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ENGENHARIA DE CONFIABILIADADE ANEXO 4 - CONFIABILIDADE Eduardo de Santana Seixas – Abraman Pág: Anx. IV.1 A demonstração da confiabilidade é normalmente acompanhada pelo teste da peça de um equipamento ou de um sistema para determinar sua vida ou, em outras palavras, determinar o tempo ou número de ciclos para falhar. O teste de demonstração é feito através da seleção de uma amostra a ser testada onde da vida da peça é obtida através de tratamento estatístico. O método para estimação estatística utilizada é o “teste de hipótese”. Os “Planos de Teste” da MIL-STD-781 / MIL-HDBK-781 (Reliability Test Methods, Plans and Environments for Engineering Development, Qualification and Production) consistem de critérios estatísticos para determinar a aceitabilidade das características da confiabilidade de uma peça ou equipamento submetidos ao teste, e eles são usados também tanto na fase de demonstração quanto na de produção do produto. O Plano de Teste Seqüencial da MIL-STD-781, que se aplica diretamente para de- monstração de taxa de falhas, é mostrado num exemplo abaixo. TESTE SEQUENCIAL 1- Teoria: Se considerarmos como “θ0” o valor a ser testado, então a forma típica a ser estabele- cida para as possíveis conclusões a serem delineadas no teste, é: Hipótese Primária: “H0”: TMPF ≥ θ0 ⇒ o componente passa no teste Hipótese Secundária: “H1”: TMPF < “θ0” ⇒ o componente não passa no teste Nessas hipóteses, o TMPF (Tempo Médio Para Falhar) é o valor verdadeiro que re- presenta a vida média do componente sob avaliação e “θ0” é a vida média especifica- da de projeto. No teste seqüencial, um conjunto de regras de decisão é aplicada cada vez que uma falha ocorre durante o teste de verificação. As seguintes decisões são feitas: • Aceitar a hipótese “H0” e encerrar o teste; • rejeitar a hipótese “H0” concluindo que a hipótese “H1” é verdadeira e en- cerrar o teste; e • continuar testando se as hipóteses “H0” e “H1” não forem obtidas. No uso dos “Diagramas de Teste (MIL STD 781B - Probability Ratio Seqüencial Tests)”, é utilizada a distribuição exponencial negativa para representar os tempos para falhar dos itens sob teste (vide anexos), sendo que os seguintes parâmetros são especificados: ENGENHARIA DE CONFIABILIADADE ANEXO 4 - CONFIABILIDADE Eduardo de Santana Seixas – Abraman Pág: Anx. IV.2 • θ0 ⇒ tempo médio para falhar de projeto • θ0/θ1 ⇒ relação de projeto • α ⇒ risco do fabricante • β ⇒ risco do cliente Algumas observações são necessárias com relação aos parâmetros acima menciona- dos: ♦ relação de projeto (θ0/θ1) θ0 ⇒ “TMPF” de projeto θ1 ⇒ “TMPF” mínimo aceitável Esses dois valores determinam como discriminar o teste em relação as hipóteses que estão sendo consideradas. ♦ α e β (riscos) Os erros associados a conclusões inadequadas de um teste estão relacionados aos ris- cos α (fabricante) e β(cliente). O risco do fabricante (α) é a probabilidade de um erro associado as conclusões do teste, o qual não se obtém o valor médio “θ0” quando de fato o valor de “θ0” é verda- deiro. Em muitos testes, isto corresponde ao risco de rejeitar a hipótese “H0” quando de fato ela é verdadeira, ou seja, rejeitar o produto quando realmente ele tem uma vida média aceitável. O risco do cliente (β) é a probabilidade de um erro associado as conclusões do teste que resultam num valor de teste “θ0”, quando na verdade é “θ1”. Em termos de teste de verificação da confiabilidade, o valor de “β“ é o risco que o cliente irá incorrer ao aceitar um produto com um “TMPF” igual a “θ1”, quando ele conjeturou (via proce- dimento de teste) que estava adquirindo um produto com um “TMPF” igual a “θ0”. Esses erros são elementos chave em qualquer procedimento de teste, portanto, valores devem ser especificados para “α“ e “β“, assim como, para “θ0” e “θ1”. Exemplo prático: Deseja-se testar a confiabilidade de lâmpadas de duplo filamento, aplicadas em sinali- zação ferroviária, de um determinado fabricante. Na ferrovia este item é crítico para a operação ferroviária, e como tal sua confiabilidade precisa ser demonstrada através de um teste de verificação formal, antes da aceitação do produto. Deseja-se que o filamento principal e secundário tenha um “TMPF” de 1500 horas e 4500 horas, respectivamente, na tensão nominal de 12 Volts. Os dados de falha foram obtidos em laboratório, para um lote de 15 (quinze) lâmpadas, em condições ideais de operação, através de um teste acelerado (aumentando a tensão de 12 Volts para 15 Volts). ENGENHARIA DE CONFIABILIADADE ANEXO 4 - CONFIABILIDADE Eduardo de Santana Seixas – Abraman Pág: Anx. IV.3 Os valores obtidos estão relacionados, na tabela abaixo, tendo sido utilizada a seguin- te fórmula de conversão: onde: • L1 ⇒ vida observada (horas) • L2 ⇒ vida média nominal (horas) • V1 ⇒ tensão aplicada (15 Volts) • V2 ⇒ tensão nominal (12 Volts) As seguintes especificações foram feitas: • Filamento principal θ0 = 1500 h θ1 = 1000 h α = 0,10 β = 0,10 Hipóteses: H0 = TMPFp ≥ 1500 h H1 = TMPFp < 1500 h • Filamento Secundário θ0 = 4500 h θ1 = 3000 h α = 0,10 β = 0,10 Hipóteses: H0 = TMPFs ≥ 4500 h H1 = TMPFs < 4500 h L L V V 1 2 1 2 13 1 = ⎛⎝⎜ ⎞ ⎠⎟ − , TEMPO PARA FALHAR (horas) Número da Lâmpada Filamento Principal Filamento Secundário 1 1627,53 3862,74 2 2376,20 5074,73 3 1970,15 3143,16 4 2548,15 3413,16 5 2250,64 5654,51 6 2495,61 4752,39 7 1984,10 7430,84 8 2650,85 7877,25 9 2250,64 4305,08 10 2250,64 2880,71 11 2306,44 2982,19 12 2659,85 8332,96 13 2511,05 8766,35 14 2824,09 3143,46 15 2532,81 3092,31 ENGENHARIA DE CONFIABILIADADE ANEXO 4 - CONFIABILIDADE Eduardo de Santana Seixas – Abraman Pág: Anx. IV.4 O procedimento para aceitar as hipóteses, é que a vida média dos filamentos entre na região de aceitação, de acordo com os dados obtidos no teste. Caso contrário, se os dados conduzirem para a área de rejeição, não devemos aceitar o “TMPF” de projeto (θ0). Solução: 1- Complete a tabela abaixo: DADOS DE TESTE PARA AS LÂMPADAS DE DUPLO FILAMENTO Filamento Principal θ0 = TMPFP = 1500 HORAS Filamento Secundário θ0 = TMPFs = 4500 horas Número da Falha Tempo para Falhar (h) Múltiplo de θ0 Múltiplo de θ0 (Acum.) Tempo para Falhar (h) Múltiplo de θ0 Múltiplo de θ0 (Acum.) 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 2- A partir dos dados obtidos entrar no diagrama de teste, em anexo, e construir o grá- fico. 3- Determine o “TMPF” do filamento principal e secundário obtidos com a confecção do gráfico. 2 - EXEMPLO PARA ELABORAÇÃO DE UM PLANO DE TESTE SEQUEN- CIAL Um plano “PRST (Probability Ratio Seqüencial Testing)” pode ser gerado analitica- mente para qualquer valor de “α”, “β”, “θ0” e “θ1”. Para o exemplo, os seguintes da- dos foram fornecidos (filamento principal): α β θ θ = = = = 0 1 0 1 1500 1000 0 , , horas horas1 ENGENHARIA DE CONFIABILIADADE ANEXO 4 - CONFIABILIDADE Eduardo de Santana Seixas – Abraman Pág: Anx. IV.5 • Relação de Determinação (de projeto) ⇒ d = =θθ 0 1 1500 1000 • Determinaçãodos pontos de truncagem ⇒ feita através da pesquisa na tabela da Distribuição Qui-Quadrado para os “quartis” (α) e (1-β) até que um ponto é obtido, onde: r = número de falhas Este ponto ocorre para “81” graus de liberdade, onde: Portanto: Para o cálculo do tempo, temos: Logo, o teste não poderá ultrapassar 41 falhas ou 49.556,85 horas. • Aplicação da Distribuição de Weibull em testes seqüenciais: Aceitar: t r Ln Ln i b i r b b b = ∑ ≥ − ⋅ + −⎛ ⎝⎜ ⎞ ⎠⎟ ⎡ ⎣⎢ ⎤ ⎦⎥ 0 0 0 0 1 1 θ γ γ γ β α Rejeitar: t r Ln Ln i b i r b b b = ∑ ≤ − ⋅ − −⎛ ⎝⎜ ⎞ ⎠⎟ ⎡ ⎣⎢ ⎤ ⎦⎥ 0 0 0 0 1 1 θ γ γ γ β α Onde: “b” (fator de forma da Distribuição de Weibull) e “γ” é igual a θ1/θ0 Se considerarmos o valor de “b=1”, distribuição exponencial negativa, as fórmulas acima se tornam: χ χ θ θ α β ; ( ); ,2 2 1 2 1 0 1000 1500 0 6667r r− ≥ ≥ ≥ χ χ 0 1 2 2 0 9 2 2 65 1765 97 6796 0 667248, ; , ; , , ,r r = = 2 81 40 5 410 r r r = = = , falhas T T T r 0 0 2 0 0 0 1 82 2 0 0 0 0 2 2 66 0758 2 33 0379 = ⋅ = ⋅ = ⋅ = ⋅ θ χ θ χ θ θ α; , ; , , horas ENGENHARIA DE CONFIABILIADADE ANEXO 4 - CONFIABILIDADE Eduardo de Santana Seixas – Abraman Pág: Anx. IV.6 Aceitar: Rejeitar: Entrando com os valores nas fórmulas, obtemos o seguinte plano de teste: A truncagem é feita para os valores: “41 falhas” e “33,03 x TMPF” PLANO DE TESTE Tempo Total do Teste (Múltiplos do TMPF) N úm er o de F al ha s 0 10 20 30 40 50 0 10 20 30 40 REJEITAR (igual ou menor) ACEITAR (igual ou maior) Continuar testando t r Ln Ln i i r = ∑ ≥ − ⋅ + −⎛ ⎝⎜ ⎞ ⎠⎟ ⎡ ⎣⎢ ⎤ ⎦⎥ 0 0 0 0 1 1 θ γ γ γ β α t r Ln Ln i i r = ∑ ≤ − ⋅ − −⎛ ⎝⎜ ⎞ ⎠⎟ ⎡ ⎣⎢ ⎤ ⎦⎥ 0 0 0 0 1 1 θ γ γ γ β α α β θ θ= = =0 1 1 51, / , e 0
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