático(colimado) paralelo Interferência construtiva Planos com mesmos índices h k l n.λ = 2dhkl..senΘ sendo dhkl = a/[ h2 + k2 + l2 ]1/2 * * * DIFRAÇÃO – LEI DE BRAGG * * * DIFRAÇÃO – LEI DE BRAGG * * * DIFRAÇÃO – LEI DE BRAGG * * * DIFRAÇÃO – LEI DE BRAGG * * * DIFRAÇÃO – LEI DE BRAGG * * * EXEMPLO Para o ferro com estrutura cristalina C.C.C., calcule: a) o espaçamento interplanar; b) o ângulo de difração para o conjunto de planos ( 2 2 0 ). Parâmetro de rede para o ferro = 0,2866 nm Radiação monocromática λ = 0,1790 nm Ordem de reflexão = 1 * * * SOLUÇÃO DO EXEMPLO Espaçamento interplanar dhkl = a / [ h2 + k2 + l2 ] dhkl = 0,2866 nm / [ 22 + 22 + 0 ] dhkl = 0,1013 nm * * * SOLUÇÃO DO EXEMPLO Valor do ângulo Θ n.λ = 2.d.senΘ senΘ = n.λ / 2.dhkl senΘ = (1).(0,1790 nm) / (2.0,1013 nm) Θ = 62,13° ou 2Θ = 124,26° * * * DIFRAÇÃO – LEI DE BRAGG William Henry Bragg(1862-1942) – Nobel em 1915, juntamente com seu filho William Lawrence Bragg(1890-1971), aos 25 anos, pelos trabalhos relativos a difração de R X e estrutura cristalina. * * * Microscopia eletrônica Microscopia eletrônica de transmissão - MET Transmission electron microscopy -TEM limitada a espessuras de 50-500 μm; possibilidade de observação de pequenos detalhes morfológicos, de padrões de difração provenientes da estrutura cristalina dos materiais e da análise de defeitos internos; * * * Microscopia eletrônica Microscopia eletrônica de varredura - MEV Scanning electron microscopy (SEM) estudo superficial; informações sobre o número atômico; informações químicas em áreas micrométricas; * * * * * * Microscopia eletrônica Microscopia eletrônica de alta voltagem(MEAV) High-voltage electron microscopy (HVEM) Microscopia eletrônica de transmissão varredura (METV) Scanning transmission electron microscopy (STEM) * * * MICROANÁLISE Espectroscopia por energia dispersiva(EDS) Espalhamento inelástico Espectroscopia Auger Espectroscopia por comprimento de onda dispersivo(WDX) * * * MICROANÁLISE Espectroscopia por energia dispersiva (EDS): utiliza um detetor de silício dopado com lítio. Os fótons de energia correspondentes a todo o espectro de R X atingem o detetor e o sinal recebido é processado com a análise de todos os comprimentos de onda, simultaneamente. O limite de deteção é de 2000 a 5000 ppm. O tempo de análise varia de 30 segundos a 5 minutos. * * * PROPRIEDADES MECÂNICAS Teste de tração - convencional - real Propriedades que podem ser obtidas módulo de elasticidade resiliência tenacidade coeficiente de Poisson limite de proporcionalidade/elasticidade tensão máxima/tensão de fratura tenacidade/resiliência * * * PROPRIEDADES MECÂNICAS Valores reais : σr = k.εrn n = coeficiente de encruamento k = coeficiente de resistência Instabilidade plástica [dF = 0 ] F = σ.S Volume constante [dV = 0 ] * * * PROPRIEDADES MECÂNICAS dF = S.dσ + σ.dS = 0 dσ/σ = - dS/S dV = constante [ dV = 0 ] dV = d[L.S] = S.dL + L.dS = 0 dL/L = - dS/S Logo : dσ/σ = dL/L = - dS/S * * * PROPRIEDADES MECÂNICAS Alternativamente : σr = k.εrn = dσ/dεr = n.k.εn-1 Logo : k.εr = n.k. εn-1 εr = n O coeficiente de encruamento é igual à deformação no ponto de carga máxima. * * * PROPRIEDADES MECÂNICAS Testes de dureza Brinell Vickers Rockwell Testes de impacto Charpy transição Izod dúctil-frágil Fluência / Fadiga / Fratura * * * * * * PROPRIEDADES FÍSICAS Massa específica (1/ρ=volume específico) Determinação da massa específica (R X) * * * PROPRIEDADES TÉRMICAS, ELÉTRICAS E MAGNÉTICAS Dilatometria / Calor específico Metais – dilatação na fusão ( ~ 3% ) Exceções : bismuto, antimônio, gálio. Calor específico: dQ = Cp.dT Condutividade elétrica: R = ρ.ℓ/A * * * PROPRIEDADES TÉRMICAS, ELÉTRICAS E MAGNÉTICAS Campo induzido : B = H + 4.I em que I = intensidade de magnetização; H = campo magnético Susceptibilidade magnética : K = I / H K < 0 : materiais diamagnéticos (Cu, Ag, Bi) K > 0 : atraídos pelo campo magnético K >> ferromagnéticos K > paramagnéticos Ferromagnéticos à temperatura ambiente : Fe, Co, Ni, Gd.
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