Analise as seguintes afirmacoes: I. Reflete a capacidade potencial de um processo em atender os limites de especificação (considerando o seu posici...

Analise as seguintes afirmacoes: I. Reflete a capacidade potencial de um processo em atender os limites de especificação (considerando o seu posicionamento), com base em uma variação de curto prazo (within) para um subgrupo específico. II. É um indicador que mede percentual de unidades que atravessam processo de transformação, sem gerar refugo, retrabalho, reteste, retorno às etapas anteriores ou reparo III. É um indicador do nível de qualidade de todo processo e revela os defeitos ao longo desse processo, geralmente ocultados pelas métricas tradicionais (hidden factory). IV. Reflete a capacidade atual de um processo em atender os limites de especificação (desconsiderando seu posicionamento), com base na variação de curto prazo (within) para um subgrupo específico. Tratam-se, respectivamente, dos seguintes conceitos:

I. Reflete a capacidade potencial de um processo em atender os limites de especificação (considerando o seu posicionamento), com base em uma variação de curto prazo (within) para um subgrupo específico.
II. É um indicador que mede percentual de unidades que atravessam processo de transformação, sem gerar refugo, retrabalho, reteste, retorno às etapas anteriores ou reparo
III. É um indicador do nível de qualidade de todo processo e revela os defeitos ao longo desse processo, geralmente ocultados pelas métricas tradicionais (hidden factory).
IV. Reflete a capacidade atual de um processo em atender os limites de especificação (desconsiderando seu posicionamento), com base na variação de curto prazo (within) para um subgrupo específico.
a. Cp, (First Time Through), RTY (Rolled Throughput Yield), Cpk.
b. Cpk, Cp, RTY (Rolled Throughput Yield), (First Time Through).
c. RTY (Rolled Throughput Yield), Cp, Cpk, (First Time Through).
d. (First Time Through), RTY (Rolled Throughput Yield), Cpk, Cp.