microscopia eletrônica

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PMC0069 – MICROSCOPIA ELETRÔNICA
1ª Lista de Exercícios
1a Questão:
	 
	Detalhe a construção e principais características dos diferentes tipos de FEG (“field emission gun”)? Procure avaliar as vantagens e desvantagens de cada um.
2a Questão:
	Obtenha a energia e o comprimento de onda de elétrons emitidos por uma fonte de 5, 30 e 300 kV. Faça os cálculos sem considerar a correção relativística, depois introduza-a em seu cálculo e avalie a diferença percentual obtida.
3a Questão:
	Como é possível obter pressões de vácuo diferentes em regiões diferentes de um microscópio eletrônico? 
4a Questão:
	Calcule o livre caminho médio de um elétron emitido por uma fonte de elétrons com 30 kV de aceleração em uma coluna mantida em 10-6 Pa. E se a pressão estiver em 10-3 Pa? 
5a Questão:
	Descreva os principais tipos de aberração existentes. 
6a Questão:
Qual a relação entre o poder de convergência de uma lente de elétrons, o seu campo magnético e a energia dos elétrons? Mostre equacionamentos que justifiquem as respostas dadas.
7a Questão:
	Qual a origem e distribuição de energia dos seguintes sinais:
Elétrons secundários
Elétrons retroespalhados
Elétrons Auger
Fótons quantizados de raios X
Raios X contínuos
8ª Questão:
	Realize uma simulação de Monte Carlo para estabelecer o volume de interação entre um feixe de elétrons de 15 kV com 2 nm de diâmetro em uma amostra de ouro.
9a Questão:
	Como fazer para que um detector de Everhart-Thornley detecte exclusivamente elétrons secundários? E para que detecte exclusivamente elétrons retroespalhados?
10a Questão:
	Como, em um detector de estado sólido, se consegue obter seletividade contraste de topografia? Recentemente, alguns detectores de elétrons retroespalhados apresentam seções anulares; qual o objetivo?