Vamos analisar as associações entre as técnicas de microscopia e suas descrições: I. Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV) - Esta técnica analisa a superfície dos materiais em alta resolução. Portanto, a descrição correta seria C. II. Microscopia Eletrônica de Transmissão (MET) - Esta técnica utiliza feixes de elétrons para analisar a estrutura interna em escala atômica. Portanto, a descrição correta seria A. III. Microscopia de Força Atômica (MFA) - Esta técnica utiliza uma sonda ultrafina para mapear a topografia da superfície. Portanto, a descrição correta seria B. Agora, vamos verificar as alternativas: A. I-C, II-A, III-B. (Correta) B. I-B, II-C, III-A. (Incorreta) C. I-B, II-A, III-C. (Incorreta) D. I-A, II-B, III-C. (Incorreta) E. I-C, II-B, III-A. (Incorreta) A alternativa que traz a associação correta entre as duas listas é: A I-C, II-A, III-B.