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UNIVERSIDADE VEIGA DE ALMEIDA CURSO SUPERIOR DE TECNOLOGIA EM GESTÃO DA TECNOLOGIA DA INFORMAÇÃO QUALIDADE DE SOFTWARE - AVA 2 ALUNO: WALLACE DE ARAÚJO VENTURA RIO DE JANEIRO - RJ SUMÁRIO 1 - Enunciado -------------------------------------------------------------------------------------1 2 - Resolução -------------------------------------------------------------------------------------2 3 - Conclusão -------------------------------------------------------------------------------------2 4 - Referência -------------------------------------------------------------------------------------2 1 - Enunciado: Conforme demonstrado na unidade 3 e no vídeo sobre o cálculo da eficácia da remoção de defeitos dessa mesma unidade, poderemos medir a eficácia utilizando a fórmula: (erros encontrados por uma inspeção/erros Totais no produto antes da inspeção) x 100. A partir dos dados da tabela a seguir: Cruzamento de dados de defeito - Tabulado por Onde Encontrado (Fase Durante a Qual o defeito foi encontrado) e Origem de Defeito Requisitos Design de alto nível Design de baixo nível Código Teste de unidade Teste de componentes Teste de Sistema Campo Total RQ ---- ---- IO 63 589 652 I1 8 46 568 622 I2 14 32 145 897 1088 UT 18 38 45 212 3 316 CT 32 53 48 189 1 5 4 332 ST 6 9 34 75 4 2 4 2 136 Campo 6 22 35 65 1 129 Total 147 789 875 1438 8 7 4 7 3275 Calcular a eficácia da remoção dos defeitos solicitados. Cálculos a serem realizados: 1.Eficácia da inspeção de design de alto nível: IE (IO). 2.Eficácia de inspeção de design de baixo nível: IE (I1). 3.Eficácia da inspeção de código: IE (I2). 4.Eficácia do teste da unidade: TE (UT). 5.Eficiência na remoção de defeitos no processo (DRE). 2 - Resolução: 1. IE(IO) = Total de IO / (Total de Requisitos + Total de Design de Alto Nível) => IE(IO) = 652 / (147 + 789) = 69,65% ou 70% 2. IE(I1) = Total de I1 / ((Total de Requisitos + Total de Design de Alto Nível - Total de IO) + Total de Design de Baixo Nível) => IE(I1) = 622 / ((147 + 789 - 652) + 875) = 53,66% ou 54% 3. IE(I2) = Total de I2 / ((Total de Requisitos + Total de Design de Alto Nível + Total de Design de Baixo Nível - Total de IO - Total de I1) + Total de Código) => IE(I2) = 1088 / ((147 + 789 + 875 - 652 - 622) + 1438) = 55,08% ou 55% 4. TE(UT) = Total de UT / ((Total de Requisitos + Total de Design de Alto Nível + Total de Design de Baixo Nível + Total de Código - Total de IO - Total de I1 - Total de I2) + Total de Teste de Unidade) = > TE(UT) = 332 / ((147 + 789 + 875 + 1438 - 652 - 622 - 1088) + 8) = 37,09% ou 37% 5. DRE = (Valor da Coluna Campo - (Total da linha do Campo / Total)) => DRE = 1 - (129/3275) = 96,06% ou 96% 3 - Conclusão: A eficácia DRE está alta, porém pode melhorar se alguns índices forem levados em consideração. 4 - Referência: https://unijorge.instructure.com/courses/24313/modules/items/329168
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