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1Durante o ensaio de tração, os materiais apresentam, até uma determinada magnitude de tensão aplicada, um comportamento elástico. Sobre essa etapa do ensaio, classifique V para as sentenças verdadeiras e F para as falsas: ( ) Nessa etapa do ensaio de tração, o módulo de elasticidade (E) varia de acordo com a tensão aplicada a uma taxa de 0,002. ( ) Nessa etapa do ensaio, a relação entre a tensão aplicada e a deformação gerada no corpo de prova é constante. ( ) O módulo de elasticidade (E) corresponde à inclinação da curva tensão vs. deformação no campo elástico. ( ) Nessa etapa do ensaio, o corpo de prova sofre estricção, que consiste em uma deformação localizada. Agora, assinale a alternativa que apresenta a sequência CORRETA: A V - F - V - V. B F - V - V - F. C V - V - F - F. D F - F - F - V. 2Um das principais técnicas de caracterização dos materiais é a microscopia. Dentro dessa técnica, existem diferentes métodos e equipamentos disponíveis. Cada técnica apresenta vantagens e desvantagens, e deve ser selecionada de acordo com objetivo da caracterização. Com relação às técnica de microscopia para caracterização de materiais, analise as afirmativas a seguir: I- Na microscopia ótica, um feixe de elétrons é posicionado sobre a amostra, gerando uma imagem formada pelo conjunto de lentes objetivas e oculares. II- A principal limitação da técnica de microscopia ótica é a baixa profundidade de foco. III- Amostras para caracterização em microscópio eletrônico de varredura (MEV) devem apresentar elevada planicidade. IV- O microscópio ótico é um equipamento de alto custo, em função da necessidade de troca periódica de lentes devido ao desgaste. Assinale a alternativa CORRETA: A As afirmativas I, II e III estão corretas. B As afirmativas I e IV estão corretas. C Somente a afirmativa II está correta. D As afirmativas I e II estão corretas. 3As propriedades elétricas dos materiais estão diretamente relacionadas com a mobilidade dos elétrons. Em termos das características de condução de energia elétrica, os materiais podem ser classificados como condutores, isolantes, semicondutores ou supercondutores. Sobre as propriedades elétricas dos materiais, classifique V para as sentenças verdadeiras e F para as falsas: ( ) Um material semicondutor apresenta espaçamento entre a banda de valência e a banda de condução menor do que o de um material isolante. ( ) De forma geral, cerâmicas e polímeros tendem a apresentar um comportamento isolante de energia elétrica. ( ) O vidro de sílica (SiO2) possui propriedades elétricas interessantes, sendo bastante aplicado em semicondutores, em substituição ao silício (Si). ( ) O alumínio (Al) pode ser considerado um semicondutor quando aplicamos uma diferença de potencial entre 50V e 100V. Agora, assinale a alternativa que apresenta a sequência CORRETA: A F - V - V - V. B V - V - F - F. C V - F - F - V. D F - F - V - F. 4Nos Lasers (Light Amplification by Stimulated Emission of Radiation), as transições eletrônicas são geradas por um estímulo externo. Em um laser de rubi, por exemplo, elétrons do Cr(3+) são excitados até um nível mais alto por fótons emitidos por uma lâmpada de Xenônio. O feixe do Laser emitido é composto por: A Elétrons. B Prótons. C Fótons. D Raios Gama. 5As forças magnéticas nos átomos têm sua origem nos dipolos magnéticos, que são análogos aos dipolos elétricos. Sobre as propriedades magnéticas dos materiais, classifique V para as sentenças verdadeiras e F para as falsas: ( ) Os dipolos magnéticos são originados nos movimentos orbital e de spin dos elétrons. ( ) Nos átomos em que as camadas eletrônicas estão completamente preenchidas, o momento de dipolo magnético é nulo. ( ) Quando aplicamos um campo magnético externo (H), o movimento orbital dos elétrons é alterado, o que gera um campo magnético (B) no material. ( ) Em materiais diamagnéticos, a aplicação de um campo magnético externo não tem efeito sobre o movimento orbital dos elétrons, sendo utilizado para isolar campos magnéticos. Agora, assinale a alternativa que apresenta a sequência CORRETA: A V - V - V - F. B F - F - V - V. C F - V - F - F. D V - F - F - V. 6Através do ensaio de difração de Raios-X é possível determinar aspectos relacionados à cristalinidade do material. Sobre esse ensaio, analise as sentenças a seguir: I- No difratômetro de Raios-X, o resultado da análise é apresentado em um filme especial, semelhante ao apresentado em Raios-X na área da medicina. Nesse filme, a estrutura atômica pode ser observada de forma direta. II- Nesse método de ensaio, as interferências construtivas geradas pela interação dos Raios-X primários com os átomos da amostra são analisadas. Dessa forma, podem-se obter informações importantes, como o parâmetro de rede. III- As interferências construtivas são apresentadas como picos no gráfico resultante do ensaio, sendo esses picos característicos de cada material. IV- Através do ensaio de difração de Raios-X é possível avaliar e diferenciar um vidro comum de um vidro de chumbo, ambos os materiais amorfos, devido à interação dos raios-X primários com os íons de chumbo gerarem interferências construtivas. Agora, assinale a alternativa CORRETA: A Somente a sentença I está correta. B As sentenças II e III estão corretas. C As sentenças I, II e III estão corretas. D As sentenças I, II e IV estão corretas. 7Várias características dos materiais estão relacionadas com os tipos de átomos, assim como os tipos de ligações químicas envolvidas. A presença ou ausência de elétrons livres também é dependente do tipo de ligação. Com relação às propriedades térmicas dos materiais, analise as seguintes sentenças: I- As propriedades térmicas dos materiais dependem fundamentalmente do número de coordenação e parâmetro de rede dos materiais. II- As propriedades térmicas se relacionam fortemente com a presença ou ausência de elétrons livres. III- A condução de calor, assim como a condução de eletricidade em um material, dá-se exclusivamente pelo movimento de elétrons livres. IV- Os fônons contribuem para a condução de calor no material. Estes são relacionados às vibrações do retículo cristalino. Agora, assinale a alternativa CORRETA: A As sentenças I e III estão corretas. B As sentenças I e II estão corretas. C As sentenças II e IV estão corretas. D As sentenças II, III e IV estão corretas. 8Os materiais metálicos são, de maneira geral, bons condutores de eletricidade. Conforme estudamos, essa característica está fortemente relacionada com as ligações metálicas, com a presença de elétrons livres. Quando aumentamos a temperatura de um material metálico, ocorre um incremento no movimento de vibração dos átomos. Nesse contexto, é correto afirmar que o movimento de vibração dos átomos: A Promove o decaimento dos elétrons livres, que se fundem com o núcleo positivo, o que diminui a condutividade elétrica líquida. B Promove um maior espalhamento dos elétrons livres, o que diminui a condutividade elétrica líquida. C Gera uma maior quantidade de elétrons livres, o que aumenta a condutividade elétrica líquida. D "Expulsa" elétrons das camadas internas, o que aumenta a condutividade elétrica líquida. 9A análise química de materiais por espectrometria ótica fornece informações importantes para a caracterização e para o controle da qualidade de produtos metálicos, sendo, em alguns casos, indispensável. Com qual dos métodos de caracterização de materiais é possível obter a composição química semiquantitativa dos materiais? A Ensaio de ultrassom. B MEV (EDS ou EDX). C Microscopia ótica. D Ensaio de tração. 10O ensaio de difração de raios-X (DRX) é utilizado na caracterização de diversos tipos de materiais. Os dados são apresentados em um gráfico de intensidade dos Raios-X detectados em função do ângulo do detector, formando picos característicos de cada material. Sobreesse ensaio, é correto afirmar: A A análise de um material A, semicristalino, quando comparada a uma segunda análise do mesmo material A, porém, cristalino, apresentará picos característicos com maior intensidade. B O ensaio pode ser utilizado na caracterização de um material amorfo, desde que este apresente uma estrutura ordenada de longo alcance. C O espaçamento entre os picos corresponde a uma medida direta do espaçamento entre os átomos na estrutura cristalina. D Através do referido ensaio, é possível caracterizar diversos tipos de materiais cristalinos e semicristalino
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