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1 FACULDADE DE ENGENHARIA ELÉTRICA E DE COMPUTAÇÃO/UNICAMP EE 617 - LABORATÓRIO DE DISPOSITIVOS ELETRÔNICOS ( Eletrônica I ) 2o Sem - 2003 - Prof. Doi EXP.2 - DIODOS II ( Dinâmica ) 1. OBJETIVO Comportamento dinâmico de diodos de junção PN. Chaveamento. 2. INTRODUÇÃO O diodo semicondutor tem sido usado de modo bastante diversificado, em inúmeras aplicações. O engenheiro moderno pode-se valer dos inúmeros tipos de diodos já em escala comercial. Na verdade, o uso de um tipo de diodo numa dada aplicação está intimamente ligado a uma característica especial que o diodo possa ter na curva i×v. As características de chaveamento do dispositivo são geralmente tão importantes quanto as características estáticas i×v. No laboratório anterior foi observada a característica exponencial (Boltzmann) da relação i×v no diodo. Na verdade, há uma relação algébrica mais sintética e elegante que descreve também o comportamento do diodo semicondutor de junção PN. A relação que expressa a descrição por controle de carga num diodo é dada por: I = Q τ (1) A relação acima expressa o fenômeno de acumulação de carga Q num diodo que conduz uma corrente I. Ela é válida tanto para corrente de polarização direta (Q é positiva), como para polarização reversa (Q é negativa). A constante τ é o tempo de vida médio dos portadores minoritários em excesso no dispositivo, nos dois materiais P e N. Assim sendo, é importante ter em mente que as quantidades em (1) se referem aos dois tipos de portadores minoritários: lacunas na região n e elétrons na região p. O aluno deve ter em mente duas coisas: - Na polarização direta o excesso de portadores minoritários faz com que a distribuição pn-pn0 (de lacunas no lado n em relação àquela do equilíbrio térmico pn0 ) seja positiva. Assim também ocorre para a distribuição np-np0 (de elétrons no lado p em relação àquela do equilíbrio térmico np0 ). 2 - Na polarização reversa as distribuições do excesso de lacunas (ou elétrons) pn-pn0 (ou np-np0 ) são negativas. Para esta situação o aluno deve ter em mente que a corrente I da relação 1 é agora bem pequena. Alguns portadores ainda cruzam a junção, dando origem à corrente reversa IS de saturação. JUNÇÃO EM EQUILÍBRIO : POLARIZAÇÃO DIRETA: POLARIZAÇÃO REVERSA: 3 Capacitância de Junção CJ. Na situação de polarização reversa define-se a chamada capacitância de transição, também chamada de junção ou depleção. Isto se explica pelo fato do diodo apresentar cargas afastadas da junção, lembrando um capacitor carregado. Pode-se definir capacitância de transição CJ mediante a relação i = C dv dtJ (2) Observa-se que CJ é função da tensão reversa VR em torno da qual (2) é válida. Este fato sugere (no modelo do capacitor) que a "distância das placas" aumenta com o aumento da tensão reversa, aumentando a região de depleção. Neste sentido, CJ cai com o aumento de VR. Este fato tem proporcionado o uso do chamado varicap na sintonia de receptores de rádio modernos; ao invés de se ajustar capacitores mecânicos rotativos, varia-se a tensão reversa no varicap. O modelo simplificado do diodo reverso real deve incluir RR , como está diagramado na Figura 2. Uma expressão muito utilizada para a capacitância de depleção é dada por C C V V J J R J mJ = + ( )0 1 (3) onde: CJ (0) = capacitância para tensão zero VJ = potencial de contacto (≈0,65[V] para Si) VR = tensão reversa aplicada mJ = constante de gradação da junção. A relação (3) mostra que a capacitância do diodo reverso é uma função não linear da tensão aplicada. O índice mJ é próximo de 0,33 ou 0,5, dependendo se a dopagem da junção p-n é linearmente gradual ou abrupta. - - + VR RR (alta) + P N VR CJ (função de VR) Fig.2 - Diodo semicondutor em polarização reversa e seu modelo incremental. 4 Capacitância de Difusão CD. Quando em polarização direta adequada o diodo tem baixa resistência. Quando se aplica um degrau de tensão negativo (ver Figura 4.1) o diodo deixa de conduzir; observa-se que este tempo de recuperação reversa é totalmente dependente da corrente direta ID de polarização no estado condutor. O aluno deve observar que a relação (1) já discutida nos indica que as cargas acumuladas são maiores quando o diodo conduz diretamente; assim sendo, a remoção destas cargas (Q) em excesso é mais demorada. Pode-se imaginar um modelo do diodo, como mostrado na Figura 3, para correntes moderadas. + - + - ID ID VD ≅ 0,7V CD (função de ID) VD + (silício) Fig.3 - Modelo aproximado de cargas acumuladas para o diodo em condução na região direta. No estado de condução a relação VD /ID é tal que produz uma resistência RD de valor relativamente baixo, como verificado no Lab. anterior. Também o par (corrente & tensão) é regido pela lei de Boltzmann como verificado anteriormente. O aluno deve meditar sobre o fenômeno de desligamento do diodo; o modelo expresso na Figura 3 (condução direta) se transforma naquele da Figura 2 (condição reversa). Observe ainda, que a relação (2) é na verdade, a relação fundamental (corrente e tensão) sempre válida num capacitor ideal. O aluno deve substituir a capacitância CJ pela outra (bem maior) válida agora, ou seja, CD. A capacitância de armazenamento ou de difusão incremental (válida em torno de um ponto de operação) é dada por ′ = = = =C dQ dv di dv g rD D D τ τ τ (4) onde CD ' = é agora apenas a capacitância incremental, definida como a taxa de variação da carga armazenada em relação à tensão aplicada ao diodo. Observe que usamos aqui a relação r gD D = 1 vista no Lab. anterior; lá, estudamos a resistência e a condutância (incrementais) do diodo, num ponto de operação. Como visto anteriormente, podemos então concluir que ′ = = •C I V I q KTD T τ η τ η (5) com 5 g r I VD D T = = 1 η (6) Nas relações 5 e 6, a corrente I é a corrente de polarização do diodo, em torno da qual se faz as aproximações; VT é a conhecida voltagem térmica dada por KT q , como já estudado. Finalmente, observa-se que a capacitância de difusão é da ordem de algumas centenas de nF (nanofarads), enquanto que a capacitância de depleção é da ordem de dezenas de pF (picofarads), para os diodos normalmente investigados neste laboratório. Muitas vezes podemos fazer a aproximação prática num diodo, considerando que temos: - na condução direta ⇒ só capacitância de difusão - na condução reversa ⇒ só capacitância de depleção. A análise teórica se complica quando precisamos chavear o diodo do estado ON para o estado OFF (bem como de OFF→ ON), devido à natureza não linear da relação volt-ampere do diodo. Tempo de Recuperação Reversa ( t r r ) A definição de tempo de desligamento não é única na literatura sobre o assunto; ela depende do interesse particular, em cada caso em questão Neste laboratório, o valor de tr r [s] pode ser definido como o intervalo de tempo que decorre desde a chegada do degrau negativo, até a corrente no diodo diminuir para ID /10, ou seja, um décimo do valor da corrente ID de condução direta. 6 PARTE PRÁTICA 3. CHAVEAMENTO DE DIODOS Monte o circuito da Figura 4.1. Utilize um gerador de onda quadrada com pequeno tempo de subida (< 10 [ns]). O gerador deve ter impedância de saída de 50 [Ω], com frequência de 100 Khz. D + R i A -A Gerador 50 [Ω] ve(t) vs(t) + Fig.4.1 - Chaveamento do diodo. Para ligar o gerador utilize um cabo coaxial de 50 [Ω], a fim de evitar a segunda reflexão, uma vez que o cabo não está bem terminado. Utilize também ponta de prova 10X. 3.1 Registre as formas de ondas ve(t) e vs(t) vistas no osciloscópio com A = 4[V], para dois valores de R (use década). Use o diodo retificador 1N4001. a) R = 1kΩ(gerador sem Offset) b) R = 100 Ω (gerador sem Offset) OBS: adicione na tela do osciloscópio um traço matemático (MATH = Ch1 – Ch2) para visualizar também a queda de tensão vD no diodo. Procure anotar os detalhes da onda vs(t) na transição ON → OFF para os dois casos sugeridos. Estime os tempos de armazenamento dos portadores minoritários ts e os tempos de transição tt para os dois casos. Use um critério para definir t r r = t s + t t . 3.2 Estime as cargas acumuladas QST para os dois casos anteriores. Estas cargas dependem da corrente ID de polarização do diodo? 7 SUGESTÃO: Estime as cargas por integração – área sob a curva i(t) – contando “quadrinhos” com o auxílio de um papel milimetrado uma vez que ST t t Q = i(t)dt 1 2 ∫ (3.1) onde t1 é o instante de transição da entrada ve(t). 3.3 Faça um relacionamento da carga armazenada QST versus corrente direta ID, para os dois casos observados. Comente e conclua. 3.4 Estime a capacitância incremental de difusão CD = (Q2 – Q1)/(V2 – V1) observada, para os dois casos investigados. Nota 1: Q2 e Q1 são as cargas QST do item 3.3 anterior. Nota 2: Para melhor precisão, utilize ∆V = V2 – V1 dos valores estáticos ( I × V ) da Tab.B.1 do experimento anterior. Conclua e comente. 3.5 Observe e registre agora as formas de onda vs(t), com detalhes para a transição OFF → ON, para os casos já utilizados. Procure entender o que está ocorrendo. Há ainda cargas armazenadas na junção? Compare este caso com aquele (ON→ OFF) observado anteriormente. Comente e conclua. 3.6 Troque agora o diodo por um mais rápido (sugestão: 1N914, 1N4148, BAX13, ou um LED). Anote a forma de onda obtida. Comente e conclua sobre os tempos de chaveamento deste diodo. O tempo de subida de seu gerador de “pulsos quadrados”, bem como a faixa de passagem de seu osciloscópio permite uma medição correta dos tempos de chaveamento? Sugestão: Observe os manuais dos equipamentos empregados, bem como o manual do diodo em questão. OBS: para muitos osciloscópios, a relação largura de faixa B [Hz] e tempo de subida tr [s] é expressa por rt [s] = 0,35 B [Hz] (3.2) 3.7 Voltando à situação do diodo retificador, utilize um capacitor “pequeno” de 2,2 nF em paralelo com o resistor R = 1kΩ. Observe que a forma de onda quadrada “melhora”. Registre a forma de onda. Comente. 8 3.7 Observe e anote a saída vs(t) , para uma entrada senoidal de amplitude igual a 8[V] para R = 1 [kΩ], e com o diodo retificador. Use 2 valores para a reqüência da onda senoidal: 60 [Hz] e 100 [kHz]. Comente e conclua. OBS: retire o capacitor anteriormente empregado, para a realização deste item. 3.9 Utilizando a ponte RLC digital (1 MHz) obtenha os valores da capacitância CJ de junção, para o diodo retificador, variando a tensão reversa VR aplicada. Monte a Tab.1. VR [V] CJ [pF] 0 0,5 1 2 4 6 8 10 12 15 Comente sobre a validade da relação 3 (lei de diodo como varicap) da apostila. Estime os valores ótimos para VJ e mJ deste diodo. 3.10 Faça a simulação no Pspice. Crie o arquivo de entrada DIODTRAN.CIR semelhante ao mostrado: ** Exp.2 de EE-617 ** ** Transiente de Diodo Retificador ** Vd 3 0 DC OV Ven 1 3 PULSE 4 -4 .2US 5NS 5NS 10uS 20uS R 2 0 100 D1 1 2 DPN .MODEL DPN D (IS=1E-9 RS =.2 CJ0 =1200 PF VJ = .65 TT =1uS N =1.8 M =.33) . TEMP 27 . TRAN 10NS 9uS .OP .PROBE . END Tab.1 9 Este arquivo-texto define automaticamente a topologia do circuito mostrado na Fig.4.2. - (0) D1 + - + Ven Vd (3) (1) (0) R = 100 Ω (2) Fig.4.2 - Circuito simulado As duas primeiras linhas do arquivo DIODTRAN.CIR servem como título e comentários. A terceira linha declara a fonte de tensão Vd com valor (CC) de zero volts, entre o nó 3 e o nó zero (terra). A seguir, define-se para a análise transiente uma excitação de tensão quadrada Ven , entre os nós 1 e 3. As amplitudes de PULSE são +4 e -4 [V], como usado no laboratório. O atraso (“delay”) é de 0,2 µs (digite a letra u para micro ); depois, declara-se os tempos de subida e de descida do gerador: ambos com 5 ns. Seguem a duração do pulso (10 µs) e o período (20 µs). A declaração para análise transiente é feita na 9a linha, de 10 ns até 9 µs, para permitir observar adequadamente a transição ON → OFF. OBS: procure ajustar os parâmetros do modelo (.MODEL) do diodo retificador, de tal modo que você obtenha um bom casamento entre as formas de ondas experimentais e simuladas. Comente. 4. RELATÓRIO Faça um relatório contendo uma descrição resumida do assunto observado nesta experiência. Apresente os resultados, conclusões e comentários sobre os itens realizados. 5. REFERÊNCIAS BIBLIOGRÁFICAS MAMMANA, C.I.Z., Circuitos Eletrônicos: Modelos e Aplicações McGraw Hill, São Paulo, 1977. MILLMAN-HALKIAS Integrated Eletronics McGraw Hill, N.Y., 1972. MALVINO, A.P. Eletrônica vol.1, McGraw Hill, S.P.
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