Resumo P2 (1)

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Resumo P2 
FTIR – Fourier Transformate Infrared 
Característica principal do FTIR: Baseia-se no movimento de átomos ou moléculas quando ligados (frequência 
de vibração). A frequência de vibração é a mesma para todos os átomos, a amplitude também, exceto a direção. 
Uma cadeia ou molécula é um arranjo dessas vibrações, onde a resultante é formada pela soma das vetores de 
vibração de cada átomo. Baseia-se na ligação dos átomos entre si. 
Vibração: Ocorre por acoplamento entre o campo elétrico da radiação incidente e o dipolo permanente da 
molécula, momento em que a molécula ou cadeia absorve parte da energia incidente para vibrar. Essa energia é 
quantizada para cada espécie de molécula. Pode ocorrer também por rotação, importante para os gases. 
 
Vantagens: 
 É sensível ao arranjo molecular. 
 Serve para Sólido, Líquido e Gás. 
 
Desvantagens: 
 Limite alto para detecção (baixa resolução). 
 Existência de Vibrações inativas (ligação entre elementos idênticos) 
 
 Sensível à condição macroscópica. 
 
Aplicações: As aplicações analíticas dessa técnica são inúmeros e incluem: identificação e determinação de 
pureza de materiais, controle de qualidade de materiais e processos, estudo de deteriorações e seleção de 
materiais para o desenvolvimento de produtos. É necessária, muitas vezes, a utilização de algum tio de espectro 
de referência. Estes espectros podem ser obtidos em banco de dados de bibliotecas virtuais, instaladas no 
equipamento FTIR. 
 
Processo simplificado de produção de um espectrograma: 
O Espectrômetro de Infravermelho por Transformada de Fourier é um instrumento capaz de determinar quanto 
foi obsorvido de cada comprimento de onda presente em um feixe incidente branco, na faixa de comprimento 
de onda do infravermelho, por uma amostra. De forma simplificada, parte do feixe branco entra em contato 
com a amostra (atravessando-a ou sendo rebatido por ela) e continua seu caminho ótico até encontrar um 
detector, enquanto outra parte do feixe branco não esteve em contato com a amostra, sendo portanto o feixe 
de referência (intensidade original do feixe, sabido previamente). Para determinar quanto foi absorvido, basta 
subtrair da intensidade original a intensidade do feixe em contato com a amostra, tendo em vista que a perda 
da intensidade pelo caminho é extramemente reduzida pela utilização de espelhos. Um interferograma é obtido 
ao final da coleta dos detectores, no entanto, o aparelho utiliza uma operação matemática chamada 
Transformada de Fourier (FT) capaz de, após os dados coletados do feixe branco (com diversos comprimentos 
de onda), separar a absorção da amostra para cada comprimento de onda presente no feixe branco. Essa é a 
principal diferença para o outro tipo de espectrômetro de infravermelho, de Dispersão, em que o feixe 
incidente é monocromático, ou seja, possui apenas um comprimento de onda. A obtenção do espectrograma 
nesse equipamente se dá alterando o comprimento de onda da radiação, percorrendo uma faixa de 
comprimentos de onda dentro da faixa do infravermelho (0,7µm a 3µm). 
 
 
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Dispersão: 
 
 
 
 
 
 
 
Transformada de Fourier: 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
Componentes e suas funções na produção do espectro: 
A fonte de infravermelho emite feixes de diversos comprimentos de onda, dentro de uma faixa pré-
determinada. Os feixes atravessam um semi-espelho de 45° de inclinação em relação ao feixe, que permite a 
passagem de 50% do feixe e reflete o restante, fazendo com o que o feixe refletido mude seu trajeto em 90°. O 
feixe que atravessou o semi-espelho encontra um espelho móvel perpendicular a seu movimento, obrigando-o 
a colidir novamente no semi-espelho. O feixe refletido entra em contato com a amostra (serão descritos os 
métodos na questão 2), atingindo o detector. O detector transmite os dados ao computador, que utilizada a 
Transformada de Fourier para plotar o espectro de intensidade x número de onda (1/ λ). 
Nesse semi-espelho, parte dos feixes são combinados (feixes que sofreram reflexão dos espelhos fixo, móvel e 
semi) ocorrendo intereferências construtivas, os feixes se combinam em um com amplitude maior, e 
destrutivas, os feixes se combinam e a amplitude é reduzida ou anulada, até atingir finalmente o detector. É 
possível observar o esquema na figura abaixo: 
Amostra 
Infravermelho incidente (λ) 
Infravermelho após 
contato com a 
amostra (λ) 
Detector  
Amostra 
Infravermelho incidente 
(diferentes λ) 
Infravermelho após 
contato com a 
amostra (diferentes λ) 
Detector 
Transformada 
de Fourier 
fornece 
Intensidade(λ) 
fornece 
Intensidade(λ) 
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 Método ATR (Refletância Total Atenuada): Uma amostra sólida ou líquida é posicionada em cima de um 
cristal com alto índice de refração. Se a amostra for sólida, é preciso garantir que o cristal esteja totalmente em 
contato com a amostra, evitando que tenha uma superfície extra (ambiente) entre eles. A radiação é emitida 
pelo equipamento a determinada angulação, fazendo com que o feixe reflita totalmente por dentro do cristal, 
fazendo com que o o feixe entre em contato com a superfície da amostra diversas vezes antes de atravessar 
todo o cristal. Assim, a radiação terá chance aumentada de ser absorvida pela camada da superfície da amostra 
e sofrerá perda em alguns comprimentos de onda durante seu percurso pelo cristal. 
 
 Método de Transmissão: A radiação atravessa a amostra. Para isso, a amostra precisa ser extremamente 
fina, próximo ao transparente para a radiação infravermelha. Sendo assim, a amostra precisa ser preparada 
soba a forma de filmes finos prensados a quente ou vazados de solução de solventes adequados. O esquema 
pode ser entendido como o primeiro desenho, na questão 1. 
 
 
 
 
 
 
 Método de Reflexão Difusa: É um método efetivo de obteção de espectros de infravermelho diretamente de 
amostras pulverizadas com pouca preparação da amostra, poupando tempo. A reflexão difusa é um processo 
complexo que ocorre quando um feixe de radiação atinge a superfície de um pó finamente dividido. Com esse 
tipo de amostra, ocorre reflexão especular em cada superfície plana. No entanto, como há muitas destas 
superfícies e elas estão orientadas aleatoriamente, a radiação é refletida em todas as direções. 
 
Background: É o artifício de captar os efeitos provocados pela atmosfera/ambiente local, como umidade e gás 
carbônico, (fatores difíceis de serem eliminados do ambiente por conta da presença humana no processo) que 
interferem nos resultados do FTIR, como se fossem uma amostra, para no espectro desejado ser debitado. É 
uma referência para a obtenção verdadeira de futuros dados. O equipamento salva o comportamento do 
ambiente à passagem dos feixes de infravermelho pelo ambiente. Como a mesma atmosfera (ou parecida) 
estará presente no equipamento quando for inserida a amostra, o equipamento é capaz de identificar todos os 
picos de intensidade do espectro da amostra que coincidem com os picos do ambiente, apagando-os do 
espectro de interesse. Sabendo que o ambiente muda à medida que a presença humana continua a emitir CO2 
pela respiração ou umidade, é necessário fazer Background com certa frequência. 
 
Feixe 
infravermelho 
incidente 
Amostra 
Feixe infravermelho 
após contato com a 
amostra 
detector 
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AFM – Atomic Force Microscope 
 
Característica principal: Mede forças ou interações 
entre uma ponteira e a superfície da amostra. A força 
de atraçãoou repulsão visível na ponteira é devido às 
forças de ligação entre os átomos. 
As imagens obtidas por estas técnicas possibilitam 
avaliar a topografia da amostra em conjunto com 
domínios, fases ou componentes específicos de cada 
sistema. 
 
Explicação: Quanto mais fina a ponteira, menor o 
número de átomos localizados na sua ponta. Sendo 
assim, é possível determinar que tipo de força existe 
entre o átomo da ponta da ponteira com os átomos 
da superfície do material. Quando a ponteira se aproxima da amostra, é primeiramente atraída pela superfície, 
devido a uma ampla gama de forças atrativas existentes na região, como as forças de van der Waals. Esta 
atração aumenta até que, quando a ponteira aproxima-se muito da amostra, os átomos de ambas estão tão 
próximos que seus orbitais eletrônicos começam a se repelir. Esta repulsão eletrostática enfraquece a força 
atrativa à medida que a distância diminui. A força anula-se quando a 
distância entre os átomos é da ordem de alguns ângstroms (da ordem da 
distância característica de uma união química). Quando as forças se 
tornam positivas, podemos dizer que os átomos da ponteira e da amostra 
estão em contato e as forças repulsivas acabam por dominar. 
As medidas são feitas pela variação da força exercida na ponteira, 
transmitindo a haste que enverga ao varrer a amostra. Isso é devido, 
entre outros motivos, pela microrugosidade da amostra, tendo regiões 
mais baixas que outras e pelas diferentes fases e elementos presentes na amostra, reproduzindo força atômica 
com a ponteira de formas distintas. 
A força atômica varia com a distância, sendo mais forte quanto mais perto os átomos estiverem entre si. Para 
conseguir retratar a variação do nível da superfície do material, é colocado um laser como guia, que reflete na 
haste, e um detector como assinalador de quanto o laser desviou da sua posição original. É a partir deles que o 
equipamento é capaz de identificar quanto deve subir ou descer a amostra para garantir que a inclinação da 
haste seja sempre a mesma e, consequentemente exista 
a mesma força atômica atuando. É a cerâmica 
piezolétrica que executa a tarefa de subir e descer a 
amostra rapidamente. 
 
Cerâmicas Piezoelétricas: São materiais transdutores de 
um sinal elétrico em uma deformação mecânica e vice-
versa. Elas se expandem ou contraem quando um sinal 
de voltagem é aplicado entre terminais colocados em 
suas extremidades. Cerâmicas piezoelétricas permitem a 
movimentação tridimensional de sistemas mecânicos 
com alta precisão, rapidez e reprodutibilidade. 
 
Resultados dependem de: 
 Materiais que compõem a amostra . 
 Geometria e material da ponteira. 
 Distância entre ponteira e amostra. 
 Qualquer tipo de contaminação que houver sobre a superfície da amostra (gordura, por exemplo). 
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Controle PID – Proporcional Integral e Derivativo: No exemplo abaixo, a grandeza física que se quer controlar é 
a força de contato entre a ponteira e a amostra e assim a posição em que o laser atinge o fotodetector é 
controlada, medindo-se (T-B) e comparando-se o valor medido com um pré-determinado. Esta diferença gera 
uma função erro que é então analisada quanto a sua variação temporal, a variação de sua integral e a variação 
de sua derivada. 
 
Vantagens: 
 Não precisa de vácuo. 
 Não destrói a amostra 
 Aparelho pequeno. 
 Aparalho não muito caro. 
 Materiais moles, duros, materiais condutores elétricos, isolantes ou semicondutores, amostras biológicas, 
enfim quase qualquer tipo de material; 
 Escala de análise de centenas de microns até resolução atômica 
 Preparação simples de amostras. 
 
 
Limitações: 
 Análise superficial. 
 Superfícies com rugosidade muito grande não podem ser analisadas. 
 
Modos de Força: 
1. Contato: No modo de contato, vê-se como a 
deflexão da haste é na direção oposta à da amostra. 
(força repulsiva) 
 
2. Não-contato: Quando o aparelho é operado na 
região atrativa, o método chama-se não-contato. 
(força trativa) 
 
Modos de Operação: 
1. Modo estático (DC): No modo estático, a haste 
não vibra. 
 
2. Dinâmico ou Tapping (AC): No modo chamado 
dinâmico, a haste vibra. 
 
Sinal enviado a cerâmica 
piezoelétrica pra variar a 
distância entre ponta e 
amostra. 
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Ponteiras: Se a ponteira é mais aguda que os picos e vales da amostra, em geral, formará uma imagem real da 
amostra. Entretanto, se a ponteira não consegue delinear as rugosidades por elas serem mais finas, chama-se 
esse fenômeno de convolução da ponteira. 
 
Uma ponteira grossa, de raio grande e baixo aspect ratio 
(relação entre comprimento e raio ou diâmetro) resultará em 
uma grande área de interface com a superfície da amostra, 
proporcionando forças atrativas muito grandes. 
Uma ponteira fina, de alto aspect ratio, terá uma área menor 
de interface com a superfície e, por conclusão, força atrativa 
menor que a ponteira grossa. Além das características citadas, a ponteira fina é capaz de entrar e sair mais 
facilmente da superfície. 
 
Ponteiras piramidais: Base quadrada e ponta extremamente fina, de aspect ratio aproximadamente 1:1. 
Ponteira mais utilizada no modo contato, pois é mais resistente à quebra pelo contato. 
 
Ponteiras por deposição química de vapor: Ponteiras muito finas e de alto aspect ratio. Podem ser feitas com 
um feixe de elétrons combinado com deposição química de vapor. Estas ponteiras são maiores na extremidade, 
em comparação a uma ponteira piramidal padrão e possuem diamante em sua composição, o que as torna 
muito rígidas. Dimensões típicas são: 1,5 a 2 mm de comprimento, aspect ratio > 10:1 e raio de 100 Å. 
 
Ponteiras piramidais gravadas: São vendidas comercialmente, no formato piramidal, mas trabalhadas com 
ácido de forma que suas extremidades fiquem muito agudas. O aspect ratio delas é de 2 a 3:1. 
 
Ponteiras cônicas de silício: O silício é frequentemente utilizado na fabricação de ponteiras para usar em modo 
de não contato. As ponteiras cônicas não são recomendadas no modo contato, pois quebram mais facilmente 
que as piramidais. As ponteiras cônicas possuem raios na base do cone de 3 a 6 mm e alturas de 10 a 20 mm, 
como resultado: aspect ratios de 3:1. Os raios das extremidades são aproximadamente 200 Å. As ponteiras 
feitas de silício têm a vantagem ainda de que podem ser dopadas para torná-las condutoras, garantindo maior 
versatilidade na varredura, possibilitando, por exemplo, fazer microscopia de força elétrica ou para evitar que 
cargas não desejadas se depositem na ponteira e/ou na amostra. 
 
 
 
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MET – Microscópio Eletrônico de Transmissão 
Microscópio de Transmissão: A iluminação é feita por 
elétrons agitados, em que eles recebem momento através de 
um potencial aplicado. Por ser de transmissão, a iluminação é 
vertical, atravessando a amostra. Diferentemente do 
Microscópio de Reflexão, que a iluminação é feita pela lateral 
da amostra, refletindo na lente objetiva. A observação é feita 
pela janela de vidro, que mostra a placa fluorescente. A 
amostra deve ter no máximo 3mm, deve ser bem fina ou 
conter um furo no seu centro. A borda deste furo será uma 
região extremamente fina, não oferencendo muitos 
obstáculos à passagem dos elétrons e possibilitando a 
obtenção de imagem na placa fluorescente. O porta amostra 
gira, tornando possível a visualização de diversos eixos da 
zona. 
Resolução: 0,8 a 2,2 Å 
Desvantagens: 
 Exige técnicas de preparação especiais. 
 Amostras maciças devem ser afinadas (furadas). 
 Amostras grandes devem ser cortadas em formato de discos de 3mm de diâmetro. 
 Amostras em formatode pó devem ser dispersas em meio líquido e depositadas em grades de 3 mm. 
Vantagens: 
 Obtenção de figura de difração de Raio x. 
 Melhor resolução possível. 
 Selecionar área. 
 
 
 
 
 
 
Logo: 
 
 
 
Dualidade partícula onda: 
Relação Momento e Energia Cinética: 
 
 
𝑝 = √2𝑚0. 𝑒𝑉 
Amostra 
Placa fluorescente = 
imagem 
𝑡𝑔 (2𝜃) =
𝑅
𝐿
 
2𝑑. 𝑠𝑒𝑛(𝜃) = λ 
Lei de Bragg 
𝑡𝑔 (2𝜃) = 2 𝑠𝑒𝑛(𝜃) = 2𝜃 = 
𝑅
𝐿
 
Como L>> R, 2𝜃 é muito pequeno. 
𝑑. 𝜃 = λ → 𝑑.
𝑅
𝐿
= λ 
𝑑 = λ 
𝐿
𝑅
 
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Comprimento de onda em relação ao potencial aplicado: 
 
 
Eixos da zona: Direção comum a vários planos. Para um eixo 
da zona específico, será possível visualizar figuras de difração de 
todos os planos que contenham essa direção. 
 Checar se um plano (h k l) faz parte do eixo da zona [u v w] : 
 
 (produto escalar direção e plano) 
 
 Identificar o eixo da zona de 2 planos (h1 k1 l1) e (h2 k2 l2): 
 
Det = [ u v w ] 
 
 
Constraste: Regiões que difratam mais aparecem mais escuras. Ao 
calibrar o MET, é possível regular o contraste, regulando a abertura 
da objetiva. 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
A partir disso, concluimos que: 
MAIOR eV (potencial aplicado) = menor λ 
h.u + k.v + l.w = 0 
𝑢 𝑣 𝑤
ℎ1 𝑘1 𝑙1
ℎ2 𝑘2 𝑙2
 
R 
R 
R 
Grande abertura 
 Baixo contraste. 
 Grande número de elétrons 
transmitidos. 
 Alta resolução. 
 
Pequena abertura 
 Alto contraste. 
 Pouca quantidade de elétrons 
transmitios. 
 Baixa resolução. 
Elétrons incidentes 
Amostra 
Lente objetiva 
Tela fluorescente 
Elétrons transmitidos 
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Difração de Raio X vs Grão: 
 
 
 
 
Para uma mesma área observada e não havendo textura (orientação preferencial dos grãos, em vez da 
aleatoriedade esperada), é possível pré dizer comparar o tamanho do grão pois: 
+ circular a figura + mais planos difratados + mais grãos grãos menores 
 
XPS – Espectroscopia Fotoeletrônica de Raios X 
Espectroscopia: Variação de 2 parâmetros tendo 1 variável fixa. 
Característica: Baseia-se no fato de cada átomo ter ligações particulares (energia de ligação) com cada elétron. 
Possui energia de ligação (Be) muito particular e, portanto, característica. 
Geração de Fotoelétron: O fóton possui energia característica(E), que é totalmente transmitida ao elétron com 
quem ele colide. O elétron, com alta energia, gasta parte dessa energia desfazendo a ligação entre ele e o 
núcleo (Energia de Ligação Be), saltando para fora do material. A energia restante é transformada em energia 
cinética (Ke). 
 
 
 
 
 
Determinando a intensidade para cada Energia de Ligação: O aparelho permite mudar a posição do coletor (R 
muda), permitindo que apenas fotoelétrons de determinada Ke (determinada �⃗⃗� ) atinjam o coletor. O XPS 
determina a intensidade (nº de elétrons que cairam no coletor) para esta Ke (indiretamente, para determinada 
Be). 
 
 
 
 
Variando a abertura do coletor: 
Aumentando a abertura caem no coletor uma grande faixa de elétrons com diferentes �⃗⃗� atribuídas a 
um mesmo R. Logo, perde-se a qualidade da informação Resolução diminui tempo diminui. 
 Diminuindo a abertura caem no coletor uma faixa menor de elétrons com diferentes �⃗⃗� atruibuídas a 
um mesmo R. Logo, ganha-se qualidade da informação Resolução aumenta tempo aumenta. 
Monocristais: Cada pontinho 
corresponde a difração de um 
plano. Por ter apenas 1 grão, a 
quantidade de planos que 
difratam é pequena, tendo 
esse aspecto ao lado. 
 
Policristais: É o efeito de vários 
grãos, ou seja, difração de muitos 
planos. A imagem observada é a de 
“vários monocristais”, girados pela 
orientação de cada grão, tendo 
aspecto circular. 
 
Como a área é a mesma 
𝑲𝒆 =
𝒎𝟎. 𝒗²
𝟐
 
𝑬 = 𝒉. 𝒇 
𝐵𝑒 = 𝐸 − 𝐾𝑒 
 
𝑬 
𝑩𝒆 
𝑲𝒆 
𝑅 =
𝑚 𝑣
𝑞. 𝐵
 
 x 
2R 
- - - - - - 
�⃗⃗� 
+ + + + 
m = massa elétron 
v = velocidade elétron 
q = módulo carga do elétron 
B = campo magnético 
R = raio da curva 
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Após determinadas as Intensidades para cada Eb, utiliza-se 
uma ficha (I vs Be) para identificar o material. A análise é 
feita a partir da Energia de Ligação(Eb) pois é uma 
grandeza física. Se fosse utilizada a Energia cinética (Ke) 
como parâmetro seria errado tendo em vista 
que Ke depende da Energia do fóton, que 
pode variar dependendo do comprimento 
de onda do alvo no gerador de Raio X. Todo 
o XPS deve ser mantido à vácuo. 
 
 
 
 
 
Geração de elétron Auger: Ocorre quando um elétron, ao decair a um nível eletrônico inferior, libera Raio X 
(fóton de energia característica) que é absorvido por outro elétron (podendo ser do mesmo nível ou não), 
culminando em sua ejeção, tornando-o também um fotoelétron. Eles também aparecem no resultado, em 
baixas Be. 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
Raman 
Característica: Fornece informação química e estrutural de qualquer material (orgânico ou inorgânico). Sua 
análise se baseia na luz, monocromática, colimada, coerente e de determinada frequência (f), espalhada ao 
incidir sobre o material a ser estudado, cuja maior parte da luz espalhada também apresenta a mesma 
frequência daquela incidente. Somente uma pequena porção da luz é espalhada inelasticamente frente as 
rápidas mudanças de frequência, devido à interação da luz com a matéria e é uma característica intrínseca do 
material analisado e independe da frequência da luz incidente. 
 
 
 
- 
- 
- 
- 
- - - - 
- 
- 
- 
- + 
Fonte de 
Raio X 
Raio X 
(fóton) 
Fotoelétron 
Amostra 
Coletor de elétron 
de energia 
determinada 
Abertura 
do coletor 
𝑲𝒆 =
𝒎𝟎. 𝒗²
𝟐
 𝑬 = 𝒉. 𝒇 
Fóton emitido por 1 
elétron é absorvido por 
outro. 
Auger ABC 
A: Camada eletrônica de onde tinha o vazio. 
B: Camada eletrônica de onde saiu o elétron que ocupou o vazio. 
C: Camada eletrônica de onde saiu o elétron que foi ejetado. 
 
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Momento Dipolo Induzido: A radiação 
eletromagnética incidente tem momento 
dipolo, que induz variação do momento 
dipolo na molécula. O momento dipolo 
induzido na molécula depende da sua 
orientação e, em uma rotação completa, 
varia duas vezes. 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
Laser com energia 𝐸 = ℎ. 𝑓0 
Radiação com energia 𝐸 = ℎ. 𝑓0 Radiação com energia 𝐸 = ℎ. 𝑓 
Espalhamento elástico Espalhamento inelástico 
Espalhamento de Rayleigh 
(maior porção do espalhamento) 
Raman Stokes: Radiação perdeu 
energia para a amostra. Caso mais 
provável (maior intensidade). 
𝑓 = 𝑓0 − 𝑓𝑣 
 
Raman Antistokes: Radiação ganhou 
energia da amostra. Caso menos 
provável (menor intensidade). 
𝑓 = 𝑓0 + 𝑓𝑣 
Espalhamento de Raman 
𝑓0 = frequência de vibração 
da radiação incidente. 
𝑓𝑣 = frequência de vibração 
da molécula. 
Excitação dos 
elétrons da amostra 
Desexcitação dos 
elétrons da amostra 
Stokes: 
IV 
Antistokes: 
UV 
Rayleigh: luz 
visível 
Luz Visível 
λ 
𝐸𝑗 =
𝐼.𝑤²
2
=
ħ2. J²
2. 𝐼
 
 
𝐸𝑗 =Energia de Rotação 
I = Momento de Inércia 
w= velocidade angular 
J = Número quântico rotacional 
𝐽 = | 𝑙 ± 𝑠| 
 
𝑛 =Número quântico principal 
l = Número quântico azimutalm= Número quântico magnético 
s = Número quântico spin 
Níveis (n) com o mesmo J possuem 
a mesma energia rotacional (𝐸𝑗) 
𝐸 
Momento dipolo igual. 
Momento dipolo diferente. 
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Vantagens de cada técnica 
 
 
FTIR Raman XPS AFM 
Baseia-se 
Vibração de 
molécula 
Vibração de 
molécula e da rede 
Energia de ligação 
átomo-elétron 
Energia de ligação 
entre átomos 
Frequência 
incidente 
Infravermelho Visível Fóton - 
Banco de Dados 
Extenso. Fácil 
identificação. 
Difícil 
identificação. 
Identificação (%) 
de cada tipo de 
ligação. 
Extenso e dentro 
do aparelho. Fácil. 
Análise Qualitativa Qualitativa Quantitativa(%) Qualitativa