Aula Microscopia

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TÉCNICAS DE MICROSCOPIA
TTÉÉCNICAS DE CNICAS DE 
CARACTERIZACARACTERIZAÇÇÃO ÃO DE DE 
MATMATERIAISERIAIS
por Prof. Dr. Henrique Kahnpor Prof. Dr. Henrique Kahn
?Microscopia óptica
?Estereomicroscopia
?Microscopia de luz transmitida
?Microscopia de luz refletida
?Microscopia de feixe de elétrons
?MEV - Microscopia eletrônica de varredura
?MET - Microscopia eletrônica de transmissão
?Estereologia (microscopia quantitativa)
Evolução da microscopia Comparação entre as técnicas de microscopia
Característica Microscopia 
óptica 
Microscopia 
eletrônica de 
varredura 
Microscopia 
eletrônica de 
transmissão 
Microscopia de 
campo iônico 
Tensão de 
aceleração (kV) 
− 3 a 50 50 a 1000 5 a 15 
Faixa útil de 
aumentos 
1 a 3.000 X 10 a 50.000 X 1.000 a 300000 1.000.000 X 
Resolução (Å) 
 
3.000 Å 30 Å 3Å 1 Å 
Profundidade de 
foco com 1000 X 
0,1 µm 100 µm 10 µm − 
Densidade 
máxima de 
discordâncias 
medida (cm/cm3) 
105 (cavidades 
de corrosão) 
106 (cavidades 
de corrosão) 
1012 (lamina 
fina) 
− 
MICROSCOPIA MICROSCOPIA ÓÓPTICA PTICA --
APLICAAPLICAÇÇÕESÕES
?? IdentificaIdentificaçção de fases cristalinas;ão de fases cristalinas;
?? QuantificaQuantificaçção de fases;ão de fases;
?? ComposiComposiçção de fases;ão de fases;
?? Formas de intercrescimento e associaFormas de intercrescimento e associaçções.ões.
ESTEREOMICROSCOPIAESTEREOMICROSCOPIA
?? Visão estVisão estééreo (3D);reo (3D);
?? Aumentos 4 a 200 vezes (usual 10 a 100X);Aumentos 4 a 200 vezes (usual 10 a 100X);
?? DistinDistinçção de fases por meio de caracterão de fases por meio de caracteríísticas sticas 
morfolmorfolóógicas:gicas:
?? cor, transparência, brilho;cor, transparência, brilho;
?? hháábito;bito;
?? clivagem, particlivagem, partiçção e fratura;ão e fratura;
?? luminescência UV.luminescência UV.
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ESTEREOMICROSCESTEREOMICROSCÓÓPIOPIO
zoom 3 a12 Xzoom 3 a12 X
IluminaIluminaçção:ão:
incidente;incidente;
transmitidatransmitida
ESTEREOMICROSCOPIA ESTEREOMICROSCOPIA --
DISTINDISTINÇÇÃO DE FASESÃO DE FASES
zircão turmalina granada
Rutilo Zircão
MICROSCOPIA DE POLARIZAMICROSCOPIA DE POLARIZAÇÇÃO ÃO 
POR LUZ TRANSMITIDAPOR LUZ TRANSMITIDA
?? Aumentos 20 a 1.000 vezes;Aumentos 20 a 1.000 vezes;
?? Recursos de polarizaRecursos de polarizaçção de luz;ão de luz;
?? DistinDistinçção de fases por meio de: ão de fases por meio de: 
?? caractercaracteríísticas morfolsticas morfolóógicas;gicas;
?? propriedades propriedades óópticas.pticas.
CALCITA CALCITA –– CaCOCaCO33
Como explicar a formaComo explicar a formaçção de uma dupla imagem?ão de uma dupla imagem?
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MICROSCOPIO DE POLARIZAMICROSCOPIO DE POLARIZAÇÇÃO ÃO 
POR LUZ TRANSMITIDAPOR LUZ TRANSMITIDA
MICROSCOPIO DE POLARIZAMICROSCOPIO DE POLARIZAÇÇÃO POR ÃO POR 
LUZ TRANSMITIDALUZ TRANSMITIDA
liga/desliga
intensidade 
de iluminação
oculares
objetivas
analisador/compensador
polarizador / 
diafragma e 
condensador
controle de foco
lente de Bertrand
MICROSCOPIO DE POLARIZAMICROSCOPIO DE POLARIZAÇÇÃO POR ÃO POR 
LUZ TRANSMITIDALUZ TRANSMITIDA
controle de foco
diafragma
polarizador
condensador
objetivas
analisador / 
compensador
platina giratória
REFRAREFRAÇÇÃO DA LUZÃO DA LUZ
? Comportamento dos minerais transparentes e semi-
opacos em relação à luz 
•• isisóótropostropos (um índice de refração);
•• anisanisóótropostropos (dois ou três índices de refração, respectivamente, 
uniaxiais e biaxiais).
Indicatriz isótropa
x y
z
Indicatriz biaxial
Indicatriz uniaxial
PROPRIEDADES PROPRIEDADES ÓÓPTICAS PTICAS -- RELEVORELEVO
Relação entre o índice de refração do mineral 
e do meio no qual este está imerso:
A - baixo B - alto
ÍÍNDICE DE REFRANDICE DE REFRAÇÇÃO ÃO --
LINHA DE BECKELINHA DE BECKE
? Tênue linha da luz na borda dos minerais que se 
movimenta ao se desfocar o microscópio.
ÍÍndice do mineral > meiondice do mineral > meio
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ÍÍNDICE DE REFRANDICE DE REFRAÇÇÃO ÃO --
LINHA DE BECKELINHA DE BECKE
? Tênue linha da luz na borda dos minerais que se 
movimenta ao se desfocar o microscópio.
ÍÍndice do mineral < meiondice do mineral < meio
LUZ POLARIZADALUZ POLARIZADA
?? OscilaOscilaçção somente em uma direão somente em uma direçção.ão.
MINERAIS ISMINERAIS ISÓÓTROPOSTROPOS
? Sistema cúbico;
? Apresentam um único índice de refração;
? São isótropos em relação à luz:
? sob nicóis cruzados 
(polarizador e analisador) estão 
sempre extintos (não visíveis) 
ao giro da platina
MINERAIS ANISMINERAIS ANISÓÓTROPOSTROPOS
? Outros sistema cristalinos que nâo o cúbico;
? Apresentam dois ou três índices de refração;
? São anisótropos em relação à luz:
?Pleocroismo (coloridos);
?Extinção;
?Elongação (hábito prismático);
? Figuras de interferência.
PLEOCROPLEOCROÍÍSMOSMO
? Minerais coloridos apresentando duas cores 
distintas, cada qual concordante com um índice de 
refração. 
Observação em nicóis paralelos - ssóó polarizadorpolarizador
INTERFERÊNCIA DE LUZINTERFERÊNCIA DE LUZ
Atraso = (nAtraso = (n11 -- nn22) . d = birrefringência () . d = birrefringência (∆∆ ))
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Tabela de cores de interferência
EXTINEXTINÇÇÃOÃO
Observação em nicóis cruzados - polarizador e analisador a 90º
EXTINEXTINÇÇÃOÃO
? Reta ou paralela
Observação em nicóis cruzados - polarizador e analisador a 90º
EXTINEXTINÇÇÃOÃO
? Simétrica 
Observação em nicóis cruzados - polarizador e analisador a 90º
EXTINEXTINÇÇÃOÃO
?? InclinadaInclinada
Observação em nicóis cruzados - polarizador e analisador a 90º
c
z
z Λ c
MICROSCOPIA DE POLARIZAMICROSCOPIA DE POLARIZAÇÇÃO ÃO 
POR LUZ REFLETIDAPOR LUZ REFLETIDA
?? Aumentos 20 a 1.000 vezes;Aumentos 20 a 1.000 vezes;
?? Recursos de polarizaRecursos de polarizaçção de luz;ão de luz;
?? DistinDistinçção de fases por meio de: ão de fases por meio de: 
?? caractercaracteríísticas morfolsticas morfolóógicas;gicas;
?? propriedades fpropriedades fíísicas;sicas;
?? propriedades propriedades óópticaspticas;;
?? propriedadespropriedades ququíímicasmicas..
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MICROSCOPIO DE POLARIZAMICROSCOPIO DE POLARIZAÇÇÃO ÃO 
POR LUZ REFLETIDAPOR LUZ REFLETIDA
Amostra Amostra 
ortogonal ortogonal àà
incidência da luzincidência da luz
PREPARAPREPARAÇÇÃO DA SEÃO DA SEÇÇÃOÃO
? Corte da amostra;
? Montagem da seção em resina;
? Desbaste:
?manual em lixa d’água e/ou carborundum;
?mecanizado em discos especiais;
? Polimento:
? tecidos especiais com alumina ou diamante 
como abrasivos;
? disco de chumbo com alumina;
? Tipos de seções:
? polida - luz refletida;
? delgada/polida - luz transmitida e refletida.
Corte da AmostraCorte da Amostra
?? Discos Discos diamantadosdiamantados
Corte para seção delgada 
DESBASTEDESBASTE
?? ManualManual ?? Discos Discos 
especiaisespeciais
Polimento Polimento -- LogitechLogitech
?? Tecidos Tecidos 
especiaisespeciais
?? Disco de Disco de 
chumbochumbo
Tipos de SeTipos de Seççõesões
?? PolidaPolida ?? Delgada polidaDelgada polida
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DISTINDISTINÇÇÃO DE FASESÃO DE FASES
?? CaracterCaracteríísticas morfolsticas morfolóógicas:gicas:
?? hháábito;bito;
?? clivagem, particlivagem, partiçção e fratura;ão e fratura;
?? Propriedades Propriedades óópticas:pticas:
?? cor de reflexão;cor de reflexão;
?? isotropia / anisotropia;isotropia / anisotropia;
?? birreflectânciabirreflectância;;
?? refletividade (relativa ou absoluta);refletividade (relativa ou absoluta);
?? reflexão interna; reflexão interna; 
?? Outras propriedades fOutras propriedades fíísicas:sicas:
?? dureza ao risco (relativa)dureza ao risco (relativa)
?? dureza dureza VickersVickers (absoluta);(absoluta);
?? PPropriedadesropriedades ququíímicasmicas
?? minminéério de Cu,Pb (Zn)rio de Cu,Pb (Zn)
calcopirita
pirita
galena
esfaleritapirrotita
?? minminéério de cobre (rio de cobre (exsoluexsoluççãoão))
bornitacalcopirita
ISOTROPIA / ANISOTROPIAISOTROPIA / ANISOTROPIA
? Sob nicóis cruzados (polarizador e analisador 
a cerca de 87-88º) observar se ocorre 
mudança de cor ao giro da platina do 
microscópio:
? não há mudança de cor ⇒⇒ iissóótropotropo;
? há mudança de cor ⇒⇒ anisanisóótropotropo. . 
?? hematita (hematita (nicnicóóisis cruzados)cruzados)
BIRREFLECTÂNCIABIRREFLECTÂNCIA
? Sob nicóis paralelos (só polarizador) observar 
se ocorre mudança na cor de reflexão do 
mineral ao giro da platina do microscópio:
? há mudança de cor ⇒⇒ birreflectânciabirreflectância. . 
Obs.: BirreflectânciaBirreflectância corresponde a fenômeno equivalente a 
dicrodicroíísmo / smo / pleocropleocroíísmosmo em microscopia de polarização 
sob luz transmitida.
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molibdenita
? birreflectância
? geminação
REFLETIVIDADEREFLETIVIDADE
? Diferenças na intensidade de luz refletida 
pelos minerais sob nicóis paralelos (só
polarizador);
? Pode ser avaliada:
? qualitativamente;
? quantitativamente (célula fotoelétrica).
MEDIDA DE REFLETIVIDADEMEDIDA DE REFLETIVIDADE
? Comparação com padrões⇒ calibracalibraççãoão;;
? Luz policromática ou monocromática;
? Medida em ar ou imersão em óleo.
REFLEXÃO INTERNAREFLEXÃO INTERNA
? Aumento elevado
? ( obj >20X);
? Nicóis cruzados
? (polarizador e analisador);
Fenômeno de múltiplas 
reflexões internas
DUREZA AO RISCO DUREZA AO RISCO -- Escala Escala TalmageTalmage
A A -- ArgentitaArgentita;;
B B -- Galena;Galena;
C C -- Calcopirita;Calcopirita;
D D -- TetraeditaTetraedita;;
E E -- NicolitaNicolita;;
F F -- Magnetita;Magnetita;
G G -- IlmenitaIlmenita
DUREZA VICKERSDUREZA VICKERS
?? Medida da deformaMedida da deformaçção causada em um ão causada em um 
mineral por uma pirâmide invertida de mineral por uma pirâmide invertida de 
diamante,sobre a qual diamante,sobre a qual éé aplicada uma certa aplicada uma certa 
carga (0,1 a 500 g) carga (0,1 a 500 g) 
D.V. = (kg / mmD.V. = (kg / mm22) , onde: ) , onde: 
P = peso (g)
d = diâmetro médio da identação (≈ 20 medidas)
1854,4 . P1854,4 . P
dd22
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DUREZA VICKERSDUREZA VICKERS
Escala e marcas 
de identaçãoDurimet
DUREZA VICKERS DUREZA VICKERS 
X X 
REFLETIVIDADEREFLETIVIDADE
Microdureza Vickers (média)
Refletividade
Média (%)
MEVMEV –– MICROSCOPIA ELETRÔNICA MICROSCOPIA ELETRÔNICA 
DE VARREDURADE VARREDURA MEV e EDS/WDSMEV e EDS/WDS
?? Aumentos 20 a 50.000 vezes;Aumentos 20 a 50.000 vezes;
?? Elevada profundidade de campo;Elevada profundidade de campo;
?? InteraInteraçção elão eléétrons trons -- amostra;amostra;
?? AnAnáálises qulises quíímicas pontuais (EDS / WDS).micas pontuais (EDS / WDS).
MEVMEV
? A coluna do MEV gera um 
fino feixe de elétrons;
? Um sistema de deflexão 
controla o aumento da 
imagem;
? Interação entre os elétrons e 
a amostra;
? Detetores de elétrons 
coletam o sinal;
? A imagem é visualizada em 
um monitor simultaneamente 
a varredura do feixe de 
elétrons;
GeraGeraçção do feixe de elão do feixe de eléétronstrons
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Coluna e lentes Coluna e lentes 
eletromagneletromagnééticasticas Mecanismo de Mecanismo de 
varreduravarredura
INTERAINTERAÇÇÃO ELÃO ELÉÉTRONS AMOSTRATRONS AMOSTRA
?? Fornecem informaFornecem informaçções sobre a composiões sobre a composiçção, topografia, ão, topografia, 
cristalografia, potencial elcristalografia, potencial eléétrico e campos magntrico e campos magnééticos locais.ticos locais.
Profundidade das Profundidade das informainformaççõesões
geradasgeradas
1 a 5 µm
ELELÉÉTRONS RETROTRONS RETRO--ESPALHADOSESPALHADOS
? Compreende espalhamento elástico de elétrons 
cuja trajetória foi desviada em mais de 90° em 
relação à direção do feixe incidente. Mostram 
estreita relação de dependência com o número 
atômico e a energia dos elétrons (50 eV até
valores correspondentes a energia do feixe 
incidente). 
? Permitem a individualização de fases através de 
contraste de tons de cinza em função do número 
atômico médio (Z) - diferenças Z > 0,2.
ELELÉÉTRONS RETROTRONS RETRO--ESPALHADOSESPALHADOS
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ELELÉÉTRONS RETROTRONS RETRO--ESPALHADOSESPALHADOS
BSE Ouro primário, Salamangone, AP
ELELÉÉTRONS SECUNDTRONS SECUNDÁÁRIOSRIOS
?Compreendem os elétrons da camada de 
valência perdidos que emergem através da 
superfície da amostra; 
?Englobam todos os elétrons de energia 
inferior a 50 eV;
?Possibilitam a visualização da topografia da 
amostra, com elevada profundidade de foco.
DETETOR DE ELDETETOR DE ELÉÉTRONS TRONS 
SECUNDSECUNDÁÁRIOSRIOS
ELELÉÉTRONS SECUNDTRONS SECUNDÁÁRIOSRIOS
SE
diatomácea
pernilongo
SE CATODOLUMINESCÊNCIACATODOLUMINESCÊNCIA
?O bombardeamento da amostra por um feixe de 
elétrons pode dar origem a emissão de fótons de 
comprimento de onda elevados, situados nas 
regiões do espectro eletromagnético referentes às 
radiações ultravioleta, visível e infravermelho. Este 
fenômeno, bem evidente em alguns minerais 
(fluorita, apatita, etc), é denominado de 
catodoluminescênciacatodoluminescência. 
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CATODOLUMINESCÊNCIACATODOLUMINESCÊNCIA
zircão
RAIOS XRAIOS X
?? O espectro de raios X resultante da interaO espectro de raios X resultante da interaçção ão 
eleléétrons / amostra trons / amostra éé constituconstituíído por dois do por dois 
componentes distintos: componentes distintos: 
?? Raios X Raios X caractercaracteríísticostico, que permite identificar e , que permite identificar e 
quantificar os elementos presentes, quantificar os elementos presentes, 
?? Raios X Raios X contcontíínuonuo, respons, responsáável pelo vel pelo ““backgroundbackground”” em em 
todos os ntodos os nííveis de energia.veis de energia.
LINHAS DE LINHAS DE 
EMISSÃO EMISSÃO 
ATÔMICAATÔMICA
RAIOS X CONTRAIOS X CONTÍÍNUONUO
K
L
M
ESPECTRÔMETROS DE RAIOS XESPECTRÔMETROS DE RAIOS X
?o espectrômetro de dispersão de energia 
(EDS);EDS);
?espectrômetro de dispersão de comprimento 
de onda (WDS).WDS).
ESPECTRÔMETRO DE RAIOS ESPECTRÔMETRO DE RAIOS -- X POR X POR 
DISPERSÃO DE ENERGIA (EDS)DISPERSÃO DE ENERGIA (EDS)
?discriminação de todo o espectro de energia 
através de um detector de estado sólido de 
Si(Li) ou Ge.
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ESPECTRÔMETRO DE RAIOS ESPECTRÔMETRO DE RAIOS -- XX
EDSEDS
Bastnaesita Parisita
Ce - 31,1 26,5
La - 23,3 19,9
Nd - 3,35 3,80
outros ETR - 1,67 1,90
Sr - 1.95 1,22
Y - 0,21 0,71
Th - 1,36 0,72
Ca - 0,91 8,11
C - 5,59 6,42
O - 22,3 25,7
F - 8,50 7,39
Ln2O3 - 69,9 61,8
CaO - 1,27 11,4
Fase Clara - Bastnaesita Fase Escura - Parisita
ETR, Barra de Itapirapuã
ESPECTRÔMETRO DE RAIOS X POR ESPECTRÔMETRO DE RAIOS X POR 
DISPERSÃO DE COMPRIMENTO DE ONDA DISPERSÃO DE COMPRIMENTO DE ONDA 
(WDS)(WDS)
?cristais analisadores e difração (nλ = 2 d sen θ) 
são empregados para a discriminação dos 
raios-X segundo o comprimento de onda da 
radiação (monocromador).
ESPECTRÔMETRO DE RAIOS XESPECTRÔMETRO DE RAIOS X
WDSWDS
ESPECTRÔMETRO DE RAIOS X : WDSESPECTRÔMETRO DE RAIOS X : WDS ESPECTRÔMETRO DE RAIOSESPECTRÔMETRO DE RAIOS--X : WDSX : WDS
?? Cristais analisadoresCristais analisadores
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COMPARACOMPARAÇÇÃO ENTRE EDS e WDSÃO ENTRE EDS e WDS
Espectro por WDS
(escala log)
Espectro por EDS
COMPARACOMPARAÇÇÃO ENTRE EDS e WDSÃO ENTRE EDS e WDS
Características WDS - cristais
analisadores
EDS - Si(Li) ou Ge
Número atômico z ≥ 4 z ≥ 4 (janela ultrafina)
Intervalo espectral resolução do espectrômetro
(1 elemento por vez)
todo o intervalo disponível
0-20 keV (multi-elementar)
Resolução
espectral
dependente do cristal
(≈ 5 a 10 eV)
132 a 145 eV detetor de Si
111 a 115 eV detetor de Ge
limitede deteção ≈ 0,01 % ≈ 0,1%
Contagem máxima 100.000 cps
para uma linha
característica
depende da resolução
2.000 a 100.000 cps para todo o
espectro (Ge ≈ 4 X Si)
diâmetro usual
mínimo do feixe
≈ 200 nm (2000 Å) ≈ 5 nm (50 Å)
tempo por análise 5 a 30 minutos
(depende do nº de
elementos)
1 a 3 minutos
Ca, P;
Si;
Fe
Fosfato de Tapira, MG
Ca, P;
Fe
METMET –– MICROSCOPIA ELETRÔNICA MICROSCOPIA ELETRÔNICA 
DE TRANSMISSÃODE TRANSMISSÃO
? Estudo de defeitos cristalinos:
? discordâncias
? defeitos de empilhamento. 
? Estudo de defeitos de empilhamento;
? Estudos de precipitados muito finos -
nanométricos.
METMET METMET –– PreparaPreparaççãoão de de amostrasamostras
Elemento Número 
atômico 
Densidade 
(g/cm³) 
Espessura 
máxima (Å) 
Carbono 6 2,26 >5000 
Alumínio 13 2,70 5000 
Cobre 29 8,96 2000 
Prata 47 10,50 1500 
Ouro 79 19,30 1000 
 
Diferença de potencial (kV) Fator de multiplicação 
100 1 
200 1,6 
300 2,0 
500 2,5 
1000 3,0 
 
Espessura máxima transmissível a 100 kV
Efeito do aumento da tensão de aceleração - base 100 kV
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METMET –– PreparaPreparaççãoão de de amostrasamostras
Espessura máxima transmissível a 100 kVEspessura máxima transmissível a 100 kV
Amostras de lâminas finas do prAmostras de lâminas finas do próóprio materialprio material
• Preparação de lâminas finas de metais e ligas: 
• corte de lâminas de 0,8 a 1,0 mm de espessura
• polimento mecânico até 0,10-0,20 mm de espessura
• polimento eletrolítico final. 
• Preparação lâminas finas de polímeros e outros materiais 
orgânicos:
• microtomia, onde uma navalha corta películas finas e com 
espessura controlada; 
• ultramicrotomia - material resfriado em nitrogênio líquido.
METMET –– PreparaPreparaççãoão de de amostrasamostras
•• RRééplicas da superfplicas da superfíície da amostracie da amostra ("negativo" da superfície 
observando-se o contraste relativo às variações de 
espessura): 
• de plástico: solução diluída de plástico em um solvente volátil 
formando um filme;
• de carbono: este material é evaporado na superfície da amostra. 
Esta técnica pode ser utilizada também para arrancar partículas de 
precipitados da amostra, a chamada réplica de extração;
• de óxido: usada principalmente para ligas de alumínio, o filme de 
óxido é obtido por anodização de uma superfície previamente 
polida eletroliticamente.
METMET -- FORMAFORMAÇÇÃO DE IMAGEMÃO DE IMAGEM
? Sólidos amorfos
contraste em scontraste em sóólidos amorfos com varialidos amorfos com variaçção de densidade ão de densidade --
região B região B éé mais densa que a região Amais densa que a região A
METMET -- FORMAFORMAÇÇÃO DE IMAGEMÃO DE IMAGEM
? Sólidos cristalinos
METMET -- FIGURAS DE DIFRAFIGURAS DE DIFRAÇÇÃOÃO METMET -- DIFRADIFRAÇÇÃO DE ELÃO DE ELÉÉTRONSTRONS
?? Ferro alfa, com as manchas ou pontos indexadosFerro alfa, com as manchas ou pontos indexados
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ESTEREOLOGIAESTEREOLOGIA
OU OU 
MICROSCOPIA QUANTITATIVAMICROSCOPIA QUANTITATIVA ESTEREOLOGIAESTEREOLOGIA
?? Estudo das relaEstudo das relaçções entre estruturas ou ões entre estruturas ou 
feifeiçções tridimensionais de uma amostra e seus ões tridimensionais de uma amostra e seus 
parâmetros de medida em imagens parâmetros de medida em imagens 
bidimensionaisbidimensionais
ESTEREOLOGIAESTEREOLOGIA 3D3D
2D2D
SeSeçções aleatões aleatóórias de rias de 
esferas de diâmetro desferas de diâmetro d
ESTEREOLOGIAESTEREOLOGIA
?PARÂMETROS DE INTERESSE:
?Dimensões de feições;
?Forma de feições;
?Proporções volumétricas;
?Associações minerais:
?Grau de liberação;
?Textura e orientação;
ProporProporçções volumões voluméétricas tricas --
AnAnáálise modallise modal
? As proporções volumétricas são determinadas 
através de medidas de áreas, linhas ou pontos a 
partir de seções não orientadas, ou material 
particulado previamente classificado em estreitas 
faixas granulométricas.
VVvv = A= Aaa = = LLll = P= Ppp
PrincPrincíípio da pio da 
EstereologiaEstereologia
ANANÁÁLISE DE LISE DE 
IMAGENSIMAGENS
?? AvaliaAvaliaçção quantitativa de feião quantitativa de feiçções ões 
geomgeoméétricas expostas em imagens tricas expostas em imagens 
bidimensionaisbidimensionais
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ANANÁÁLISE DE IMAGENSLISE DE IMAGENS
? Imagens digitais:
resolução (500 a 3000 pixels)
pixel
profundidade (bites por pixel)
SEQSEQÜÜÊNCIA DE OPERAÊNCIA DE OPERAÇÇÕESÕES
? aquisição da imagem (MO ou MEV);
? armazenamento da imagem;
? processamento de imagem;
? detecção das feições de interesse;
? processamento de imagem binária;
? medidas;
? apresentação de resultados.