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Distribuições de probabilidade em confiabilidade Como a confiabilidade é uma medida de desempenho baseada em probabilidade, é importante conhecer as distribuições de probabilidade mais utilizadas neste tipo de análise. Para um determinado experimento, a distribuição de probabilidades deste experimento faz a relação entre probabilidade e cada um dos resultados numéricos obtidos, ou seja, a distribuição de probabilidades exprime a probabilidade de ocorrência de cada valor da variável aleatória considerada. Uma distribuição de probabilidades é geralmente representada por um histograma de probabilidades, que é semelhante a um histograma de frequências, mas cuja escala vertical é dada em probabilidades em vez de frequências relativas. As estimativas de probabilidade podem ser representadas por uma função densidade de probabilidade, que descreve a forma da curva de distribuição da probabilidade de ocorrência de cada valor de uma variável aleatória contínua. Diversos modelos matemáticos, ou distribuições de probabilidades, são utilizadas em confiabilidade. Sabe- se que, a distribuição normal é uma das distribuições de probabilidade mais utilizadas para modelar fenômenos da natureza, no entanto existem diversos outros tipos de distribuição. Dentre as diversas distribuições de probabilidade, quatro distribuições são frequentemente utilizadas para descrever tempos até a falha de sistemas, que são: 1. Exponencial 2. Weibull 3. Gama 4. Lognormal. Para realizar análises de confiabilidade é preciso determinar uma distribuição de probabilidades que se ajuste aos dados do sistema. No contexto de manutenção, as distribuições mais utilizadas são a normal, lognormal, Weibull, exponencial e gama. A distribuição normal pode descrever tempos até falhas originadas de causas que se somam; a distribuição lognormal, quando a falha se origina de causas que se multiplicam, como nos casos de corrosão; a distribuição de Weibull, quando várias causas competem entre si e a primeira que ocorre causa a falha do sistema (para sistemas em série); a distribuição exponencial, descreve falhas que ocorrem por motivos aleatórios; e a distribuição gama, quando a última falha que ocorre dispara a falha do sistema (para sistemas em paralelo). Distribuição Exponencial A distribuição exponencial representa bem a fase de um produto ou a vida do item quando ele apresenta uma probabilidade de falhar a qualquer momento, independentemente de ser novo ou ter muitos anos de uso. A distribuição exponencial é frequentemente usada para modelar componentes eletrônicos que normalmente não se desgastam até muito tempo depois da vida útil esperada do produto em que estão instalados, como componentes de circuitos integrados de alta qualidade, como diodos, transistores, resistores e capacitores. A distribuição exponencial não deve ser usada para modelar componentes mecânicos ou elétricos que se espera que mostrem fadiga, corrosão ou desgaste antes do fim da expectativa de vida útil do produto, como rolamentos ou certos lasers ou filamentos. Uma característica da distribuição exponencial é que ela é memoryless, ou seja, a vida útil remanescente de um sistema ou componente é independente da sua idade atual. Por exemplo, um sistema que é submetido a desgaste, tornando-se mais propenso a falhar posteriormente em sua vida útil, não é considerado memoryless. Distribuição de Weibull A distribuição de Weibull é a mais comumente usada para modelar dados de confiabilidade, por ser de fácil interpretação e altamente versátil. Esta distribuição é usada para avaliar a confiabilidade de itens como, tubos de vácuo, capacitores, rolamentos de esferas, relés, resistências de materiais e propriedades de produtos, tais como tensão elétrica ou mecânica, alongamento e resistência em testes acelerados de componentes eletrônicos e rolamentos, por exemplo, e diversos outros produtos e sistemas. A distribuição Weibull pode modelar uma função de risco que diminui, aumenta ou permanece constante, o que permite que ela descreva qualquer uma das fases da vida útil de um produto. Também pode modelar dados que são assimétricos à direita, esquerda ou simétricos. A distribuição Weibull, no entanto, pode não modelar tão bem dados de falhas de produtos causadas por reações químicas ou processos de degradação, como corrosão, que são falhas que podem ocorrer, por exemplo, com semicondutores. Normalmente, este tipo de sistema é modelado usando a distribuição lognormal. Distribuição Gama O modelo de distribuição gama é outra forma de distribuição de probabilidades muito utilizada, tendo relação com as distribuições exponenciais e normais. Na verdade, este tipo de distribuição apresenta uma família de distribuições contínuas de probabilidade de dois parâmetros positivos, de escala e forma, α e β. É utilizada para modelar valores de dados positivos assimétricos à direita e maiores que zero. Uma de suas aplicações mais conhecidas é em meteorologia, para descrever a distribuição de precipitação, e em engenharia, é utilizado, por exemplo, para obtenção do tempo de retorno a operação de um equipamento que falhou. Distribuição Lognormal A distribuição lognormal é uma distribuição de probabilidades bastante flexível, e especialmente útil para modelar dados mais ou menos simétricos ou assimétricos à direita. Este tipo de distribuição de probabilidades é o modelo mais comumente usado para aplicações de alta tecnologia, sendo utilizado na análise de testes acelerados em que as unidades experimentais são componentes eletrônicos expostos a fatores de estresse como temperatura, voltagem ou uma combinação de ambos. A distribuição é baseada no modelo de crescimento multiplicativo, ou seja, a qualquer momento, o sistema sofre um aumento de degradação aleatória, que é proporcional ao seu estado atual. O efeito multiplicativo de todos os crescimentos independentes aleatórios é acumulado e resulta na falha. Portanto, esse modelo de distribuição é, muitas vezes, usado para modelar peças ou componentes que falham principalmente devido ao estresse ou fadiga. Da mesma forma que a distribuição de Weibull, a forma da curva de distribuição lognormal pode ter aparência diferente de acordo com seu parâmetro de escala. Outras distribuições de confiabilidade são a distribuição de Poisson e a distribuição binomial. Curva da Banheira A taxa de falha de um sistema ao longo do tempo pode ser representada por uma curva característica, chamada de curva da banheira. Esta curva representa as fases da vida de um item. Esta curva representa uma forma particular da função de risco que inclui três partes: a primeira parte apresenta uma taxa de falha decrescente, conhecida como falhas iniciais, ou fase de mortalidade infantil do sistema. A segunda parte apresenta taxa de falha constante, conhecida como falhas aleatórias, ou de maturidade do sistema. A terceira parte apresenta taxa de falha crescente, conhecida como falhas por desgaste, sendo a fase de mortalidade senil do sistema. A curva da banheira é amplamente utilizada em engenharia de confiabilidade e modelagem de deterioração de sistemas ou componentes de sistemas. A forma da curva para cada uma destas fases da vida do sistema está associada ao fator de forma γ, que é um dos parâmetros da distribuição de Weibull que descreva a confiabilidade do sistema. Atividade extra Transistor é um dispositivo semicondutor, geralmente feito de silício ou germânio, usado para amplificar ou atenuar a intensidade da corrente elétrica em circuitos eletrônicos. Os transistores são como blocos fundamentais na construção de todos os dispositivos eletrônicos modernos, sendo usados em chips de computadores e smartphones, por exemplo.Análises de confiabilidade destes componentes são de extrema importância. O artigo indicado a seguir, trata da modelagem de tempos de falha de um transístor. Fernandes Júnior, M. P., Lopes, M. H. P., Andrade, P. C. de R. Modelagem do Tempo de Falha de um Transístor. Abakós, 7(3), 79-90. (2019) https://brasilescola.uol.com.br/o-que-e/fisica/o-que-e-corrente-eletrica.htm Disponível em: Referência Bibliográfica • Andrzej S. Nowak; Kevin Collins. Reliability of Structures. First Edition, McGraw-Hill, 2000. • Robert E. Melchers; André T. Beck. Structural Reliability Analysis and Prediction. Third Edition, John Wiley & Sons Ltd, 2018.