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TE 046 Dispositivos Eletrônicos 1 TE 046 DISPOSITIVOS ELETRÔNICOS Oscar C. Gouveia Filho Departamento de Engenharia Elétrica UFPR URL: www.eletrica.ufpr.br/ogouveia/te046 E-mail: ogouveia@eletrica.ufpr.br TE 046 Dispositivos Eletrônicos 2 2. FÍSICA DOS SEMICONDUTORES 2.1. Materiais Semicondutores CLASSIFICAÇÃO ELÉTRICA DOS MATERIAIS DE ESTADO SÓLIDO MATERIAIS RESISTIVIDADE (Ω.CM) Isolantes 105 < ρ Semicondutores 10-3 < ρ < 105 Condutores ρ < 10-3 TE 046 Dispositivos Eletrônicos 3 SEMICONDUTORES NA TABELA PERIÓDICA Fonte: Microelectronic circuit design / Richard C. Jaeger, Travis N. Blalock. — 4th ed. TE 046 Dispositivos Eletrônicos 4 Semicondutores elementares: Grupo IV A da Tabela Periódica → Si, Ge Semicondutores compostos: Grupos III A e VA → Arseneto de Galiunm (GaAs) II A e VI A → Seleneto de Cádmio (CdS) TE 046 Dispositivos Eletrônicos 5 2.2. Ligações Covalentes Modelo simplificado dos átomos de Si e Ge 4 elétrons na última camada TE 046 Dispositivos Eletrônicos 6 Estrutura cristalina do Silício TE 046 Dispositivos Eletrônicos 7 Representação 2D do cristal de Silício TE 046 Dispositivos Eletrônicos 8 Energia de “Bandgap” Energia mínima necessária para retirar um elétron da ligação covalente n i=5,2∗10 15T 3/2 exp −E g 2kT eletrons /cm³ n i é a concentração de elétrons T é a temperatura absoluta (K) k é a constante de Boltzmann E g é a energia de “bandgap” para o Si k=1,38∗10−23 J /K E g=1,12eV Obs.: 1 eV é a energia necessária para mover um elétron através da diferença de potencial de 1 V. 1eV = 1,6 x10-19 J. TE 046 Dispositivos Eletrônicos 9 Exemplo: Determine a densidade de elétrons no Si à temperatura de 300 K. Como elétrons e lacunas são gerados aos pares a concentração de lacunas p é igual à de elétrons n. p.n=ni 2 TE 046 Dispositivos Eletrônicos 10 2.3. Semicondutor Extrínseco Para aumentar a quantidade de portadores (elétrons ou lacunas) adiciona-se impurezas ao cristal de Semicondutor. Acrescentando-se um átomo de Fósforo (P), pentavalente, sobra um elétron livre no cristal. Impurezas pentavalentes são chamadas de DOADORAS. Semicondutor tipo n TE 046 Dispositivos Eletrônicos 11 Acrescentando-se um átomo de Boro (B), trivalente falta um elétron nas ligações covalentes (lacuna). Impurezas trivalentes são chamadas de ACEITADORAS. Semicondutor tipo p TE 046 Dispositivos Eletrônicos 12 Apesar do número de portadores aumentar em um semicondutor dopado (elétrons no tipo n e lacunas no tipo p), o produto pn permanece constante. p.n=ni ² Por que? RECOMBINAÇÃO TE 046 Dispositivos Eletrônicos 13 Exemplo: Um pedaço de Si cristalino é dopado uniformemente com átomos de Fósforo. A densidade de dopantes é N D =1016 átomos/cm3. Determine a densidade de elétrons e lacunas nesse material à temperatura ambiente (300 K). TE 046 Dispositivos Eletrônicos 14 Para N D >> n i Portadores Majoritários: n ≈ N D Portadores Minoritários: p ≈ n i /N D Para N A >> n i Portadores Majoritários: p ≈ N A Portadores Minoritários: n ≈ n i /N A TE 046 Dispositivos Eletrônicos 15 2.4. Transporte de Portadores no Semicondutor 2.4.1. Deriva v= E μ → mobilidade [cm2/ V.s] Para o Si: μ n = 1350 cm2/ V.s , mobilidade dos elétrons μ p = 480 cm2/ V.s , mobilidade das lacunas TE 046 Dispositivos Eletrônicos 16 Como os elétrons se movimentam no sentido contrário a E v=−nE Para lacunas v= pE Exemplo: Um pedaço de Si tipo n com 1 μm de comprimento é submetido a uma tensão de 1V. Qual a velocidade dos elétrons? TE 046 Dispositivos Eletrônicos 17 Corrente de Deriva TE 046 Dispositivos Eletrônicos 18 2.4.2. Difusão TE 046 Dispositivos Eletrônicos 19 Exemplo: Considere a concentração de portadores mostrada na figura abaixo. Determine a corrente de difusão. TE 046 Dispositivos Eletrônicos 20 Exemplo: Considere a concentração de portadores mostrada na figura abaixo. Determine a corrente de difusão. TE 046 Dispositivos Eletrônicos 21 2.4.3. Relação de Einstein Slide 1 Slide 2 Slide 3 Slide 4 Slide 5 Slide 6 Slide 7 Slide 8 Slide 9 Slide 10 Slide 11 Slide 12 Slide 13 Slide 14 Slide 15 Slide 16 Slide 17 Slide 18 Slide 19 Slide 20 Slide 21
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