Atividade de ICMAT - Aula 5 1

Prévia do material em texto

ATIVIDADE DE ICMAT – AULA 5 
 
Aluno: Lucas Garcia Silveira – 10717929 Turma: P6 
 
Técnicas de microscopia utilizadas no estudo das estruturas dos materiais 
Existem quatro técnicas de microscopia para observar as estruturas dos 
materiais: microscopia óptica (MO), microscopia eletrônica de varredura (MEV), 
microscopia eletrônica de transmissão (MET) e, em menor escala, microscopia 
de campo iônico (MCI). (PADILHA, [20--]) 
 
→ Microscopia Óptica (MO) 
Nos microscópios ópticos a observação de amostras em grandezas 
moderadas (40 a 1000x) é feita em seções polidas (reflexão de luz) e em seções 
delgadas (transmissão de luz). Logo, há a incidência de um feixe de fótons (LCT 
POLI USP) 
De acordo com Padilha ([20--]), além de ser uma técnica de simples 
utilização, rápida e pouco dispendiosa, possibilita que a análise de grandes áreas 
seja realizada mais rapidamente. 
 
→ Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV) 
Diferentemente do microscópio óptico, este em questão utiliza um feixe de 
elétrons, os quais, por possuírem cargas, são focalizados por campos 
eletrostáticos ou eletromagnéticos e, assim, capazes de formar imagens de alta 
resolução. Como resultado, os aparelhos modernos apresentam aumentos de 
300 mil vezes ou mais. (DEDAVID et al., 2007) 
 
→ Microscopia Eletrônica de Transmissão (MET) 
Neste microscópio, há a incidência de um feixe de elétrons e um conjunto de 
lentes eletromagnéticas que controlam o feixe. A partir disso, quando os elétrons 
atingem um anteparo, é gerada uma imagem bidimensional 300 mil vezes 
aumentada. (PADILHA, [20--]) 
Ainda de acordo com Padilha ([20--]), “a microscopia eletrônica de 
transmissão permite a análise de defeitos e fases internas dos materiais, como 
discordâncias, defeitos de empilhamento e pequenas partículas de segunda 
fase” 
 
→ Microscopia de Campo Iônico (MCI) 
Trata-se de uma técnica cujo microscópio é usado para criar imagens dos 
arranjos de átomos na superfície de uma ponta afiada de metal. 
Segundo Padilha ([20--]), esse microscópio favorece a observação de 
defeitos puntiformes, aglomerados de átomos de soluto ("cluster") e análise da 
"estrutura" de contornos e de interfaces, estudos difíceis de serem realizados 
com as outras técnicas. 
 
Imagens de microscopia que evidenciam a presença de defeitos lineares 
 
Figura 1 – Discordância em hélice superfície de um monocristal de SiC. 
(as linhas escuras são degraus de escorregamento superficiais) 
 
 
Figura 2 – Discordância em Cunha vista através de um MET 
 
 
Imagens de microscopia que evidenciam a presença de defeitos planos 
 
Figura 3 – Grãos vistos através de um Microscópio Óptico 
 
 
 
Figura 4 – Cristais gêmeos 
 
 
 
 
 
 
REFERÊNCIAS 
PADILHA, Angelo Fernando. Microscopia Eletrônica de Transmissão. [20--]. 
Disponível em: 
https://www2.sorocaba.unesp.br/professor/jrborto/2008S2/POSMAT/MET_note
s.pdf. Acesso em: 08 abr. 2020. 
Microscopia óptica. Elaborado pelo Laboratório de Caracterização da POLI 
USP. Disponível em: http://novo.more.ufsc.br/homepage/inserir_homepage. 
Acesso em: 08 abr. 2020. 
 
DEDAVID, Berenice Anina et al. MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE 
VARREDURA: aplicações e preparação de amostras aplicações e preparação 
de amostras. Porto Alegre: Edipucrs, 2007. 60 p. Disponível em: 
http://www.pucrs.br/edipucrs/online/microscopia.pdf. Acesso em: 08 abr. 2020. 
 
*As imagens foram retiradas de: 
https://edisciplinas.usp.br/pluginfile.php/178912/mod_resource/content/1/Aula%
205%20Defeitos%20em%20Materiais.pdf 
https://edisciplinas.usp.br/pluginfile.php/178912/mod_resource/content/1/Aula%205%20Defeitos%20em%20Materiais.pdf
https://edisciplinas.usp.br/pluginfile.php/178912/mod_resource/content/1/Aula%205%20Defeitos%20em%20Materiais.pdf