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É incorreto afirmar a respeito de paquímetros e micrômetros:
Como a escala secundária é numerada de forma progressiva de 0 a 10, a indicação do traço de coincidência é correspondente ao valor da estimativa da casa decimal adicional;
A incorporação da escala secundária nestes instrumentos proporcionou um aumento na precisão desse instrumento de medição em uma ordem de grandeza;
A leitura da escala secundária é simples. Após a colocação da medida materializada em uma das posições de medição do paquímetro, o valor medido na escala principal é aquela indicação transpassada pelo zero da escala secundária, e o valor da próxima casa decimal deve ser o algarismo correspondente à coincidência dos traços da escala secundária com a principal;
Possuem uma escala secundária, cujo desenvolvimento é atribuído - pelos portugueses - ao matemático Pedro Nunes (daí a origem do nome crônio) ou é atribuído - pelos franceses - ao matemático e inventor de instrumentos Pierre Vernier (daí a origem do nome Vernier).
O funcionamento da escala secundária acontece devido ao fato de o valor de uma divisão dessa escala ter tamanho de 90% do valor de uma divisão da escala principal - essa condição, em uma escala decimal, promove o encontro apenas em uma única coincidência dos traços;
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A afirmação incorreta a respeito de paquímetros e micrômetros é a seguinte: "O funcionamento da escala secundária acontece devido ao fato de o valor de uma divisão dessa escala ter tamanho de 90% do valor de uma divisão da escala principal - essa condição, em uma escala decimal, promove o encontro apenas em uma única coincidência dos traços." Na verdade, a escala secundária é projetada para que suas divisões sejam menores que as da escala principal, permitindo múltiplas coincidências e, assim, aumentando a precisão da medição.

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O conceito de calibração é:
operação que estabelece, sob condições especificadas, numa primeira etapa, uma relação entre os valores e as incertezas de medição fornecidos por padrões e as indicações correspondentes com as incertezas associadas; numa segunda etapa, utiliza esta informação para estabelecer uma relação visando a obtenção dum resultado de medição a partir duma indicação.
operação que estabelece, sob condições especificadas, numa primeira etapa, uma relação entre os padrões e as incertezas de medição fornecidos por padrão e as indicações correspondentes com as incertezas associadas; numa segunda etapa, utiliza esta informação para estabelecer uma relação visando a obtenção dum resultado de medição a partir duma indicação.
operação que estabelece, sob condições especificadas, numa primeira etapa, uma relação entre os valores e as incertezas de medição fornecidos por mensurando e as indicações correspondentes com as incertezas associadas; numa segunda etapa, utiliza esta informação para estabelecer uma relação visando a obtenção dum resultado de medição a partir duma indicação.
operação que estabelece, sob quaisquer condições, numa primeira etapa, uma relação entre os valores e as incertezas de medição fornecidos por padrões e as indicações correspondentes com as incertezas associadas; numa segunda etapa, utiliza esta informação para estabelecer uma relação visando a obtenção dum resultado de medição a partir duma indicação.
operação que estabelece, sob condições especificadas, numa primeira etapa, uma relação entre os valores e as incertezas de medição fornecidos por padrão e as indicações correspondentes com as incertezas associadas; numa segunda etapa, utiliza esta informação para estabelecer uma relação visando a obtenção dum resultado de medição a partir duma correção.

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