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2ª PROVA DE CARACTERIZAÇÃO TECNOLÓGICA DE MINÉRIOS – MIN206 Profa. Rosa Malena Fernandes Lima Aluno – Gabarito 1 – Na figura abaixo está apresentado de forma esquemática as interações de um feixe de elétrons com a matéria. Figura 1 – Sinais gerados em uma amostra por um feixe de elétrons. Pede-se: Explique como a amostra a ser observada no MEV/EDS deve ser preparada (0,5 ponto) Deverão ser montadas seções polidas ou lâminas delgadas polidas, que deverão ser metalizadas com uma pequena película de carbono, ouro ou cobre para evitar fusão das mesmas devido ao aquecimento provocado pela desaceleração dos elétrons, que incidem sobre a mesma. Como são gerados os raios X primários e secundários? (1,0 ponto) Raios X primários - são gerados pela transformação da energia cinética dos elétrons, que incidem sobre a amostra, que são provenientes do revolver eletrônico do aparelho, cuja energia é suficiente para excitar os átomos presentes sobre a mesma e posteriormente esses átomos ao voltarem ao seu estado fundamental emitem raios X caracteríscos primários. Raios X secundários – resultantes da excitação dos átomos da amostra, situados na região mostrada na figura anterior, pelos raios X primários, que tenham energia suficiente para excitá-los e posteriormente os mesmos emitem raios X característicos secundários. Explique que tipo de informação os raios X característicos (primários e secundários) nos dão a respeito de uma amostra mineral. (0,5 ponto) Fornece a composição química da área analisada, que após a análise destes dados chega-se á formula química do mineral e posteriormente à identificação do mesmo. Que tipo de informação os elétrons retroespalhados e secundários fornecem a respeito da região analisada? (1,0 ponto) Elétrons retroespalhados – proveniente do feixe de elétrons incidentes sobre a região analisada, que são desviados pela nuvem eletrônica dos átomos presentes na região em que o mesmo incide. Possuem a mesma energia dos elétrons do feixe (interação elástica). Por essa razão, dá idéia de composição química o que se refere à número atômico mais leve e/ou pesado. Ou seja, quanto maior o número atômico da região analisada maior o brilho da imagem gerada. Elétrons secundários – São elétrons do feixe de elétrons incidentes sobre a amostra, que interage inelasticamente com a amostra. Possui energia menor do que o feixe incidente e por essa razão dá informação sobre topografia da superfície analisada. Ambos os casos dão imagem morfológica, tamanho e de micro-textura. 2 – A difração de raios X é uma das técnicas utilizadas para identificar minerais. Pede-se: Como deve ser preparada a amostra para análise por essa técnica? Explique. (1,0) A amostra deve ser pulverizada na granulometria entre 5 e 20 µm para evitar a destruição da cristalinidade da mesma e posteriormente deverá ser colocada no porta amostra, que é inserido no difratômetro ou câmera de pó para obtenção do difratograma, que é gerado pela difração do feixe de raios X pelo retículo cristalino dos minerais, segundo a lei de Bragg (nλ = 2dsenθ). Logo, o material para ser analisado por essa técnica tem que ser cristalino. Por que cada mineral possui um difratograma característico e inconfundível com outros minerais? (0,5 ponto) Toda vez que a lei de Bragg é satisfeita (nλ = 2dsenθ) é produzido no difratograma um pico característico, que é função da distância dos planos cristalinos dos minerais. Essas distâncias dos planos cristalinos é função do raio atômico dos átomos e do sistema cristalino a que o mineral pertence. Por essa razão, o padrão de difração ou difratograma de cada mineral é sua impressão digital, possibilitando desta forma a identificação dos mesmos. Como é feita, na prática, a identificação dos minerais presentes na amostra por difração de raios X? (0,5) Por comparação com difratogramas publicados. Pode ser utilizado o método de Hanawat em que escolhe-se os três picos mais intensos e entra-se num livro índice, que remete para um cartão e/ou arquivo em que são identificados todos os demais picos presentes na amostra. Caso ainda sobre picos no difratograma repete-se a operação até que sejam identificados todos os minerais presentes. Outra maneira é a utilização de softwares como é o caso do JADE 7.0. 3 – Na tabela abaixo está apresentado o resultado da análise química de uma amostra de hematita compacta. Pede-se: determine a proporção dos minerais presentes na amostra: Hematita (Fe2O3), magnetita (Fe3O4), goethita (HFeO2), caolinita (Al4(Si4O10)(OH)8) e quartzo (SiO2). (3,5 pontos) Elemento químico/composto (%) FeT FeO Al2O3 SiO2 PPC 69,3 0,35 0,2888 0,3031 0,38 Massas atômicas: Fe – 56; O -16; Al – 27; Si – 28 a - Decomposição das amostras em óxidos e balanceamento das equações: Hematita - Fe2O3 Magnetita - Fe3O4 - Fe2O3.FeO Goethita - 2HFeO2 – Fe2O3.H2O Caolinita - Al4(Si4O10)(OH)8 – (Al2O3)2.(SiO2)4.(H2O)4 Quartzo - SiO2 b- Determinação da proporção de magnetita na amostra e % de FeT na amostra, referente à mesma. Massa atômica de Fe3O4 = 232 Massa atômica de Fe2O3 = 160 Massa atômica de FeO = 72 Teor estequimétrico de FeO = 100*(72/232) = 31,03% Magnetita FeO 100 31,03 %magnetita 0,35 % de Magnetita = 1,13% b.1 - Teor de Fe na magnetita Massa de Fet da magnetita = 168 Massa atômica de Fe3O4 = 232 % Feestq. = 100*( Massa de FeT da magnetita/ Massa atômica de Fe3O4) % Feesteq. = 100*( 168/ 232) = 72,41% Magnetita Feesteq. 100 72,41 1,13 FeTMag. FeTMag. = 0,82% c - Determinação da proporção de caolinita e SiO2caol. e PPCcaol. Massas atômicas Teores estequiométricos Caolinita = 516 (Al2O3)2 = 204 (SiO2)4 = 240 (H2O)4 = 72 (Al2O3)2.(SiO2)4.(H2O)4 = 100 Al2O3)2 = 39,53% (SiO2)4 = 46,51% (H2O)4 = 13,95% c.1 – Proporção de Caolinita no minério Caolinita Al2O3 100 39,53 % caolinita 0,2888 .:% Caolinita = 0,73% c.1.1 – Cálculo da % de SiO2 da caolinita Caolinita SiO2 100 46,51 0,73 %SiO2caol. .: %SiO2caol.= 0,34% c..1.2 – Cálculo da proporção de quartzo na amostra Como o teor de SiO2 calculado da caulinita é maior do que o teor de quartzo da análise química, conclui-se que a proporção de quartzo é zero. c.1.3 – Cálculo da proporção de goethita Caolinita H2O 100 13,95 0,73 H2Ocaol. .: H2Ocaol. = 0,102% H2OT = H2Ocaol. + H2Ogoe H2Ogoe = H2OT – H2Ocaol. H2Ogoe = 0,38 – 0,102 = 0,278 Massa atômica de Fe2O3.H2O = 178 Massa atômica de Fe2O3 = 160 Massa atômica de H2O = 18 c.1.3.1- Teor estequiométrico de H2O da goethita Goethita H2O 100 160 H2Ogoeesteq. 18 .: H2Ogoeesteq. = 10,11% c.1.3.2 – Proporção de goethita na amostra Goethita H2O 100 10,11 % Goethita 0,278 .: % Goethita = 2,75% c.1.3.2 – Teor de FeT da goethita no minério Fegoeestq. = 100[(2XFe/ Fe2O3.H2O)] = 100[112/178) Fegoeestq = 62,92% Goethita FeT 100 62,92 2,75 FeTgoe. .: FeTgoe. = 1,73% d – Cálculo da proporção de hematita FeT = FeTmag + FeTgoe + FeTHe FeTHe = FeT – FeTmag. –FeTgoe. FeTHe = 69,3 –0,82 – 1,73 FeTHe = 66,75% Massa atômica de Fe2O3 = 160 Massa de Fe na hematita = 112 Teor de Fe na Hematita = 100*(112/160) = 70% Hematita Fe 100 70% % Hematita 66,75 % Hematita = 95,34% Mineral % Hematita 95,54 Magnetita 1,13 Goethita 2,75 Caolinita 0,73 Quartzo 0,00 Total 99,98 4 – Proponha uma técnica de análise química para efetuar a análise da amostra anterior e explique: Por que você escolheu esta técnica (0,5 ponto) Livre, e4xceto para PPC. O princípio de funcionamento da mesma. (0,5 ponto) Livre Como é feita a quantificação dos compostos analisados. (0,5 ponto). Para efetuar a quantificação deve-se levantar a curva de calibração com padrões parecidos com a amostra a analisar. Bom trabalho!
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