A alternativa correta que representa apenas as vantagens da Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV) é: I - II - III - IV. Essas afirmativas destacam a obtenção de informações topológicas, elevada resolução, construção da imagem ponto a ponto e elevada profundidade de foco, permitindo obter imagens com aparência 3D.
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